CRY-1P差热热分析仪
使用说明书
上海精科天美贸易有限公司上海精科天美科学仪器有限公司（原上海精科天平）
一. 概述
中温差热分析仪(CRY-1P)，可用于测定物质在热反应时的特征温度及吸热或放出的热量，包括物质相变、分解、化合、凝固、脱水、蒸发等物理或化学反应，广泛应用于有机、无机、硅酸盐、陶瓷、矿物金属、航天耐温材料等领域，是各种相关行业院所进行热分析的重要仪器。
我公司生产的差动热分析仪(CRY-1P)采用带有深度负反馈的直流微伏放大器，具有灵敏度高，噪声小，零点漂移小，抗干扰能力强等特点。温度控制采用先进的专用微处理器芯片，先进的人工智能调节算法，具有很高的可靠性及抗干扰性能，控制精度高。与仪器配套的热分析软件既能实时采集DTA和温度数据，又具备专业地数据处理、打印、列表、数据存取等功能，操作界面友好，使用方便快捷。
二. 安全建议及注意事项
2.1 符号与标识
表示提示与有用信息
表示警告，有危险性注意会受到伤害
2.2 安全建议及使用注意事项
2.2.1 安全建议
仪器绝不可在有爆炸危险的环境中使用。
在插入电源电缆之前，请确认操作电压和电源电压是否一致。
如果不一致，请询问公司客服。
确保您所插入的电源插座的电缆是接地的，否则会造成技术上的故障及其危险。
如果电源电缆有损坏，必须马上切断电源。只能在电源电缆完好的情况下操作。请定期检查电源线及信号线。
任何化学物质，只要可能在仪器、电源电缆或外围设备的内部或外部发生腐蚀和损坏情形，均需远离本设备。
操作热分析时，需注意把各单元放入机箱中，以免无意中接触设备内部的零部件。需确保不会液体渗入天平内部。
在加热过程中，切勿用手触碰炉体。请使用工具来取拿样品。
当升温时，请打开冷却水，不得在升温时关闭冷却水。
如果有任何可能使热分析操作不安全的原因，必须切断电源以免
操作疏忽。
2.2.2 使用注意事项
避免产生静电。设置安放区域应远离带有强磁场特性的设备或装置。应避免接触电线产生的强电磁磁场
安放位置应保持清洁、无尘。所放置的房间尽量恒温，总电源相对稳定并必须有良好接地。
样品杆左侧放被测样品坩锅，右侧放参比物坩埚，左右二侧坩埚材质尺寸必须一致。
铝坩埚在仪器升温测样使用过程中不能超过500度，如升温超过500度就要换成氧化铝坩埚或铂坩埚。
开机顺序不能错不然容易造成通信失败。
经常检查USB通信线在数据接口单元背后和计算机上连接是否牢固。
样品在坩埚内一般不要超过坩埚内高的2/3。
开冷却水通水时要慢慢开从小到大成流就行。
当温控单元温控表上的PV温度降到50度以下可继续做下个样品，或根据样品反应温度情况来定。
当温控单元温控表上的PV温度降到80度以下如不再做样品的话可关水关仪器总电源。
接冷确水的橡皮管上下位置不能反否则会造成仪器冷端温度变化大。
每位操作员必须阅读使用说明书，并将其放在工作地点随时可得的地方。
三. 差热分析仪总览
3.1差热分析仪单元部件
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3.3 差热分析技术参数
温度控制系统
升温速率：1~20℃／min
温度范围：室温～1100℃
差热量程范围：
量程：±10、±25、±50、±100、±250、±500、±1000μV
四. 拆箱安装
4.1 打开包装
精密仪器，为了在运输过程中提供最好的保护，请使用环保包装递送。
在船运或运输中为了避免仪器受到损伤，以及为了仪器不使
用时以最好的状态保存更长时间，请保留原装的包装（包装
箱和所有包装部件）。
为了避免损伤，在取出仪器时，必须注意以下几点：
●轻轻地，小心地给仪器拆封。这是一台精密仪器。
●当外界温度非常低时，仪器要先在未开封的运输包装中，以常温
在干燥的房间中放置数小时，这样打开时就不会有冷凝。
●在打开包装后立即检查是否有因运输过程中粗暴装卸造成的明显
损坏。（如果有损坏迹象，请立即通知公司客服）。
●如果仪器在购买后不立即使用而是以后再使用，应被存储在气温
幅度尽量小的干燥的地方（见“运输，贮存”）。
●即使您已经有关于使用本公司热分析的经验，在使用工作前，还
请仔细阅读这些使用说明书，并且注意安全建议及使用注意事项。
4.3 差热分析使用条件
必须将仪器放置于一个合适的位置环境，保证它能够发挥最佳的功能，所以要满足以下外部条件要求：
●将仪器置于稳定坚固平坦的工作台上。
●要保护仪器不受腐蚀性气体的侵蚀。
●避免仪器在工作时受到剧烈的震动。
●避免气流和过度的气温波动。
●避免强电、强磁场干扰。
●工作环境温度：15~25℃，且温度变化小于1℃/H。
●相对湿度：≤75%。
●工作电压：交流单相220V±10%、50Hz±1。
●电源需可靠接地，接地电阻≤2Ω。
4.4 差热分析安装
（1）根据仪器型号，按附图连接电源线、信号线。
（2）将Φ6橡皮管接至加热炉通水接头，一端进水、一端出水。（3）CRY-1P型号的炉子在放在桌子上前先应放四个橡皮脚然后把炉子放在上面，取下电炉炉盖，将炉芯外罩罩在炉
芯固定架上，盖上炉盖，把大小不等的三个氧化铝盖依
次盖好。插上手柄，旋紧螺钉，摇动手柄使电炉上升到
距最高位置0.8-1mm处，使炉体从护板上顺时针转出(如
图4-1)，从备件盒中取出平顶石英管，从炉底旋入，注
意必须全部旋入。
图4-1 炉体的上升与转出
（4）从备件盒中取出样品杆，把样品杆插头的槽对准炉子插座的键（一般在左下侧），然后往下插紧。(如果槽与键没有对准，则样品杆插不下去)。放好橡皮密封圈，再把二个半圆冷却圈夹在样品杆下部，插入不锈钢螺帽的孔内。
（5）把炉子一定要转回到中心原处，摇动手柄，慢慢地下降，并随时观察样品杆屏蔽罩是否位于炉腔中心，如有偏离
可旋松样品杆座与底板连接的三个圆柱头螺钉进行粗
调，调整完后旋紧螺钉。炉子外圈的三个调节螺钉可调
整炉子的中心位置，但其调节范围较小(见图4-2) 。
序号
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（6）电炉的底座设有通气管和冷却水管。通气管以各试验时根据需要通入一定的气体。冷却水管在使用时要保证水流畅通，气管和水管的进口和出口不得接错，冷却水务必先通入样品杆座水冷圈，经橡皮管接入炉子水冷圈，而后排出，若冷却水进出口的方向接错，则会使冷端温度升高，影响测量精度。
（7）在备件盒中取出加密狗插在计算机的USB口上。
五. 仪器工作原理及详细结构
5.1 仪器工作原理
差热分析(DTA)是在程序温度控制下，测量物质与参比物之间的
温度差随温度变化的一种技术，工作原理见图5-1。
差热分析仪主要由温度控制系统和差热信号测量系统组成，辅之以气氛和冷却水通道，测量结果由记录仪或计算机数据处理系统处理。
图5-1差热仪工作原理图
5.2.1 温度控制系统
温控系统由温控板、可控硅加热部件、控温热电偶及加热炉组成。计算机根据设定的程序温度给出毫伏信号。当控温热电偶之热电势与该毫伏值有偏差时，说明炉温偏离给定值，偏差信号经可控硅加热部件处理、调整加热炉功率，使炉温很好地跟踪设定值，产生理想的温
度曲线。
5.2.2 差热信号测量系统
图5-3 差热分析原理图5-4 差热曲线
差热传感器即样品支架，由一对差接的点状热电偶和四孔氧化铝杆等装配而成，测试时试样与参比物(α一氧化铝)分别放在两只坩埚内，加热炉以一定速率升温，若试样没有热反应，则它与参比物的温差△T = 0 ，差热曲线为一直线，称为基线；若试样在某一温度范围有吸热(或放热)反应，则试样温度将停止(或加快)上升，试样与参比物间产生温差△T ，把该温度信号放大，由记录仪或计算机数据处理系统画出DTA峰形曲线，根据出峰的温度和峰面积的大小、形状，可以进行各种分析。
5.2.3数据处理系统
数据处理系统由计算机、打印机以及数据处理系统软件组成。它具有实时采集DTA和T曲线，曲线显示，数据处理、绘图、列表，数据存储读入等功能。具体操作详见“微机数据处理系统操作说明”。
六. 仪器使用操作及说明
6.1 仪器各单元面板指示内容说明
温度控制单元
温控单元图示
ａ．开/关：温控单元的电源开关；
ｂ．电炉启动：按下此开关，接入电炉控制电压；
ｃ．电炉停止：按下此开关，断开电炉控制电压；
ｄ．电压输出：此电压表显示电炉电压；
ｅ．温控表：温度控制仪，具体指示说明及操作见后。
差热放大单元
ａ．电源开关：差热放大单元
工作电源开关；
ｂ．差热指示表：差热指示表用以显示试样与参比物之间的温度；ｃ．斜率调整：差热基线的漂移可以通过“斜率调整”拨动开关来进行部分校正；
ｄ．调零：调整放大器的零位；
ｅ．方式：不同开关档位代表不同的工作方式。“测试１”、“测试２”、“短路”档是厂家调试时使用；“ＤＴＡ”档用于ＤＴＡ采样。
在进行试验采样前要记得根据试验类型将开关旋至“ＤＴＡ”
档
数据接口单元
ａ．电源开关
6.2 仪器使用操作
6.2.1准备工作
1. 计算机开机，然后打开热分析仪主机，主机各单元电源接通顺序为：
开机顺序必须严格按照上述次序完成。温控单元电源打
开后先预热
10分钟后再按电炉启动，待全部单元电源接通后，请再预热20分钟左右
2. 开启冷却水，检查橡皮管并使水流畅通。
开启冷却水时慢慢从小开始开，流淌适宜不宜过大
3. 用坩埚称好样品，并记录样品重量。转动加热炉手柄使炉体上升至顶部上升到距最高位置0．8—1mm处，然后将炉体向前方转出(见图1)，使样品支架裸露，用镊子将使用的坩埚放在样品支架左侧上（右侧放的是装参比物的坩埚），放好坩埚后把炉子一定要转回到中心原处（检查加热炉底板应该高于升降架底板），摇动手柄，慢慢地下降，并通过反光板随时观察样品杆顶部屏蔽罩是否位于炉腔底部中心（四面不碰），如有偏离先检查加热炉是否关到位，在到位情况下可旋松样品杆座与底板连接的三个圆柱头螺钉进行粗调，调整完后旋紧螺钉，
并把加热炉摇到底。
6.2.2 软件设置（下列红色字体为强调）
如果需要进行数据采集，则双击SAMPLE.EXE文件，出现如下图界面：
此图是CRY-1P系统采样软件的入口界面，此软件是用户进行实时采样的工作平台，通过此模块，实验者可设定控温程序段，观察采样曲线，并存储实验结果。
如果需要进行数据处理，则双击PROCESS.EXE文件，出现如下图界面：
此图是CRY-1P系统处理软件的入口界面，此软件是用户进行数据处理的工作平台，通过此模块，实验者可设定调入和观察采样曲线，对采样曲线进行各种计算，并存储计算结果。
6.2.2.1 “数据采集”软件操作步骤
点击SAMPLE.EXE采样软件后，进入“数据采集”主界面，如下：
1.点击“热分析控制屏”的“炉温”字样，可查看实时炉温。根据实验需要，在“热分析控制屏”中的“起始温度”，“结束温度”，“速率/恒
温（分）”框中输入实验控温程序段（也可以把以前存的三种控温方式中的任意一种调出或直接使用最后一次实验时所用的控温程序段后直接按“输入正确”）。在输入第一段实验参数，并按“输入正确”系统提示打开实验冷却水（此动作正常情况应该在实验前的准备工作时完成，软件在此仅是提示作用），按“确定”。此时，第一段实验参数出现在数据列表栏中，
如实验控温程序有多段，可继续输入其他段实验设置参数，每段输入完，按“输入正确”键，也可把输入的控温程序进行保存（共可保存三种升温方式）。
*“起始温度”设置必须低于炉温（一般为0）
2. 所有参数输入完毕，点击“参数设置”按钮，出现“正在发送温控参数，请稍候…”的提示框，温控参数发送完毕，出现“参数输入”对话框，如下：
在“实验参数输入”选项卡中可输入实验的样品名，气氛名，样品量，气氛流量，日期和操作者等信息，输入完这些参数点选“数据存储”选项卡，选择文件保存路径，并输入实验文件名，输入完毕按“确定”。
文件名请只输入字母及数字，并且请不要超过7个字符。如
必须输入汉字，请不要超过3个汉字
3. 现在请点选热分析控制屏上的键，将观察到主机“温控单元”机箱上的温控表的ＳＶ温度数值慢慢上升，同时热分析控制屏上“给定温度”也同步上升（如温度未升，可选健，然后再按升温健，直至温度开始上升）。鼠标点击炉温标签，观察“炉温”与“给定温度”的变化，然后设置好“采样始温”，（一般为样品反应前50度或最低为室温加5度，不然样品还达到加热状态所画的DTA线也只是直线）然后点击“采样”项。
4. 采样开始后，可以将右测“实时显示屏”最大化，并可用鼠标点击左上方的基线移动来上下移动DTA曲线在图上的位置，
5. 在实验过程中用户也可根据需要进行分段暂停采样的图谱存储（分段存储时软件会自动根据前面的存盘名给出加后缀的新存盘名并提示给用户）。
实验完毕，按菜单栏“结束采样”菜单，如果出现“是否保存图谱”提示，按“确定”。
6. 按“停止”键，观察主机“温控单元”机箱上的温控表的SV温度数值处于“STOP”状态，至此此次采样实验完毕。
整个实验步骤完成。
在采样过程中严禁关闭“各个单元”电源
“数据处理”模块主要功能是处理实验数据，对数据进行计算，帮助用户根据计算结果对被实验对象进行分析，并可打印输出图文实验数据。
6.2.2.2“数据处理”模块操作步骤
常规处理步骤：
1. 进入数据处理界面后，首先显示一个主窗口，窗口菜单中包括“文件”、“选项”、“平滑”、“显示”、“处理”、“报告”、“实验类型”、“返回”项，主窗口如下图所示：
使用者进入主窗口后，首先应打开采样数据曲线。选择"打开"菜单项，出现“打开曲线”窗口选择要打开的曲线文件，按“确认”。
打开采样数据曲线后，系统将激活原先变灰的一些菜单项。与此同时，用户如果在坐标系内移动鼠标，主窗口下面的状态条中将显示鼠标纵向位置所对应的曲线的差动／差热值和温度值。
2. 选择“处理”菜单中的“设置”项，屏幕上将出现一个“计算内容设置”窗口，在其中可设置计算内容及要计算的峰的数目等参数，此时应在窗口左边的“任务”框中的单选钮组中选择"常规计算"，然后设置要计算的峰的数目，系统预置为一个峰，如果要计算多个峰，可在设置峰数的编辑框中点击鼠标，使其中出现输入光标，然后在其中输入要计
算的峰的数目，再选择"确认"按钮，从而退出窗口并确认有关的设置。如下图所示：
3. 选择“处理”菜单项后，主窗口底部的状态栏提示框内将出现“选择起点菜单”的提示，用户应选择“起点”菜单项，如下图所示：
用户选择“起点”菜单项（或者直接按快捷键）后，状态栏的提示框内将出现“确定起点” 的提示，此时用户应将鼠标位置移到曲线上该峰的起点上，然后按鼠标左键来确定峰的起点，此时将在曲线上标出起点的位置，用户也可以按动键盘上的左移及右移方向键，将鼠
标位置移到曲线上该峰的起点上，然后按键盘上的回车键来确定峰的起点。如下图所示：
4. 峰起点确定后，状态栏提示框内将出现“确定终点”的提示，用户应该按照确定峰起点的操作方法确定峰的终点，此时将在曲线上标出终点的位置。
5. 峰终点确定后，屏幕上将画出该峰的积分基线，然后自动求出外延起始点的位置。如下图所示：
Spectrum Analyzer Basics 频谱分析仪是通用的多功能测量仪器。例如：频谱分析仪可以对普通发射机进行多项测量，如频率、功率、失真、增益和噪声特性。 功能范围(Functional Areas ) 频谱分析仪的前面板控制分成几组，包含下列功能：频率扫描宽度和幅度(FREQUENCY,SPAN&LITUDE)键以及与此有关的软件菜单可设置频谱仪的三个基本功能。 仪器状态(INSTRUMENT STATE )：功能通常影响整个频谱仪的状态，而不仅是一个功能。 标记(MARKER)功能：根据频谱仪的显示迹线读出频率和幅度 提供信号分析的能力。 控制(CONTRIL)功能：允许调节频谱分析的带宽，扫描时间和 显示。 数字(DATA)键：允许变更激活功能的数值。 窗口(WINDOWS)键：打开窗口显示模式，允许窗口转换，控 制区域扫宽和区域位置。 基本功能(Fundamental Function) 频谱分析仪上有三种基本功能。通过设置中心频率，频率扫宽或者起始和终止频率，操作者可控制信号在频幕上的水平位置。信号的垂直位置由参考电平控制。一旦按下某个键，其
功能就变成了激活功能。与这些功能有关的量值可通过数据输入控制进行改变。 Sets the Center Frequency Adjusts the Span Peaks Signal Amplitude to 频率键(FREQUENCY) 按下频率( FREQUENCY)键，在频幕左侧显示CENTER 表示中心频率功能有效。中心频率(CENTERFREQ)软键标记发亮表示中心频率功能有效。激活功能框为荧屏上的长方形空间，其内部显示中心频率信息。出现在功能框中的数值可通过旋钮，步进键或数字/单位键改变。 频率扫宽键(SPAN) 按下频率扫宽 (SPAN)键， (SPAN)显示在活动功能框中，(SPAN)软键标记发亮，表明频率扫宽功能有效。频率扫宽的大小可通过旋钮，步进键或数字键/单位键改变。 幅度键(AMPLITUDE)按下 按下幅度键(AMPLITUDE)参考电平(REFLEVEL)0dbm显示在 激活功能框中，( REFLEVEL)软键标记发亮，表明参考电平功
Saleae Logic 16 逻辑分析仪使用上手手册 Saleae Logic 16 购买地址：https://www.doczj.com/doc/6113072759.html,
从2014年六月份开始，Saleae官方开始主推他的1.1.19版本的逻辑分析仪界面。我在这里给大家介绍一下新软件的采集设置，波形查看以及协议解析等功能和操作步骤。 第一节， 软件的安装 SALEAE 官方提供了WINDOWS ，LINUX ，MAC操作系统的软件版本，其中WINDOWS 版本又分32位系统和64位系统。如果您的电脑是XP 或者WIN7 32位，请安装32位软件，如果是WIN8 或者WIN7 64位，请安装64位软件。对于WIN7系统的用户如果不知道自己的系统是32位还是64位，可以右击“我的电脑”之后再属性里面看到红色箭头部分指示的是32位系统，您应该选择安装32位软件： 这里我用的操作系统是WIN7 32 ，选择安装Logic+Setup+1.1.19+(32-bit)这个安装文件。 之后一路回车安装好软件。这里不再截图，安装完毕后，可以开启软件，显示出界面：
在安装软件的同时，驱动程序已经被注册到系统了了，当插入SALEAE 16逻辑分析仪后就可以自动安装安装驱动。 第二节， 软件界面的总体介绍 软件界面基本是左中右的布局，左边主要是采集和显示设置，右边是分析和解析设置，中间是波形显示区域。 软件支持脱机模拟采集，没有实际的硬件也可以感受一下软件的界面和操 作。点，可以在波形区域模拟显示出一些软件生成的数据，如果您设置了解析（解析设置方法在下面讲），可以根据所设置的协议，生成一些符合协议解析要求的模拟数值。 由于默认的演示模式是8通道的，我们可以设置成16通道的。
频谱分析仪的使用方法（第一页） 13MHz信号。一般情况下，可以用示波器判断13MHz电路信号的存在与否，以及信号的幅度是否正常，然而，却无法利用示波器确定13MHz电路信号的频率是否正常，用频率计可以确定13MHz电路信号的有无，以及信号的频率是否准确，但却无法用频率计判断信号的幅度是否正常。然而，使用频谱分析仪可迎刃而解，因为频谱分析仪既可检查信号的有无，又可判断信号的频率是否准确，还可以判断信号的幅度是否正常。同时它还可以判断信号，特别是VCO信号是否纯净。可见频谱分析仪在手机维修过程中是十分重要的。 另外，数字手机的接收机、发射机电路在待机状态下是间隙工作的，所以在待机状态下，频率计很难测到射频电路中的信号，对于这一点，应用频谱分析仪不难做到。 一、使用前须知 在使用频谱分析仪之前，有必要了解一下分贝(dB)和分贝毫瓦(dBm)的基本概念，下面作一简要介绍。 1．分贝(dB) 分贝是增益的一种电量单位，常用来表示放大器的放大能力、衰减量等，表示的是一个相对量，分贝对功率、电压、电流的定义如下： 分贝数：101g(dB) 分贝数=201g(dB) 分贝数=201g(dB) 例如：A功率比B功率大一倍，那么，101gA／B=10182’3dB，也就是说，A功率比B功率大3dB， 2．分贝毫瓦(dBm) 分贝毫瓦(dBm)是一个表示功率绝对值的单位，计算公式为： 分贝毫瓦=101g(dBm) 例如，如果发射功率为lmw，则按dBm进行折算后应为：101glmw／1mw=0dBm。如果发射功率为40mw，则10g40w／1mw--46dBm。 二、频谱分析仪介绍 生产频谱分析仪的厂家不多。我们通常所知的频谱分析仪有惠普(现在惠普的测试设备分离出来，为安捷伦)、马可尼、惠美以及国产的安泰信。相比之下，惠普的频谱分析仪性能最好，但其价格也相当可观，早期惠美的5010频谱分析仪比较便宜，国产的安泰5010频谱分析仪的功能与惠美的5010差不多，其价格却便宜得多。 下面以国产安泰5010频谱分析仪为例进行介绍。 1．性能特点 AT5010最低能测到2.24uv，即是-100dBm。一般示波器在lmv，频率计要在20mv以上，跟频谱仪比相差10000倍。如用频率计测频率时，有的频率点测量很难，有的频率点测最不准，频率数字显示不
逻辑分析仪UsbeeAXPro中文说 明书
USBEE AX示波器逻辑分析仪 使用说明书 1. 简介 USBEE AX示波器逻辑分析仪是一款基于PC的高性价比的电路分析调试工具。全面兼容和支持“USBee AX Pro”上位机软件。能够实现示波器，逻辑分析仪等等很多功能。 注意：不正确的使用会造成设备损坏和人员伤害！使用中： ●保证GND线与你的目标板地电位相连； ●数字信号地接DGND.数字通道DCH0 - 7，正常测试电压范围为0-8V； ●模拟信号地接AGND.模拟通道ACH1 的电压范围-10到+10V；x10是 +/-100V; x0.2是+/-2V. ●注意ACH1，x10和x0.2不可同时接，比如测5V信号是接AGND和 ACH1，x10和x0.2悬空； ●数字通道DCH0 - 7保护电压（不损坏仪器，但测试结果不正确）最大 为10v； ●模拟通道保护电压为ACH1：+/-100v；x10：+/-300v；x0.2：+/-10v。 但不要长时间保持。 ●D3V3是仪器提供的输出3.3v的接口，可对外提供不超过100mA的电 流输出。
●USBEE AX的数字通道能够驱动输出，在使用前一定不要超过电压和电 流范围； ●先将USBEE AX连接到PC，再运行软件。 电脑系统要求 ●Windows 8.1/7/ XP或者Windows 操作系统； ●Pentium以上处理器； ●USB2.0高速接口，不支持USB1.1全速端口工作； 设备清单 ●USBEE AX设备一台； ●测试杜邦线一排10根（可选带测试夹）； ●USB连接线一条； ●光盘（软件和说明文档，也可从商品描述页面提供的链接下载）； 设备工作在最高的采样速度时，对USB带宽和处理器资源要求较高，为了保证稳定工作： ●不要在PC上连接其它USB高速设备； ●最好不要在软件采样和输出信号时运行其它的程序。 2.安装USBEE AX PRO 的步骤： 1. 安装软件前请勿连接硬件。 2.安装USBEE AX PRO 软件。注意: a)只有在WIN7 64/WIN8 64下才选择安装axsw64BIT_English文件夹。其余选择32位版本。
安立频谱仪介绍
安立频谱仪使用章程 频谱分析仪的正面图如下： 下面介绍这些按键的功能： 第三章按键功能 硬键 硬键是指在面板上用黑色和蓝色标注的按键，他们有着特殊的功能。功能硬键有四种，他们位于下端，而右端则有17个硬键，这17个硬键中有12个硬键有着双重的功能，这就要看当前所使用的模式而决定它们的功能了。 功能硬键 模式 按一下“MODE（模式）”键，然后用“UP/DOWN（上下）”键来选 择所要操作的模式，然后再按“ENTER（回车）”键来确认所选的模 式。 FREQ/SPAN （频率/频宽）
按一下“FREQ/SPAN(频率/频宽)”键后便会出现“CENTER(中心)、 FREQUENCY（频率）、SPAN(频宽)、START(开始频率)和STOP(截 至频率)的选项。我们可以通过相应的软键来选择相应的功能。AMPLITUDE (幅度) 按一下“AMPLITUDE(幅度)”键后便会出现“REFLEVEL(参考电平)、 SCALE(刻度)、ATTEN(衰减)、REF LEVEL OFFSET(参考电平偏移)、 和UNITS(单位)”选项，我们可以通过相应的软键来选择相应的功能。BW/SWEEP (带宽/扫描) 按一下“BW/SWEEP(带宽/扫描)”键后便会出现“RBW、VBW、 MAXHOLD(保持最大值)、A VERAGE(平均值)和DETECTION（检 测）”选项，我们可以通过相应的软键来选择相应的功能。KEYPAD HARD KEYS (面板上的硬键) 下面的这些按键是用黑色字体标注的 0～9 是当需要进行测量或修改数据时用来输入数据的。 ＋/－ 这个键可以使被操作的数值的符号发生变化即正负变化。 . 入小数点。 ESCAPE CLEAR 这个键的功能是退出当前操作或清楚显示。如果您在进行参数修改时 按一下这个键，则该参数值只保存最后一次操作的有效值，如果再按 一次该键则关闭该参数的设置窗口。再正常的前向移动（就是进入下 层目录）中，按一下这个键则返回上层目录。如果在开该仪器的时候 一直按下该键则仪器将恢复出厂时的设置。 UP/DOWN ARROWS
什么是热分析？ 热分析是在程序温度（指等速升温、等速降温、恒温或等级升温等）控制下测量物质的物理性质随温度的变化，用于研究物质在某一特定温度时所发生的热学、力学、声学、光学、电学、磁学等物理参数的变化。由此进一步研究物质的结构和性能。 热重法：在程序温度控制下测量试样的质量随温度变化的一种技术。 用途：用来测量金属络合物的降解、物质的脱水、分解等 垂线：很容易折损，而又价额昂贵。每次做完样后的清洗要小心。 垂线的清洁 如右图所示，用针筒抽取乙醇冲洗。如果乙醇不能清洁，也可选用其他的溶剂清洗。操作时，加热炉要放回机器内，以免溶液滴到加热炉内。 切忌用火烤，会造成不可逆的仪器损坏。 支撑管的清洁 可以用镊子垂直方向小心取出，注意不要碰到加热模块。然后可以用乙醇清洗，如果还是擦不干净，也可以用洗液泡。 然后擦干放加热炉即可 样品托盘及挂钩 清洁时，用黑色小板托住样品托盘后再取下。然后分别用酒精灯灼烧切忌， 不能放在一起烧，因为挂钩很细，加热后变软，如果还加上托盘重量，就很容易变形。
TGA 图怎么看？ TGA 举例1： 取点规则，一般在平 台的两边。 失重线，纵坐标为重量剩 余百分比。 微分线，由失重线的失重速度快慢所得到，即△W/△T 如有特殊报告要求，也可以选△Y ，△X ，Onset 等。 横坐标也可以是时间，如果这时作微分线，那微 分线得意思就是△W/△Time 80℃-120℃左右，一般为游离水的失重造成
TGA举例2 TGA举例3 这个失重的开时温度比前一个要早一些。推测它的失重是由水或某种有机溶剂的残留引起的。 30℃-60℃可能是因为有 机溶剂引起的失重，列入 乙醇等。 150℃和300℃是样品的分部分解 引起的
热重分析仪方法 当被测物质在加热过程中有升华、汽化、分解出气体或失去结晶水时，被测的物质质量就会发生变化。这时热重曲线就不是直线而是有所下降。通过分析热重曲线，就可以知道被测物质在多少度时产生变化，并且根据失重量，可以计算失去了多少物质，（如CuSO4·5H2O中的结晶水）。从热重曲线上我们就可以知道CuSO4·5H2O 中的5个结晶水是分三步脱去的。通过TGA 实验有助于研究晶体性质的变化，如熔化、蒸发、升华和吸附等物质的物理现象；也有助于研究物质的脱水、解离、氧化、还原等物质的化学现象。热重分析通常可分为两类：动态(升温)和静态(恒温)。热重法试验得到的曲线称为热重曲线(TG曲线)，TG曲线以质量作纵坐标，从上向下表示质量减少；以温度(或时间)作横坐标，自左至右表示温度(或时间)增加。 热重分析仪的工作原理 热重分析仪主要由天平、炉子、程序控温系统、记录系统等几个部分构成。 最常用的测量的原理有两种，即变位法和零位法。所谓变位法，是根据天平梁倾斜度与质量变化成比例的关系，用差动变压器等检知倾斜度，并自动记录。零位法是采用差动变压器法、光学法测定天平梁的倾斜度，然后去调整安装在天平系统和磁场中线圈的电流，使线圈转动恢复天平梁的倾斜，即所谓零位法。由于线圈转动所施加的力与质量变化成比例，这个力又与线圈中的电流成比例，因此只需测量并记录电流的变化，便可得到质量变化的曲线。 影响热重分析的因素 试样量和试样皿 热重法测定，试样量要少，一般2～5mg。一方面是因为仪器天平灵敏度很高(可达0．1μg)，另一方面如果试样量多，传质阻力越大，试样内部温度梯度大，甚至试样产生热效应会使试样温度偏离线性程序升温，使TG曲线发生变化，粒度也是越细越好，尽可能将试样铺平，如粒度大，会使分解反应移向高温。 试样皿的材质，要求耐高温，对试样、中间产物、最终产物和气氛都是惰性的，即不能有反应活性和催化活性。通常用的试样皿有铂金的、陶瓷、石英、玻璃、铝等。特别要注意，不同的样品要采用不同材质的试样皿，否则会损坏试样皿，如：碳酸钠会在高温时与石英、陶瓷中的SiO2反应生成硅酸钠，所以像碳酸钠一类碱性样品，测试时不要用铝、石英、玻璃、陶瓷试样皿。铂金试样皿，对有加氢或脱氢的有机物有活性，也不适合作含磷、硫和卤素的聚合物样品，因此要加以选择。 升温速率
频谱分析仪的使用方法 13MHz信号。一般情况下，可以用示波器判断13MHz电路信号的存在与否，以及信号的幅度是否正常，然而，却无法利用示波器确定13MHz电路信号的频率是否正常，用频率计可以确定13MHz电路信号的有无，以及信号的频率是否准确，但却无法用频率计判断信号的幅度是否正常。然而，使用频谱分析仪可迎刃而解，因为频谱分析仪既可检查信号的有无，又可判断信号的频率是否准确，还可以判断信号的幅度是否正常。同时它还可以判断信号，特别是VCO信号是否纯净。可见频谱分析仪在手机维修过程中是十分重要的。 另外，数字手机的接收机、发射机电路在待机状态下是间隙工作的，所以在待机状态下，频率计很难测到射频电路中的信号，对于这一点，应用频谱分析仪不难做到。 一、使用前须知 在使用频谱分析仪之前，有必要了解一下分贝(dB)和分贝毫瓦(dBm)的基本概念，下面作一简要介绍。 1．分贝(dB) 分贝是增益的一种电量单位，常用来表示放大器的放大能力、衰减量等，表示的是一个相对量，分贝对功率、电压、电流的定义如下： 分贝数：101g(dB) 分贝数=201g(dB) 分贝数=201g(dB) 例如：A功率比B功率大一倍，那么，101gA／B=10182’3dB，也就是说，A功率比B功率大3dB， 2．分贝毫瓦(dBm) 分贝毫瓦(dBm)是一个表示功率绝对值的单位，计算公式为： 分贝毫瓦=101g(dBm) 例如，如果发射功率为lmw，则按dBm进行折算后应为：101glmw／1mw=0dBm。如果发射功率为40mw，则10g40w／1mw--46dBm。 二、频谱分析仪介绍 生产频谱分析仪的厂家不多。我们通常所知的频谱分析仪有惠普(现在惠普的测试设备分离出来，为安捷伦)、马可尼、惠美以及国产的安泰信。相比之下，惠普的频谱分析仪性能最好，但其价格也相当可观，早期惠美的5010频谱分析仪比较便宜，国产的安泰5010频谱分析仪的功能与惠美的5010差不多，其价格却便宜得多。 下面以国产安泰5010频谱分析仪为例进行介绍。 1．性能特点 AT5010最低能测到2.24uv，即是-100dBm。一般示波器在lmv，频率计要在20mv以上，跟频谱仪比相差10000倍。如用频率计测频率时，有的频率点测量很难，有的频率点测最不准，频率数字显示不稳定，甚至测不出来。这主要足频率计灵敏度问题，即信号低于20mv频率计就无能为力了，如用示波器测量时，信号5％失真示波器看不出来，在频谱仪上万分之一的失真都能看出来。
声明: 本文来自 另外，将68013制作逻辑分析仪的原理说明简单整理了一下，大家可以看看，如果想DIY也就不难了。点击此处下载ourdev_578200.pdf(文件大小:203K)(原文件名:逻辑分析仪开发手册.pdf) 前言 一、什么是逻辑分析仪 二、使用介绍 三、安装说明 四、Saleae软件使用方法 五、逻辑分析仪硬件安装 六、使用Saleae分析电视红外遥控器通信协议 七、使用Saleae分析UART通信 八、使用Saleae分析IIC总线通信 九、使用Saleae分析SPI总线通信 十、Saleae逻辑分析仪使用问题和注意事项 https://www.doczj.com/doc/6113072759.html,/item.htm?id=6293581805
淘宝地址：https://www.doczj.com/doc/6113072759.html,/item.htm?id=6293581805 (原文件名:21.jpg) 前言： 工欲善其事，必先利其器。逻辑分析仪是电子行业不可或缺的工具。但是由于一直以来，逻辑分析仪都属于高端产品，所以价格居高不下。因此我们首先要感谢Cypress公司，提供给我们68013这么好的芯片，感谢俄罗斯毛子哥将这个Saleae逻辑分析仪开源出来，让我们用平民的价格，就可以得到贵族的待遇，获得一款性价比如此之高的逻辑分析仪，可以让我们在进行数字逻辑分析仪的时候，快速查找并且解决许多信号、时序等问题，进一步提高我们处理实际问题的能力。 原本计划，直接将Saleae的英文版本使用手册直接翻译过来提供给大家，我花费半天时间翻译完后，发现外国人写的东西不太符合我们国人的思维习惯，当然，也是由于我的英语水平有限，因此，我根据自己摸索这个Saleae的过程，写了一份个人认为符合中国人习惯的Saleae，提供给大家，希望大家在使用过程中少走弯路，快速掌握使用方法，更快的解决自己实际遇到的问题。 由于个人水平有限，因此在文章撰写的过程中难免存在问题和错误，如果有任何问题，希望大家能够提出来，我会虚心接受并且改进，希望通过我们的交流，给越来越多的人提供更加优秀的资料，共同进步。 一、什么是逻辑分析仪： 逻辑分析仪是一种类似于示波器的波形测试设备，它通过采集指定的信号，并通过图形或者数据统计化的方式展示给开发人员，开发人员通过这些图形化时序信号按照协议来分析硬件或者软件中的错误。逻辑分析仪是设计中不可缺少的设备，通过它，可以迅速定位错误，发现并解决问题，达到事半功倍的效果，尤其在分析时序，比如1wire、I2C、UART、SPI、CAN等数据的时候，应用逻辑分析仪解决问题非常快速。 如果在你的工作中有数字逻辑信号，你就有机会使用逻辑分析仪。因此应选好一种逻辑分析仪，既符合所用的功能，又不太超越所需的功能。用户多半会找一种容易操作的仪器，它在功能控制上操作步骤较少，菜单种类也不多，而且不太复杂。而Saleae就是一种低端的，比较适合大众化的逻辑分析仪，价格便宜，而且常用的逻辑分析功能足够，人机界面人性化，非常适合实用。 以下是一个Saleae分析I2C时序的一个典型例子：从图中我们可以清晰的看到，起始信号start，从地址是0x50的器件中去读取数据，第一个字节是0xc0，第二个字节是0x50，有了逻辑分析仪，我们可以快捷的找出我们的I2C时序读写数据的正确与否，可以很快将问题解决。后边的讲解中，我会详细讲解逻辑分析仪分析红外遥控器，UART时序，I2C 时序的具体方式方法。
keil的软件逻辑分析仪（logic analyzer）使用教程 在keil MDK中软件逻辑分析仪很强的功能，可以分析数字信号，模拟化的信号，CPU的总线(UART、IIC等一切有输出的管脚)，提供调试函数机制，用于产生自定义的信号，如Sin，三角波、澡声信号等，这些都可以定义。 以keil里自带的stm32的CPU为例，对PWM波形跟踪观测，打开 C:\Keil\ARM\Boards\Keil\MCBSTM32\PWM_2目录下的stm32的Dome，第一步：进行仿真配置，如图： (原文件名:1.jpg) 把开工程中的Abstract.txt文件有对工程的描述，PWM从PB0.8和PB0.9输出，稍后将它加入软件逻辑分析仪里。 The 'PWM' project is a simple program for the STM32F103RBT6 using Keil 'MCBSTM32' Evalua tion Board and demonstrating the use of PWM (Pulse Width Modulation) with Timer TIM4 . Example functionality: - Clock Settings: - XTAL = 8.00 MHz - SYSCLK = 72.00 MHz - HCLK = SYSCLK = 72.00 MHz - PCLK1 = HCLK/2 = 36.00 MHz - PCLK2 = HCLK = 72.00 MHz - ADCLK = PCLK2/6 = 12.00 MHz
- SYSTICK = HCLK/8 = 9.00 MHz - TIM4 is running at 100Hz. LEDs PB8, PB9 are dimmed using the PWM function of TIM4 channel3, channel4 The Timer program is available in different targets: Simulator: - configured for software Simulator MCBSTM32: - runs from Internal Flash located on chip (used for production or target debugging) 第二、选择软件仿真 (原文件名:2.jpg)
3.热重分析仪（TG） 一、实验目的及要求 1.了解热重分析法的基本原理和热重分析仪的基本构造； 2.掌握热重分析仪的使用方法 二、实验原理 样品在热环境中发生化学变化、分解、成分改变时可能伴随着质量的变化。热重分析就是在不同的热条件(以恒定速度升温或等温条件下延长时间)下对样品的质量变化加以测量的动态技术。热重法是在程序控温下，测量物质的质量与温度或时间的关系的方法，通常是测量试样的质量变化与温度的关系。热重分析的结果用热重曲线或微分热重曲线表示。TG曲线以质量作纵坐标，从上向下表示质量减少；以温度(或时间)为横坐标，自左至右表示温度(或时间)增加。 热重分析仪主要由天平、炉子、程序控温系统、记录系统等几个部分构成。最常用的测量的原理有两种，即变位法和零位法。所谓变位法，是根据天平梁倾斜度与质量变化成比例的关系，用差动变压器等检知倾斜度，并自动记录。零位法是采用差动变压器法、光学法测定天平梁的倾斜度，然后去调整安装在天平系统和磁场中线圈的电流，使线圈转动恢复天平梁的倾斜，即所谓零位法。由于线圈转动所施加的力与质量变化成比例，这个力又与线圈中的电流成比例，因此只需测量并记录电流的变化，便可得到质量变化的曲线。 三、实验仪器 热重分析仪（SDT）Q600 能够同时提供DSC和TGA信号。在加热或冷却的过程中，随着物质的结构、相态和化学性质的变化都会伴有相应的物理性质的变化，SDT是测量物质质量变化的仪器。这些变化过程有助于研究晶体性质的变化，如熔化、蒸发、升华和吸附等物质的物理现象；也有助于研究物质的脱水、解离、氧化、还原等物质的化学现象。美国TA仪器公司生产。 技术参数: 温度范围：室温～1500℃；温度准确度：±0.1℃；量热精度：±2%；重量灵敏度：0.1μg；重量漂移：<1μg/h；加热速度：0.1～100℃/min 主要附件：Q系列Advantage操作软件及分析软件 功能应用：无机物、有机物和高分子材料的热分解温度、无机物、有机物和高分子材料的热重变化及变化速率。测定热稳定性、抗热氧化性；热分解及失重阶梯失重量；测定化合物的组成；测定吸附水、结晶水、结合水、配位水的含量；吸湿性、脱水速率；干燥工艺条件测定；热分解速率测定；热降解和热氧降解过程测定；热降解及热氧降解动力学参数测定；药物存放期预测等。 四、注意事项 样品要求：固体、液体样品均可做；固体样品要求颗粒均匀，样品粒度尽量磨成小颗粒；样品量：几个毫克到10毫克之间均可。
同步热分析仪STA 设备建议书 公司名称：上海和晟仪器科技有限公司 品牌：HESON/和晟 联系人：蒋和義
公司简介 本公司属台资企业在大陆设有工厂总部位于上海，在国内设有6家分公司，服务更便捷。有独立的生产中心，研发中心，质检中心和售后中心全国统筹调度。已成功入选上海造币厂，上汽股份，日本三菱，韩国三星电子，美国颇尔，美国库柏，德国博士工具，富士康等知名企业优质供应商名单，我司产品全面通过CE 认证，满足欧盟客户需求，已销往卢森堡，意大利，西班牙，新加坡，肯尼迪， 日本等国家和地区 产 同步热分析将热重分析TG 与差热分析DTA 或差示扫描量热DSC 结合为一体，在同一次测量中利用同一样品可同步得到TG 与DTA 或DSC 的信息。。 通常用质量对温度或者时间绘制的TGA 曲线表示TGA 测量结果。TGA 信号对温度或时间的一阶微商，称为DTG 曲线，是对TGA 信号重要的补充性表示。 产品简介
一水草酸钙台阶式分解TGA曲线和DTA曲线，试样质量19mg、升温速率30K/min、氮气气氛。TGA曲线已归一化因而开始于100%。三个失重台阶的温度范围在一阶微商即DTA曲线上特别清晰。在120℃，一水草酸钙失去结晶水。继续升温，无水草酸钙分两步进行分解。 当试样以不同方式失去物质或与环境气氛发生反应时，质量出现变化，在TGA曲线上产生台阶，货在DTA曲线上产生峰值有许多不同的效应可引起试样失去或者获得质量，如 挥发性组分的蒸发，干燥，气体、水分和其他挥发性物质的解吸附和吸附，结晶水的失去； 在空气或者氧气中金属的氧化； 在空气或者氧气中有机物的氧化分解； 在惰性气氛中的热分解，伴随有气体产生的生成。对有机化合物，该过程称为热解； 试样与气氛的非均相反应，如与含氢吹扫气体进行的还原反应。 有些材料的磁性随着温度而改变，会发生居里转变，如果在非均匀磁场中测试这种材料，则在居里转变处磁引力的改变会产生TGA信号。
热重分析仪TG 209 F1真空实验操作方法 耐驰公司应用实验室 前 言 TG 真空试验的作用主要是解决常压下物质分解与成分挥发等失重过程重叠在一起不利于分析图谱这一问题。它是利用真空下物质的沸点会向低温移动这一性质来达到将重叠峰分开这一目的。 实验操作步骤 1.试验前先调整真空设置，测试窗口中“附加功能”——“真空设置 ” 进入真空设置界面，真空设置中可参考下图中的参数进行设置。注意一点的是，测试过程中一般设为“停止泵的运行”较好，否则泵工作会对TG 曲线造成干扰。 初始设置时，将“使用AUTOVAC 控制器”打钩，真空循环三次以保证体系中洁净、没有残留的气氛。并将“测量期间保持真空”打钩。 2.设置实验参数 2.1 按正常的实验程序操作，打开相应的温度校正 文件，进入实验编程界面，编写如下程序：
2.2 设置真空升温程序，此时体系处于真空状态，所有气体选项均不可用。 2.3 真空段结束后设置15分钟恒温段，并将界面左下角的“真空”选项的钩去掉。这样仪器将在该温度段中自动从真空恢复到常压阶段。此处需注意： A. 此温度段时间不能短于“真空设置”中的“真空关闭段最短时间”，一般设为15min，以让系统有充分的时间从真空恢复到常压并趋于稳定。 B. 另外左下角的“真空”选项的钩一定要去掉，否则下一步将无法进行吹扫气和保护气的设置。 2.4 设置实验气氛下的升温程序。将界面右边的气体选项打钩，同常规实验编程一样。 2.5 本文档选用的温度程序还包含一步吹扫气为氧气的程序段。这一设置主要是用于烧除样品分解残留碳，客户可根据实际需要进行取舍。 2.6 设置结束段
频谱分析是观察和测量信号幅度和信号失真的一种快速方法，其显示结果可以直观反映出输入信号的傅立叶变换的幅度。信号频域分析的测量范围极其宽广，超过140dB，这使得频谱分析仪成为适合现代通信和微波领域的多用途仪器。频谱分析实质上是考察给定信号源，天线，或信号分配系统的幅度与频率的关系，这种分析能给出有关信号的重要信息，如稳定度，失真，幅度以及调制的类型和质量。利用这些信息，可以进行电路或系统的调试，以提高效率或验证在所需要的信息发射和不需要的信号发射方面是否符合不断涌现的各种规章条例。 现代频谱分析仪已经得到许多综合利用，从研究开发到生产制造，到现场维护。新型频谱分析仪已经改名叫信号分析仪，已经成为具有重要价值的实验室仪器，能够快速观察大的频谱宽度，然后迅速移近放大来观察信号细节已受到工程师的高度重视。在制造领域，测量速度结合通过计算机来存取数据的能力，可以快速，精确和重复地完成一些极其复杂的测量。 有两种技术方法可完成信号频域测量（统称为频谱分析）。 1．FFT分析仪用数值计算的方法处理一定时间周期的信号，可提供频率；幅度和相位信息。这种仪器同样能分析周期和非周期信号。FFT 的特点是速度快；精度高，但其分析频率带宽受ADC采样速率限制，适合分析窄带宽信号。 2．扫频式频谱分析仪可分析稳定和周期变化信号，可提供信号幅度和频率信息，适合于宽频带快速扫描测试。
图1 信号的频域分析技术 快速傅立叶变换频谱分析仪 快速傅立叶变换可用来确定时域信号的频谱。信号必须在时域中被数字化，然后执行FFT算法来求出频谱。一般FFT分析仪的结构是：输入信号首先通过一个可变衰减器，以提供不同的测量范围，然后信号经过低通滤波器，除去处于仪器频率范围之外的不希望的高频分量，再对波形进行取样即模拟到数字转换，转换为数字形式后，用微处理器（或其他数字电路如FPGA,DSP）接收取样波形，利用FFT计算波形的频谱，并将结果记录和显示在屏幕上。 FFT分析仪能够完成多通道滤波器式同样的功能，但无需使用许多带通滤波器，它使用数字信号处理来实现多个独立滤波器相当的功能。从概念上讲，FFT方法
频谱分析仪 Spectrum Analyzer 系统主要的功能是在频域里显示输入信号的频谱特性.频谱分析仪依信号处理方式的不同,一般有两种类型;即时频谱分析仪(Real-Time Spectrum Analyzer)与扫描调谐频谱分析仪(Sweep-Tuned Spectrum Analyzer). 即时频率分析仪的功能为在同一瞬间显示频域的信号振幅,其工作原理是针对不同的频率信号而有相对应的滤波器与检知器(Detector),再经由同步的多工扫描器将信号传送到CRT萤幕上,其优点是能显示周期性杂散波(Periodic Random Waves)的瞬间反应,其缺点是价昂且性能受限於频宽范围,滤波器的数目与最大的多工交换时间(Switching Time). 最常用的频谱分析仪是扫描调谐频谱分析仪,其基本结构类似超外差式接收器,工作原理是输入信号经衰减器直接外加到混波器,可调变的本地振荡器经与CRT同步的扫描产生器产生随时间作线性变化的振荡频率,经混波器与输入信号混波降频后的中频信号(IF)再放大,滤波与检波传送到CRT的垂直方向板,因此在CRT的纵轴显示信号振幅与频率的对应关系. 影响信号反应的重要部份为滤波器频宽,滤波器之特性为高斯滤波器(Gaussian-Shaped Filter),影响的功能就是量测时常见到的解析频宽(RBW,ResolutionBandwidth).RBW代表两个不同频率的信号能够被清楚的分辨出来的最低频宽差异,两个不同频率的信号频宽如低於频谱分析仪的RBW,此时该两信号将重叠,难以分辨,较低的RBW固然有助於不同频率信号的分辨与量测,低的RBW将滤除较高频率的信号成份,导致信号显示时产生失真,失真值与设定的RBW密切相关,较高的RBW固然有助於宽频带信号的侦测,将增加杂讯底层值(Noise Floor),降低量测灵敏度,对於侦测低强度的信号易产生阻碍,因此适当的RBW宽度是正确使用频谱分析仪重要的概念. (9)中频带宽选择(400kHz、20kHz)：选在20kHz带宽时，噪声电平降低，选择性提高，能分隔开频率更近的谱线。此时，若扫频宽度过宽，则由于需要更长的扫描时间，从而造成信号过渡过程中信号幅度降低，使测量不正确。此时“校准失效”LED发亮即表明这一点。 (10)视频滤波器选择(VIDEOFILTER)：可用来降低屏幕上的噪声，它使得正常情况下，平均噪声电平刚好高出其信号(小信号)谱线，以便于观察。该滤波器带宽是4kHz。 (11)Y移位调节(Y-POS)：调节射速垂直方向移动。 (12)BNC 5011输入端口(1NPUT 5011)：在不用输入衰减时，不允许超出的最大允许输入电压为+25V(DC)和十10dBm(AC)。当加上40dB最大输入衰减时，最大输入电压为+20dBm。 (13)衰减器按钮：输入衰减器包括有4个10dB衰减器，在信号进入第一混频器之前，利用衰减器按钮可降低信号幅度。按键压下时衰减器接人。
泰克逻辑分析仪文章 ------------------------------------------------- 最大限度地利用逻辑分析仪 Chris Loberg，泰克公司 逻辑分析仪是一种多功能工具，可以帮助工程师进行数字硬件调试、设计检验和嵌入式软件调试。然而，许多工程师在应该使用逻辑分析仪时，却使用了数字示波器，其主要原因是工程师比逻辑分析仪更熟悉示波器。但逻辑分析仪在过去几年中已经取得了很大的进步，对许多应用，它们将比其它仪器帮助您用更少的时间找到麻烦的漏洞的根本原因。 当然，示波器和逻辑分析仪之间有很多类似的地方，但也有一些重要的差异。为了更好地了解两台仪器可以怎样满足您的特定需求，我们有必要先比较一下它们的各种功能。 数字示波器是一种通用的查看信号的基础工具。其高采样率和高带宽，可以在时间跨度内捕获许多数据点，测量信号跳变(边沿)、瞬态事件和小时间增量。示波器当然也能查看与逻辑分析仪相同的数字信号，但示波器一般用于模拟测量，如上升时间、下降时间、峰值幅度及边沿间经过的时间。 示波器一般有最多四条输入通道。但在您需要同时测量五个数字信号时，或您的数字系统拥有一条32位数据总线和一条64位地址总线时，该怎么办呢？这时需要工具中有多得多的输入。逻辑分析仪一般有34-136条通道。每条通道输入一个数字信号。某些复杂的系统设计要求数千条输入通道。市场上也为这些任务提供了近似规模的逻辑分析仪。 与示波器不同，逻辑分析仪不测量模拟细节，而是检测逻辑门限电平。逻辑分析仪只查找两个逻辑电平。在输入高于门限电压(V)时，我们把这个电平称为“高”或“1”。相反，我们把低于Vth的电平称为“低”或“0”。在逻辑分析仪对输入采样时，它存储一个“1”或一个“0”，具体视相对于电压门限的信号电平而定。 逻辑分析仪的波形定时显示与产品技术资料中找到的或仿真器生成的定时图类似。所有信号都时间相关，以便能够查看建立时间和保持时间、脉宽、外来数据或丢失数据。除高通道数外，逻辑分析仪提供了许多重要功能，支持数字设计检验和调试，包括： ?完善的触发功能，您可以指定逻辑分析仪采集数据的条件 ?高密度探头和适配器，简化与被测系统(SUT)的连接 ?分析功能，把捕获的数据转换成处理器指令，并关联到源代码 使用逻辑分析仪与使用其它仪器类似。下面几节将介绍四个主要步骤：连接，设置，采集，分析。 连接被测系统
STA同步热分析仪问题解答 1）为何选择Linseis同步热分析仪 1. 同时定量测定样品的重量和热量随温度的变化，可以使用户在完全相同的测试条件下研究 某一样品的化学变化和物里相变所引起的质变与热变. 2. 该仪器以灵活的配置通过不同的测量方式在真空、静止或流动的气氛中进行工作。并可根 据不同的温度范围选择合适的加热炉，从而满足用户不同的需要，作为一个大的测量系统的一部份。 3. 方便的接口可以联结其他的分析仪器，如色谱仪，质谱仪等协同完成您的分析测量工作。 4. 热天平有水平和垂直的两种模式定购，用户可以方便的更换。 5. 天平设计为真空气氛（10E-5mbar）、惰性气体、氧化还原气体、流动的潮湿气体、腐蚀 性气体。 6. 可变换的加热炉程序在水平模式下温度范围：-150－1000 ℃；在垂直模式下温度范 围：常温－2400 ℃。 2) Linseis 的STA软件有那些特点？ 1. 文本编辑纲要功能 2. 输入最少参数的重复测量 3. 可编程的气体控制 4. 热电偶破裂保护 5. 当前测量的赋值 6. 统计评估包 7. 32条曲线的比较 8. 多模式分析：DSC、TG、TMA（热机械分析仪）、DIL（热膨胀仪）等 9. 曲线放大功能 10. 一阶、二阶求导 11. 评估结果的保存和导出 12. ASCII码的导入和导出 13. 数据可以导入MS EXCEL 14. 断电情况下数据保存 15. 自由缩放比例 3）Linseis的热分析产品的快速加热原理？加热速率可达？ 电磁感应：400K/S 4）同步热分析的应用主要是那些方面： 1. 研究热降解 2. 化学反应所导致的质量变化诸如吸收、吸附、脱附； 3. 样品纯度 4. 热分析动力学 5. 氧化还原反应
Ａｇilent E4４02B ESA－EＳeries SpectruｍAｎ alyzer 使用方法简介 宁波之猫 200９-６-17
?目录 1简介............................................................................................. 错误!未定义书签。 2.面板............................................................................................. 错误!未定义书签。 2.1操作区?错误!未定义书签。 2.2 屏幕显示......................................................................... 错误!未定义书签。３.各功能区的使用....................................................................... 错误!未定义书签。 ３.1 Conｔrol（控制）功能区 ............................................ 错误!未定义书签。 3．１.1 FreqｕｅｎcｙＣhａnnel:?错误!未定义书签。 ３．1.2Ｓpan X Sｃale?错误!未定义书签。 3．1.3Aｍpｌｉtuｄe ＹＳcalｅ .......................... 错误!未定义书签。 3．1.4 Input/Ｏuｔput ................................................... 错误!未定义书签。 3.１．5 Vｉew／Tｒａｃe?错误!未定义书签。 3.1.6 Display?错误!未定义书签。 3.1.7 Mode ..................................................................... 错误!未定义书签。 3.1.8 Det／Demod?错误!未定义书签。 3．1.9Ａｕto Cuple?8 3.1．１0BW/Avg?错误!未定义书签。 3．1.11 Tｒｉg ............................................................. 错误!未定义书签。 3．1．12 Ｓiｎgｌe?错误!未定义书签。 3.1．1３Ｓｗeep?错误!未定义书签。 ３.1．１4Ｓoｕrｃe?错误!未定义书签。 3．2 Ｍeasurｅ（测量）功能区?错误!未定义书签。 3.２.1Ｍeaｓｕre?错误!未定义书签。 3．2．2 Meａs Sｅｔup .............................................. 错误!未定义书签。 3.2.3 Ｍeａs Contｒｏl ................................................ 错误!未定义书签。 3.3 Ｓystem（系统）功能区............................................... 错误!未定义书签。 3．３.１System ......................................................... 错误!未定义书签。 3.3.2 Preset?错误!未定义书签。 3．３.3 Fｉle?错误!未定义书签。 3.3．4 Ｐrｉｎt Setup&Ｐrint .................................. 错误!未定义书签。 ３.４Mａrkeｒ（标记)功能区?错误!未定义书签。 3.4．1 Mａrkeｒ........................................................... 错误!未定义书签。 3.4.2 Ｐeak Seａrch ................................................... 错误!未定义书签。 ３.4.3 Freq Couｎt?错误!未定义书签。 3.４.4Mａrkｅｒ→?错误!未定义书签。 4.测试步骤举例............................................................................. 错误!未定义书签。