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测试技术历年真题及答案

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07年试题及答案

1.在X射线衍射中,根据布拉格方程说明若某一固溶体衍射峰向小小角度偏移,则材料

内部晶体结构发生了什么变化?

答:根据布拉格方程2dsinΘ=λ,可以看出由于入射的x射线不变,也就是“λ”不变,随着衍射峰2Θ的减小,能看出来d值在增大,可以知道内部晶体结构发生了膨胀,使d值变大了。

2.WDS与EDS的优缺点?有一样品,分析其中的元素和某一元素的不同区域分布,分

别用哪种分析方法?为什么?要注意哪些问题?

能谱仪波普仪

优点

缺点

原理:入射电子照射试样,由于能级结构不同,激发的X射线光子的能量也不同,通过测试X射线光谱的波长和能量来进行元素的定量或定性分析。

分析其中某部位的元素用能谱仪,分析某一元素的不同区域分布用波普仪

原因:因为能普仪检测的X射线能量较高,进行点分析效果比较好,可以一次性对分析点内的所有的元素进行分。注意由于分辨率比较低,定量分析准确性不高。

而波普仪由于分光晶体使X射线强度下降,但是分辨率较高,适合做线分析和面分析,对试样进行扫描过程中,可以测得同种元素在不同区域的分布及含量。注意:

要求样品表面平整光滑。

3.有一粉末样品,要分析其中的物相及其含量,用什么分析分析方法?简述其步骤。答:分析粉末样品的物相及含量,可以用XRD的物相定量和定性分析。

定性分析步骤:

a) 制成粉末样品,粒度要均匀合适,不能有明显的取向性,用衍射仪法得到试样的x衍射

谱;

b)确定其衍射峰(d值和20)和相对强度

c) 把d值按相对强度排列,取3强线,查找hanawalt索引或fink索引

d)根据前3强线,查找可能物相,再对照4到8强线,找出相应的物相

f)如果d值与相对强度都能对上,则鉴定完毕,如果没有,则可以剔除第一强线,用第2强线做最强线往下找,以此类推,直到找到全部衍射峰对应的物质。

定量分析的步骤:

a)在粉末中加入一定质量参比物(例a-Al2O3),用衍射仪法得出x衍射图,

b)测定样品中物相和参比物的相对强度

c)查表找出样品物相中所有物质的参比强度,如果没有,可以以1:1的比例配置混合物,样品物相与参比物物相强度比就为参比强度K

d)由K值法,可以得到Xi=。。。,就能得出相应的相的含量。

4.什么是背闪射电子像和二次电子像?其特点和应用?

a)二次电子像:是表面形貌衬度,它是利用对样品表面形貌变化敏感的物理信号作为调节信号得到的衬度像。

特点:二次电子能量较低,容易改变方向,平均自由程较短,一般从表面5到10nm的深度范围内发射出来,信号收集率高,因此成像分辨率高,达5-10nm,景深大,立体感强,信号大,信噪比好。

成像原理:不同的形貌产生的二次电子量不同,不同部位对于检测器收集信息的角度也不同,从而是样品表面不同区域形成不同的亮度,因而可以分析形貌。

应用:适用于表面形貌分析,观察材料表面形貌、断口、内部显微结构等,常用于SEM 的形貌分析。

b)背散射电子成像:是原子系数衬度,是利用对样品微区原子系数或化学成分变化敏感的物理信号作为调制信号得到的衬度像。

特点:背散射电子能量很高,不容易改变方向,信号收集率低,因此成像分辨率不高,只有50-200nm,一般不能做形貌,只能做成分分布分析。

成像原理:不同的原子序数对入射电子的散射作用不同,原子序数越大,散射作用越大,散射电子量也就越多,成像亮度越高,因此能显示成分分布的信息。

应用:适于微区成分分析,观察试样的平均原子系数和形貌,如在SEM中应用。

5.什么是明场像,暗场像?二者的区别及应用?

明场像:在电镜成像过程中,让光阑挡住衍射线而让透射线透过而成的像。

暗场像:在电镜成像过程中,让光阑挡住透射线而让衍射线透过而成的像。

区别:1)明场像是由透射线成的像,因此衍射强度高的地方在明场像中会很暗,其它部位则比较亮;而暗场像是由衍射线成的像,因此衍射强的地方在暗场像中会很亮,而其他部位则比较暗。

2)暗场像的衬度明显高于明场像

应用:可以用明暗场像照片对照,方便进行物相鉴定和缺陷分析。

例如样品厚度,样品变形,晶界,层错,位错等对衍射强度的影响,会造成有规律的消光现象,出现等厚消光条纹,弯曲消光条纹,倾斜晶界条纹,层错条纹,位错条纹等衍射衬度,可以利用这些条纹的特征分析样品的结构和存在的缺陷。

6.有一纳米级薄膜样品,在基体上分别什么方法分析其化学组成,相组成和表面形貌(分辨率<1nm)?简述其原理及分析精度。

纳米薄膜:a)化学组成:

b) 相组成:可用XRD小角度掠射的方法,可以防止x射线穿透薄膜进入基底中,使衍射谱中含有基地的衍射线,因此通过小角度衍射测试出衍射花样,根据衍射花样的晶面间距和衍射线的相对强度,达到鉴别物相的组成,分析精度为1%。

c)表面形貌:可以用原子力显微镜(AFM)(分辨率纵>0.05nm,横向>0.15nm),用一个对力非常敏感的微悬臂,尖端有一接近原子尺寸的探针,当探针接触薄膜表面时微悬臂会弯曲,将悬臂的形变信号转为光电信号放大,可以得到原子间力的微弱信号。保持恒定距离在试样表面扫面,针尖随着凹凸面做起伏运动,可得到纳米薄膜的三维形貌。

08年试题及答案

1.XRD的物相定性分析原理和定量分析原理?

答:定性分析原理:不同的晶体有不同的衍射花样,根据衍射线的晶面间距(反映晶胞的大小,形状)和衍射线的相对强度(反映质点的种类,数量及所处的位置),这个是晶体结构的必然反映,可以用来鉴别物相。

定量分析的原理:衍射线的相对强度与物相含量相关。依据衍射线的强度随相含量的增加而提高,从而达到定量分析。

2.透射电镜的成像电子来自材料本身还是发射枪?怎样在透射电镜中观察测试材料的电

子衍射花样?

答:成像电子是透射电子,是来自发射枪。

衍射电子束在物镜背焦面上聚焦,让中间镜的物平面与物镜的背焦面重合,经放大后就会在荧光屏上就获得电子衍射图的放大像。

3.二次电子成像和背散射电子的成像特点和不同?

答:同上

4.能谱分析和波普分析的特点和不同?

答:同上

5.DTA和DSC的原理和不同?

答:原理:DTA:在程序控制温度下,由于试样与参比物之间存在温度差而产生热电势,通过测量信号输出就能表征在加热过程中与热效应的物理变化和化学变化。纵坐标:试样与参比物的温度差,横坐标:温度(T)或时间(t)。

DSC:在程序控制温度下,测试样品与参比物之间的热量差,以表征加热过程中所有与热效应有关的物理变化和化学变化。纵坐标:试样和参考物之间的功率差,横坐标:温度(T)或时间(t)。

区别:DTA是测量△T-T的关系,而DSC是保持△T=0,测定△H-T的关系;

DTA只能测试△T的变化,不能反映△T与△H之间的关系;DSC既能测试△T的变化,又能反映△T与△H之间的关系;两者最大的差别是DTA只能定性或半定量,而DSC的结果可用定量分析。

6.哪些物理化学变化过程会产生吸热/放热效应?

吸热效应有:

a)物质受热分解放出气体(CO2,SO2,O2等);

b)物质由结晶态转变为熔融态;

c)某些多晶转变,如加热过程中的石英晶形转变(β石英转化为α石英);

d) 物质内吸附气体的逸出。

放热效应有:

a)不稳定变体变为稳定变体的多晶转变(高温型石英转变为低温型石英);

b)无定形物质转变为结晶物质、物质重结晶作用等;

c)从不平衡介质中吸收气体,如氧化反应、有机物燃烧等;

d)某些不产生气体的固相反应,如莫来石的形成;

e)物质由熔融态转变为结晶态,玻璃态物质析晶等。

7.影响峰位变化的因素?

化学键的振动频率不仅与其性质有关,还受分子的内部结构和外部因素影响。

1、内部因数:1)电子效应:诱导效应(吸电子基团使吸收峰向高频方向移动(兰移)),共轭

效应;2)空间效应:场效应、空间位阻、环张力。

2、氢键效应:氢键(分子内氢键、分子间氢键):对峰位,峰强产生极明显影响,使伸缩振

动频率向低波数方向移动。

DSC测试结果的影响因素:

a) 基线的影响:指的是被测样品没有吸热和放热反应时,测量的整个系统随温度变化,基线是一切计算的基础。

b) 温度和灵敏度校正:热电偶测量温度信号与样品实际温度之间存在一定偏离。校正:实际测试温度和能量与理论值建立对应关系。

c)实验条件的影响:升温速率(影响峰的形状,位置,相邻峰的分辨率下降);气体性质;气体流量。

d)试样特性的影响:试样的用量(一般较小的样品用量为宜,5-15mg);粒度;几何形状(厚度稍小);热历史;填装情况;纯度

几个填空:

1.AFM几个应用:能观察包括绝缘体在内的各种固体的表面形貌,达到原子尺寸。

2.XRF的原理(X射线显微分析):用X射线(电子束)入射样品表面,由于每种元素的能级结构不同,因此激发的特征X射线光子能量也不同,通过测定试样X射线荧光光谱(X射线的)的波长或能量,就可以确定原子序数(元素的种类)。荧光X射线的波长随着原子序数的增大而减少。(深度1-3μm)X射线荧光光谱仪包括:波长色散型。。和能量色散型。。

a)波长型都是试样的X射线通过分光晶体后,满足布拉格方程的会发生x射线衍射,被检测器检测到,然后经放大调制成X射线荧光●型的是试样的X射线经过固体探测器(LI飘移Si半导体),可同时检测多种元素,c)灵敏度高(检测限为10-5—10-9,),准确度较高(误差5%以内)3.AAS(原子吸收光谱)的原理:待测元素的原子蒸汽中的基态原子和共振线吸收之间的关系来测定元素的组成。

特点:灵敏度高(火1ng/ml 石墨炉100-0.01pg)

准确性好(火1% 石墨炉3-5%)

选择性高(检测元素可达70个)

缺点:不能同时进行多元素分析

锐线光源:发射线和吸收线V和△V

光源:4个要求,空心阴极灯

原子化装置:火焰法和石墨炉

4.傅立叶红外光谱分析的原理:分子振动能级差是量子化的,只有入射的频率等于振动能级差的红外光谱才会被吸收,形成红外吸收光谱。

5.TG的原理:在程序控制温度下,通过测试试样和参照物的质量随温度的变化,来表征在加热过程中热效应引起的物理和化学变化

6.TEM原理:经过试样的透射电子经过电磁透镜的聚焦放大而成像

2010年试题及答案

一、填空题

1.XPS分析是通过能量分析器测定光电子的动能,计算出光电子的结合能,从而进行样品的表面元素分析,并根据光电子的强度进行元素的定量分析。

2.原子力显微镜有两种工作模式,分别为:接触式和轻敲式,对于易损伤软或脆的样品,采用轻敲式工作模式。

3.要通过成像来直观了解样品中的元素分布可采用BSE 、WDS 和AES分析

4.要在同一测试中检测出样品含有哪些元素可以采用XRF、XPS或EDS分析

5.样品的化学成分定量分析可采用XRF方法;样品的微区元素定量分析可采用WDS 方法;样品表面元素的价态分析可采用XRF、XPS、AES 方法。

二、问答题

1.采用红外光谱法分析样品时,对于气体、液体和固体样品常用的制样方法有哪些?答:对于固体样品,常用的制样方法有以下四种:

(1)压片法(卤化物):是把固体样品的细粉,均匀地分散在碱金属卤化物中并压成透明薄片的一种方法;

(2)粉末法:是把固体样品研磨成2μm以下的粉末,悬浮于易挥发溶剂中,然后将此悬浮液滴于KBr片基上铺平,待溶剂挥发后形成均匀的粉末薄层的一种方法;

(3)薄膜法:是把固体试样溶解在适当的的溶剂中,把溶液倒在玻璃片上或KBr窗片上,待溶剂挥发后生成均匀薄膜的一种方法;

(4)研糊法(液体石蜡法):是把固体粉末分散或悬浮于石蜡油等糊剂中,然后将糊状物夹于两片KBr等窗片间测绘其光谱。

其中最常用的是压片法,但此法常因样品浓度不合适或因片子不透明等问题需要一再返工。

对于液体样品,常用的制样方法有以下三种:

(1)液膜法(难挥发性液体):是在可拆液体池两片窗片之间,滴上1~2滴液体试样,使之形成一薄的液膜;(BP>80℃)

(2)溶液法(液体池):是将试样溶解在合适的溶剂中,然后用注射器注入固定液体池中进行测试;

(3)薄膜法:用刮刀取适量的试样均匀涂于窗片上,然后将另一块窗片盖上,稍加压力,来回推移,使之形成一层均匀无气泡的液膜。其中最常用的是液膜法,此法所使用的窗片是由整块透明的溴化钾(或氯化钠)晶体制成,制作困难,价格昂贵,稍微使用不当就容易破裂,而且由于长期使用也会被试样中微量水分将其慢慢侵蚀,到一定时候这对窗片也就报废了。

对于气体样品,常用制样方法为:气体池—气态物质与液态、固态物质相比,其分子间距离大、密度小,因此气体池的厚度要大得多,一般厚100mm,液体池的厚度一般为0.01-1mm。气体池还分为常规气体池、小体积气体池、长光程气体池、加压气体池。2.影响热分析曲线的仪器因数和样品因数有哪些?请简述其影响规律。

答:仪器因素:

1)气体浮力和对流的影响:气体的密度与温度有关,随温度升高,样品周围的气体密度变小,从而气体的浮力变小,因而试样质量增加,这种样品质量随温度升高而增重现象称之为表观增重。对流的产生,是常温下,试样周围的气体受热变轻形成向上的热气流,作用在热天平上,引起试样的表观质量损失。为了减少气体浮力和对流的影响,试样可以选择在真空条件下进行测定,或选用卧式结构的热重仪进行测定。

2)坩埚的影响:坩埚的物理性状,如坩埚的形状、尺寸、多孔性可能影响实验结果。坩埚大小与试样量有关,直接影响试样的热传导和热扩散;坩埚的形状则影响试样的挥发速率。因此,通常选用轻巧、浅底的坩埚,可使试样在埚底摊成均匀的薄层,有利于热传导、热扩散和挥发。此外,坩埚的材质通常应该选择对试样、中间产物、最终产物和气氛没有反应活性和催化活性的惰性材料,如Pt、Al2O3等。

3)挥发物冷凝的影响:样品受热分解、升华、逸出的挥发性物质,往往会在仪器的低温部分冷凝。这不仅污染仪器,而且使测定结果出现偏差。若挥发物冷凝在样品支架上,则影响更严重,随温度升高,冷凝物可能再次挥发产生假失重,使TG曲线变形。为了减少挥发物冷凝的影响,可在坩埚周围安装耐热屏蔽套管;采用水平结构的天平;在天平灵敏

度范围内,尽量减少样品用量;选择合适的净化气体流量。实验前,对样品的分解情况有初步估计,防止对仪器的污染。

试样的影响:

1)样品量的影响:样品量多少对热传导、热扩散、挥发物逸出都有影响。样品量用多时,热效应和温度梯度都大,对热传导和气体逸出不利,导致温度偏差。样品量越大,这种偏差越大。加大试样量,会使曲线的清晰度变差,并移向较高的温度,反应所需时间也会加长。但样品量大有时并非坏处,它可以扩大两试样间的较小差异。

2)样品粒度、形状的影响:样品粒度及形状同样对热传导和气体的扩散有影响。粒度不同,会引起气体产物扩散的变化,导致反应速度和热重曲线形状的改变。粒度越小,反应速度越快,热重曲线上的起始分解温度和终止分解温度降低,反应区间变窄,而且分解反应进行得完全。

实验条件因素(补充):

1)升温速率的影响:这是对热重曲线影响最大的因素。升温速率越大温度滞后越严重,开始分解温度Ti及终止分解温度Tf都越高,温度区间也越宽,故影响越大。(因为样品受热升温是通过介质-坩埚-样品进行热传递的,在炉子和样品坩埚之间可形成温差。升温速率越快,这种温差随之增加。炉子和样品坩埚间的温差就不同,导致测量误差。)升温速率不同,可导致热重曲线的形状改变。升温速率快,往往不利于中间产物的检出,使热重曲线的拐点不明显。升温速率慢,可以显示热重曲线的全过程。一般来说,升温速率为5和10℃/min时,对热重曲线的影响不太明显。升温速率可影响热重曲线的形状和试样的分解温度,但不影响失重量。慢速升温可以研究样品的分解过程,有利于中间体的鉴定与解析。但快速升温与慢速升温的选择,要看具体的实验条件和目的,并非慢速升温就一定优越。当样品量很小时,快速升温能检查出分解过程中形成的中间产物,而慢速升温则不能达到此目的。

2)气氛的影响:气氛对热重实验结果也有影响,它可以影响反应性质、方向、速率和反应温度,也能影响热重称量的结果。气体流速越大,表观增重越大。所以送样品做热重分析时,需注明气氛条件,包括:静态还是动态气氛;气氛的种类;气氛的流量。所谓静态是指气体稳定不流动,动态就是气体以稳定流速流动。在静态气氛中,产物的分压对TG 曲线有明显的影响,使反应向高温移动;而在动态气氛中,产物的分压影响较小。因此,我们测试中都使用动态气氛,气体流量为20mL/min。而气氛有如下几类:惰性气氛,氧化

性气氛,还原性气氛,腐蚀性气体,还有其它如CO2、Cl2、F2等。

3.请写出布拉格方程,并说明方程式中各参数的物理意义。

布拉格方程为:2dSinθ=nλ,式中d表示晶面的面网间距;

θ为入射线与晶面的夹角,等于入射线与衍射线夹角的一半,称为掠射角,可表征衍射的方向,2θ称为衍射角;

n为反射级数,λ表示入射X射线的波长。

4.进行α-Fe2O3和Fe3O4混合物的XRD分析,得到两相的最强线的强度比为Iα-Fe2O3/I Fe3O4=1.3,经查标准衍射卡片得两相的参比强度分别为Kα-Fe2O3= Iα-Fe2O3/I

=3.27,K Fe3O4= I Fe3O4/ I α-Al2O3=5.07,请计算它们的含量。

α-Al2O3

解:测量两相混合物的相组成可用外标法,但也可用K值法分别测定其中一相的相组成,本题采用K值法计算。

令X1为α-Fe2O3的百分含量,X2为Fe3O4的百分含量,Xs为参比物Al2O3的含量。由公式有:错误!未找到引用源。=错误!未找到引用源。,错误!未找到引用源。=错误!未找到引用源。→错误!未找到引用源。=错误!未找到引用源。

又错误!未找到引用源。=错误!未找到引用源。,错误!未找到引用源。=错误!未找到引用源。,且错误!未找到引用源。,错误!未找到引用源。,错误!未找到引用源。则错误!未找到引用源。=错误!未找到引用源。

又错误!未找到引用源。=1,则错误!未找到引用源。,错误!未找到引用源。

5.TEM和SEM在成像的原理和调节放大倍数的原理上有何差异?TEM和SEM分析对制样有何要求?

答:1) TEM的成像原理:是以波长极短的电子束作为照明源,用电磁透镜聚焦成像,并一次成像。

SEM的成像原理:是利用电磁透镜聚焦的细高能电子束,在扫描线圈的磁场作用下,电子束在样品表面逐点扫描时激发出的各种物理信号来调制成像。

2) TEM的调节放大倍数原理:样品与物镜之间的距离固定不变,通过改变物镜的焦距和

像距来改变放大倍数;

SEM的调节放大倍数原理:是通过调节扫描线圈的电流,改变电子束在试样上扫描的

范围来改变放大倍数,其定义为电子束在荧光屏上的最大扫描距离与在样品表面的扫描距离之比。

3) TEM对制样的要求:试样必须很薄,电子才能透过试样成像,厚度不超过100nm,一

般为50nm。

对薄膜样品的要求:①薄膜样品的组织结构必须与大块样品相同;

②样品要足够薄,以便电子束能够透过;

③样品应有一定的强度和刚度,以便在制备、夹持和操作过程中不产生形变和损伤。④在制样过程中表面不氧化、腐蚀或污染(影响透明度和产生假像)。

对粉末样品的要求:必须先制备一种很薄的支持膜才能送入电镜观察;支持膜需要有一定的强度,对电子的穿透性能好,并且不显示自身的结构,支持膜常用塑料支持膜、塑料-碳支持膜、碳支持膜三种。此外,将粉末均匀分散地撒在支持膜上也十分重要。

对于电子不透明的大块材料不能直接放入电镜中观察,可以选择适当的材料,将被研究材料的表面复制成薄膜形态,而把复制品放入电镜中观察。

SEM 对制样的要求:样品大小要适合仪器专用样品座尺寸,一般为直径30-50mm,高度一般为5-10mm;样品必须无油污、无腐蚀、不释放气体、干燥,通常要对样品进行超声波清洗,以清除油污、尘埃、碎屑等,具体如下:

①试样应先烘干、表面洁净;②磁性试样应预先去磁;

③对块状样品,除满足样品台尺寸外,基本上不需要其他处理,用导电胶粘在样品台上即可;④对于块状非导体或导电性能差的试样,应进行镀膜处理,镀上导电膜;⑤对于粉末样品有直接制样和湿法制样两种,样品需先粘结在样品座上。

6.二次电子成像是最常用的形貌观察方法,简述其特点。

答:同上。

7.为什么能谱(EDS)更适合做“点”的元素全分析,而波普(WDS)更适合做“线”和“面”

的元素分布分析和定量分析。

答:EDS在瞬间能探测各种能量的X射线,而不同元素具有不同的能级结构,发射出来的X射线光子的能量和波长也不同,因此在某个区域的各种元素都能被其探测到,故更适合做“点”分析;而WDS在瞬间只能探测波长满足某种条件的X射线,即只能探测某些特定的范围内的X射线,故不能完全探测到某个区域的全部元素,更适合做“线”

和“面”的元素分析;此外,WDS分析精度高,元素含量>10%时,分析误差可控制在

1%以内,故适合做定量分析,且是目前微区元素定量分析最准确的方法。

2011年试题及答案

1.X射线光电子能谱(XPS)

答:原理:用单色X射线照射样品,具有一定能量的X射线光子把全部能量交给原子中某壳层上一个受束缚的电子。如果电子获得的能量超过该电子的结合能,这个电子就会被激发,而高出结合能的能量转化为电子的动能,电子被发射出去,成为自由光电子,原子变成激发态。根据测得的光电子动能,可以确定表面存在什么元素和元素的化学状态;根据具有某种能量的光电子的数量,可计算出该元素在试样表面的含量。

特点:通过XPS可获得丰富的化学信息,对样品损伤轻,微定量精度较好。缺点是X-ray照射面积较大,不适于做微区分析;一般检测极限(灵敏度)大约为0.1%,且一般用能量较低的软X射线(如Al和Mg的Kα线),穿透深度很浅,故是一种表面分析方法。

定性分析:不同元素、不同价态的电子结合能有其固定值,根据所测得的谱峰(主峰)位置,对照《X射线光电子能谱手册》,可确定试样表面含有哪些元素,以及这些元素存在于什么化合物中(元素的化学状态)。

定量分析:光电子的强度(数量)主要取决于样品中所测元素的含量,但由于不同元素的原子或同一原子不同壳层的电子对光照的敏感性不同,因此不能直接用谱线的强度来定量,一般采用元素灵敏度因子法来定量。定量准确性比俄歇能谱好,误差一般不超过20%,属于半定量分析。

样品的制备:通常只用于固体样品的分析。样品一般都需要经过一定的预处理:

样品大小:长宽小于10 mm,高度小于5 mm;粉体样品:用双面胶带直接把粉体固定在样品台或把粉体样品压成薄片;含挥发性物质:加热或用溶剂清洗除掉挥发性物质;表面污染:通过溶剂清洗、抛光、离子溅射去污;微弱磁性:弱磁性样品去磁,禁止分析磁性样品;对于不导电样品,由于荷电效应,经常会使结合能发生变化,导致定性分析得出不正确的结果。

运用:1). 固体材料表面元素全分析;2). 样品元素组分沿纵深度变化的检测;

3). 离子化学态分析及不同离子价态的比例:如Ti4+和Ti3+;4). 表面元素的定量分析5). 高分子结构分析。

(补充)俄歇电子能谱(AES)

答:原理:电子束(或X射线)激发试样表面原子的壳层电子,较外层电子跃迁填充较内层电子空位,多余的能量发射一个具有特征能量的俄歇电子,通过检测俄歇电子的能量和强度,进行样品表层化学成分的定性和定量分析。主要用于微区(~50 nm)表面化学成分分析。逸出的俄歇电子来源于表面~1 nm的深度范围,大于3 nm深度产生的俄歇电子会因非弹性散射而被样品吸收。可分析除H、He以外的所有元素,特别适合轻元素的分析。分析技术分类:定性分析,定量分析(属半定量),深度分析(成分随着表面深度的变化)微区分析(选点分析、线分析和面分析),价态分析。

定性分析:俄歇电子的能量仅与原子本身的轨道能级有关,与入射电子的能量无关,也就是说与激发源无关。对于特定元素及特定俄歇跃迁过程,其俄歇电子的能量是特征的。由此,可以根据俄歇电子的动能用来定性分析样品表面物质的元素种类。定性分析可适用于除H、He以外的所有元素,且由于每个元素会有多个俄歇峰,定性分析的准确度很高。因此,AES技术是适用于对所有元素进行一次全分析的有效定性分析方法,这对于未知样品的定性鉴定是非常有效的。

定量分析:俄歇电子的强度与样品中该原子的浓度有线性关系,定量分析是根据峰的强度来计算,以摩尔百分比含量表示。一般采用相对灵敏度因子法,精度较低,在常规情况下,误差在30%左右,属于半定量分析。AES定量分析影响因素多,样品表面的C、O污染以及吸附物的存在都会严重影响分析的结果。该法虽然准确性较低,但由于不需标样,因而仍有较广范的应用。

样品的制备:俄歇电子能谱通常只能分析固体导电样品,绝缘体固体需要经过特殊的处理。要求样品表面清洁、平整。粉体样品原则上不能进行俄歇电子能谱分析,需经特殊的制样处理。可把粉体样品或小颗粒样品直接压到金属铟或锡的基材表面,既可固定样品,还可解决样品的荷电问题。由于俄歇电子能谱具有较高的空间分辨率,因此,在样品固定方便的前提下,样品面积应尽量小,这样可以在样品台上多固定一些样品。

应用:表面元素的定性分析和半定量分析,如表面元素全分析、晶界成分分析、表面偏析分析、价态分析、薄膜成分分析、深度成分剖析、成分和价态分布等。

2.AFM的应用(最少写出三个)

答:工作原理:使用一个对力非常敏感的微悬臂,其尖端有一个微小的探针,针尖半径接近原子尺寸,当探针轻轻压在样品表面时微悬臂受力的作用发生弯曲,将悬臂的形变信号转换成光电信号并放大,可以得到原子之间力的微弱变化的信号。恒定距离在试样表面上扫描,针尖随表面的凹凸作起伏运动,可得到表面三维轮廓图。(在空气中测量时,横向分辩率达0.15 nm,纵向分辩率达0.05 nm。)

工作方式:1)接触式—探针一直与样品接触;通过调节探针与样品的距离使反馈保持恒定(悬臂的弯曲度或力的大小);针尖-样品作用力:10-7~10-11 N;侧向力可能损伤软的和脆的样品。2)轻敲式—悬臂在共振频率发生振荡,“敲击”样品的表面,通过反馈调节保持恒定的振幅;降低了探针与样品之间垂直和侧向的作用力,可减小对软样品的损伤。应用:可观察测量包括绝缘体在内的各种固体表面形貌,达到接近原子尺度的分辩率。

1).观察样品纳米至微米的表面形貌(三维成像);2).粘弹性测定(粘性像和弹性像);

3).纳米压痕与微刻痕试验;4).表面粗糙度分析;5).电化学反应(表面形貌)观察;

6).摩擦力、表面磁场力、表面静电力;7).加热、冷却或在特定气氛下的AFM观察。3.原子吸收光谱

答:定义:原子吸收光谱法是一种基于待测基态原子对特征谱线的吸收而建立的一种分析方法。

特点:1)、灵敏度高(火焰法:1 ng/ml;石墨炉:100-0.01 pg )

2)、准确度好(火焰法:RSD <1%,石墨炉:3-5%)

3)、选择性高(可测元素达70个,相互干扰很小)

缺点:不能多元素同时分析

原理:一、共振线

1).原子的能级与跃迁

基态→第一激发态,吸收一定频率的辐射能量。产生共振吸收线(简称共振线)吸收光谱激发态→基态发射出一定频率的辐射。产生共振吸收线(也简称共振线)发射光谱

2).元素的特征谱线

a.各种元素的原子结构和外层电子排布不同,基态→第一激发态—跃迁吸收能量不同—具有特征性。

b.各种元素的基态→第一激发态—最易发生,吸收最强,最灵敏线。特征谱线。

c.利用特征谱线可以进行定量分析。

应用:1).头发中微量元素的测定;2).水中微量元素的测定;

3).水果、蔬菜中微量元素的测定。

4.能直接表征元素分布的测试方法有哪几个?

答:BSE、WDS、AES

5.X射线荧光和俄歇电子发射这两个竞争过程

答:1)X射线荧光效应(光电效应):X射线与物质作用,具有足够能量的X射线光子激发掉原子K层的电子,外层电子跃迁填补,多余能量辐射出来,此时这里被X射线光子激发出来的电子称为光电子,所辐射的X射线称为荧光X射线。

俄歇效应:X射线与物质作用,原子中一个K层电子被入射的X射线光量子击出后,L层的一个电子跃入K层填补空位,辐射出的能量又能再激发另一L层电子来填补空位,结果一个K层空位被两个L层空位代替,该过程称为俄歇效应,被Kα荧光X射线激发出的电子称为俄歇电子。俄歇电子的能量与技法源的能留无关,只取决于物质原子的能级结构,每种元素都有自己的特征俄歇电子能谱,它是元素的固有特性,所以可以利用俄歇电子能谱作元素的成分分析。

6.背散射电子和二次电子衬度的成像原理特点应用

答:同上。

7.TEM和SEM

答:同上。

8.高分辨电子显微技术(HREM)

答:利用高分辨特性对原子排列情况和原子的位置进行直接观察的技术就称为高分辨率电子显微术。它可以从原子尺度了解材料内部的结构,观察晶体和非晶体中的原子、原子排列、晶界、相界、畴界、晶体缺陷等;高分辨像研究的对象是1 nm左右或更小的微观结构,试样的厚度小于10 nm。常用于微晶和析出物的观察,揭示微晶的存在以及形状,面间距可通过衍射环的直径和晶格条纹间距来获得。

9.EDS WDS 元素分析

答:同上。

10.红外光谱分析(原理和制样)

答:分析原理:红外光照射物质时,光与物质相互作用使分子吸收了红外光中与分子间振动能级差相当的能量,导致分子振动能级的跃迁,记录被吸收光子的频率或波长及相应的吸收强度,即形成红外光谱图。

制样方法:同上。

11.计算题:热重

七年级信息技术期末测试题及答案

七年级信息技术期末测试题 一、单项选择题(20分) 1.以下不署于信息的是()。 C、一则广告 B、一段新闻 C、一段录象 D、一张光盘 2.关于信息的说法,正确的是() A、信息可以脱离载体而存在 B、信息是可以处理的 C、过时的信息不属于信息 D、信息都不能保存 3. 所谓信息的载体,是指()。 A、计算机输入和输出的信息 B、各种信息的编码 C、表示和传播信息的媒介 D、计算机屏幕显示的信息 4. 信息技术是指获取、处理()和利用信息的技术。 A、传递 B、加工 C、存储 D、分析 5. 对信息技术的解释不正确的是()。 A、用于信息处理的技术 B、信息技术是信息社会的基础技术 C、技术融合了计算机技术、通信技术以及网络技术等多种技术 D、通信技术是信息技术的核心技术 6. 信息技术的发展趋势不会是()。 A、应用的复杂化 B、传输的高速化 C、信息的多媒体化 D、网络化 7. 对于信息社会,以下说法不正确的是()。 A、信息成为社会发展的重要资源 B、人们可以十分方便地获取各种信息 C、人们都生活在虚拟的信息空间中 D、信息产业成为国民经济的重要产业 8. 计算机处理信息的过程是()。 A、输出信息、处理与存储信息、收集信息 B、收集信息、处理与存储信息、输出信息 C、处理与存储信息、收集信息、输出信息 D、输出与处理信息、信息存储、收集信息 9. 查询信息在信息处理中所属的阶段是()。 A、输入 B、加工 C、输出 D、输入和输出 10. 电脑的学名叫()。 A、电子计算器 B、电子游戏机 C、电子计算机 D、电子控制器 二、多项选择题(20分) 1. 下列属于信息的是() A.文字 B.图形 C.图像 D.声音 2. 微型计算机的输入设备包括() A.键盘 B.鼠标 C.显示器 D.打印机 3. 鼠标的操作通常包括() A.左键单击 B.左键双击 C.右键单击 D.拖动 4. 一般程序窗口包含有() A.标题栏 B.菜单栏 C.滚动条 D.工作区 5.Word的保存方法有() A.直接关闭 B.文件菜单下的保存 C.文件菜单下的另存为 D.工具栏中的快捷按钮 6.在计算机中移动光标的方式有() A.删除键 B. 单击鼠标左键 C.单击鼠标右键 D.方向键

机械工程测试技术基础课后答案

2-1 进行某动态压力测量时,所采用的压电式力传感器的灵敏度为90.9nC/MPa ,将它与增益为0.005V/nC 的电荷放大器相连,而电荷放大器的输出接到一台笔式记录仪上,记录仪的灵敏度为20mm/V 。试计算这个测量系统的总灵敏度。当压力变化为3.5MPa 时,记录笔在记录纸上的偏移量是多少? 解:若不考虑负载效应,则各装置串联后总的灵敏度等于各装置灵敏度相乘,即 S =90.9(nC/MPa)?0.005(V/nC)?20(mm/V)=9.09mm/MPa 。 偏移量:y =S ?3.5=9.09?3.5=31.815mm 。 2-2 用一个时间常数为0.35s 的一阶装置去测量周期分别为1s 、2s 和5s 的正弦信号,问稳态响应幅值误差将是多少? 解:设一阶系统1 ()1 H s s τ= +,1()1H j ωτω=+ ()()A H ωω== = ,T 是输入的正弦信号的周期 稳态响应相对幅值误差()1100%A δω=-?,将已知周期代入得 2-3 求周期信号x (t )=0.5cos10t +0.2cos(100t ?45?)通过传递函数为H (s )=1/(0.005s +1)的装置后得到的稳态响应。 解:1()10.005H j ωω= + ,()A ω=()arctan(0.005)?ωω=- 该装置是一线性定常系统,设稳态响应为y (t ),根据线性定常系统的频率保持性、比 例性和叠加性得到 y (t )=y 01cos(10t +?1)+y 02cos(100t ?45?+?2) 其 中 0101(10)0.50.499 y A x == ≈, 1(10)arctan(0.00510) 2.86??==-?≈-? 0202(100)0.20.179 y A x == ≈, 2(100)arctan(0.005100)26.57??==-?≈-? 所以稳态响应为()0.499cos(10 2.86)0.179cos(10071.57)y t t t =-?+-? 2-5 想用一个一阶系统做100Hz 正弦信号的测量,如要求限制振幅误差在5%以内,那么时间常数应取多少?若用该系统测量50Hz 正弦信号,问此时的振幅误差和相角差是多少? 解:设该一阶系统的频响函数为 1 ()1H j ωτω = +,τ是时间常数

现代材料测试技术试题答案

一、X射线物相分析的基本原理与思路 在对材料的分析中我们大家可能比较熟悉对它化学成分的分析,如某一材料为Fe96.5%,C 0.4%,Ni1.8%或SiO2 61%, Al2O3 21%,CaO 10% ,FeO 4%等。这是材料成分的化学分析。 一个物相是由化学成分和晶体结构两部分所决定的。X射线的分析正是基于材料的晶体结构来测定物相的。 X射线物相分析的基本原理是什么呢? 每一种结晶物质都有自己独特的晶体结构,即特定点阵类型、晶胞大小、原子的数目和原子在晶胞中的排列等。因此,从布拉格公式和强度公式知道,当X射线通过晶体时,每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样,它们的特征可以用各个反射晶面的晶面间距值d和反射线的强度来表征。 其中晶面网间距值d与晶胞的形状和大小有关,相对强度I则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。 衍射花样有两个用途: 一是可以用来测定晶体的结构,这是比较复杂的; 二是用来测定物相。 所以,任何一种结晶物质的衍射数据d和I是其晶体结构的必然反映,因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相,分析的思路将样品的衍射花样与已知标准物质的衍射花样进行比较从中找出与其相同者即可。 X射线物相分析方法有: 定性分析——只确定样品的物相是什么? 包括单相定性分析和多相定性分析定量分析——不仅确定物相的种类还要分析物相的含量。 二、单相定性分析 利用X射线进行物相定性分析的一般步骤为: ①用某一种实验方法获得待测试样的衍射花样; ②计算并列出衍射花样中各衍射线的d值和相应的相对强度I值; ③参考对比已知的资料鉴定出试样的物相。 1、标准物质的粉末衍射卡片 标准物质的X射线衍射数据是X射线物相鉴定的基础。为此,人们将世界上的成千上万种结晶物质进行衍射或照相,将它们的衍射花样收集起来。由于底片和衍射图都难以保存,并且由于各人的实验的条件不同(如所使用的X射线波长不同),衍射花样的形态也有所不同,难以进行比较。因此,通常国际上统一将这些衍射花样经过计算,换算成衍射线的面网间距d值和强度I,制成卡片进行保存。

信息技术基础测试题及参考答案

信息技术基础测试题 7.1 信息技术概述测试题 1. 在下列信息系统的叙述中,错误的是 C 。 A. 电话是一种双向的、点对点的、以信息交互为主要目的的系统 B. 网络聊天是一种双向的、以信息交互为目的的系统 C. 广播是一种双向的、点到多的信息交互系统 D. Internet是一种跨越全球的多功能信息系统 2. 信息技术指的是用来扩展人的信息器官、协助人们进行信息处理的一类技术。在下列基 本信息技术中,用于扩展人的效应器官功能的是 D 。 A. 感测与识别技术 B. 计算与处理技术 C. 通信与存储技术 D. 控制与显示技术 3. “计算机辅助设计”的英文缩写是 A 。 A. CAD B. CAM C. CAE D. CAT 4. 下列 D 不属于计算机信息处理的特点。 A. 极高的处理速度 B. 友善的人机界面 C. 方便而迅速的数据通信 D. 免费提供软硬件 5. 计算机的应用领域可大致分为三个方面,下列答案中正确的是 C 。 A. 计算机辅助教学、专家系统、人工智能 B. 工程计算、数据结构、文字处理 C. 实时控制、科学计算、数据处理 D. 数值计算、人工智能、操作系统 6. 集成电路是微电子技术的核心。它的分类标准有很多种,其中数字集成电路和模拟集成 电路是按照 C 来分类的。 A. 晶体管结构、电路和工艺 B. 信号的形式 C. 集成电路的功能 D. 集成电路的用途 7. 下列关于集成电路的叙述中错误的是 D 。 A. 微电子技术以集成电路为核心 B. 现代集成电路使用的半导体材料通常是硅或砷化镓 C. 集成电路根据它所包含的晶体管数目可分为小规模、中规模、大规模、超大规模和 极大规模集成电路 D. 集成电路使用的材料都是半导体硅材料 8. 微电子技术是以集成电路为核心的电子技术。在下列关于集成电路(IC)的叙述中,正 确的是 B 。 A. 集成电路的发展导致了晶体管的发明 B. 现代计算机的CPU均是超大规模集成电路 C. 小规模集成电路通常以功能部件、子系统为集成对象 D. 所有的集成电路均为数字集成电路 9. 微电子技术是现代信息技术的基础之一,而微电子技术又以集成电路为核心。下列关于 集成电路(IC)的叙述中,错误的是 C 。

机械工程测试技术课后习题答案

第三章:常用传感器技术 3-1 传感器主要包括哪几部分?试举例说明。 传感器一般由敏感元件、转换元件、基本转换电路三部分组成。 如图所示的气体压力传感器。其内部的膜盒就是敏感元件,它的外部与大气压力相通,内部感受被测压力p ,当p 发生变化时,引起膜盒上半部分移动,可变线圈是传感器的转换元件,它把输入的位移量转换成电感的变化。基本电路则是完成上述电感变化量接入基本转换电路,便可转换成电量输出。 3-2 请举例说明结构型传感器与物性型传感器的区别。 答:结构型传感器主要是通过传感器结构参量的变化实现信号变换的。例如,电容式传感器依靠极板间距离变化引起电容量的变化;电感式传感器依靠衔铁位移引起自感或互感的变化。 物性型传感器则是利用敏感元件材料本身物理性质的变化来实现信号变换。例如,水银温度计是利用水银的热胀冷缩性质;压电式传感器是利用石英晶体的压电效应等。 3-3 金属电阻应变片与半导体应变片在工作原理上有何区别? 答: (1)金属电阻应变片是基于金属导体的“电阻应变效应”, 即电阻材料在外力作用下发生机械变形时,其电阻值发生变化的现象,其电阻的相对变化为()12dR R με=+; (2)半导体应变片是基于半导体材料的“压阻效应”,即电阻材料受到载荷作用而产生应力时,其电阻率发生变化的现象,其电阻的相对变化为dR d E R ρλερ == 。 3-4 有一电阻应变片(见图3-105),其灵敏度S 0=2,R =120Ω,设工作时其应变为1000με,问ΔR =?设将此应变片接成图中所示的电路,试求:1)无应变时电流指示值;2)有应变时电流指示值;3)试分析这个变量能否从表中读出? 解:根据应变效应表达式R /R =S g 得 R =S g R =2100010-6120=0.24 1)I 1=1.5/R =1.5/120=0.0125A=12.5mA 2)I 2=1.5/(R +R )=1.5/(120+0.24)0.012475A=12.475mA 3)电流变化量太小,很难从电流表中读出。如果采用高灵敏度小量程的微安表,则量程不够,无法测量12.5mA 的电流;如果采用毫安表,无法分辨0.025mA 的电流变化。一般需要电桥图3-105 题3-4图

材料分析测试技术试卷答案

《材料分析测试技术》试卷(答案) 一、填空题:(20分,每空一分) 1. X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。 2. X射线透过物质时产生的物理效应有:散射、光电效应、透射X射线、和热。 3. 德拜照相法中的底片安装方法有:正装、反装和偏装三种。 4. X射线物相分析方法分:定性分析和定量分析两种;测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。 5. 透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。 6. 今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。 7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。 8. 扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。 二、选择题:(8分,每题一分) 1. X射线衍射方法中最常用的方法是( b )。 a.劳厄法;b.粉末多晶法;c.周转晶体法。 2. 已知X光管是铜靶,应选择的滤波片材料是(b)。 a.Co ;b. Ni ;c. Fe。 3. X射线物相定性分析方法中有三种索引,如果已知物质名时可以采用(c )。 a.哈氏无机数值索引;b. 芬克无机数值索引;c. 戴维无机字母索引。 4. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是(b)。 a.第二聚光镜光阑;b. 物镜光阑;c. 选区光阑。 5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是( b )。 a.球差;b. 像散;c. 色差。 6. 可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是(a)。 a.高阶劳厄斑点;b. 超结构斑点;c. 二次衍射斑点。 7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是(b)。 a.背散射电子;b.俄歇电子;c. 特征X射线。 8. 中心暗场像的成像操作方法是(c)。 a.以物镜光栏套住透射斑;b.以物镜光栏套住衍射斑;c.将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。 三、问答题:(24分,每题8分) 1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么? 答:X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品,首先要求粉末粒度要大小 适中,在1um-5um之间;其次粉末不能有应力和织构;最后是样品有一 个最佳厚度(t =

信息技术测试题及答案

《“提升工程”(2014)--远程培训项目》评测试卷 考生姓名:交卷时间:2015-04-16 09:33考试成绩:94考试结果:合格 判断题(大题总分19分,每题1分,共19小题) 1.在数学教学中运用交互式电子白板能有有效的将学生的生活经验与数学现象相结合。 A. 正确 B. 错误 答案: A 解析: 2.资源要保证按时接收,按时分类整理,并进行保存和应用 A. 正确 B. 错误 答案: A 解析: 3.FLV格式的视频在PPT中播放时需要插入控件,并且只能在本台电脑上使用。 A. 正确 B. 错误 答案: A 解析:

4.在课程的复习巩固阶段,为了使学生更加熟练的掌握本课时的知识点,正确的做法是通过多媒体课件展现知识点,让学生完成对照练习即可 A. 正确 B. 错误 答案: B 解析: 5.小组合作学习应基于合作探究进行,不属于自主探究 A. 正确 B. 错误 答案: B 解析: 6.根据整合的深度,可以将信息技术与课程整合的模式划分为完善型和创新型 A. 正确 B. 错误 答案: A 解析: 7.教学评价结束之后,整个课时的教学的教学活动也就随之结束。 A. 正确 B. 错误

答案: B 解析: 8.在网络学习空间中,学习者可以按照自己的步调和利用一系列强有力的、内嵌的支架工具和模板来展开学习 A. 正确 B. 错误 答案: A 解析: 9.将LAMS应用于网络课程学习时,设计者只需要考虑学习活动序列的内容即可。 A. 正确 B. 错误 答案: B 解析: 10.在ipad的APP store中只可购买应用程序 A. 正确 B. 错误 答案: B 解析: 11.设备操作复杂,对学生而言也容易造成干扰,不应该应用到课堂教学中 A. 正确

机械工程测试技术答案

第1章绪论 1 计量、测试、测量的概念。 2 测试系统的组成及各环节的作用,并举例说明。 第2章传感器 1 在机械式传感器中,影响线性度的主要因素是什么?可举例说明。 解答:主要因素是弹性敏感元件的蠕变、弹性后效等。 2 试举出你所熟悉的五种机械式传感器,并说明它们的变换原理。 解答:气压表、弹簧秤、双金属片温度传感器、液体温度传感器、毛发湿度计等。 3 电阻丝应变片与半导体应变片在工作原理上有何区别?各有何优缺点?应如何针对具体情况来选用? 解答:电阻丝应变片主要利用形变效应,而半导体应变片主要利用压阻效应。 电阻丝应变片主要优点是性能稳定,现行较好;主要缺点是灵敏度低,横向效应大。 半导体应变片主要优点是灵敏度高、机械滞后小、横向效应小;主要缺点是温度稳定性差、灵敏度离散度大、非线性大。 选用时要根据测量精度要求、现场条件、灵敏度要求等来选择。 4 有一电阻应变片,其灵敏度S g=2,R=120。设工作时其应变为1000,问R=?设将此应变片接成如图所示的电路,试求:1)无应变时电流表示值;2)有应变时电流表示值;3)电流表指示值相对变化量;4)试分析这个变量能否从表中读出? 解:根据应变效应表达式R/R=S g得 R=S g R=2100010-6120=0.24 1)I1=1.5/R=1.5/120=0.0125A=12.5mA 2)I2=1.5/(R+R)=1.5/(120+0.24)0.012475A=12.475mA 3)=(I2-I1)/I1100%=0.2% 4)电流变化量太小,很难从电流表中读出。如果采用高灵敏度小量程的微安表,则量程不够,无法测量12.5mA的电流;如果采用毫安表,无法分辨0.025mA的电流变化。一般需要电桥来测量,将无应变时的灵位电流平衡掉,只取有应变时的微小输出量,并可根据需要采用放大器放大。 3-5 电感传感器(自感型)的灵敏度与哪些因素有关?要提高灵敏度可采取哪些措施?采取这些措施会带来什么样后果?

测试技术基础试题及答案1

北京工业大学2007—2008学年第二学期 测量技术基础试卷(开卷) 班级学号姓名成绩 一、填空题(25分,每空1分) 1.时间常数τ是一阶传感器动态特性参数,时间常数τ越小,响应越快,响应曲线越接近于输入阶跃曲线。 2.满足测试装置不失真测试的频域条件是幅频特性为一常数和相频特性与频率成线性关系。3.电荷放大器常用做压电传感器的后续放大电路,该放大器的输出电压与传感器产生的电荷量成正比,与电缆引线所形成的分布电容无关。 4.信号当时间尺度在压缩时,则其频带变宽其幅值变小。 5.当测量较小应变值时,应选用电阻应变效应工作的应变片,而测量大应变值时,应选用压阻效应工作的应变片,后者应变片阻值的相对变化主要由材料电阻率的相对变化来决定。6.电感式和电容式传感器常采用差动方式,不仅可提高灵敏度,且能改善或消除非线性。7.电涡流传感器是利用金属材料的电涡流效应工作,可分为低频透射式和高频反射式两种,其中前者常用于材料厚度的测量。

8.在调制解调技术中,将控制高频振荡的低频信号称为 调制波 ,载送低频信号的高频振荡信号称为 载波 ,将经过调制过程所得的高频振荡波称为 已调制波 。 9.已知()t t x ωsin 12=,()t δ为单位脉冲函数,则积分()?∞ +∞-?? ? ?? -?dt t t x ωδ2π= 12 。 10.已知霍尔式转速传感器的测速齿轮的齿数为20,若测得感应电动势的频率为300Hz ,则被测轴的转速为 900r/min 。 11. RC 低通滤波器中的RC值越大,则其上限截止频率越 小 。 12. 频率混叠是由于 采样频率过低 引起的,泄漏则是由于 信号截断 所引起的。 二、选择题(15分,每题1.5分) 1.离散、周期的时域信号频谱的特点是( C )的。 A 非周期、离散? B 非周期、连续 C 、周期、离散 D 周期、连续 2.按传感器能量源分类,以下传感器不属于能量控制型的是( C )。 A 电阻传感器? B 电感传感器 C 光电传感器 D 电容传感器 3.变磁通感应式传感器在测量轴的转速时,其齿盘应采用( B )材料制成。 A 金属 B 导磁 C 塑料 D 导电 4.测试装置能检测输入信号的最小变化能力,称为( D )。 A 精度 B 灵敏度 C 精密度 D 分辨力 5.数字信号的特征是( B )。 A 时间上离散,幅值上连续 B 时间、幅值上都离散 C 时间上连续,幅值上量化 ? D 时间、幅值上都连续

机械工程测试技术基础试卷及答案

机械工程测试技术基础(第三版)试卷集. 一、填空题 1、周期信号的频谱是离散的,而非周期信号的频谱是连续的。 2、均方值Ψx2表示的是信号的强度,它与均值μx、方差ζx2的关系是¢x2=H x2+óx2。 3、测试信号调理电路主要有电桥、放大、调制解调电路。 4、测试系统的静态特性指标有、、。 5、灵敏度表示系统输出与输入之间的比值,是定度曲线的。 6、传感器按信号变换特性可分为、。 7、当时,可变磁阻式电感传感器的输出和输入成近似线性关系,其灵敏度S趋于。 8、和差特性的主要内容是相临、相反两臂间阻值的变化量符合、的变化,才能使输出有最大值。 9、信号分析的过程主要包括:、。 10、系统动态特性在时域可用来描述,在复数域可用来描述,在频域可用来描述。 11、高输入阻抗测量放大电路具有高的共模抑制比,即对共模信号有抑制作用,对信号有放大作用。 12、动态应变仪上同时设有电阻和电容平衡旋钮,原因是导线间存在。 13、压控振荡器的输出电压是方波信号,其与输入的控制电压成线性关系。 14、调频波的解调又称,其解调电路称为。 15、滤波器的通频带宽和响应时间成关系。 16、滤波器的频率分辨力主要由其决定。 17、对于理想滤波器,滤波器因数λ=。 18、带通滤波器可由低通滤波器(f c2)和高通滤波器(f c1)而成(f c2> f c1)。 19、测试系统的线性度和滞后度是由误差引起的;而重复性误差是 由误差引起的。 二、问答题(共30分) 1、什么是测试?说明测试系统的构成及各组成部分的作用。(10分) 2、说明电阻丝应变片和半导体应变片的异同点,各有何优点?(10分) 3、选用传感器的原则是什么?(10分) 三、计算题(共55分) 1、已知信号x(t)=e-t (t≥0), (1) 求x(t)的频谱函数X(f),并绘制幅频谱、相频谱。 (2) 求x(t)的自相关函数R x (η) 。(15分) 2、二阶系统的阻尼比ξ=0.2,求ω=ωn时的幅值误差和相位误差,如果使幅值误差不大于10%,应取多大阻尼比?。(10分)3、一电容传感器,其圆形极板r = 4mm,工作初始间隙δ0 =0.3mm, (1)工作时如果传感器的工作间隙变化Δδ=±2μm,求电容的变化量。 (2)如果测量电路灵敏度S1=100mv/pF,读数仪表灵敏度S2=5格/mv,在 Δδ=±2μm时,读数仪表的指示值变化多少格? (ε0 = 8.85×10-12 F/m)(8分) 4、已知RC低通滤波器的R=1KΩ,C=1MF,当输入信号μx= 100sin1000t时, 求输出信号μy 。(7分) 5、(1)在下图中写出动态应变仪所包含的各个电路环节。 (2)如被测量x(t) = sinωt,载波y(t)=sin6ωt,画出各环节信号的波形图。 (15分 一、填空题: 1、连续 2、¢x2=H x2+óx2 3、电桥、放大、调制解调电路 4、非线性度、灵敏度、回程误差 5、斜率 6、组合型、一体化型 7、Δó〈〈ó0定位 8、相邻相反相对相同 9、信号分析、信号处理 10、传递函数、频率函数、脉冲响应函数11、差模12、分布电容 13、频率 14、鉴频、鉴频器 15、反比 16、带宽B 17、1 18、串联19、系统、随机 一、问答题 1、答:测试是测量和试验的综合,是一种研究型的探索型的、论证型的测量过程,也是获取信息的过程。 (1)测量对象

《信息技术基础》测试题 含答案

《信息技术基础》测试 姓名:班级: 一、选择题:(括号内填选项字母)(每题2分,共60分) 1、计算机的核心部件是(D)。 A.显示器B.内存C.显示卡D.中央处理器(CPU)2、现代社会中,人们把(D)称为人类不可缺少的资源。A.信息、物质、知识B.信息、能量、知识 C.物质、能量、知识D.信息、物质、能量 3、计算机软件可分为(D) A.程序和数据B.操作系统和语言处理系统 C.程序、数据和文档D.系统软件和应用软件 4、现在我们常常听人家说到(或在报纸电视上也看到)IT行业各种各样的消息。那么这里所提到的“IT”指的是(B) A.信息B.信息技术C.通信技术D.感测技术 5、(B)首次打破了信息存储和传递的时间、空间的限制。A.印刷术的发明B.文字的发明 C.电话、电视的发明和普及D.信息技术的普及应用 6、心理学上的“感觉剥夺”实验说明了(C) A.信息是丰富多彩的B.信息是可以被利用的 C.信息是人类生存的必要条件D.信息没有好坏之分 7、以下不属于信息的是(C)。 A.一则通知内容B.一份成绩表数据

C.一张光盘D.一段新闻内容 8、老师的教学课件需要用一段视频,可能是下列选项中的哪一个文件。(B) A.资料.jpg B.资料.mpg C.资料.mp3 D.资料.html 9、(B)的有效结合,使信息的处理速度、传递速度得到了惊人的提高,人类处理信息、利用信息的能力得到了空前的发展,是人类信息处理和传播手段的革命。 A.计算机与多媒体技术 B.电子计算机和现代通信技术 C.多媒体和网络技术 D.传统信息技术和现代信息技术 10、(C)是现代信息技术的基石。 A.计算机技术B.通信技术 C.微电子技术D.传感技术 11、下说法不正确的是(D) A.信息不能独立存在,需要依附于一定的载体。 B.信息可以转换成不同的载体形式而被存储和传播 C.信息可以被多个信息接受者接受并且多次使用 D.同一个信息不可以依附于不同的载体 12、计算机网络的最大优点是(B)。 A.增大容量B.共享资源 C.加快计算D.节省人力

机械工程测试技术试题(含答案)

一、选择题 1、差动式变极距式电容传感器的灵敏度是变极距式传感器的____2__倍. 2、信号有多种类型,从分析域上看,经典的分析方法有__时域法_和__频域法_。 3、压电式传感器的转换原理是利用晶体材料的__压电效应____。 4、传感器的静态特性中,输出量的变化量与引起此变化的输入量的变化量之比称为___灵敏度___。 6、信息与信号二者间关系是___信息在信号之中___。 7、当两信号的互相关函数在t 0有峰值,表明其中一个信号和另一个信号时移t 0时,相关程度___最高__。 8、传感器的灵敏度越高,意味着传感器所能感知的___被测量__越小。 9、测试工作的任务主要是要从复杂的信号中提取(有用信号) 10、时域信号的时移,则频谱变化为( 相移 ) 11、 记录磁带快录慢放,放演信号的频谱带宽(变窄,幅值增高) 12、 用二阶系统作测量装置时,为获得较宽的工作频率范围,则系统的阻尼比应(接近1/√2 ) 13、 对二阶系统输入信号x(t)=A1sinw1t+A2sinw2t,则系统稳态输出方程的通式为(A1'sin (w1t+φ'1)+A2'sin (w2t+φ2')) 14、 概率密度函数提供了随机信号(沿幅值域分布)的信息 15、 在测量位移的传感器中,符合非接触测量,而且不受油污等介质影响的是(电涡流式) 16、 只使在fe 1~fe 2间频率的信号通过,应采用(带通)滤波器 17、 在选用振子时,除了使阻尼比接近0.7外,应使被测正弦信号的最高频率fm(≤(0.5-0.6) )振动子的固有频率fn 18、 为使电缆的长度不影响压电式传感器的灵敏度,应选用(电荷)放大器。 19、 当τ→∞时,信号x (t )的自相关函数Rx (τ)呈周期性变化,说明该信号(含有周期成份)。 20、 正弦信号的自相关函数,使原有的相位信息(丢失) 21、 不能用确定的数学公式表达的信号是(随机)信号。 22、 非线性度是表示定度曲线(偏离其拟合直线)的程度。 23、 自相关函数一定是(偶)函数。 24、 为了能从调幅波中很好地恢复出原被测信号,通常用(相敏检波器)做为解调器。 25、 采样时为了不产生频谱混叠,采样频率必须大于信号最高频率的(2 )倍 26、 压电式传感器前置放大器的主要作用是(把传感器的高阻抗输出变换为低阻抗输出)。 27、在电桥测量电路中,由于电桥接法不同,输出的电压灵敏度也不同,___全桥___接法可以获得最大的输出。 28、压电传感器所使用的前置放大器在电路中起着很重要的作用,以下说法错误的是___将传感器的低阻抗输入变成高阻抗输出___。 29、幅值调制装置实质是一个乘法器 30、理想滤波器在通带内的幅频特性为常数 31.变极距型电容传感器的输出与输入,成(非线性)关系。 32.如果窗函数频谱的主瓣峰值相对于左右旁瓣峰值越大,则该窗函数的泄漏误差(越小)。 33.不能用涡流式传感器进行测量的是(非金属材料)。 34.设时域信号x(t)的频谱为X(f),则时域信号(C )的频谱为X(f +f0)。 A . )(0t t x - B. )(0t t x + C. t f j e t x 02)(π- D. t f j e t x 0 2)(π 35.压电式传感器后面的放大器的主要功能为(阻抗变换和信号放大)。 36.一个相邻双臂工作的测力电桥,如果将两工作臂的一个应变片均改为两个应变片串联,则电桥的输 出电压(加大两倍) 二、判断题

现代材料测试技术复习题及答案

. ... .. 现代材料测试技术复习 第一部分 填空题: 1、X射线从本质上说,和无线电波、可见光、γ射线一样,也是一种电磁波。 2、尽管衍射花样可以千变万化,但是它们的基本要素只有三个:即衍射线的峰位、线形、强度。 3、在X射线衍射仪法中,对X射线光源要有一个基本的要求,简单地说,对光源的基本要稳定、强度大、光谱纯洁。 4、利用吸收限两边质量吸收系数相差十分悬殊的特点,可制作滤波片。 5、测量X射线衍射线峰位的方法有七种,它们分别是7/8高度法、峰巅法、切线法、弦中点法、中线峰法、重心法、抛物线法。 6、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种,它们分别是哈那瓦尔特索引、芬克索引、字顺索引。 7、特征X射线产生的根本原因是原子层电子的跃迁。 8、X射线衍射仪探测器的扫描方式可分连续扫描、步进扫描、跳跃步进扫描三种。 9、实验证明,X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类:连续X射线光谱和特征X射线光谱。 10、当X射线穿过物质时,由于受到散射,光电效应等的影响,强度会减弱,这种现象称为X射线的衰减。 11、用于X射线衍射仪的探测器主要有盖革-弥勒计数管、闪烁计数管、正比计数管、固体计数管,其中闪烁计数管和正比计数管应用较为普遍。 12、光源单色化的方法:试推导布拉格方程,解释方程中各符号的意义并说明布拉格方程的应用 名词解释 1、X-射线的衰减:当X射线穿过物质时,由于受到散射,光电效应等的影响,强度会减弱,这种现象称为X-射线的吸收。 2、短波限:电子一次碰撞中全部能量转化为光量子,此光量子的波长 3、吸收限:物质对电磁辐射的吸收随辐射频率的增大而增加至某一限度即骤然增大,称吸收限。吸收限:引起原子层电子跃迁的最低能量。 4、吸收限电子--hv 最长波长与原子序数有关 5、短波限 hv--电子最短波长与管电压有关 6、X射线:波长很短的电磁波 7、特征X射线:是具有特定波长的X射线,也称单色X射线。 8、连续X射线:是具有连续变化波长的X射线,也称多色X射线。 9、荧光X射线:当入射的X射线光量子的能量足够大时,可以将原子层电子击出,被打掉了层的受激原子将发生外层电子向层跃迁的过程,同时辐射出波长严格一定的特征X射线 10、二次特征辐射:利用X射线激发作用而产生的新的特征谱线 11、Ka辐射:电子由L层向K层跃迁辐射出的K系特征谱线 12、相干辐射:X射线通过物质时在入射电场的作用下,物质原子中的电子将被迫围绕其平衡位置振动,同时向四周辐射出与入射X射线波长相同的散射X射线,称之为经典散射。由于散射波与入射波的频率或波长相同,位相差恒定,在同一方向上各散射波符合相干条件,称为相干散射 13、非相干辐射:散射位相与入射波位相之间不存在固定关系,故这种散射是不相干的 14、俄歇电子:原子中一个K层电子被激发出以后,L层的一个电子跃迁入K层填补空白,剩下的能量不是以辐射 15、原子散射因子:为评价原子散射本领引入系数f (f≤E),称系数f为原子散射因子。他是考虑了各个电子散射波的位相差之后原子中所有电子散射波合成的结果

信息技术考试试题库及答案

信息技术考试试题库及 答案 标准化管理部编码-[99968T-6889628-J68568-1689N]

信息技术考试试题库及答案 全国信息技术水平考试是由工业和信息化部教育与考试中心(全国电子信息应用教育中心)负责具体实施的全国统一考试。该考试是对从事或即将从事信息技术的专业人员技术水平的综合评价,其目的是加快国民经济信息化技术人才的培养,同时为企业合理选拔聘用信息化技术人才提供有效凭证。 信息技术模拟考试题库 1、计算机预防病毒感染有效的措施是( D )。 A.定期对计算机重新安装系统 B.不要把U盘和有病毒的U盘放在一起 C.不准往计算机中拷贝软件 D.给计算机安装防病毒的软件,并常更新 2、一个512MB的U盘能存储 B 字节(Byte)的数据量。 ×8 ×1024×1024 ×1024 ×1024×8 3、计算机病毒是 B 。 A.计算机系统自生的 B.一种人为特制的计算机程序 C.主机发生故障时产生的 D.可传染疾病给人体的 4、在计算机内部,数据是以 A 形式加工、处理和传送的。 A.二进制码 B.八进制码 C.十进制码 D.十六进制码 5、下面列出的四种存储器中,断电后正在处理的信息会丢失的存储器是 A 。 6、信息技术的四大基本技术是计算机技术、传感技术、控制技术和 C 。 A.生物技术 B.媒体技术 C.通信技术 D.传播技术 7、内存和外存相比,其主要特点是 C 。 A.能存储大量信息 B.能长期保存信息 C.存取速度快 D.能同时存储程序和数据 8、二十世纪末,人类开始进入 ( C )。

A. 电子时代 B. 农业时代 C. 信息时代 D. 工业时代 9、关于信息的说法,以下叙述中正确的是()。 A. 收音机就是一种信息 B. 一本书就是信息 C. 一张报纸就是信息 D. 报上登载的足球赛的消息是信息 10、下列不属于信息的是( )。 A.报上登载的举办商品展销会的消息 B.电视中的计算机产品广告 C.计算机 D.各班各科成绩 11、多媒体信息不包括( )。 A.影像、动画 B.文字、图形 C.音频、视频 D.硬盘、网卡 12、信息技术包括计算机技术、传感技术和( )。 A.编码技术 B.电子技术 C.通信技术 D.显示技术 13、使用大规模和超大规模集成电路作为计算机元件的计算机是( )。 A.第一代计算机 B.第二代计算机 C.第三代计算机 D.第四代计算机 14、计算机系统由哪几部分组成( )。 A.主机和外部设备 B.软件系统和硬件系统 C.主机和软件系统 D.操作系统和硬件系统 15、计算机的软件系统包括( )。 A.程序和数据 B.系统软件与应用软件 C.操作系统与语言处理程序 D.程序、数据与文档 16、微型计算机中,I/O设备的含义是( )。 A .输入设备 B.输出设备 C.输入输出设备 D.控制设备 17、在以下所列设备中,属于计算机输入设备的是( )。

最新机械工程测试技术试卷及答案(1)

填空题(20分,每空1分) 1.测试技术是测量和实验技术的统称。工程测量可分为(静态测量和( 动态测量)。 2.测量结果与(被测真值)之差称为(测量误差)。 3.将电桥接成差动方式习以提高(灵敏度),改善非线性,进行(温度) 补偿。 4.为了补偿 (温度)变化给应变测量带来的误差,工作应变片与温度补偿应变片应接在 (相邻) 桥臂上。 5.调幅信号由载波的(幅值)携带信号的信息,而调频信号则由载波的 (频率 )携带信号的信息。 6.绘制周期信号()x t 的单边频谱图,依据的数学表达式是 (傅氏三角级数中的各项系数),而双边频谱图的依据数学表达式是(傅氏复指数级数中的各项系数)。 7.信号的有效值又称为均(方根值),有效值的平方称为(均方值2ψ),它描述测试信号的强度(信号 的平均功率)。 8.确定性信号可分为周期信号和非周期信号两类,前者频谱特点是(离散的),后者频谱特点是(连续的)。 9.为了求取测试装置本身的动态特性,常用的实验方法是(频率响应法)和(阶跃响应法)。 10.连续信号()x t 与 0()t t δ-进行卷积其结果是:0()()x t t t δ*-= (0()x t t -) 。其几何意义是 把原函数图像平移至( t )位置处 。 11、带通滤波器的中心频率F=500HZ ,负3分贝点的带宽B=10HZ ,则该滤波器的品质因数Q=(50)。 12.调幅过程在频域相当于(频率搬移)过程,调幅装置实质上是一个(乘法器)。 13.周期信号的傅氏三角级数中的n 是从(0到+∞)展开的。傅氏复指数级数中的n 是从(-∞)到(+∞)展开的。 14.周期信号x (t )的傅氏三角级数展开式中:a n 表示(余弦分量的幅值),b n 表示(正弦分量的幅值),a 0表示(直流分量)。 15.余弦函数只有(实频)谱图,正弦函数只有(虚频)谱图。 16.单位脉冲函数 0()t t δ-与在0t 点连续的模拟信号()f t 的下列积分: 0()()f t t t dt δ∞ -∞ -=? ()f t 。这一性质称为(脉冲采样)17、 若x(t)的傅立叶变换是X(f),则x(kt)的傅立叶变换是(18、 测试装置输出波形无失真但有时间延迟的不失真测试条件是:装置的幅频特性为(常数),相 。 19、 x(t) 的频谱是X (f ),y(t)的频谱是Y(f),若在频域内X(f)与Y(f)作相乘运算,则对应在时域内x(t)与 y(t)应作__卷积___ 20、 一个理想的测试装置,其输入和输出之间应该具有(线性)关系最佳。

《材料分析测试技术》试卷答案

《材料分析测试技术》试卷(答案) 一、填空题:(20分,每空一分) 1.X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。 2.X射线透过物质时产生的物理效应有:散射、光电效应、透射X 射线、和热。 3.德拜照相法中的底片安装方法有: 正装、反装和偏装三种。 4. X射线物相分析方法分: 定性分析和定量分析两种;测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。 5.透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。 6.今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。 7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。 8.扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。 二、选择题:(8分,每题一分) 1.X射线衍射方法中最常用的方法是( b )。 a.劳厄法;b.粉末多晶法;c.周转晶体法。 2. 已知X光管是铜靶,应选择的滤波片材料是(b)。 a.Co;b. Ni;c.Fe。 3.X射线物相定性分析方法中有三种索引,如果已知物质名时可以采用( c )。 a.哈氏无机数值索引;b. 芬克无机数值索引;c. 戴维无机字母索引。 4.能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是(b)。 a.第二聚光镜光阑;b.物镜光阑;c. 选区光阑。 5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是( b )。 a.球差; b. 像散; c. 色差。 6.可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是( a)。 a.高阶劳厄斑点;b.超结构斑点;c. 二次衍射斑点。 7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是(b)。 a.背散射电子; b.俄歇电子;c. 特征X射线。 8. 中心暗场像的成像操作方法是(c)。 a.以物镜光栏套住透射斑;b.以物镜光栏套住衍射斑;c.将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。 三、问答题:(24分,每题8分) 1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么? 答: X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品,首先要求粉末粒度要大小适 中,在1um-5um之间;其次粉末不能有应力和织构;最后是样品有一个 最佳厚度(t =

机械工程测试技术基础课后习题答案汇总

机械工程测试技术基础第三版熊诗波 绪论 0-1 叙述我国法定计量单位的基本内容。 解答:教材P4~5,二、法定计量单位。 0-2 如何保证量值的准确和一致? 解答:(参考教材P4~6,二、法定计量单位~五、量值的传递和计量器具检定) 1、对计量单位做出严格的定义; 2、有保存、复现和传递单位的一整套制度和设备; 3、必须保存有基准计量器具,包括国家基准、副基准、工作基准等。 3、必须按检定规程对计量器具实施检定或校准,将国家级准所复现的计量单位量值经过各级计算标准传递到工作计量器具。 0-3 何谓测量误差?通常测量误差是如何分类表示的? 解答:(教材P8~10,八、测量误差) 0-4 请将下列诸测量结果中的绝对误差改写为相对误差。 ①1.0182544V±7.8μV ②(25.04894±0.00003)g ③(5.482±0.026)g/cm2 解答: ① ② ③ 0-5 何谓测量不确定度?国际计量局于1980年提出的建议《实验不确定度的规定建议书INC-1(1980)》的要点是什么? 解答: (1)测量不确定度是表征被测量值的真值在所处量值范围的一个估计,亦即由于测量误差的存在而对被测量值不能肯定的程度。 (2)要点:见教材P11。 0-6为什么选用电表时,不但要考虑它的准确度,而且要考虑它的量程?为什么是用电表时应尽可能地在电表量程上限的三分之二以上使用?用量程为150V的0.5级电压表和量程为30V的1.5级电压表分别测量25V电压,请问哪一个测量准确度高? 解答: (1)因为多数的电工仪表、热工仪表和部分无线电测量仪器是按引用误差分级的(例如,精度等级为0.2级的电表,其引用误差为0.2%),而 引用误差=绝对误差/引用值 其中的引用值一般是仪表的满度值(或量程),所以用电表测量的结果的绝对误差大小与量程有关。量程越大,引起的绝对误差越大,所以在选用电表时,不但要考虑它的准确度,而且要考虑它的量程。

初中信息技术考试试题含答案

初中信息技术考试试题 学校_______ 班级________ 姓名_______ 成绩_______ (笔试考试时间:30分钟) 一、选择题:(每小题1分,共30分) 1、世界上第一台电子计算机ENIAC诞生的年份是()。 (A)1936年(B)1946年(C)1956年(D)1966年 2、现在我们常常听人家说到(或在报纸电视上也看到)IT行业各种各样的消息。那么这里所提到的“IT”指的是(? )。 (A) 信息(B) 信息技术(C) 通信技术(D) 感测技术 3、下面设备中,哪个是输出设备()。 (A) 光笔(B) 显示器(C) 鼠标(D) 手写板 4、RAM 有()特点。 (A) 断电后信息消失(B) 信息永远保存 (C) 不能由用户写入(D) 速度慢 5、在Windows98窗口中,用鼠标拖动( ) ,可以移动整个窗口。 (A) 菜单栏(B) 标题栏(C) 工作区(D) 状态栏

6、下列属于应用软件的是()。 (A) PowerPoint (B) 操作系统 (C) Windows (D) Dos 7、bit的意思是()。 (A) 字(B) 字节(C) 字长(D) 二进制位 8、二进制数1101转换为十进制数为()。 (A) 12 (B) 13 (C) 14 (D) 26 9、在Windows 98中,“任务栏”是()。 (A) 只能改变位置不能改变大小 (B) 只能改变大小不能改变位置 (C) 既不能改变位置也不能改变大小 (D) 既能改变位置也能改变大小 10、在Windows98的“资源管理器”窗口中,若文件夹图标前面含有“-”符号,表示()。 (A) 含有未展开的子文件夹(B) 无子文件夹 (C) 子文件夹已展开(D) 可选

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