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介质损耗测试仪正接法测试过程与方法

介质损耗测试仪正接法测试过程与方法
介质损耗测试仪正接法测试过程与方法

https://www.doczj.com/doc/554927106.html,时基电力

介质损耗测试仪正接法测试过程与方法

什么是正接法

正接法是用于测量高压电气设备介质损耗因数(δ)的一种接线方法,与正接法相对的还有‘反接法’,正接法测量介质损耗因数值小,反接法测量介质损耗因数值偏大,与反接法相比,正接法测试可以有效的减少防晕层表面电阻对介质损耗因数测试值的影响。

现场测量时,根据被试设备接地情况正确选择正接法或反接法。

正接法接线流程方法

当被试设备的低压测量端或二次端对地绝缘时,采用该方法。

将红色专用高压电缆从仪器后侧的HVx端上引出,高压屏蔽线皮接被试设备高压端。

将黑色专用低压电缆从仪器面板上的Cx端引出,低压芯线接被试设备低压端L 如下图,低压屏蔽线接被试设备屏蔽端E。(试品无屏蔽端则悬空)HVx及Cx 的芯线与屏蔽线之间严禁短接,否则无法取样,无法测量。

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按照上图接好连接线之后,打开主机电源,屏幕显示主界面菜单,选择测量方式,该仪器提供两种测量方式,a:工频,b:异频测量,工频测量时在现场无干扰或者干扰较小时所采取的测量方式,它相对异频测量法效率要高,如果对仪器的原理不是特别了解,建议您选择异频方式测量,其次,选择测量方式,除了上述正接法,反接发之外还有一种是CVT的接法,按照实际的接线方式选择测量方式,随着CVT互感器越来越多,我们在后期也会更新一部分相关的技术文章,再次,选择测量电压,互干器、电力变压器的介质损耗测量建议选用10kv。

介质损耗测试仪

全自动抗干扰介质损耗测试仪是用于工频高压作用下,测量绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗角正切值(tgδ)和电容值(Cx);最高可输出电压10kv,采用47.5、52.5双频和50Hz测量,精度更高,对抗干扰能力更强,介质损耗测试仪可用正、反接线方法测量不接地或直接接地的高压

https://www.doczj.com/doc/554927106.html,时基电力电气参数,也可用于车间、试验室、科研单位测量高压电器设备的tgδ及电容量。

光纤损耗测试方法及其注意事项(1)

光纤损耗测试方法及其注意事项1 引言 由于应用和用户对带宽需求的进一步增加和光纤链路对满足高带宽方面的巨大优势,光纤的使用越来越多。无论是布线施工人员,还是网络维护人员,都有必要掌握光纤链路测试的技能。 2004年2月颁布的TIA/ TSB-140测试标准,旨在说明正确的光纤测试步骤。该标准建议了两级测试,分别为: Tier 1(一级),使用光缆损耗测试设备(OLTS)来测试光缆的损耗和长度,并依靠OLTS或者可视故障定位仪(VFL)验证极性; Tier 2(二级),包括一级的测试参数,还包括对已安装的光缆链路的OTDR追踪。? 根据TSB-140标准,对于一条光纤链路来说,一级测试主要包括两个参数:长度和损耗。事实上,早在标准ANSI/TIA/EIA-526-14A 和ANSI/TIA/EIA-526-7中,已经分别对多模和单模光纤链路的损耗测试,定义了三种测试方法(长度的测量,取决于仪表是否支持,如果仪表支持,在测试损耗的同时,长度同时也会测量)。为了方便,我们分别称为:方法A、方法B和方法C。TSB-140就是在这基础上发展而来,与此兼容。 那么这三种方法各有什么特点,怎么操作,应该在什么场合下使用呢?这正是本文要阐述的问题。另外,光纤链路的测试,不同于双绞线链路的测试,又有什么地方需要注意或者有什么原则可以遵循呢?这也是本文想与读者分享的内容。 2 如何测试光纤链路损耗 光纤链路损耗的测试,包含两大步骤:一是设置参考值(此时不接被测链路),二是实际测试(此时接被测链路)。 下面我们具体介绍一下标准中定义的三种测试损耗的方法(以双向测试为例)。 2.1 测试方法A

AI-6000F介质损耗测试仪

AI-6000F介质损耗测试仪 AI-6000F介质损耗测试仪是发电厂、变电站等现场或实验室测试各种高 压电力设备介损正切值及电容量的高精度测试仪器。仪器为一体化结构,内置介损测试电桥,可变频调压电源,升压变压器和SF6 高稳定度标准 电容器。测试高压源由仪器内部的逆变器产生,经变压器升压后用于被试 品测试。频率可变为45Hz或55Hz,55Hz或65Hz,采用数字陷波技术,避开了工频电场对测试的干扰,从根本上解决了强电场干扰下准确测量的 难题。同时适用于全部停电后用发电机供电检测的场合。该仪器配以绝缘 油杯可测试绝缘油介质损耗。 AI-6000F全自动介质损耗仪是发电厂、变电站等现场或实验室测试各种高压电力设备介损正切值及电容量的高精度测试仪器。仪器为一体化结构,内置介损测试电桥,可变频调压电源,升压变压器和SF6 高稳定度标准电容器。测试高压源由仪器内部的逆变器产生,经变压器升压后用于被试品测试。频率可变为45Hz或55Hz,55Hz或65Hz,采用数字陷波技术,避开了工频电场对测试的干扰,从根本上解决了强电场干扰下准确测量的难题。同时适用于全部停电后用发电机供电检测的场合。该仪器配以绝缘油杯可测试绝缘油介质损耗。 1. 超大液晶中文显示 仪器配备了大屏幕(105mm×65mm)中文菜单界面,屏显分为左右两部分,左边为功能菜单区,右边为相关状态信息提示,每一步都非常清楚,操作人员不需要专业培训就能使用。一次操作,微机自动完成全过程的测量,是目前非常理想的介损测量设备。 2. 海量存储数据 仪器内部配备有日历芯片和大容量存储器,能将检测结果按时间顺序保存,随时可以查看历史记录,并可以打印输出; 3. 科学先进的数据管理 仪器数据可以通过U盘导出,可在任意一台PC机上通过我公司专用软件,查看和管理数据并可生成工作报告。

介质损耗详解

1、介质损耗 什么就是介质损耗:绝缘材料在电场作用下,由于介质电导与介质极化得滞后效应,在其内部引起得能量损耗。也叫介质损失,简称介损。 2、介质损耗角δ 在交变电场作用下,电介质内流过得电流相量与电压相量之间得夹角(功率因数角Φ)得余角(δ)。简称介损角。 3、介质损耗正切值tgδ 又称介质损耗因数,就是指介质损耗角正切值,简称介损角正切。介质损耗因数得定义如下: 如果取得试品得电流相量与电压相量,则可以得到如下相量图: 总电流可以分解为电容电流Ic与电阻电流IR合成,因此: 这正就是损失角δ=(90°-Φ)得正切值。因此现在得数字化仪器从本质上讲,就是通过测量δ或者Φ得到介损因数。 测量介损对判断电气设备得绝缘状况就是一种传统得、十分有效得方法。绝缘能力得下降直接反映为介损增大。进一步就可以分析绝缘下降得原因,如:绝缘受潮、绝缘油受污染、老化变质等等。 测量介损得同时,也能得到试品得电容量。如果多个电容屏中得一个或几个发生短路、断路,电容量就有明显得变化,因此电容量也就是一个重要参数。 4、功率因数cosΦ 功率因数就是功率因数角Φ得余弦值,意义为被测试品得总视在功率S中有功功率P所占得比重。功率因数得定义如下: 有得介损测试仪习惯显示功率因数(PF:cosΦ),而不就是介质损耗因数(DF:tgδ)。一般cosΦ

(1) 容量与误差:实际电容量与标称电容量允许得最大偏差范围、一般使用得容量误差有:J级±5%,K 级±10%,M级±20%、 精密电容器得允许误差较小,而电解电容器得误差较大,它们采用不同得误差等级、 常用得电容器其精度等级与电阻器得表示方法相同、用字母表示:D级—±0、5%;F级—±1%;G级—±2%;J级—±5%;K级—±10%;M级—±20%、 (2) 额定工作电压:电容器在电路中能够长期稳定、可靠工作,所承受得最大直流电压,又称耐压、对于结构、介质、容量相同得器件,耐压越高,体积越大、 (3) 温度系数:在一定温度范围内,温度每变化1℃,电容量得相对变化值、温度系数越小越好、 (4) 绝缘电阻:用来表明漏电大小得、一般小容量得电容,绝缘电阻很大,在几百兆欧姆或几千兆欧姆、电解电容得绝缘电阻一般较小、相对而言,绝缘电阻越大越好,漏电也小、 (5) 损耗:在电场得作用下,电容器在单位时间内发热而消耗得能量、这些损耗主要来自介质损耗与金属损耗、通常用损耗角正切值来表示、 (6) 频率特性:电容器得电参数随电场频率而变化得性质、在高频条件下工作得电容器,由于介电常数在高频时比低频时小,电容量也相应减小、损耗也随频率得升高而增加、另外,在高频工作时,电容器得分布参数,如极片电阻、引线与极片间得电阻、极片得自身电感、引线电感等,都会影响电容器得性能、所有这些,使得电容器得使用频率受到限制、 不同品种得电容器,最高使用频率不同、小型云母电容器在250MHZ以内;圆片型瓷介电容器为300MHZ;圆管型瓷介电容器为200MHZ;圆盘型瓷介可达3000MHZ;小型纸介电容器为80MHZ;中型纸介电容器只有8MHZ、 不同材质电容器,最高使用频率不同、COG(NPO)材质特性温度频率稳定性最好,X7R次 之,Y5V(Z5U)最差、 贴片电容得材质规格 贴片电容目前使用NPO、X7R、Z5U、Y5V等不同得材质规格,不同得规格有不同得用途、下面我们仅就常用得NPO、X7R、Z5U与Y5V来介绍一下它们得性能与应用以及采购中应注意得订货事项以引起大家得注意、不同得公司对于上述不同性能得电容器可能有不同得命名方法,这里我们引用得就是敝司三巨电子公司得命名方法,其她公司得产品请参照该公司得产品手册、

光纤传输损耗测试-实验报告

光纤传输损耗测试-实验报告

华侨大学工学院 实验报告 课程名称:光通信技术实验 实验项目名称:实验1 光纤传输损耗测试 学院:工学院 专业班级:13光电 姓名:林洋 学号:1395121026 指导教师:王达成

2016 年05 月日 预习报告 一、实验目的 1)了解光纤损耗的定义 2)了解截断法、插入法测量光纤的传输损耗 二、实验仪器 20MHz双踪示波器 万用表 光功率计 电话机 光纤跳线一组 光无源器件一套(连接器,光耦合器,光隔离器,波分复用器,光衰减器) 三、实验原理 αλ,其含义为单位长度光纤引起的光纤在波长λ处的衰减系数为()

光功率衰减,单位是dB/km 。当长度为L 时, 10()()lg (/)(0) P L dB km L P αλ=- (公式1.1) ITU-T G.650、G.651规定截断法为基准测量方法,背向散射法(OTDR 法)和插入法为替代测量方法。本实验采用插入法测量光纤的损耗。 (1)截断法:(破坏性测量方法) 截断法是一个直接利用衰减系数定义的测量方法。在不改变注入条件下,分别测出长光纤的输出功率2()P λ和剪断后约2m 长度短光纤的输出功率1()P λ,按定义计算出()αλ。该方法测试精度最高。 偏置电路 注入系统 光源 滤模器 包层模 剥除器 被测光纤 检测器 放大器电平测量 图1.1 截断法定波长衰减测试系统装置 (2)插入法 插入法原理上类似于截断法,只不过用带活接头的连接软线代替短纤进行参考测量,计算在预先相互连接的注入系统和接受系统之间(参考条件)由于插入被测光纤引起的功率损耗。显然,功率 1 P 、 2 P 的测量 没有截断法直接,而且由于连接的损耗会给测量带来误差,精度比截断法差一些。所以该方法不适用于光纤光缆制造长度衰减的测量。但由于它具有非破坏性不需剪断和操作简便的优点,用该方法做成的便携式仪表,非常适用于中继段长总衰减的测量。图1.2示出了两种参考条件下的测试原理框图。

工频介电常数及介质损耗测试仪

工频介电常数及介质损耗测试仪 GCSTD-C 产 品 技 术 方 案 书 北京冠测精电仪器设备有限公司材料电极液体电极

GCSTD-C工频介电常数及介质损耗测试仪 满足标准: GB/T1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法 GB/T 5654-2007 液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量 GB/T 21216-2007 绝缘液体测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法 GB/T 1693-2007 硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法 GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法__介质损耗角正切值的测试方法 …………………………………………………………………………………………… 一、产品概述 本仪器是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,测量各种绝缘材料、绝缘套管、绝缘液体、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压,抗干扰能力强,测试时间短等优点。 本测试仪采用变频电源技术,利用单片机和电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算,达到抗干扰能力强、测试速度快、精度高、操作简便的功能。 二、性能特点 1、仪器测量准确度高,可满足油介损测量要求,因此只需配备标准油杯,和专用测试线即可实现油介损测量。 2、采用变频技术来消除现场50Hz工频干扰,即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。 3、过流保护功能,在试品短路或击穿时仪器不受损坏。 4、内附标准电容和高压电源,便于现场测试,减少现场接线。 5、仪器采用大屏幕液晶显示器,测试过程通过汉字菜单提示既直观又便于操作。 三、技术指标 技术指标 1、试验环境温度:10℃~30℃(LCD液晶屏应避免长时间日照) 2、相对湿度:20%~80% 3、供电电源:电压:220V±10% 4、外形尺寸:长*宽*高=470mm*320mm*360mm 5、重量:16kg 6、输出功率:1.5KV A

介质损耗因数(tanδ)试验

align="center"> 图5-2 绝缘介质的等效电路 表5-2 绝缘电阻测量结果 绝缘电阻/MΩ(每隔60s测一次)

tanδ与施加电压的关系决定于绝缘介质的性能、绝缘介质工艺处理的好坏和产品结构。当绝缘介质工艺处理良好时,外施电压与tanδ之间的关系近似一水平直线,且施加电压上升和下降时测得的tanδ值是基本重合的。当施加电压达到某一极限值时,tanδ曲线开始向上弯曲,见图5-8曲线1。 如果绝缘介质工艺处理得不好或绝缘介质中残留气泡等,则绝缘介质的tanδ比良好绝缘时要大。另外,由于工艺处理不好的绝缘介质在极低电压下就会发生局部放电,所以,tanδ曲线就会较早地向上弯曲,且电压上升和下降时测得的tanδ值是不相重合的,见图5-8曲线2。 当绝缘老化时,绝缘介质的tanδ反而比良好绝缘时要小,但tanδ开始增长的电压较低,即tanδ曲线在较低电压下即向上弯曲,见图5-8曲线3。另外,老化的绝缘比较容易吸潮,一旦吸潮,tanδ就会随着电压的上升迅速增大,且电压上升和下降时测得的tanδ 值不相重合,见图5-8曲线4。 2.2 温度特性 图5-6 绝缘介质等值电流相量图 I C—吸收电流的无功分量I R—吸收电流的有功分量 —功率因数角δ—介质损失角

图5-7 绝缘介质简化等效电路和等值电流相量图 (a)等效电路(b)等值电流相量图 C x—绝缘介质的总电容R x—绝缘介质的总泄漏电阻I Cx—绝缘介质的总电容电流I Rx—绝缘介质的总泄漏电流 图5-8 绝缘介质tanδ的电压特性 tanδ随温度的上升而增加,其与温度之间的关系与绝缘材料的种类、性能和产品的绝缘结构等有关,在同样材料、同样绝缘结构的情况下与绝缘介质的工艺干燥、吸潮和老化程度有关。 对于油浸式变压器,在10℃~40℃范围内,干燥产品的tanδ增长较慢;温度高于40℃,则tanδ的增长加快,温度特性曲线向上逐渐弯曲。为了比较产品不同温度下的tanδ,GB/T6451—1999国家标准规定了不同温度t下测量的tanδ的换算公式。 tanδ2=tanδ1·1.3(t1-t2)/10 (5-2) 式中tanδ2——油温为t2时的tgδ值,%; tanδ1——油温为t1时的tgδ值,%。 3 tanδ测量方法 3.1 测量仪器及测量电压

NDJS抗干扰介质损耗测试仪.

目录 一、概述 . (2) 二、工作原理 (2) 三、主要技术参数 (3) 四、仪器面板介绍 (4) 五、操作方法说明: (5) 六、接线 . (6) 七、注意事项 (7) 八、仪器成套性 (8) 九、参考接线方法 (8) 一、概述 NDJS 型抗干扰介质损耗测试仪,是发电厂、变电站等现场全自动测量各种高压电力设备介损正切值及电容量的高精度仪器。由于采用了变频技术能保证在强电场干扰下准确测量。仪器在 GWS-4基础上增加了中文菜单操作功能, 一次操作,微机自动完成全过程的测量。是目前最理想的介损测量设备。 该仪器同样适用于车间、试验室、科研单位测量高压电器设备的tg δ及电容量;对绝缘油的损耗测试、更具有方便、简单、准确等优点。 该仪器可用正、反接线方法测量不接地或直接地的高压电器设备。 仪器内部装备了高压升压变压器, 并采取了过零合闸、防雷击等安全保护措施。试验过程中输出 0.5KV ~10kV 不同等级的高压,操作简单、安全。

二、工作原理 在交流电压作用下, 电介质要消耗部分电能, 这部分电能将转变为热能产生损耗。这种能量损耗叫做电介质的损耗。当电介质上施加交流电压时, 电介质中的电压和电流间存在相角差Ψ, Ψ的余角δ称为介质损耗角, δ的正切tg δ称为介质损耗角正切。tg δ值是用来衡量电介质损耗的参数。仪器测量线路包括一标准回路(Cn 和一被试回路(Cx ,如图 1所示。标准回路由内置高稳定度标准电容器与测量线路组成, 被试回路由被试品和测量线路组成。测量线路由取样电阻与前置放大器和A /D 转换器组成。通过测量电路分别测得标准回路电流与被试回路电流幅值及其相位等, 再由单片机运用数字化实时采集方法, 通过矢量运算便可得出试品的电容值和介质损耗正切值。 仪器内部已经采用了抗干扰措施,保证在外电场干扰下准确测量。 图 1 测量原理图 1. 仪器结构 测量电路:傅立叶变换、复数运算等全部计算和量程切换、变频电源控制等。控制面板:打印机、键盘、显示和通讯中转。 变频电源:采用 SPWM 开关电路产生大功率正弦波稳压输出。

AI-6000K全自动介质损耗测试仪说明书

AI-6000K全自动介质损耗测试仪说明书 一、产品简介: 介损测量是绝缘试验中很基本的方法,可以有效地发现电器设备绝缘的整体受潮劣化变质,以及局部缺陷等。在电工制造、电气设备安装、交接和预防性试验中都广泛应用。变压器、互感器、电抗器、电容器以及套管、避雷器等介损的测量是衡量其绝缘性能的最基本方法。AI-6000K自动抗干扰精密介损测试仪突破了传统的电桥测量方式,采用变频电源技术,利用单片机、和现代化电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算;达到抗干扰能力强、测试速度快、精度高、全自动数字化、操作简便;电源采用大功率开关电源,输出45Hz和55Hz纯正弦波,自动加压,可提供最高10千伏的电压;自动滤除50Hz干扰,适用于变电站等电磁干扰大的现场测试。广泛适用于电力行业中变压器、互感器、套管、电容器、避雷器等设备的介损测量。 二、安全措施 1、使用本仪器前一定要认真阅读本手册。 2、仪器的操作者应具备一般电气设备或仪器的使用常识。 3、本仪器户内外均可使用,但应避开雨淋、腐蚀气体、尘埃过浓、高温、阳光直射等场所使用。 4、仪表应避免剧烈振动。 5、对仪器的维修、护理和调整应由专业人员进行。 6、在任何接线之前必须用接地电缆把仪器接地端子与大地可靠连接起来。 7、由于测试设备产生高电压,所以测试人员必须完全严格遵守安全操作规程,防止他

人接触高压部件和电路。直接从事测试的人员必须完全了解高压测试线路,及仪器操作要点。非从事测试人员必须远离高压测试区,测试区必须用栅栏或绳索、警视牌等清楚表示出来。 8、仪器的调整维修和维护,必须在不加电情况下进行,如果必须加电,则操作者必须非常熟悉本仪器高压危险部件。 9、保险管损坏时,必须确保更换同样的保险,禁止更换不同型号保险或将保险直接短路使用。 10、仪器出现故障时,关闭电源开关,等待一分钟之后再检查。 三、可测试参数 仪器可测量下列参数并数字显示: 被测试品的电容量值CX,以pF或nF为单位,1nF=1000pF。 被测试品的介质损耗值tgδ,以%显示。 四、性能特点 1、仪器采用复数电流法,测量电容、介质损耗及其它参数。测试结果精度高,便于实现自动化测量。 2、仪器采用了变频技术来消除现场50Hz工频干扰,即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。 3、仪器采用大屏幕液晶显示器,测试过程通过汉字菜单提示既直观又便于操作。

介质损耗详解

1、介质损耗 什么是介质损耗:绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。 2、介质损耗角δ 在交变电场作用下,电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角(功率因数角Φ)的余角(δ)。简称介损角。 3、介质损耗正切值tgδ 又称介质损耗因数,是指介质损耗角正切值,简称介损角正切。介质损耗因数的定义如下: 如果取得试品的电流相量和电压相量,则可以得到如下相量图: 总电流可以分解为电容电流Ic和电阻电流IR合成,因此: 这正是损失角δ=(90°-Φ)的正切值。因此现在的数字化仪器从本质上讲,是通过测量δ或者Φ得到介损因数。 测量介损对判断电气设备的绝缘状况是一种传统的、十分有效的方法。绝缘能力的下降直接反映为介损增大。进一步就可以分析绝缘下降的原因,如:绝缘受潮、绝缘油受污染、老化变质等等。 测量介损的同时,也能得到试品的电容量。如果多个电容屏中的一个或几个发生短路、断路,电容量就有明显的变化,因此电容量也是一个重要参数。 4、功率因数cosΦ 功率因数是功率因数角Φ的余弦值,意义为被测试品的总视在功率S中有功功率P所占的比重。功率因数的定义如下:

有的介损测试仪习惯显示功率因数(PF:cosΦ),而不是介质损耗因数(DF:tgδ)。一般 cosΦ

介质损耗

电介质在交变电场作用下,所积累的电荷有两种分量:(1)有功功率。一种为所消耗发热的功率,又称同相分量;(2)无功功率,又称异相分量。异相分量与同相分量的比值即称为介质损耗。 通常用正切tanδ表示。tanδ=1/WCR(式中W为交变电场的角频率;C为介质电容;R为损耗电阻)。介电损耗角正切值是无量纲的物理量。可用介质损耗仪、电桥、Q表等测量。对一般陶瓷材料,介质损耗角正切值越小越好,尤其是电容器陶瓷。仅仅只有衰减陶瓷是例外,要求具有较大的介质损耗角正切值。橡胶的介电损耗主要来自橡胶分子偶极化。在橡胶作介电材料时,介电损耗是不利的;在橡胶高频硫化时,介电损耗又是必要的,介质损耗与材料的化学组成、显微结构、工作频率、环境温度和湿度、负荷大小和作用时间等许多因素有关。 电介质损耗(dielectric losses ):电介质中在交变电场作用下转换成热能的能量。这些热会使电介质升温并可能引起热击穿,因此,在电绝缘技术中,特别是当绝缘材料用于高电场强度或高频的场合,应尽量采用介质损耗因数(即电介质损耗角正切tgδ,它是电介质损耗与该电介质无功功率之比)较低的材料。但是,电介质损耗也可用作一种电加热手段,即利用高频电场(一般为0.3~300 兆赫)对电介质损耗大的材料(如木材、纸、陶瓷等)进行加热。这种加热由于热量产生在介质内部,比外部加热的加热速度快、热效率高,且加热均匀。频率高于300兆赫时,达到微波波段,即为微波加热(家用微波炉即据此原理)。 电介质损耗按其形成机理可分为弛豫损耗、共振损耗和电导损耗。前两者分别与电介质的弛豫极化和共振极化过程有关。对于弛豫损耗,当交变电场的频率ω=1/τ时,介质损耗达到极大值,τ为组成电介质的极性分子和热离子的弛豫时间。对于共振损耗,当电场频率等于电介质振子固有频率(共振)时,损失能量最大。电导损耗则是由贯穿电介质的电导电流引起,属焦耳损耗,与电场频率无关。 电容介质损耗和电流电压相位角之间的关系 又称介电相位角。反映电介质在交变电场作用下,电位移与电场强度的位相差。在交变电场作用下,根据电场频率、介质种类的不同,其介电行为可能产生两种情况。对于理想介质电位移与电场强度在时间上没有相位差,此时极化强度与交变电场同相位,交流电流刚好超前电压π/2。对于实际介质而言,电位移与电场强度存在位相差。此时介质电容器交流电流超前电压的相角小于π/2。由此,介质损耗角等于π/2与介质电容器交流电流超差电压的相角之差。 介质损耗角是在交变电场下,电介质内流过的电流向量和电压向量之间的夹角(即功率向量角ф)的余角δ,简称介损角。介质损耗角(介损角)是一项反映高压电气设备绝缘性能的重要指标。介损角的变化可反映受潮、劣化变质或绝缘中气体放电等绝缘缺陷,因此测量介损角是研究绝缘老化特征及在线监测绝缘状况的一项重要内容。 介质损耗检测的意义及其注意问题 (1)在绝缘设计时,必须注意绝缘材料的tanδ 值。若tanδ 值过大则会引起严重发热,使绝缘加速老化,甚至可能导致热击穿。而在直流电压下,tanδ 较小而可用于制造直流或脉冲电容器。

高压介质损耗测试仪

FS3001 变频高压介质损耗测试仪 一、概述 FS3001变频高压介质损耗测试仪用于现场抗干扰介损测量,或试验室精密介损测量。仪器为一体化结构,内置介损电桥、变频电源、试验变压器和标准电容器等。采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术,全自动智能化测量,强干扰下测量数据非常稳定。测量结果由大屏幕液晶显示,自带微型打印机可打印输出。 二、主要功能特点 1、抗干扰能力强 采用变频抗干扰技术,在200%干扰下仍能准确测量,而且测试数据非常稳定。为适应国外60Hz电网需要,还具有60Hz电源自动识别和55/65Hz自动双变频功能。 2、测量精度高 FS3001不仅能在现场做抗干扰测量,也能满足试验室精密测量要求(如油介损测量)。其核心是一个精密高压数字电桥,采用全数字处理和电桥自校准等多种先进技术,配合高精度的三端结构标准电容,实现高精度介损测量。仪器所有量程输入电阻低于2Ω,消除了测量电缆附加电容的影响。 3、多种安全保护措施,确保人身和试验设备安全 高压保护:试品短路、击穿或高压电流波动,能以短路方式高速切断输出。 低压保护:误接380V,电源波动或突然断电,启动保护,不会引起过电压。 接地保护:仪器接地失灵使外壳带危险电压时,启动接地保护。 C V T:高压电压和电流、低压电压和电流四个保护限,不会损坏设备;误选菜单不会输出激磁电压。 防误操作:两级电源开关;电压、电流实时显示;多次按键确认;接线端子高/低压分明;声光报警。

防“容升”:测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应,仪器能自动跟踪输出电压,保持试验电压恒定。 抗震性能:仪器采用独特抗震设计,可耐受强烈长途运输震动、颠簸而不会损坏。 高压电缆:为耐高压绝缘导线,可拖地使用。 三、外接附件测量功能 1、外接高压电容器进行高电压介损试验 2、外接液体油杯、控温仪进行绝缘油介损试验 3、外接固体绝缘材料测量电极,测量固体绝缘材料切片的介质损耗。 四、用户可根据需要定制绝缘电阻测量功能 测量方式:电阻/吸收比/极化指数 试验电压:直流100~10000V逐伏设置 电压精度:±(设置值×2%+10V) 短路电流:不小于100mA 测量范围:100kΩ~1000GΩ 测量精度:100kΩ~10GΩ时为5%(试验电压不低于250V) 10GΩ~100GΩ时为5%(试验电压不低于2500V) 100GΩ~1000GΩ时为10%(试验电压不低于10000V) 抗干扰:工频5mA 接线方式:正接线或反接线 快速放电:有 测量时间:电阻约30秒(30~99秒时间可调),吸收比60秒,极化指数10分钟 五、技术指标 准确度:Cx: ±(读数×1%+1pF) tgδ: ±(读数×1%+0.00040) 抗干扰指标:变频抗干扰,在200%干扰下仍能达到上述准确度 电容量范围:内施高压:3pF~60000pF/10kV 60pF~1μF/0.5kV 外施高压:3pF~1.5μF/10kV 60pF~30μF/0.5kV 分辨率:最高0.001pF,4位有效数字 tgδ范围:不限,分辨率0.001%,电容、电感、电阻三种试品自动识别。 试验电流范围:10μA~1A 内施高压:设定电压范围:0.5~10kV 最大输出电流:200mA

SX-9000全自动介质损耗测试仪使用说明书

SX-9000全自动介质损耗测试仪使用说明书全自动介质损耗测试仪 使 用 讲 明 书

目录 1概述 (2) 2技术指标 (2) 3内部结构与工作原理 (3) 4使用和操作 (5) 5注意事项 (9) 6仪器成套性 (9) 7保管及免费修理期限 (9) 8附录1、2、3…………………………………..……...(10-12) 1.概述 SX-9000(CVT)型全自动介质损耗测试仪是在我公司生产智能化介质 损耗测量仪和变频(异频)抗干扰介质损耗测试仪之后,研制成功第五代 一种新型的测量仪,随着城乡电网改造的持续深入,更高电站越来越多, 倒相法、移相法,已不能满足现场测试需求,异频测量(变频),把50HZ 变成其它频率,能够排除干扰。但由于电子技术的限制,其变频后的频率 一样离50HZ有一定距离,其50Hz条件下的电容值cx及tgδ值是换算模拟出来的,与真实工频测试有一定的距离,专门对少数被试品,测出数据 就有明显误差,通过综合比较,现研制一种新型介质损耗测量仪,其原理 不改变频率,能得到50HZ条件下电容值cx及tgδ值,提升测量可靠性和准确性,完全抑制电场干扰,满足电场下的使用要求,SX-9000(CVT)型全自动介质损耗测试仪体积最小,重量最轻,便于携带。有灵活的扩展性, 通过接口与运算机连接,使用强大的软件附件,对仪器升级,人性化设计,

全自动操作本仪器适合500kv及以下电站有干扰现场的试验。本仪器通过 国家电力研究所及行业专家的鉴定,并获得国家高电压计量站的校准证书。 ●具有多种测量方式,可选择正/反接线、内/外标准电容器、CVT和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。 ●测量电容式电压互感器(CVT)时,无需其它外接设备。 ●内置SF6标准电容器,tgδ<0.005%,受空气湿度阻碍小。 ●抗干扰成效好;能有效地排除强烈的电场干扰对测量的阻碍,适用 于500kv极其以下电站的强干扰现场试验。 ●高压短路和突然断电时,仪器能迅速切断高压,并发出警告信息。 ●测量重复性好,电压线性好(测量准确度不受电压阻碍) ●一体化结构,重量适中,便于携带。 ●大屏幕带背光中文液晶显示器信息提示操作,使用方便。 ●仪器自带打印机,及时储存测试数据。 ●高压电缆连接至试品,保证安全;仪器未接地报警,安全措施完备。 2.技术指标 2.1额定工作条件 2.1.1环境温度:0~40℃(当温度超出20℃±5℃时,每变化10℃仪器差不多误差的改变量不超过差不多误差限的1/2。) 2.1.2相对湿度:30%~85% 2.1.3供电电源:市电。电压:220V±22V, 频率:50±1Hz 2.2外型尺寸:a×b×h,mm:450×330×380 2.3仪重视量:不大于18kg 2.4电子电路功耗:不大于40VA 2.5测量范畴: 2.5.1介质损耗(tgδ): 0~1 辨论率0.0001 2.5.2电容量(Cx): ≤60000PF 最小辨论率0.01P F 2.5.2.1内接方式 试验电压试品电容量

固体绝缘材料介电常数、介质损耗试验方法

固体绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波长在内)下相对介电常数和介质损耗因数的试验方法 本标准等效采用国际标准 IEC 250(1969)《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波长在内)下相对介电常数和介质损耗因数的推荐方法》,只是去掉其中液体试样及其试验部分。 1主题内容与适用范围 本标准规定了固体绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波长在内)下相对介电常数和介质损耗因数的试验方法。 本标准适用于 15 HZ~300 MHZ频率范围内测量固体绝缘材料的相对介电常数、介质损耗因数,并由此计算某些数值,如损耗指数。 测量所得的数值与一些物理条件,例如频率、温度、湿度有关,在特殊情况下也与场强有关。 2定义 2.1相对介电常数 绝缘材料的相对介电常数。r是电极间及其周围的空间全部充以绝缘材料时,其电容 Cx与同样构型的真空电容器的电容C0之比: Er=CX/C0………………………………………( 1) 在标准大气压下,不含二氧化碳的干燥空气的相对介电常数等于 1. 000 53。因此,用这种电极构型在空气中的电容C。来代替C。测量相对介电常数时,有足够的精确度。在一个给定的测量系统中,绝缘材料的介电常数是该系统中绝缘材料的相对介电常数。与真空介电常数的乘积。 真空介电常数: E0=8.854×10-12F/m≈1×10-9F/36πm………………………( 2) 在本标准中用PF/cm来计算,真空介电常数为: E0=0.08854pF/cm 2. 2介质损耗角 6 绝缘材料的介质损耗角a,是由该绝缘材料作为介质的电容器上所施加的电压与流过该电容器的 电流之间的相位差的余角。 2.3介质损耗因数tanδ 绝缘材料的介质损耗因数是介质损耗角E的正切tanE。 2.4损耗指数E n 绝缘材料的损耗指数E n,等于该材料的介质损耗因数不清tanE与相对介质常数e的乘积。 2.5相对复介电常数E 绝缘材料的相对复介电常数是由相对介电常数和损耗指数结俣而得出的。 Er=Er-JEr Er=Er 式中:Er是2.1条中所定义的相对介电常数。 E=Etane 有介质损耗的电容量,在任何经定的频率下既可用电容Cs和电阻Rs的串联回路来表示:

G652D光纤宏弯损耗测试方法(精)

G652D光纤宏弯损耗测试方法 摘要:实现了一种全集成可变带宽中频宽带低通滤波器,讨论分析了跨导放大器-电容(OTA—C)连续时间型滤波器的结构、设计和具体实现,使用外部可编程电路对所设计滤波器带宽进行控制,并利用ADS软件进行电路设计和仿真验证。仿真结果表明,该滤波器带宽的可调范围为1~26 MHz,阻带抑制率大于35 dB,带内波纹小于0.5 dB,采用1.8 V电源,TSMC 0.18μm CMOS工艺库仿真,功耗小于21 mW,频响曲线接近理想状态。关键词:Butte 光纤宏弯损耗测试,在国家标准GB/T9771.3-2008中描述为:光纤以30mm半径松绕100圈,在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB。 而注2中描述:为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度,可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈光纤进行试验,在此情况下,绕的圈数环的半径和最大允许的弯曲损耗都应该与30mm半径100圈试验的损耗值相适应。 大多光纤厂家都提供Φ60mm*100圈的判断标准,然而,在日常的测试工作中,若要采用方便快捷的实验方法,则倾向于按照注2中的建议去进行一些常规判断。因此,掌握Φ32mm*1圈与Φ60mm*100圈的数据差异就十分有必要。 Φ32mm*1宏弯测试更为简便 两种宏弯损耗测试方法示意图如图1所示。 用上述方法对10盘正常生产条件下的光纤样品进行对比测试。 分别在1310nm、1550nm、1625nm三种波长下,对10盘光纤样品的宏弯平均值、标准偏差进行统计,最后将全部数据汇总,得到图2。 从整体数据汇总图可看出,Φ32mm*1宏弯测试方法所得数据的平均值和标准偏差都比Φ60mm*100的要小,且数据相对稳定,重复性好。当然所抽样品也不是完全都遵循此规律,10个样品中有3个样品在1625nm窗口下Φ32mm*1 所得数据的平均值大于Φ60mm*100所测得的;还有1个样品在1550nm、1625nm窗口下所得数据的标准偏差大于Φ60mm*100的。 10个样品用两种测试方法所得数据的平均值和标准偏差相差不大,处于一个数据等级内。Φ32mm*1的判断标准应考虑的与60mm*100比较接近。

介质损耗试验

电容和介质损耗测量 一试验目的 测量介质损耗的目的是判断电气设备的绝缘状况。测量介质损耗因数在预防性试验中是不可缺少的项目。因为电气设备介质损耗因数太大,会使设备绝缘在交流电压作用下,许多能量以热的形式损耗,产生的热量将升高电气设备绝缘的温度,使绝缘老化,甚至造成绝缘热击穿。绝缘能力的下降直接反映为介质损耗因数的增大。进一步就可以分析绝缘下降的原因,如:绝缘受潮、绝缘油受污染、老化变质等等。所以,在出厂试验时要进行介质损耗的试验,运行中的电气设备亦要进行此种试验。测量介质损耗的同时,也能得到试品的电容量。电容量的明显变化,反映了多个电容中的一个或几个发生短路、断路。 二概念及原理 介质损耗是绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。 在交流电压作用下,电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角为功率因数角(Φ),而余角(δ)简称介损角。 介质损耗正切值δ tg又称介质损耗因数,是指介质损耗角正切值,简称介损角正切。 介质损耗因数(δ tg)的测量在电气设备制造、绝缘材料电气性能的鉴定、绝缘的试验等都是不可缺少的。因为测量绝缘介质的δ tg值是判断绝缘情况的一个较灵敏的试验方法。在交流电压作用下,绝缘介质不仅有电导的损耗,还有极化损耗。介质损耗因数的定义如下:

如果取得试品的电流相量和电压相量,则可以得到如下相量图: 合成,因此: 总电流可以分解为电容电流Ic和电阻电流I R 这正是损失角δ=(90°-Φ)的正切值。因此现在的数字化仪器从本质上讲,是通过测量δ或者Φ得到介损因数。有的介损测试仪习惯显示功率因数(PF:cos Φ),而不是介质损耗因数(DF:tgδ)。一般cosΦ

异频全自动介质损耗测试仪技术规范书

产品技术规范书 (图片仅供参考) 设备名称:异频全自动介质损耗测试仪型号: 生产厂家: 产品编码: 品牌:

一、概述 异频全自动介质损耗测试仪是发电厂、变电站等现场或实验室测试各种高压电力设备介损正切值及电容量的高精度测试仪器。仪器为一体化结构,内置介损测试电桥,可变频调压电源,升压变压器和SF6 高稳定度标准电容器。测试高压源由仪器内部的逆变器产生,经变压器升压后用于被试品测试。频率可变为50Hz、47.5Hz\52.5Hz、45Hz\55Hz、60Hz、57.5Hz\62.5Hz、55Hz\65Hz,采用数字陷波技术,避开了工频电场对测试的干扰,从根本上解决了强电场干扰下准确测量的难题。同时适用于全部停电后用发电机供电检测的场合。该仪器配以绝缘油杯加温控装置可测试绝缘油介质损耗。 二、性能特点 1、超大液晶中文显示 操作简单,仪器配备了高端的全触摸液晶显示屏,超大全触摸操作界面,每过程都非常清晰明了,操作人员不需要额外的专业培训就能使用。轻轻点击一下就能完成整个过程的测量,是目前非常理想的智能型介损测量设备。 2、海量存储数据 仪器内部配备有日历芯片和大容量存储器,保存数据200组,能将检测结果按时间顺序保存,随时可以查看历史记录,并可以打印输出。 3、科学先进的数据管理 仪器数据可以通过U盘导出,可在任意一台PC机上通过我公司专用软件,查看和管理数据。 4、多种测试模式 仪器能够分别使用内高压、外高压、内标准、外标准、正接法、反接法、自激法等多种方式测试;在外标准外高压情况下可以做高电压(大于10kV)介质损耗。 5、CVT测试一步到位 该仪器还可以测试全密封的CVT(电容式电压互感器)C1、C2的介损和电容量,实现了C1、C2的同时测试。该仪器还可以测试CVT变比和电压角差。 6、不拆高压引线测量CVT 仪器可在不拆除CVT高压引线的情况下正确测量CVT的介质损耗值和电容值。 7、CVT反接屏蔽法测量C0

光纤损耗测试方法及其注意事项

1引言 由于应用和用户对带宽需求的进一步增加和光纤链路对满足高带宽方面的巨大优势,光纤的使用越来越多。无论是布线施工人员,还是网络维护人员,都有必要掌握光纤链路测试的技能。 2004年2月颁布的TIA/TSB-140测试标准,旨在说明正确的光纤测试步骤。该标准建议了两级测试,分别为: Tier1(一级),使用光缆损耗测试设备(OLTS)来测试光缆的损耗和长度,并依靠OLTS或者可视故障定位仪(VFL)验证极性; Tier2(二级),包括一级的测试参数,还包括对已安装的光缆链路的OTDR追踪。? 根据TSB-140标准,对于一条光纤链路来说,一级测试主要包括两个参数:长度和损耗。事实上,早在标准ANSI/TIA/EIA-526-14A和ANSI/TIA/EIA-526-7中,已经分别对多模和单模光纤链路的损耗测试,定义了三种测试方法(长度的测量,取决于仪表是否支持,如果仪表支持,在测试损耗的同时,长度同时也会测量)。为了方便,我们分别称为:方法A、方法B和方法C。TSB-140就是在这基础上发展而来,与此兼容。 那么这三种方法各有什么特点,怎么操作,应该在什么场合下使用呢?这正是本文要阐述的问题。另外,光纤链路的测试,不同于双绞线链路的测试,又有什么地方需要注意或者有什么原则可以遵循呢?这也是本文想与读者分享的内容。 2如何测试光纤链路损耗 光纤链路损耗的测试,包含两大步骤:一是设置参考值(此时不接被测链路),二是实际测试(此时接被测链路)。 下面我们具体介绍一下标准中定义的三种测试损耗的方法(以双向测试为例)。 2.1测试方法A 方法A设置参考值时,采用两条光纤跳线和一个连接器(考虑一个方向,如下图上半部分)。设置参考值后,将被测链路接进来(如下图下半部分),进行测试。

油介损测试仪说明书

油介损测试仪说明书 由于输入输出端子、测试柱等均有可能带电压,在插拔测试线、电源插座时,会产生电火花,小心电击, 避免触电危险,注意人身安全! 安全要求 请阅读下列安全注意事项,以免人身伤害,为了避免可能发生的危险,只可在规定的范围内使用。 —防止火灾或人身伤害 正确地连接和断开。当测试导线与带电端子连接时,请勿随意连接或断开测试导线。 注意所有终端的额定值。为了防止火灾或电击危险,请注意所有额定值和标记。 请勿在潮湿环境下操作。 请勿在易爆环境中操作。 -安全术语 警告:警告字句指出可能造成人身伤亡的状况或做法。

目录 一、概述 (5) 二、控制面板 (6) 三、油杯简介 (7) 四、工作原理 (9) 五、主要技术指标 (11) 六、操作 (12) 一、概述 HTYJS-H绝缘油介质损耗测试仪是用于绝缘油等液体绝缘介质的介质损耗角及体积电阻率的高精密仪器。一体化结构。内部集成了介损油杯、温控仪、温度传感器、介损测试电桥、交流试验电源、标准电容器、高阻计、直流高压源等主要部件。其中加热部分采用了当前最为先进的高频感应加热方式,该加热方式具备油杯与加热体非

接触、加热均匀、速度快、控制方便等优点。交流试验电源采用AC-DC-AC转换方式,有效避免市电电压及频率波动对介损测试准确性影响,即便是发电机发电,该仪器也能正确运行。内部标准电容器为SF6充气三极式电容,该电容的介损及电容量不受环境温度、湿度等影响,保证仪器长时间使用后仍然精度一致。 仪器内部采用全数字技术,全部智能自动化测量,配备了大屏幕(240×180)液晶显示器,全中文菜单,每一步骤都有中文提示,测试结果可以打印输出,操作人员不需专业培训就能熟练使用。 在使用本仪器之前,务必先仔细阅读本使用说明书!二、控制面板 图一控制面板图 1.键盘区 a)背光:控制液晶屏背光灯的开关;

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