卫星通信系统中相应噪声之理论及测试（殷琪）
摘要：本文从相位噪声的定义出发，主要讨论卫星通信系统中相位噪声的来源，介绍一种在现场经常使用的、简便可行的测试相位噪声的方法——频谱分析仪测试方法。
关键词：相位噪声相位抖动方差频谱分析仪
随着卫星通信系统中愈来愈多地采用PSK（相位键控）调制技术，系统中产生的相位噪声对线路质量的影响日趋显著，相位噪声将引起载波相位抖动、Eb/No降低，从而产生
码间干扰，最终导致全链路性能恶化。传统的相位噪声测试是比较复杂的，需要大量的仪表和一定的测试环境，现场操作有一定困难，通常只在工厂进行相位噪声测试。本文将根据相位噪声的定义，主要讨论卫星通信系统中相位噪声的来源，介绍一种在现场经常使用的、简便易行的测试相位噪声的方法——频谱分析仪测试方法。该方法也可用于数字微波通信系统中相位噪声测试。
1相位噪声
什么是相位噪声呢？首先让我们看一个角频率为w的纯净载波功率C，在（w＋p）处叠
加一个1Hz带宽的单边带噪声后的情况。
可见一个角频率为w的纯净载波在（w＋p）处叠加上一个1Hz的单边噪声，可以近似地
等效为1个在角频率为w的调幅调相波，该调幅调相波可分解成以下边带：为了区别噪声功率密度和“相位噪声”功率密度，将用符号Nop表示相位噪声功率密度，因为只有一半噪声功率转换到调相边带中去，所以Nop=No/2
2倍频振荡器中的相位噪声
在卫星通信地球站，变频器中使用的本振大多数是倍频振荡器，那么倍频又会对相位噪声产生怎样的影响呢？
经理论分析可知，调幅调制指数不因理想借频而有所变化，因此，调幅噪声边带也将不变，调相信号经倍频后，除载波频率变化了n倍外，其调相指数也从θ1变为nθ1，可见，倍频n倍的效果使得相位噪声边带出现了很大的变化，倍频后的相位噪声功率密度与载波功率的比值是倍频前相位噪声功率密度与载波功率比值的n2倍。如果n是个很大的数，使得倍额后调幅噪声边带对整个噪声边带的贡献可以忽略不计，换句话说，n信频后（n＞＞1）的噪声边带几乎全部是相位噪声。
至此，我们已对卫星通信系统中的相位噪声的产生做了一些分析。为了进一步强调其物理意义，现作如下总结：
所谓相位噪声是由一个纯净载波和噪声叠加引起的。其中噪声可以看成是由许多个功率密度为八的窄带噪声组成的。经过对窄带噪声的分析可知，窄带噪声可以近似地等效为一个正弦调幅调相波且各占一半的噪声功率密度，即一半的噪声功率密度转换到调相边带中成为相位噪声功率密度，另一半噪声功率密度转换到调幅边带中去，对相位噪声没有贡献。如果对叠加了噪声的纯净载波n倍频，其结果是，转换到调相边带的噪声功率密度将会增加n倍，成为相位噪声，如果n是个很大的数字，那么信频后调幅边带与调相边带相比可以忽略不计，因此情额后的噪声几乎全部是相位噪声。
3放大器对相位噪声的影响
系统中串接的放大器又将对相位噪声作出怎样的贡献呢？
首先讨论一个线性振荡器与放大器串接的情况，经过理论分析表明：
对于相位噪声边带，当偏移频率较低时，即靠近载波频率时，振荡器的相位噪声比放大器的相位噪声对总的相位噪声贡献大。
当偏移频率等于fo时，（fo为载波频率，Q为振荡器Q值），振荡器和放大器对总的相位噪声贡献相等，即在串接放大器后总的相位噪声密度上升了3dB。
当偏移频率远远大于fo／2Q时，放大器噪声对相位噪声的贡献将起主导作用，且随偏移频率的增加，其总的相位噪声密度不变，等于放大器噪声的一半，直到偏移频率增加到某一频率时，放大器的选择性开始衰减至噪声边带为止。
对于俗频振荡器与放大器串接的情况，如果放大器放在倍频放大器之前，那么放大器噪声对相位噪声将乘以n2；如果放大器放在倍频放大器之后，那么放大器噪声对相位噪声贡献就不会被放大n2倍。
由此可见，上行系统的相位噪声除与调制器和变频器本振有关外，还与高频率放大器有关，尤其在相位噪声高频段，上行系统的相位噪声主要由高功率放大器的噪声所决定。下行系统中的相位噪声主要来源于变频器本振，这是因为低噪声放大器的噪声温度很低，换句话说，由低噪声放大器本身产生的噪声很小，因此，在下行系统中低噪声放大器对相位噪声的贡献可以忽略不计，但是，假如在某一下行系统中除低噪声放大器外，还有线路放大器，那么此线路放大器对下行系统的相位噪声的贡献则不能忽略。
4在卫星通信系统中利用频谱分析仪对相位噪声的测试
前面已经讨论过了卫星通信系统中相位噪声的来源和本质。那么对该相位噪声将怎样进行测试呢？细分起来在卫星通信系统中要进行三方面的相位噪声测试：（1）变频器中的相位噪声测试；
（2）上行系统中的相位噪声测试；
（3）下行系统中的相位噪声测试。
这三方面相位噪声的测试几乎都可以用频谱分析仪进行测试。在被测系统的输入端用振荡器输入一个高纯度的“纯净”测试载波。在输出端接一个频谱分析仪测量该载波及其
噪声边带。绝大多数情况下，该载波的噪声边带是相位噪声边带。
一般说来，从频谱分析仪上测到的载波噪声边带包括有调幅、调相两种噪声。在频谱仪上是很难将它们再分开的，幸运的是被测系统中的变频器目前大多采用n信频振荡器，且n是一个很大的数字。前面已经指出，如果n是个很大的数字，倍额后调根边带的功率密度与载波之比较倍频前的调相边带功率密度与载波之比提高了n2倍，而调相边带却没有变化，因此使得倍频后的调幅噪声边带可以忽略不计。故由频谱仪测出的噪声边带几乎全部是相位噪声边带。只有在上行系统相位噪声测试时，由于被测系统中除具有变频器外，还有高功率放大器，故在距载波频率偏移不高时，由功放输出的上行载波噪声边带绝大部分是调相噪声边带。而在偏移频率较高时，相位噪声主要由高功率放大器噪声决定，这就很难从频谱仪上分出哪些是相位噪声，哪些是调幅噪声，尽管如此，在大多数情况下，此时载波边带总的噪声水平很低，几乎都能满足相位噪声边带要求，因此可以用频谱分析仪测量整个上行系统的相位噪声。对于个别超过指标的情况，可以用专门仪表测量其相位噪声。
另外，用频谱分析仪测量连续的相位噪声密度时，应该注意的问题是：对频谱分析仪屏幕上显示的数值必须加以修正。频谱仪显示的噪声功率密度是在一定的分辨带宽BR下得到的，需将其归一化到1Hz带宽时的噪声功率密度，由于频谱仪的分辨带宽是3dB带宽，它
不同与等效噪声带宽，一般可以认为二者间的关系为：噪声带宽=1.2×3dB带宽；另外还
应加入2.5 dB的修正值，这是由于频谱仪使用的对数放大器对噪声峰值信号的放大小于对低电平的噪声信号的放大，以及频谱仪使用的峰值检波器峰值检波与有效值检波之间的修正。所以，实际的相位噪声密度为：
相位噪声密度二频谱仪显示的噪声密度+2.5－10lg1.2×BR，其中BR为频谱仪的分辨
带宽（Hz）。
对于离散相位噪声则不需修正。一般对于连续相位噪声的指标要求是随频率而变化的，且频率范围较宽，如果只用较小的扫描带宽测量边带相位噪声，则不能反映出在偏离载波频率较高时的相位噪声，另一方面如果用较大的扫描带宽测量单边带相位噪声，则对于低频段的相位噪声的分布就看不清楚。因此建议采用不同的扫描宽度如100Hz、1kHz、10 kHz、100kHz、1MHz，对相位噪声进行测量，同时选择频谱仪的分辨带宽尽量小一些，最好是10 Hz，以便能分辨出在低频段由电源引起的离散相位噪声。
5小结
对于采用PSK调制方式的载波来说，系统中的相位噪声是不可忽略的，它将对载波产生影响，降低Eb／No从，产生码间干扰，导致误码率劣化。为保证系统质量性能，对系统的相位噪声必须加以限制，对于相位噪声可能超出指标要求的情况，必须进行测试。幸运的是绝大多数系统中都采用了倍频方式，因此可以用频谱分析仪测试法对相位噪声进行测试，只有在个别情况下，分辨不出来哪些是调幅噪声，哪些是调相噪声，才采用其他方法测量相位噪声。
摘自《电信科学》
西南科技大学 材料科学与工程学院 教师教案 教师姓名：张宝述 课程名称：材料现代分析测试方法 课程代码：11319074 授课对象：本科专业：材料物理 授课总学时：64 其中理论：64 实验：16（单独开课） 教材：左演声等. 材料现代分析方法. 北京工业大 学出版社，2000 材料学院教学科研办公室制
2、简述X射线与固体相互作用产生的主要信息及据此建立的主要分析方法。 章节名称第三章粒子（束）与材料的相互作用 教学 时数 2 教学目的及要求1．理解概念：（电子的）最大穿入深度、连续X射线、特征X射线、溅射；掌握概念：散射角（2 ）、电子吸收、二次电子、俄歇电子、背散射电子、吸收电流（电子）、透射电子、二次离子。 2．了解物质对电子散射的基元、种类及其特征。 3．掌握电子与物质相互作用产生的主要信号及据此建立的主要分析方法。 4．掌握二次电子的产额与入射角的关系。 5．掌握入射电子产生的各种信息的深度和广度范围。 6．了解离子束与材料的相互作用及据此建立的主要分析方法。 重点难点重点：电子的散射，电子与固体作用产生的信号。难点：电子与固体的相互作用，离子散射，溅射。 教学内容提要 第一节电子束与材料的相互作用 一、散射 二、电子与固体作用产生的信号 三、电子激发产生的其它现象第二节离子束与材料的相互作用 一、散射 二、二次离子 作业一、教材习题 3-1电子与固体作用产生多种粒子信号（教材图3-3），哪些对应入射电子？哪些是由电子激发产生的？ 图3-3入射电子束与固体作用产生的发射现象 3-2电子“吸收”与光子吸收有何不同？ 3-3入射X射线比同样能量的入射电子在固体中穿入深度大得多，而俄歇电子与X光电子的逸出深度相当，这是为什么？ 3-8配合表面分析方法用离子溅射实行纵深剖析是确定样品表面层成分和化学状态的重要方法。试分析纵深剖析应注意哪些问题。 二、补充习题 1、简述电子与固体作用产生的信号及据此建立的主要分析方法。 章节第四章材料现代分析测试方法概述教学 4
传感器测试系统的应用 发表时间：2018-07-09T09:56:58.937Z 来源：《电力设备》2018年第6期作者：褚福彬里宇枢 [导读] 摘要：检测系统是将传感器同变换装置、测量仪表进行有机组合，在进行工程的操作中，通过传感器与多个测量仪器的有机组合，从而构成一个完整体，随后开始对信号进行检测，这样就有了整个检测系统。 （中国电子科技集团公司第四十九研究所黑龙江省哈尔滨市 150001） 摘要：检测系统是将传感器同变换装置、测量仪表进行有机组合，在进行工程的操作中，通过传感器与多个测量仪器的有机组合，从而构成一个完整体，随后开始对信号进行检测，这样就有了整个检测系统。随着计算机技术的普及和信息处理技术的完善与发展，检测系统中涉及到的内容不断得到充实。在现代化生产生活中，检测系统自动完成检测任务，因此有必要探究和掌握检测系统的构成原理及相关应用。 关键词：传感器；测试系统；应用 1传感器的分类 传感器是可以对规定范围内的信息进行感受、接收的器件和装置，它可以对机电一体化系统控制范围内操作环境、操作对象，以及机电一体化系统本身进行检测，使系统有效运行。根据不同的规则，传感器可分为多种类型。根据能量转换规则设计制造的传感器有两种———能量控制型传感器和能量转换型传感器，它们可以在脱离外加电源的情况下，通过能量转化产生的物理效应获取信息；根据被测参量设计制造的传感器有三种———物性参量、机械量参量、热工参量；根据制作材料不同，传感器可分为包括晶体结构、物理性质在内的多种类型；根据工作原理，还可分为生物传感器、物理传感器、化学传感器。传感器在长期的发展过程中，已形成了多个不同特性的种类，适用于多种不同的环境，用途也更为多样，因此可满足不同机电一体化系统的要求，只需结合使用要求合理选择即可。 2传感器测试系统相关概况 传感器测试系统中的传感器对物体进行探测后得知其大小，随后输出对应下的可用信号，这个环节主要为了数据的传输功能服务，如果想要让每个环节能够独立，也就是可以一个区域向另一个区域传输数据，整个过程就是传输功能的体现。数据处理环节指的是处理或者变换传感器的输出信号，例如想要放大、运算或线性化一个信号，又或者想要转换数模（D/A）或模数（A/D），得到的信号为了符合标准参数，同时又能清晰的进行分析与记录，所有的信息在处理和系统控制时可以直接与计算机连接。经过处理后的数据在显示时信息会变成了人的感官可以清晰接受的形式，从而有利于对监视的数据进行监视、控制以及分析。测量后的数据既可以用模拟的效果来表达，也可以用数据的方式直接显现，人们习惯性接受哪个就会选择哪种方式进行记录，有时为了更直观的分析，还可以用打印机直接打印出来，所有的数据是真实有效的。 3传感器测试系统的应用 3.1气体传感器的动态高精度测试系统应用 气体传感器是将所要转换的气体体积积分数进行对应电信号转换的装置，传感器的探测头调理气体样品，对气体样品中的杂质和干扰气体进行滤除处理，对样品进行干燥或制冷处理。这是一种将气体的成分、浓度等信息转化成能够被人员、仪器仪表、计算机等利用的信息装置，被得以广泛应用。当今人们的生活水平逐渐提高，人们专注身体健康与人身安全的时候会对有毒害的气体进行检测，并着手于监控有污染的大气和有废气的工业工厂，其中传感器测试系统起到了至关重要的作用，当前半导体气体传感器是最常见的，最初的气体传感器主要采用SnO2和ZnO为气敏材料，随着研究的展开，复合金属氧化物和混合金属氧化物半导体传感器开始走入研究中，SnO2和ZnO有吸附和催化的作用，可以对表面进行控制，使用时需要将温度调高一些，200-500℃即可。如果对含量在1×10-5数量级的H2S气体添加1%2rO2的2rO2-SnO2气体传感器，与未添加2rO2元件相比，其灵敏度增加了50倍，并且采用薄膜技术和集成电路技术可以不进提高灵敏度，结构和制作上更加精良。 3.2探针式传感器测试系统的设计应用 为了提高线源模型的工程应用效率，探针式传感器测试系统被运用，该系统由测试平台和传感器探针组成，测试平台的流程为计算机通过USB将数据传输给基站SPOT，基站和远端节点通过802.15.4无线通信协议进行通信，探针主要由加热丝和温度传感器构成。探针式温度传感器采用的是有针状结构的不锈钢外壳，有很强的硬度和尖锐性，能够轻易刺入被测试物体的内部，测试物体内部温度的时候十分快捷便利，例如选取A级Pt100，温度-20-60℃，管径为4mm，保护管长度为200mm，探头结构为直插式，导线为三线制300mm，线材为聚氯乙烯线。该设计广泛应用于粮食、食品、土壤、木材、实验室等测温场所，方便了人们对温度的控制和分析，有助于相关行业的进步。 3.3多铁纳米MEMS传感器测试系统应用 多铁纳米MEMS传感器的敏感元件是多纳米纤维构成的，多纳米纤维具有压电特性。机械装置设计下部分为压力容器，方便待测MEMS传感器提供压力差，量程范围控制在0-20KPa，上部分作为测试装置固定待测样片及测试环境，材料建议选择铝合金，更加方便加工和处理。控制系统的硬件电路以STM32微处理器为核心，软件包括整个测试系统的主程序和上位机界面，通过对C++和LabVIEW等软件设计及运用，程序软件将所有数据在最短时间内显示出来并进行储存，未来研究实验中能够直接取来应用分析。实验平台利用薄膜压力传感器的测试实验系统的功能，将静态特性值和标准传感器测量值对比，分析误差，从而进一步完善装置。最后得出该测试装置能够提供一定的温度、压力和磁场的测试环境，根据相关数据的对比分析，得出传感器所输入的压力值同输出电压值之间的数据联系，透过分析验证了测试方案的可行性和装置功能的完整性，在不同环境下的应用体现了该装置测试系统能够促进工业生产与生活的发展。 结论 通过举例和检测分析得知，任何传感器检测系统本身性能并不理想，测试的方法无法达到完善的地步，外在客观干扰因素和人为疏漏无法避免，被测参数的测量值与真实值最后不一样，这种情况下误差是会存在的。为了避免误差过大保证数据的真实程度，对传感器检测系统的研究还需继续进行，无论是选择探针式传感器检测系统还是选择气体传感器检测系统，尽管应用的范围很大，功能也不相同，但最后都是同样的目标，都是求得真实数据，从而达到当前现代化生产的需求与标准。 参考文献： [1]周杭霞,於可广,郑朋.探针式传感器测试系统设计及数据处理算法研究[J].传感技术学报,2011,24(05):705-709. [2]崔远慧,唐祯安,余隽,张双岩.气体传感器的动态高精度测试系统设计[J].仪器仪表学报,2010,31(10):2180-2185.
微波混频器技术指标与特性分析 一、噪声系数和等效噪声温度比 噪声系数的基本定义已在第四章低噪声放大器中有过介绍。但是混频器中存在多个频率，是多频率多端口网络。为适应多频多端口网络噪声分析，噪声系数定义改为式（9-1），其理论基础仍是式（6-1）的原始定义，但此处的表示方式不仅适用于单频线性网络，也可适用于多频响应的外差电路系统，即 （9-1） 式中 Pno ——-当系统输入端噪声温度在所有频率上都是标准温度T0 = 290K 时，系统传输到输出端的总噪声资用功率； Pns ——仅由有用信号输入所产生的那一部分输出的噪声资用功率。 根据混频器具体用途不同，噪声系数有两种。 一、噪声系数和等效噪声温度比 1、单边带噪声系数 在混频器输出端的中频噪声功率主要包括三部分： （1）信号频率f s 端口的信源热噪声是kT 0f ，它 经过混频器变换成中频噪声由中频端口输出。这部分 输出噪声功率是 m f kT α?0 式中 f ——中频放大器频带宽度；m ——混频器变频损耗；T 0——环境温度，T 0 = 293K 。 （2）由于热噪声是均匀白色频谱，因此在镜频f i 附近f 内的热噪声与本振频率f p 之 差为中频，也将变换成中频噪声输出，如图9-1所示。这部分噪声功率也是kT 0f ／m 。 （3）混频器内部损耗电阻热噪声以及混频器电流的散弹噪声，还有本机振荡器所携带 相位噪声都将变换成输出噪声。这部分噪声可用P nd 表示。 这三部分噪声功率在混频器输出端相互叠加构成混频器输出端总噪声功率P no nd m m no P f kT f kT P +?+?=αα//00 把P no 等效为混频器输出电阻在温度为T m 时产生的热噪声功率，即P no = kT m f ，T m 称混 频器等效噪声温度。kT m f 和理想电阻热噪声功率之比定义为混频器噪声温度比，即 0T T f kT P t m no m =?=
表1 环境噪声限量值 表2 工业企业厂界环境噪声限量值 为贯彻《中华人民共和国环境噪声污染防治法》，防治噪声污染，保障城乡居民正常生活、工作和学习的声环境质量，特制订《声环境质量标准》GB 3096-2008；为防治工业企业噪声污染，改善声环境质量，特制订《工业企业厂界环境噪声排放标准》GB 12348-2008，标准的制定与实施，更好的为百姓服务。
环境噪声的检测 1 项目名称 城市区域噪声的测定 2 适用范围 本标准规定了城市五类区域的环境噪声最高限值。 本标准适用于城市区域。乡村生活区域可参照本标准执行。 3 编制依据 中华人民共和国国家标准GB3096-93《城市区域环境噪声标准》 中华人民共和国国家标准GB/T14623-93《城市区域环境噪声测量方法》 4 测量条件 4.1 测量仪器 4.1.1 测量仪器精度为2型以上的积分式声级计及环境噪声自动监测仪器，其性能符合GB3785的要求。 4.1.2测量仪器和声校准仪器应按JJG699、JJF176及JJG778的规定定期检定。 4.2 气象条件 测量应在无雨、无雪的天气条件下进行，风速为5.5m/s以上时停止测量。测量时传声器加风罩。 5 测量方法 5.1 测点选择 测量点选在居住或工作建筑物外，离任一建筑物的距离不小于1m。传声器距地面的垂直距离不小于1.2m.。 5.2 测量时间 测量分昼夜和夜间两部分分别进行。 5.3采样方式 仪器的时间计权特性为“快”响应，采样时间间隔不大于1s。 5.4不得不在室内测量时，室内噪声限值低于所在区域标准10dB。测点距墙面和其他主要反射面不小于1m，距地板1.2-1.5m，距窗户约1.5m。开窗状态下测量。 5.5铁路两侧区域环境噪声测量，应避开列车通过的时段。
常见的塑料检测标准和方法
常见的塑料检测标准和方法 检测产品/类别检测项目/参数 检测标准(方法)名称及编号(含年号)序 号 名称 塑料1 光源暴露试验方 法通则 塑料实验室光源暴露试验方法第1部分:通则ISO 4892-1:1999 2 氙弧灯光老化 汽车外饰材料的氙弧灯加速暴露试验SAE J2527:2004 汽车内饰材料的氙弧灯加速暴露试验SAE J2412:2004 塑料实验室光源暴露试验方法第2部分:氙弧灯ISO 4892-2:2006 /Amd 1:2009 室内用塑料氙弧光暴露试验方法ASTM D4459-06 非金属材料氙弧灯老化的仪器操作方法ASTM G155-05a 塑料暴露试验用有水或无水氙弧型曝光装置的操作ASTM D2565-99(2008) 3 荧光紫外灯老化 塑料实验室光源暴露试验方法第3部分:荧光紫外灯ISO 4892-3:2006 汽车外饰材料UV快速老化测试SAE J2020:2003 塑料紫外光暴露试验方法ASTM D4329-05 非金属材料UV老化的仪器操作方法ASTM G154-06 4 碳弧灯老化 塑料实验室光源暴露试验方法第4部分:开放式碳弧灯 ISO 4892-4:2004/ CORR 1:2005 塑料实验室光源曝露试验方法第4部分:开放式碳弧灯 GB/T16422.4-1996 5 荧光紫外灯老化 机械工业产品用塑料、涂料、橡胶材料人工气候老化试验方法荧 光紫外灯GB/T14522-2008 6 热老化 无负荷塑料制品的热老化 ASTM D3045-92(2010) 塑料热老化试验方法GB/T7141-2008 7 湿热老化 塑料暴露于湿热、水溅和盐雾效应的测定ISO4611:2008 塑料暴露于湿热、水喷雾和盐雾中影响的测定GB/T12000-2003 塑料8 拉伸性能塑料拉伸性能的测定第1部分:总则GB/T1040.1-2006
一、金相实验室 ? Leica DM/RM 光学显微镜 主要特性：用于金相显微分析，可直观检测金属材料的微观组织，如原材料缺陷、偏析、初生碳化物、脱碳层、氮化层及焊接、冷加工、铸造、锻造、热处理等等不同状态下的组织组成，从而判断材质优劣。须进行样品制备工作，最大放大倍数约1400倍。 ? Leica 体视显微镜 主要特性：1、用于观察材料的表面低倍形貌，初步判断材质缺陷； 2、观察断口的宏观断裂形貌，初步判断裂纹起源。 ?热振光模拟显微镜 ?图象分析仪 ?莱卡DM/RM 显微镜附 CCD数码照相装置 二、电子显微镜实验室 ?扫描电子显微镜(附电子探针) (JEOL JSM5200，JOEL JSM820，JEOL JSM6335) 主要特性： 1、用于断裂分析、断口的高倍显微形貌分析，如解理断裂、疲劳断裂（疲劳辉纹）、晶间断裂（氢脆、应力腐蚀、蠕变、高温回火脆性、起源于晶界的脆性物、析出物等）、侵蚀形貌、侵蚀产物分析及焊缝分析。 2、附带能谱，用于微区成分分析及较小样品的成分分析、晶体学分析，测量点阵参数/合金相、夹杂物分析、浓度梯度测定等。 3、用于金属、半导体、电子陶瓷、电容器的失效分析及材质检验、放大倍率：10X—300,000X；样品尺寸：0.1mm—10cm；分辩率:1—50nm。 ?透射电子显微镜（菲利蒲 CM-20,CM-200） 主要特性： 1、需进行试样制备为金属薄膜，试样厚度须<200nm。用于薄膜表面科学分析，带能谱，可进行化学成分分析。 2、有三种衍射花样：斑点花样、菊池线花样、会聚束花样。斑点花样用于确定第二相、孪晶、有序化、调幅结构、取向关系、成象衍射条件。菊池线花样用于衬度分析、结构分析、相变分析以及晶体精确取向、布拉格位移矢量、电子波长测定。会聚束花样用于测定晶体试样厚度、强度分布、取向、点群、空间群及晶体缺陷。 三、X射线衍射实验室 ? XRD-Siemens500—X射线衍射仪 主要特性： 1、专用于测定粉末样品的晶体结构（如密排六方，体心立方，面心立方等），晶型，点阵类型，晶面指数，衍射角，布拉格位移矢量，已及用于各组成相的含量及类型的测定。测试时间约需1小时。 2、可升温（加热）使用。 ? XRD-Philips X’Pert MRD—X射线衍射仪 主要特性： 1、分辨率衍射仪，主要用于材料科学的研究工作，如半导体材料等，其重现性精度达万分之一度。 2、具备物相分析（定性、定量、物相晶粒度测定；点阵参数测定），残余应力及织构的测定；薄膜物相鉴定、薄膜厚度、粗糙度测定；非平整样品物相分析、小角度散射分析等功能。 3、用于快速定性定量测定各类材料（包括金属、陶瓷、半导体材料）的化学成分组成及元素含量。如：Si、P、S 、Mn、Cr、Mo、Ni、V、Fe、Co、W等等，精确度为0.1%。 4、同时可观察样品的显微形貌，进行显微选区成分分析。
手机智能天线测试系统开发及应用 文章出处：电子工程专辑 作者： 发布时间：2005-10-27 本文描述了一项由德州仪器公司(TI)发起、弗吉尼亚理工学院和州立大学的弗吉尼亚科技天线组(VTAG)和移动便携式无线研究组(MPRG)合作完成的研究项目，该项目重点确定智能发送和接收手机天线的可行性，其目的是为了论证这种天线具有更低的功耗、更大的容量及更好的链接可靠性。研究课题包括开发新的智能天线算法及评估链接可靠性和容量的提高。为了评估智能天线在实际应用环境中的性能，研究者采集了一套综合的时空向量信道测量方法。数据采集由 VTAG 开发的四个阵列硬件测试平台完成，它们是手持式天线阵列测试平台(HAAT)、MPRG 天线阵列测试平台(MAAT)、失量脉冲响应 (VIPER)和发射分集测试平台(TDT)。 智能天线可大大提高第 三代手持式无线设备的 性能。MPRG 和VTAG 两个研究团队共同组成 了一个联合小组负责研 究TI 公司智能手机天线 的关键特性，包括采集 天线及传输测量数据、 评估分集及自适应算 法、仿真整体系统性能，以及量化对带智能天线的手机造成影响的 基本现象。自该项目于1998年7 月启动以来，我们已开发了三种工具：手持式天线阵列测试平台(HAAT)、向量多径传播仿真器(VMPS)、以及宽带VIPER 测量系统。我们已使用这些工具及MPRG 天线阵列测试平台(MAAT)来了解手机天线阵列的传输环境，这些信息已经用来预测手机智能天线的性能。 广泛的2.05GHz 测量表明，在可靠性为99%时，在户外和室内非直线可视环境下的窄带系统上实现7-9 dB 链路增益预算。这些增益可利用手机分集和自适应的小天线阵列获得，天线间的隔离间距为0.15波长或更大。其他的测量表明，利用自适应波束形成 (beamforming)算法可将单个干扰信号降低25-40dB 。因此，可靠性、系统容量和传输功率性能都可得到大大提高。 系统开发 1. 手持式天线阵列测试平台 图1：在多径环境下采用HAAT 的典型试验。一个发射器用于分集组合试验， 第二个发射器可用于采用自适应波束成型算法的抗干扰试验。
噪声检测标准 1、环境噪声新标准 我国新颁发的GB 3096-2008、GB 12348-2008和GB 22337-2008等三个环境噪声标准（以下简称“新标准”），已经在2008年10月1日开始实施。新标准中，都涉及到室内环境噪声的测量。作为环境噪声的监测机构，如何按新标准的要求对室内环境噪声测量，进行认真而正确的运作，这在全检测行业来说，是一个急需研讨的实际课题。 但是，在新标准颁布前，我国仅有《城市区域环境噪声标准》、GB3096-93、《城市区域环境噪声测量方法》GB/T14623-93，以及《工业企业厂界噪声标准》GB12348-93、《工业企业厂界噪声测量方法》GB/T14623-93（以下简称“原标准”）。在其适用范围上，基本是环境保护部门的依法行政的依据。进入新千年后，室内环境噪声污染监测需求量大，检测机构呈现多元化，从而促进了噪声监测市场的建立和发展。然而，这两个标准在适用性和操作的可行性上都有很大的局限，很难满足不同环境条件的、不同委托方对噪声监测的具体要求，特别是在为维护人身健康权的环境噪声危害争议的司法判决上，存在依据标准不当的困境。因此，急需满足上述要求的一系列环境噪声标准的颁布，达到适应委托检测方的需要，推动环境噪声监测市场健康发展的目的。 2.、新标准的特点 同原标准相比，新标准在很多方面，有了很大的进步，也在一定程度上满足了检测机构开展室内环境噪声的实际需要，具体表现在如下几个特点上。 （1）把声环境标准分为“声环境质量标准”和“噪声排放标准”。由环境保护部和国家质量监督检验检疫总局共同颁发的新标准中，把GB3096-93和GB/T14623-93合并为一个标准GB3096-2008，名称改为“声环境质量标准”，把GB12348-93和GB12349-93合并为一个标准GB12348-2008，名称改为“工业企业厂界环境噪声排放标准”，同时还新出台了GB22337-2008《社会生活环境噪声排放标准》，使声环境标准形成了环境标准体系的基本框架，这是对声环境标准标准体系建设的一大进步。 （2）对声环境标准的基本概念，给出明确定义。在 GB3096-2008中的第3部分，给出了“昼间等效声级”和“夜间等效声级”、“昼间”和“昼间”、“A最大声级”、“累积百分声级”、“城市”、“乡村”、“交通干线”、“噪声敏感建筑物”、“突发噪声”等11个基本概念；在 GB12348-2008中第3部分，新给出了“工业企业厂界环境噪声”、“厂界”、“频发噪声”、“偶发噪声”、“倍频带声压级”、“稳态噪声”、“非稳态噪声”、“背景噪声”等8个基本概念（还包括“A声级”、等效声级”、“噪声敏感建筑物”、“昼间”和“昼间”、“最大声级”等5个基本概念）；在 GB22337-2008中的第3部分，新给出了“社会生活噪声”、“边界”等2个基本概念（还包括“A声级”、“等效声级”、“噪声敏感建筑物”、“背景噪声”、“倍频带声压级”、“昼间”和“昼间”等6个基本概念）。它是适用各个标准的关键词，展现了新标准的规范化，同时对正确执行本标准，具有指导意义。 （3）增加了室内环境噪声限值，为室内环境噪声监测提供直接依据。在GB12348-2008和GB22337中，明确规定了“结构传递固定设备室内噪声排放限值”，使检测机构对室内环境噪声的监测有了实用的标准依据。特别是居民楼中的水泵、电梯和变压器等设备产生的室内环境噪声污染，国家环境保护总局（环函（2007）54号）对此做出解释，可参照执行GB12347-93。这种“参照适用”标准的“解释”，由于GB12347-2008的颁布，提供了可行的适用标准。这就使环境检测机构进行室内环境噪声污染的监测更具有可行性。
塑料测试方法国家标准 1．GB1033-70 塑料比重试验方法 2．GB1034-70 塑料吸水性试验方法 3．GB1035-70 塑料耐热性（马丁）试验方法 4．GB1036-70 塑料线膨胀系数试验方法 5．GB1037-70 塑料透湿性试验方法 6．GB1038-70 塑料薄膜透气性试验方法 7．GB1408-78 固体电工绝缘材料工频击穿电压、击穿强度和耐电压试验方法 8．GB1409-78 固体电工绝缘材料在工频、音频、高频下相对介电系数和介质损耗角正切试验方法 9．GB1410-78 固体电工绝缘材料绝缘电阻、体积电阻系统和表面电阻系数试验方法10．GB1411-78 固体电工绝缘材料高压小电流间歇耐电弧试验方法 11．GB1039-79 塑料力学性能试验方法总则 12．GB1040-79 塑料拉伸试验方法 13．GB1041-79 塑料压缩试验方法 14．GB1042-79 塑料弯曲试验方法 15．GB1043-79 塑料简支梁冲击试验方法 16．GB1633-79 热塑性塑料软化点（维卡）试验方法 17．GB1634-79 塑料弯曲负载热变形温度（简称热变形温度）试验方法 18．GB1635-79 塑料树脂灰分测定方法 19．GB1636-79 模塑料表观密度试验方法 20．GB1841-80聚烯烃树脂稀溶液粘度试验方法 21．GB 1842-80 聚乙烯环境应力开裂试验方法 22．GB1843-80 塑料悬臂梁冲击试验方法 23．GB1846-80 聚氯醚树脂稀溶液粘度试验方法 24．GB1847-80 聚甲醛树脂稀溶液粘试验方法 25．GB2406-80 塑料燃烧性能试验方法氧指数法 26．GB2407-80 塑料燃烧性能试验方法炽热棒法 27．GB2408-80 塑料燃烧性能试验方法水平燃烧法 28．GB2409-80 塑料黄色指数试验方法 29．GB2410-80 透明塑料透光率和雾度试验方法 30．GB2411-80 塑料邵氏硬度试验方法 31．GB2412-80 聚丙烯等规指数测试方法 32．GB1657-81 增塑剂折光率的测定 33．GB1662-81 增塑剂结晶点的测定 34．GB1664-81 增塑剂外观色泽的测定（铂-钴比色法） 35．GB1665-81 增塑剂皂化值及酯含量的测定 36．GB1666-81 增塑剂比重的测定（韦氏天平法） 37．GB1667-81 增塑剂比重的测定（比重瓶法） 38．GB1668-81 增塑剂酸值的测定（一） 39．GB1669-81 增塑剂加热减量的测定 40．GB1670-81 增塑剂热稳定性试验 41．GB1671-81 增塑剂闪点的测定（开口杯法） 42．GB1672-81 增塑剂体积电阻系数的测定
软件系统测试报告 实用版 2016年06月
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目录 1引言 (1) 1.1 编写目的 (1) 1.2 项目背景 (1) 1.3 术语解释 (1) 1.4 参考资料 (1) 2测试概要 (2) 2.1 系统简介 (2) 2.2 测试计划描述 (2) 2.3 测试环境 (2) 3测试结果及分析 (3) 3.1 测试执行情况 (3) 3.2 功能测试报告 (3) 3.2.1 系统管理模块测试报告单 (3) 3.2.2 功能插件模块测试报告单 (4) 3.2.3 网站管理模块测试报告单 (4) 3.2.4 内容管理模块测试报告单 (4) 3.2.5 辅助工具模块测试报告单 (4) 3.3 系统性能测试报告 (4) 3.4 不间断运行测试报告 (5) 3.5 易用性测试报告 (5) 3.6 安全性测试报告 (6) 3.7 可靠性测试报告 (6) 3.8 可维护性测试报告 (7) 4测试结论与建议 (9) 4.1 测试人员对需求的理解 (9) 4.2 测试准备和测试执行过程 (9) 4.3 测试结果分析 (9) 4.4 建议 (9)
1引言 1.1编写目的 本测试报告为xxxxxx软件项目的系统测试报告，目的在于对系统开发和实施后的的结果进行测试以及测试结果分析，发现系统中存在的问题，描述系统是否符合项目需求说明书中规定的功能和性能要求。 预期参考人员包括用户、测试人员、开发人员、项目管理者、其他质量管理人员和需要阅读本报告的高层领导。 1.2项目背景 项目名称：xxxxxxx系统 开发方： xxxxxxxxxx公司 1.3术语解释 系统测试：按照需求规格说明对系统整体功能进行的测试。 功能测试：测试软件各个功能模块是否正确，逻辑是否正确。 系统测试分析：对测试的结果进行分析，形成报告，便于交流和保存。 1.4参考资料 1)GB/T 8566—2001 《信息技术软件生存期过程》(原计算机软件开发规范) 2)GB/T 8567—1988 《计算机软件产品开发文件编制指南》 3)GB/T 11457—1995 《软件工程术语》 4)GB/T 12504—1990 《计算机软件质量保证计划规范》 5)GB/T 12505—1990 《计算机软件配置管理计划规范》
噪声测试规范 文件编码：INVT-LAB-GF-16 噪声测试规范 拟制：韦启圣 _ 日期：2010-10-30 审核：董瑞勇 _ 日期：2010-12-02 批准：董瑞勇 _ 日期：2010-12-02
更改信息登记表 文件名称：噪声测试规范 文件编码：INVT-LAB-GF-16 评审会签区：
目录 1、目的 (4) 2、范围 (4) 3、定义 (4) 4、引用标准 (6) 5、测试设备 (6) 6、测试环境条件 (6) 7、噪声测试 (6) 7.1.被测设备的安装 (6) 7.2.传声器位置的选择 (7) 7.3.噪声测量 (11) 8、验收准则 (13) 附录A：噪声测试数据记录表 (14)
噪声测试规范 1、目的 本规范给出一种现场简易法测定电气设备的发射声压级。用于检验我司产品发射的噪声是否满足标准或设计的要求。使用本规范测试方法其结果的准确度等级为3级（简易级）。 2、范围 本规范规定的噪声测试方法，适用于深圳市英威腾电气股份有限公司开发生产的所有电气产品。 3、定义 本规范采用以下定义。其它声学术语、量和单位按GB/T 3947和GB/T 3102.7的规定。 3.1 发射 emission 由确定声源（被测机器）辐射出空气声。 3.2 发射声压（P） emission sound pressure 在一个反射平面上，按规定的安装和运行条件工作的声源附近指定位置的声压。它不包括背景噪声以及本测试方法所允许的反射面以外其他声反射的影响，单位Pa。 3.3 发射声压级（L ）emission sound pressure level P 发射声压平方P2(t)与基准声压平方P02之比的以10为底的对数乘以10。采用GB/T 3785规定的时间计权和频率计权进行测量，单位dB。基准声压为20μPa。P2(t)表示声压有效值平方随时间变化。 3.4 脉冲噪声指数（脉冲性） impulsive noise index (impulsiveness) 该指标用以表征声源发射噪声的脉冲特性，单位dB。 3.5 一个反射面上方的自由场 free field over a reflecting plane 被测机器所处的无限大、坚硬平面上方半空间内，各向同性均匀媒质中的声场。 3.6 工作位置，操作者位置 work station, operator’s position 被测机器附近，为操作者指定的位置。 3.7 指定位置 specified position
一、名词解释 1. 原子吸收灵敏度：也称特征浓度，在原子吸收法中，将能产生1％吸收率即得到0.0044 的吸光 度的某元素的浓度称为特征浓度。计算公式：S=0.0044 x C/A （ug/mL/1%） S——1％吸收灵敏度C ——标准溶液浓度0.0044 ——为1％吸收的吸光度 A——3 次测得的吸光度读数均值 2. 原子吸收检出限：是指能产生一个确证在试样中存在被测定组分的分析信号所需要的该组分的最 小浓度或最小含量。通常以产生空白溶液信号的标准偏差2?3倍时的测量讯号的浓度表示。 只有待测元素的存在量达到这一最低浓度或更高时，才有可能将有效分析信号和噪声信号可靠地区分开。 计算公式： D = c K S /A m D一一元素的检出限ug/mL c ――试液的浓度 S ――空白溶液吸光度的标准偏差 A m――试液的平均吸光度K――置信度常数，通常取2~3 3．荧光激发光谱：将激发光的光源分光，测定不同波长的激发光照射下所发射的荧光强度的变化， 以I F—入激发作图，便可得到荧光物质的激发光谱 4 ?紫外可见分光光度法：紫外一可见分光光度法是利用某些物质分子能够吸收200 ~ 800 nm光谱 区的辐射来进行分析测定的方法。这种分子吸收光谱源于价电子或分子轨道上电子的电子能级间跃迁，广泛用于无机和有机物质的定量测定，辅助定性分析（如配合IR）。 5 ?热重法：热重法（TG是在程序控制温度下，测量物质质量与温度关系的一种技术。TG基本原 理：许多物质在加热过程中常伴随质量的变化，这种变化过程有助于研究晶体性质的变化，如熔化、蒸发、升华和吸附等物质的物理现象；也有助于研究物质的脱水、解离、氧化、还原等物质的化学现象。热重分析通常可分为两类：动态（升温）和静态（恒温）。检测质量的变化最常用的办法就是用热天平（图1），测量的原理有两种：变位法和零位法。 6?差热分析；差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技 术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温差（△ T）随温度或时间的变化关系。在DAT试验中， 样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如: 相转变，熔化，结晶结构的转变， 沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其它化学反应。一般说来，相转变、脱氢还原和一些分解反应产生吸热效应；而结晶、氧化和一些分解反应产生放热效应。 7. 红外光谱：红外光谱又称分子振动转动光谱，属分子吸收光谱。样品受到频率连续变化的红外光 照射时，分子吸收其中一些频率的辐射，导致分子振动或转动引起偶极矩的净变化,使振-转能级从基态跃迁到激发态，相应于这些区域的透射光强度减弱，记录经过样品的光透过率T%寸波数或波长
自动检测技术的应用与发展 摘要 在当今经济全球化高速发展的时代，随着工业自动化技术的迅猛发展，自动检测技术被广泛地应用在工业自动化、化工、军事、航天、通讯、医疗、电子等行业，是自动化科学技术的一个格外重要的分支科学。众所周知，自动检测技术是在仪器仪表的使用、研制、生产的基础上发展起来的一门综合性技术。 自动检测系统广泛应用于各类产品的设计、生产、使用、维护等各个阶段，对提高产品性能及生产率、降低生产成本及整个生产周期成本起着重要作用。本文首先介绍自动检测系统的概念，其次通过自动检测系统的各个组成部分，详述系统的工作原理，介绍了自动检测系统组建的概念、结构以及在组建中所使用的关键技术。以此为铺垫，进而深入探讨自动检测技术在各领域间的应用与推广。 关键词：自动检测系统应用发展 第一章自动检测系统的概念与组成 自动检测技术是一种尽量减少所需人工的检测技术，是一种依赖仪器仪表，涉及物理学、电子学等多种学科的综合性技术。与传统检测技术相比，这一技术可以减少人们对检测结果有意或无意的干扰，减轻人员的工作压力，从而保证了被检测对象的可靠性，因此自动检测技术已经成为社会发展不可或缺的重要部分。自动检测技术主要有
两项职责，一方面，通过自动检测技术可以直接得出被检测对象的数值及其变化趋势等内容；另一方面，将自动检测技术直接测得的被检测对象的信息纳入考虑范围，从而制定相关决策。检测和检验是制造过程中最基本的活动之一。通过检测和检验活动提供产品及其制造过程的质量信息，按照这些信息对产品的制造过程进行修正，使废次品与反修品率降至最低，保证产品质量形成过程的稳定性及产出产品的一致性。 传统的检测和检验主要依赖人，并且主要靠手工的方式来完成。传统的检验和检测是在加工制造过程之后进行，一旦检出废次品，其损失已发生。基于人工检测的信息，经常包含人的误差影响，按这样的信息控制制造过程，不仅要在过程后才可以实施，而且也会引入误差。自动检测是以多种先进的传感技术为基础的，且易于同计算机系统结合，在合适的软件支持下，自动地完成数据采集、处理、特征提取和识别，以及多种分析与计算。而达到对系统性能的测试和故障诊断的目的。 1.1检测与检验的概念 检测是指为确定产品、零件、组件、部件或原材料是否满足设计规定的质量标准和技术要求目标值而进行的测试、测量等质量检测活动，检测有3个目标： ①实际测定产品的规定质量我及其指标的量值。 ②根据测得值的偏离状况，判定产品的质量水平，确定废次品。 ③认定测量方法的正确性和对测量活动简化是否会影响对规
XXXX系统测试方案
1测试计划 1.1应用系统测试目的 测试的主要目的是为XXXXX项目提供质量保证，它是确保项目成功和双方利益重要手段，保证系统质量和可靠性的关键步骤。 验证功能测试范围内的系统功能是否满足业务需求。 应用系统是否实现了经过各方确认过的《软件需求规格说明书》约定的功能和性能指标要求。 用户对应用系统的使用方式满意，确实方便了用户，提高了用户的效率，达到了系统的设计目标。 应用系统经过功能测试，能稳定运行，达到上线正式运行的各项要求。1.2依据标准 1.2.1用户文档 1、《用户需求文档》 2、 1.2.2测试技术标准规范 1、GB/T 17544－1998 信息技术软件包质量要求和测试 2、GB/T 16260－2006 软件工程产品质量 3、GB/T 18905－2002 软件工程产品评价
4、GB/T 8567－2006 计算机软件文档编制规范 5、CSTCJSBZ02应用软件产品测试规范 6、CSTCJSBZ03软件产品测试评分标准 1.3项目组织 1.3.1项目特点分析 1、重点考虑测试时间和测试质量的结合，将根据验收测评服务协议中的要求，按时完成测试任务，合理调整投入的人力资源，同时合理安排测试工作时间，做到优质高效。 2、我公司针对该项目成立了质量控制组和项目监督组，负责测试过程中的质量监督工作。 3、在本次项目测试工作过程中需要开发方和系统用户的共同参与，项目的协调和工作的配合很重要，为此我公司将配备经验丰富的项目经理管理和协调该项目。 4、本次测试为了更加满足业务需要，测试人员将严格按照需求进行测试，并对开发方和系统用户有争议的问题汇总，进行最后需求确认。 5、根据XXXX项目的重要性和特殊性，充分考虑到项目的特点，我公司将投入相关经验的测试工程师，提高测试组的整体实力。
常见的塑料检测标准和方法 检测产品/类别检测项目/参数 检测标准(方法)名称及编号(含年号)序 号 名称 塑料1 光源暴露试验方 法通则 塑料实验室光源暴露试验方法第1部分:通则ISO 4892-1:1999 2 氙弧灯光老化 汽车外饰材料的氙弧灯加速暴露试验SAE J2527:2004 汽车内饰材料的氙弧灯加速暴露试验SAE J2412:2004 塑料实验室光源暴露试验方法第2部分:氙弧灯ISO 4892-2:2006 /Amd 1:2009 室内用塑料氙弧光暴露试验方法ASTM D4459-06 非金属材料氙弧灯老化的仪器操作方法ASTM G155-05a 塑料暴露试验用有水或无水氙弧型曝光装置的操作ASTM D2565-99(2008) 3 荧光紫外灯老化 塑料实验室光源暴露试验方法第3部分:荧光紫外灯ISO 4892-3:2006 汽车外饰材料UV快速老化测试SAE J2020:2003 塑料紫外光暴露试验方法ASTM D4329-05 非金属材料UV老化的仪器操作方法ASTM G154-06 4 碳弧灯老化 塑料实验室光源暴露试验方法第4部分:开放式碳弧灯 ISO 4892-4:2004/ CORR 1:2005 塑料实验室光源曝露试验方法第4部分:开放式碳弧灯 GB/T16422.4-1996 5 荧光紫外灯老化 机械工业产品用塑料、涂料、橡胶材料人工气候老化试验方法荧 光紫外灯GB/T14522-2008 6 热老化 无负荷塑料制品的热老化 ASTM D3045-92(2010) 塑料热老化试验方法GB/T7141-2008 7 湿热老化 塑料暴露于湿热、水溅和盐雾效应的测定ISO4611:2008 塑料暴露于湿热、水喷雾和盐雾中影响的测定GB/T12000-2003 塑料8 拉伸性能塑料拉伸性能的测定第1部分:总则GB/T1040.1-2006
《现代分析测试技术》复习知识点 一、名词解释 1. 原子吸收灵敏度、指产生1％吸收时水溶液中某种元素的浓度 2. 原子吸收检出限、是指能产生一个确证在试样中存在被测定组分的分析信号所需要的该组分的最小浓度或最小含量 3．荧光激发光谱、4．紫外可见分光光度法 5．热重法、是在程序控制温度下，测量物质质量与温度关系的一种技术。 6．差热分析、是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。 7．红外光谱、如果将透过物质的光辐射用单色器加以色散，使光的波长按大小依次排列，同时测量在不同波长处的辐射强度，即得到物质的吸收光谱。如果用的是光源是红外辐射就得到红外吸收光谱(Infrared Spectrometry)。 8．拉曼散射，但也存在很微量的光子不仅改变了光的传播方向，而且也改变了光波的频率，这种散射称为拉曼散射。 9．瑞利散射、当一束激发光的光子与作为散射中心的分子发生相互作用时，大部分光子仅是改变了方向，发生散射，而光的频率仍与激发光源一致，这种散射称为瑞利散射 10．连续X射线：当高速运动的电子击靶时，电子穿过靶材原子核附近的强电场时被减速。电子所减少的能量（△E）转为所发射X 射线光子能量（hν），即hν＝△E。 这种过程是一种量子过程。由于击靶的电子数目极多，击靶时间不同、穿透的深浅不同、损失的动能不等，因此，由电子动能转换为X 射线光子的能量有多有少，产生的X 射线频率也有高有低，从而形成一系列不同频率、不同波长的X 射线，构成了连续谱 11．特征X射线、原子内部的电子按泡利不相容原理和能量最低原理分布于各个能级。在电子轰击阳极的过程中，当某个具有足够能量的电子将阳极靶原子的内层电子击出时，于是在低能级上出现空位，系统能量升高，处于不稳定激发态。较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁，并以光子的形式辐射出标识X 射线 13．相干散射、当入射X射线光子与原子中束缚较紧的电子发生弹性碰撞时，X射线光子的能量不足以使电子摆脱束缚，电子的散射线波长与入射线波长相同，有确定的相位关系。这种散射称相干散射或汤姆逊（Thomson）散射。 14．非相干散射，，当入射X射线光子与原子中束缚较弱的电子（如外层电子）发生非弹性碰撞时，光子消耗一部分能量作为电子的动能，于是电子被撞出原子之外，同时发出波长变长、能量降低的非相干散射或康普顿（Compton）散射
902测试技术及应用 一、考试范围说明 该门课程的研究生入学考试范围参考其本科生课程的教学大纲，面向专业学位研究生选拔的需要，考核内容主要包括： 1.测试基础理论和技术知识：主要包括机械测试信号分析，测量装置的基本特性，以及常见测量装置--参数式传感器、发电式传感器、信号调理电路、信号显示与记录等技术知识； 2.测试系统设计及实用测试技术：主要包括测试系统设计理论和方法，计算机测试技术与典型应用系统，其他特种测试技术与典型应用系统； 3.典型工程测试系统设计实例分析：主要包括机械工程领域典型机械参数，如应力应变、温度、位移、振动和噪声的测试系统设计，以及它们的工程网络化和智能化设计等。 与本科生课程学习考评相比，没有平时考核和实验考核环节，但闭卷笔考的知识内容和方式方法原则上是一致的，以上述内容所涉及的知识点为考核对象，具有填空题、判断题、问答题和测试系统设计题等多种考题形式。 二、考试范围说明 通过讲授测试技术的基础知识、常用测量装置的工作原理与性能，以及测试系统的设计，培养学生掌握本学科领域内常见测试系统的组成与设计，以及常见机械工程参数测量技术；为学生学习后续专业课程以及将来实际工作打下良好的基础。 本课程主要为学生讲授：a）测试基础理论和技术知识，主要包括机械测试信号分析、测量装置的基本特性、参数式传感器、发电式传感器、信号的调理等；b）测试系统设计及实用测试技术，主要包括测试系统设计、计算机测试系统、其他测试技术以及典型测试系统设计实例。同时开设：信号分析与测量装置特性仿真、传感器及其性能标定、动态测量信号调理、测试技术虚拟仪器设计等4个基本实验，以及涵盖测试系统设计、搭建、信号采集与处理分析等4个考核环节的测试技术大综合实验。