多功能型光电子能谱仪详细配置及技术指标
一、系统主要结构和功能要求
1.仪器主体为两室结构，分别是分析室和样品制备室兼快速进样室；
2.超高真空分析室内应实现单色化XPS、双阳极XPS、成像XPS、深度剖
析XPS、离子散射谱ISS、能量损失谱REELS、紫外光电子能谱（UPS）、自动化五轴样品台及样品加热等功能；配备独立的从粗真空到超高真空
抽气系统；
3.样品制备室应实现样品的大束斑离子清洁、至少三个样品托的停放台以
及超高真空监测等功能；配备独立的从粗真空到超高真空抽气系统；
二、系统各部分详细配置及相应要求：
1. 分析室
1.1 真空腔及抽气系统
1.1.1 真空腔为纯μ金属制造，外径不低于300mm；
1.1.2 抽气系统为钛升华泵、磁悬浮涡轮分子泵以及机械泵各一套；
1.1.3 烘烤12小时并完成除气，抽气48小时后，系统本底真空优于
5.0x10-10 mbar;
1.2 能量分析器
1.2.1 180ο半球能量分析器，半径不小于150mm；
1.2.2 能量扫描范围为0~5000 eV；
1.2.3 外罩为纯μ金属制造；
1.3 探测器
1.3.1 电子倍增器,用于XPS能谱；
1.3.2 微通道板探测器，用于XPS成像，可实现小于6μm成像区域的能谱获取；
1.4 单色化X射线源
1.4.1 微聚焦单色化Al Kα X射线源;
1.4.2 束斑面积从900μm到200μm连续可调；
1.4.3 最优能量分辨率：对Ag3d5/2峰，半高宽优于0.45 eV；
1.4.4 大束斑灵敏度：对Ag3d5/2峰能量分辨优于0.5 eV时，灵敏度
（要求为常规工作条件下实际值）应好于400k cps；
1.4.5 60μm束斑灵敏度：对Ag3d5/2峰的能量分辨优于0.5 eV时，
灵敏度（要求为常规工作条件下实际值）应好于20k cps；
1.4.6 20μm 束斑灵敏度：对Ag3d5/2峰的能量分辨优于0.5 eV时，
灵敏度（要求为常规工作条件下实际值）应好于500 cps；
1.5 双阳极X射线源
1.5.1 Al/Mg双阳极Al Kα X射线源，单源功率均不低于400W；1.5.2 对Ag 3d5/2峰，能量分辨优于0.8eV时，灵敏度优于650,000 cps 1.5.3 另提供高能X射线源Zr/Ti双阳极靶材一套，实现高能XPS以
及高能XAES；
1.6 成像XPS
快速平行成像，对Ag3d5/2，线扫描的最佳空间分辨率优于3 μm；
1.7 超高真空监测装置
1.7.1 可实现大气至10-10mbar范围的连续真空测量；
1.7.2 系统软件可显示系统真空压力值；
1.8 离子散射谱ISS
在1 keV He离子作用于清洁金表面，能量分辨优于15eV时，灵敏度应优于20,000 cps/nA；
1.9 电子能量损失谱REELS
分析室可实现电子能量损失谱配置，电子枪发射的电子最高能量应不低于1000eV，能量分辨率优于0.5eV;
1.10 深度剖析离子枪
1.10.1 工作气体为He、Ar或Ne；
1.10.2 离子能量100 eV ~ 3000 eV连续可调；
1.10.3 3keV情况下，束流应高于6 μA；
1.10.4 在
2.5uA和4keV时，束斑直径应不高于200 μm；
1.10.5 差分抽气，离子枪工作时，分析室内真空度优于 3.0x10-7 mbar；
1.10.6 可通过离子束流的偏转和扫描，实现Ar离子致SEM谱；
1.11 样品台
1.11.1 轴向：5轴样品台，即X、Y、Z移动，倾斜及旋转；
1.11.2 移动：X方向不小于50 mm，Y方向不小于20mm，Z方向不
小于10 mm；
1.11.3 移动精度1μm；
1.11.4 倾斜：以水平方向为轴-90o～＋60o；
1.11.5 通过样品实时图像上，可通过鼠标点击实现样品台的移动；
1.11.6 加热和冷却：可实现最高600K的加热以及最低170K的冷却；
1.12 电荷中和系统
对PET绝缘样品，在O-C=O结构中C1s峰能量分辨(FWHM)优
于0.82 eV时，C-C结构中C 1s峰的灵敏度（要求为正常工作条
件下的真实测量值）优于60,000 cps；
1.13 样品观察
1.13.1可变焦彩色CCD摄像头电视显示系统，能清楚观察样品500um~3mm区域图象；
1.13.2 分析室需具备CF75观察视窗两个，并装有防X射线玻璃；
1.13.3 观察窗口法线方向需位于水平线以上，以方便观察。
1.14 俄歇电子能谱（AES）
1.14.1电子枪：肖特基场发射电子枪；
1.14.2系统配有满足绝缘样品AES电荷中和需要的离子中和源
1.14.3 空间分辨率，10keV／5nA时优于95nm；
1.14.4 10kV／5nA（FRR＝0.5％）时Cu样品LMM峰（918eV），强
度不低于600k cps，与955eV处背景相比，10keV时信噪比
好于750:1；
2. 样品制备室
2.1真空腔及抽气系统
2.1.1 不锈钢制造；
2.1.2 抽气系统为独立的一套涡轮分子泵和机械泵；
2.1.3 本底真空度应优于8.0x10-9 mbar;
2.2 多层样品停放台
可一次停放至少三个样品托；
2.3 大束斑样品清洁离子枪
2.3.1 工作气体为He、Ar或Ne；
2.3.2 离子能量300 eV ~ 3000 eV连续可调；
2.3.3 束斑最大直径15~20 mm；
2.5 超高真空监测装置
超高真空阴极离子规一套；
4. 系统控制及标定
4.1 谱仪参数设置，系统软件应实现可视化操作；
4.2 谱仪硬件控制
4.2.1分析部件均可通过系统软件控制
4.2.2 系统软件具备可视化操作界面，实现对真空泵、阀门、真空
规、离子枪、中和枪以及加热冷却等的控制；
4.2.3 所有进气阀门均可通过软件控制实现自动化开启和关闭；
4. 2.4 系统软件内置真空安全互锁控制模块，可有效禁止真空设备
的误操作。
4.4 多功能样品台，样品台移动可通过鼠标操作实时的光学像而实现，并具有可视化操作界面，
5. 随系统计算机一台，预装数据采集和处理软件包
5.1 数据处理方法：定性分析、定量分析、曲线拟合等；
5.2 需具备SMART本底扣除方法；
5.3 数据库：包括完整的XPS、AES和ISS数据库；
5.4 实验数据（原始数据及分析结果）可存为通用格式，并能导入Microsoft Office 软件；
5.5 软件的数据处理部分，可在其他PC计算机上安装使用；
5.6 软件介质：以安装光盘形式提供；
6. 随系统配备的真空烘烤系统
7. 与以上所有系统相关联的电子学控制柜
篇一：材料分析方法实验报告 篇二：材料分析方法课程设计报告 材料分析测试方法 课程设计（论文） 题目：磁控溅射c/w多层膜成分及微观分析 学院材料科学与工程 专业材料化学 班级材化082 学生王维娜 学号 3080101296 指导教师陈迪春 起止时间 2010.12.27-2011.1.1 年 材料分析测试方法课程设计任务书 课程设计内容要求： 掌握高分辨透射电子显微镜样品制备方法，学习并了解真空镀膜 技术-磁控溅射技术，多层膜制备过程，以及其微观结构分析，成分 分析所用仪器和原理。 学生（签名） 月日 材料分析测试方法课程设计评语 指导教师（签名） 年日 目录 材料分析测试方法 ............................................................................. .. (1) 1.1 磁控溅射 ............................................................................. (5) 1.2 x射线衍射仪 ............................................................................. . (5) 1.3 透射电子显微镜 ............................................................................. (6) 1.4 x射线光电子能谱仪（xps） ........................................................................ (7) 第二章实验方法 ............................................................................. .. (9) 2.1 tem样品的制备方法 .............................................................................
第十四章 X-射线光电子能谱法 14．1 引言 X-射线光电子谱仪（X-ray Photoelectron Spectroscopy，简称为XPS），经常又被称为化学分析用电子谱（Electron Spectroscopy for Chemical Analysis，简称为ESCA），是一种最主要的表面分析工具。自19世纪60年代第一台商品化的仪器开始，已经成为许多材料实验室的必不可少的成熟的表征工具。XPS发展到今天，除了常规XPS外，还出现了包含有Mono XPS (Monochromated XPS, 单色化XPS，X射线源已从原来的激发能固定的射线源发展到利用同步辐射获得X射线能量单色化并连续可调的激发源), SAXPS ( Small Area XPS or Selected Area XPS, 小面积或选区XPS，X射线的束斑直径微型化到6μm) 和iXPS（imaging XPS, 成像XPS）的现代XPS。目前，世界首台能量分辨率优于1毫电子伏特的超高分辨光电子能谱仪（通常能量分辨率低于1毫电子伏特）在中日科学家的共同努力下已经研制成功，可以观察到化合物的超导电子态。现代XPS拓展了XPS的内容和应用。 XPS是当代谱学领域中最活跃的分支之一，它除了可以根据测得的电子结合能确定样品的化学成份外，XPS最重要的应用在于确定元素的化合状态。XPS可以分析导体、半导体甚至绝缘体表面的价态，这也是XPS的一大特色，是区别于其它表面分析方法的主要特点。此外，配合离子束剥离技术和变角XPS技术，还可以进行薄膜材料的深度分析和界面分析。XPS表面分析的优点和特点可以总结如下： ⑴固体样品用量小，不需要进行样品前处理，从而避免引入或丢失元素所造成的错误分析 ⑵表面灵敏度高，一般信息采样深度小于10nm ⑶分析速度快，可多元素同时测定 ⑷可以给出原子序数3-92的元素信息，以获得元素成分分析 ⑸可以给出元素化学态信息，进而可以分析出元素的化学态或官能团 ⑹样品不受导体、半导体、绝缘体的限制等 ⑺是非破坏性分析方法。结合离子溅射，可作深度剖析 目前，XPS主要用于金属、无机材料、催化剂、聚合物、涂层材料、纳米材料、矿石等各种材料的研究，以及腐蚀、摩擦、润滑、粘接、催化、包覆、氧化等过程的研究，也可以用于机械零件及电子元器件的失效分析，材料表面污染物分析等。 14.2 基本原理 XPS方法的理论基础是爱因斯坦光电定律。用一束具有一定能量的X射线照射固体样品，入射光子与样品相互作用，光子被吸收而将其能量转移给原子的某一壳层上被束缚的电子，此时电子把所得能量的一部分用来克服结合能和功函数，余下的能量作为它的动能而发射出来，成为光电子，这个过程就是光电效应。 该过程可用下式表示: hγ=E k+E b+E r（14.1） 式中: hγ：X光子的能量（h为普朗克常数，γ为光的频率）；
气相色谱/质谱联用仪技术指标 1.2温度：操作环境15?C～35?C 1.3 湿度：操作状态25～50%，非操作状态5～95% 2.性能指标 2.1质谱检测器 2.1.1具有网络通讯功能，可实现远程操作。结构紧凑，无需冷却水及压缩空气冷却。 2.1.2*侧开式面板，无须取下质谱仪机盖即可进行维护。玻璃窗口可显示离子源类 型，灯丝运行情况和离子源连接状态。需提供彩页证明文件。 2.1.3质量数范围：2-1000amu，以0.1amu递增
2.1.4分辨率：单位质量数分辨 2.1.5质量轴稳定性: 优于0.10amu/48小时 2.1.6灵敏度： EI：全扫描灵敏度（电子轰击源EI）：1pg八氟萘（OFN）,信/噪比≥ 1400：1 (扫描范围: 50-300amu) 2.1.7*仪器检出限IDL：10fg八氟萘。并提供三份以上现场安装验收报告。 2.1.8最大扫描速率：大于19,000amu/秒 2.1.9动态范围：全动态范围为106 2.1.10选择离子模式检测（SIM）最多可有100组，每组最多可选择60个离子 2.1.11质谱工作站可根据全扫描得到的数据，自动选择目标化合物的特征离子并对其进 行分组，最后保存到分析方法当中，无须手动输入。（AutoSIM） 2.1.12具有全扫描/选择离子检测同时采集功能 2.1.13两根长效灯丝的高效电子轰击源，采用完全惰性的材料制成 2.1.14*离子化能量：5～241.5eV 2.1.15离子化电流：0～315uA 2.1.16离子源温度：独立控温，150～350?C可调 2.1.17*分析器：整体石英镀金双曲面四极杆，独立温控, 106?C ～200?C。非预四极杆 加热。需提供彩页等证明文件。 2.1.18质量分析器前有T-K保护透镜。 2.1.19检测器：三维离轴，检测器。长效高能量电子倍增器 2.1.20真空系统：250升/秒以上分子涡轮泵 2.1.21气质接口温度: 独立控温，100～350℃ 2.1.22TID 痕量离子检测技术，在数据采集的过程中优化信号。 2.1.23自动归一化调谐。 2.1.24EI源可以采用氢气做为载气，CI源可以采用氨气替代甲烷气。 2.1.25具备早期维护预报功能（EMF） 2.1.26可提供质量认证功能（OQ/PV） 2.2 气相色谱仪 2.2.1 主机 2.2.1.1 电子流量控制（EPC）：所有流量、压力均可以电子控制，以提高重现性，配有13路电子流量控制； 2.2.1.2 压力调节：0.001psi。 2.2.1.3 大气压力传感器补偿高度或环境变化； 2.2.1.4 程序升压/升流：3阶；
实验一:紫外—可见吸收光谱 一、实验目的 1.熟悉和掌握紫外—可见吸收光谱的使用方法 2.用紫外—可见吸收光谱测定某一位置样品浓度 3.定性判断和分析溶液中所含物质种类 二、实验原理 紫外吸收光谱的波长范围在200~4０0,可见光吸收光谱的波长在400～8０0，两者都属于电子能谱，两者都可以用朗伯比尔（Lamber-Beｅr’s Law）定律来描述 Ａ=ε ｂc 其中A为吸光度；ε为光被吸收的比例系数；c为吸光物质的浓度，单位mol/L；b为吸收层厚度,单位cｍ 有机化合物的紫外-可 见吸收光谱,是其分子中外 层价电子跃迁的结果，其中 包括有形成单键的σ电 子、有形成双键的π电子、 有未成键的孤对n电子。外 层电子吸收紫外或者可见 辐射后，就从基态向激发态 (反键轨道）跃迁。主要有 四种跃迁，所需能量ΔE 大小顺序为σ→σ＊＞ n→σ*>π→π>ｎ→π＊ 吸收带特征典型基团 σ→σ＊主要发生在远紫外区C-C、C－H（在紫外光区观测不到) 跃迁一般发生在１50～250nm，因此在紫 n→σ* －OH、－NH 2 、—X、-S 外区不易观察到 跃迁吸收带波长较长，孤立跃迁一般发 π→π＊ 芳香环 生在20０ｎｍ左右 跃迁一般发生在近紫外区(２00~４00ｎ n→π＊ Ｃ＝O、C＝S、—Ｎ＝O、－N=N-、C=N ； m） １、开机 打开紫外－可见分光光度计开关→开电脑→软件→联接→Ｍ（光谱方法)进行调节实验需要的参数:波长范围 70０－36５nｍ 扫描速度高速；采样间隔： 0．５nm 2、甲基紫的测定
(１)校准基线 将空白样品（水）放到比色槽中,点击“基线”键，进行基线校准（2)标准曲线的测定 分别将5uｇ/ml、 10uｇ／ml 、15ug/mｌ、20ug/mｌ甲基紫溶液移入比色皿(大约2/3处），放到比色槽中，点击“开始”键，进行扫描，保存 （３）测定试样 将试样甲基紫溶液移入比色皿(大约2／3处)，放到比色槽中，点击“开始"键,进行扫描,保存 3、甲基红的测定 (１）校准基线 将空白样品(乙醇）放到比色槽中,点击“基线"键，进行基线校准 （2)测定试样 将试样甲基紫溶液移入比色皿（大约2/3处),放到比色槽中,点击“开始" 键，进行扫描，保存 四、实验结果 1.未知浓度的测定 分别测定了5μg/ml，10μg/ml，1５μg／ml,20μg／ml和未知浓度的甲基紫溶液的紫外吸收光谱,紫外吸收谱图如下: 甲基紫在５８0nｍ是达到最大吸收见下表: 浓度/μg＊ml—1吸光度 5０。66５ 10 1.２74 1５2．０４８
X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy analysis)1887年，Heinrich Rudolf Hertz发现了光电效应。二十年后的1907年，P.D. Innes用伦琴管、亥姆霍兹线圈、磁场半球(电子能量分析仪)和照像平版做实验来记录宽带发射电子和速度的函数关系。待测物受X光照射后内部电子吸收光能而脱离待测物表面(光电子)，透过对光电子能量的分析可了解待测物组成,XPS主要应用是测定电子的结合能来实现对表面元素的定性分析，包括价态。XPS（X射线光电子能谱）的原理是用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子。可以测量光电子的能量，以光电子的动能为横坐标，相对强度（脉冲/s）为纵坐标可做出光电子能谱图。从而获得试样有关信息。X射线光电子能谱因对化学分析最有用，因此被称为化学分析用电子能谱（Electron Spectroscopy for Chemical Analysis）。 其主要应用： 1，元素的定性分析。可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。 2，元素的定量分析。根据能谱图中光电子谱线强度（光电子峰的面积）反应原子的含量或相对浓度。 3，固体表面分析。包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面电子的电子云分布和能级结构等。 4，化合物的结构。可以对内层电子结合能的化学位移精确测量，提供化学键和电荷分布方面的信息。 5，分子生物学中的应用。Ex：利用XPS鉴定维生素B12中的少量的Co。 应用举例： 1.确定金属氧化物表面膜中金属原子的氧化状态； 2.鉴别表面石墨或碳化物的碳； （一）X光电子能谱分析的基本原理： X光电子能谱分析的基本原理：一定能量的X光照射到样品表面，和待测物质发生作用，可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。该过程可用下式表示:hn=Ek+Eb+Er 其中: hn：X光子的能量；Ek：光电子的能量；Eb：电子的结合能；Er：原子的反冲能量。其中Er很小，可以忽略。 对于固体样品，计算结合能的参考点不是选真空中的静止电子，而是选用费米能级，由内层电子跃迁到费米能级消耗的能量为结合能Eb，由费米能级进入真空成为自由电子所需的能量为功函数Φ，剩余的能量成为自由电子的动能Ek。 式又可表示为：hn=Ek+Eb+Φ（10.4）Eb= hn- Ek-Φ（10.5） 仪器材料的功函数Φ是一个定值，约为4eV，入射X光子能量已知，这样，如果测出电子的动能Ek，便可得到固体样品电子的结合能。各种原子，分子的轨道电子结合能是一定的。因此，通过对样品产生的光子能量的测定，就可以了解样品中元素的组成。元素所处的化学环境不同，其结合能会有微小的差别，这种由化学环境不同引起的结合能的微小差别叫化学位移，由化学位移的大小
Agilent 7890A 气相色谱仪技术指标 1、工作条件 1.1 电源：220V，50Hz电源 1.2 环境温度：15-35?C 1.3 环境湿度：5%~95%RH 2、主要用途：用于有机化合物的定量定性分析 3、仪器包括毛细管柱双通道流路、氢火焰检测器（FID）、微池电子捕获检 测器（Micro-ECD）、化学工作站控制及色谱数据处理系统。 4、技术指标 4.1柱箱 4.1.1温度范围：室温以上4?C~450?C 4.1.2温度设定：温度1?C；程序设定升温速率0.1?C 4.1.3升温速度：0.1?C/分钟~120?C/分钟 4.1.4温度稳定性；当环境温度变化1?C时，<0.01?C *4.1.5程序升温：20阶21平台，温度控制范围支持零下温度的设定 4.1.6最大运行时间：999.99分钟 4.1.7降温速率：从450?C降至50?C<240秒(22℃室温下) *4.1.8保留时间重现性: <0.008% 或 <0.0008min *4.1.9峰面积重现性: < 1.0% RSD 4.2分流/不分流毛细管柱进样口(带电子气路控制，简称EPC) 4.2.1可编程电子参数设定压力、流速、分流比 4.2.2最高使用温度400?C *4.2.3压力设定范围：0~150psi 4.2.4流量设定范围：0~200ml/min（以N2为载气时） 0~1250ml/min（以H2，He为载气时） *4.2.5进样口为扳转式顶盖设计，无需特殊工具快速方便更换衬管 4.3电子压力控制(EPC) 4.3.1自动海拔高度压力及室温补偿
*4.3.2控制精度0.001psi *4.3.3 压力/流量程序：3级 4.3.4 具有恒流、恒压、程序升流、程序升压及压力脉冲等操作模式的电子 气路控制 4.4除柱箱外，可加热控温的区域应不少于6个，其最高温度可达400?C。4.5氢火焰检测器（FID） 4.5.1最高使用温度：450?C 4.5.2自动点火装置，自动调节点火气流; 具有自动灭火检测功能 4.5.3最低检测限：<1.8pg碳/秒(十三烷) 4.5.4线性动态范围：≥107 *4.5.5数据采样速率：500Hz 4.6微池电子捕获检测器（Micro-ECD，带EPC） 4.6.1安装隐含阳极和大体积流速，防止污染 4.6.2最高使用温度：400?C 4.6.3放射源：<15 mCi63Ni箔 *4.6.4最低检测限：<6fg/ml（六氯化苯） *4.6.5线性动态范围：> 5×104（六氯化苯） *4.6.6数据采样速率：50Hz 4.7色谱工作站软件 4.7.1参数输入：仪器控制参数，数据采集及数据处理参数的设定。 4.7.2报告：内置多种报告格式，可自动生成系统适应性报告、峰纯度报告、 光谱检索报告等；用户也可编辑个性化的报告模板。 *4.7.3内置有保留时间锁定软件（RTL）功能。此功能通过软件自动调整仪器工作参数，在五个不同条件下分析锁定目标化合物而实现。 *4.7.4内置有仪器监控及智能诊断软件（LMD），可对仪器进行实时监测及仪器维护预警提示，防止问题出现。 4.7.5安装验证（IQ）：仪器软、硬件的自动认证 5、色谱柱及消耗品：HP-5 30m,0.32mm,0.25um毛细管色谱柱壹根；DB-5 30m,0.32mm,0.25um毛细管色谱柱壹根；色谱柱接头2个；0.32mm内径色谱柱用石墨密封垫10个（0.5mm id）；低流失进样隔垫100个；分流/
实验6：半导体α谱仪 实验目的 1．了解α谱仪的工作原理及其特性。 2．掌握应用谱仪测量α粒子能谱的方法。 3．测定241Am核素的α衰变的相对强度。 内容 1．调整谱仪参量，测量不同偏压下的α粒子能量，并确定探测器的工作偏压。 2．测定谱仪的能量分辨率，并进行能量刻度。 3．测量未知α源的能谱，并确定α粒子能量。 原理 半导体α谱仪的组成如图1所示。 金硅面垒探测器是用一片N型硅，蒸上一薄层金（100-2000 A），接近金膜的那一 层硅具有P型硅的特性，这种方式形成的PN结靠近表面层，结区即为探测粒子的灵敏区。探测器工作加反向偏压。α粒子在灵敏区内损失能量转变为与其能量成正比的电脉冲信号，经放大并由多道分析器测出幅度的分布，从而给出带电粒子的能谱。偏置放大器的作用是当多道分析器的道数不够用时，利用它切割、展宽脉冲幅度，以利于脉冲幅度的精确分析。为了提高谱仪的能量分辨率，探测器要放在真空室中。另外金硅面垒探测器一般具有光敏的特性，在使用过程中，应有光屏蔽措施。 金硅面垒型半导体α谱仪具有能量分辨率高、能量线性范围宽、脉冲上升时间快、体积小和价格便宜等优点，在α粒子及其它重带电粒子能谱测量中有着广泛的应用。 带电粒子进入灵敏区，损失能量产生电子空穴对。形成一对电子空穴所需的能量w，与半导体材料有关，与入射粒子的类型和能量无关。对于硅，在300K时，w为3.62eV，77K时为3.76eV。对于锗，在77K时w为2.96eV。若灵敏区的厚度大于入射
粒子在硅中的射程，则带电粒子的能量E 全部损失在其中，产生的总电荷量Q 等于 e w E )/(。w E /为产生的电子空穴对数，e 为电子电量。由于外加偏压，灵敏区的电 场强度很大，产生的电子空穴对全部被收集，最后在两极形成电荷脉冲。通常在半导体探测器设备中使用电荷灵敏前置放大器。它的输出信号与输入到放大器的电荷量成正比。 探测器的结电容d C 是探测器偏压的函数，如果核辐射在探测器中产生电荷量为Q ，那么探测器输出脉冲幅度是d C Q /。因此，由于探测器偏压的微小变化所造成的d C 变化将影响输出脉冲的幅度。事实上，电源电压的变化就可以产生偏压近种微小变化。此外，根据被测粒子的射程调节探测器的灵敏区厚度时，也往往需要改变探测器的偏压。要减少这些变化对输出脉冲幅度的影响，前级放大器对半导体探测器系统的性能越着重要的作用。图2表示典型探测器的等效电路和前置放大器的第一级。其中一K 是放大器的开环增益，f C 是反馈电容，1C 是放大器的总输入电容，它等于 '',C C C d +是放大器插件电缆等寄生电容。前置放大器的输入信号是d C Q /，它的等 到效输入电容近似等于f KC ，只要1C KC f >>，那么前置放大器的输出电压为 f f C Q C K C KQ V - =++- =)1(10 （ 1 ） 这样一来，由于选用了电荷灵敏放大器作为前级放大器，它的输出信号与输入电荷Q 成正比，而与探测器的结电容d C 无关。 1. 确定半导体探测器偏压
GC-900-SD6型气相色谱仪参数 一、引用标准 GB/T7252-2001《变压器油中溶解气体分析和判断导则》 GB/T 17623-2017《绝缘油中溶解气体组份含量的气相色谱测定法》DL/T 722-2000《变压器油中溶解气体分析和判断导则》
三、主要性能 1、 7寸高清触摸屏控制，一键开机启动加热、加电流、点火，一键老化色谱柱。 2、运行状态实时监控诊断，实时反应当前信息，五路温度显示。 3、实时显示老化时间及TCD电流，安全可靠。 4、开关机预约功能，配合自动开关机系统，可实现自动打开气源，开主机，升温，加电流及关机，节省稳定等待时间，实现闲时定时老化仪器，提高工作效率。 5、采用变压器油专用抗污染复合色谱柱技术，大大提高了色谱柱的使用寿命。 6、可选配最新国标顶空进样系统，放好样品后实现连续不间断做样分析，无人值守。 7、多角度监控各个部件状态，可查询报警提示，报警参数，便于直观发现故障信息。 8、可定制网络化及远程操作，实现人机分离实时监控，大数据采集共享，分析条件最优选择，共享色谱技术，稳定安全可靠。 9、主机控制软件终生免费维护，有新版本及时为用户升级。
四、GCSD-A2色谱分析工作站 工作站含：戴尔电脑，液晶显示器、惠普激光打印机、 A/D采样卡、色谱数据处理软件。 1.技术指标 2.工作站主要性能指标 a)操作简便：中文WINX、XP操作平台，全中文窗口界面。 b)实时性：真正WINDOWS环境下的总线实时数据采集，双通道同时采样，实时显示色谱峰 保留时间。 c)高精度：24位的高精度A/D插卡，输入范围：-1.25V~+1.25V。 d)重现性：0.006%。 e)开放式数据管理：保存完整的相关设备信息以及分析结果数据信息。方遍增加、修改、 删除、随意调阅、检索。 f)自动故障诊断：分析结束自动超标提示、提供符合国标的三比值诊断、TD图示、组份浓 度图示等多种故障诊断方式。 g)轻松定性：可自动或手动编辑峰鉴定表。自动计算校正因子，可以进行多次校正平均。 h)灵活的峰识别和处理能力：可以通过设置参数和时间程序或手动修正方式进行色谱峰的 识别、删除及调整基线切割。确保分析结果的准确性。 i)灵活的打印功能：提供固定格式和自定义摸版格式的结果报告。 2018.10.18
透射电镜实验报告 实验报告 课程名称电镜技术成绩姓名学号实验日期 2013.3.27 实验名称透射电子显微镜原理、结构、性能及成像方指导教师 式 一、实验目的与任务 1. 初步了解透射电镜操作过程 2. 初步掌握样品的制样方法(主要是装样过程) 3.拍摄多晶金晶体的低分辨率照片(<300000倍)和高分辨率照片(>300000 倍)，并对相关几何参数、形态给予描述。用能谱分析仪对样品的成分进行分析。 二、实验基本原理 1.仪器原理 透射电子显微镜是以图像方式提供样品的检测结果，其成像的决定因素是样品对入射电子的散射，包括弹性散射和非弹性散射两个过程。样品成像时，未经散射的电子构成背景，而像的衬底取决于样品各部分对电子的不同散射特性。采用不同的实验条件可以得到不同的衬底像，透射电子显微镜不仅能显示样品显微组织的形貌，而且可以利用电子衍射效应同样获得样品晶体学信息。本次实验将演示透射电镜的透射成像方式和衍射成像方式。 (1)成像方式 电子束通过样品进入物镜，在其像面形成第一电子像，中间镜将该像放大，成像在自己的像面上，投影镜再将中间镜的像放大，在荧光屏上形成最终像。 (2)衍射方式
如果样品是晶体，它的电子衍射花样呈现在物镜后焦面上，改变中间镜电流，使其对物镜后焦面成像，该面上的电子衍射花样经中间镜和投影镜放大，在荧光屏上获得电子衍射花样的放大像。 2.仪器结构 主机主要由:照明系统、样品室、放大系统、记录系统四大部分构成。 3.透射电子显微镜的样品制备技术 4.图像观察拍照技术 透射电镜以图像提供实验结果。在观察样品之前对电子光学系统进行调查，包括电子枪及象散的消除。使仪器处于良好状态。观察过程中选合适的加速电压和电流。明场、暗场像及选区电子衍射的观察和操作方法不同，应按况选择。三、实验方法与步骤 1( 登陆计算机 2( 打开操作软件 3( 检查电镜状态 4( 装载样品 5( 插入样品杆 6( 加灯丝电流 7( 开始操作 8( 结束操作 9( 取出样品杆 10( 卸载样品 11( 刻录数据 12( 关闭操作软件 13( 退出计算机
第五章光电子能谱分析 一、教学目的 理解掌握光电子能谱分析的基本原理，掌握光电子能谱实验技术，了解光电子能谱仪，了解俄歇电子能谱分析。 二、重点、难点 重点：光电子能谱分析原理、光电子能谱实验技术及应用。 难点：光电子能谱分析原理。 第一节概述 电子能谱是近十多年才发展起来的一种研究物质表面的性质和状态的新型物理方法。这里所谓的表面是指固体最外层的l～10个原子的表面层和吸附在它上面的原子、分子、离子或其他覆盖层，它的深度从小于1到几个nm，或者包括采取剥离技术将表面层沿纵向深度暴露出新的表面。用特殊的手段对这类表面进行分析已形成一门新兴的测试方法，即表面分析法，它在理论上和实际应用上都有广泛的研究领域。表面分析方法在无机非金属材料学科中的应用，例如：研究玻璃表面的刻蚀作用、水泥矿物硅酸钙的水化作用、陶瓷表面和界面、高温超导材料表面的作用等均有重要意义。 一、表面分析可以得到的信息 表面分析是借助于各种表面分析仪，对物体10 nrn以内的表面层进行分析，可得到的信息有： （1）物质表面层（包括吸附层）的化学成分，除氢元素以外的元素都可以从表面分析法获得定性和定量的结果，而X射线能谱分析一般只能分析到原子序数为11以上的元素（最好的仪器可以分析原子序数为4的Be元素）。定量分析也只能达到半定量程度。 （2）物质表面层元素所处的状态或与其他元素间的结合状态和结构，即元素所处的原子状态、价态、分子结构等信息。 （3）表面层物质的状态，如表面层的分子和吸附层分子状态、氧化态、腐蚀状态、表面反应生成物等。 （4）物质表面层的物理性质，这在一般表面分析中虽不是研究的主要内容，但可以得到与表面的元素、价态、结构等信息的关系。 在做表面分析工作时，不仅在制备样品时要求在高真空和超净条件下进行，而且在测试过程中也要注意仪器中的条件，以防止因污染而引起测试误差。 二、表面分析法的特点
7890A气相色谱仪性能参数 Agilent 7890A 网络化气相色谱仪 色谱性能* ? 保留时间重现性< 0.008% 或< 0.0008 min ? 峰面积重现性< 1% RSD 7890A柱温箱的温度控制可以满足快速准确地梯度控温。总体的热性能提供了最佳的色谱性能，包括峰的对称性、保留时间的重现性和保留指数的准确性。 精确的气路压力控制和准确的温度控制相结合，可以得到出色的保留时间重现性的精度，这是所有色谱检测的基础。 安捷伦的专利微板流路控制技术为色谱分析开创了新的篇章，可靠、无泄漏、柱箱内的毛细管连接可以长期承受GC柱温箱程序升降温往复循环。 7890A GC具有增强的固件可以扩展微板流路控制的功能，以及增强的数据系统软件可简化设置并操作反吹。这些新的技术使得复杂基质和未知物的分析更为容易，而且通过二维中心切割、检测器分流和色谱柱反吹为常规 分析带来了个更高的工作效率和数据的完整性。 7890A GC有先进的监控系统资源（计数、电子记录和诊断）的内置功能。 众所周知Agilent GC 系统具有可靠、耐用和寿命长的特点，安捷伦承诺保证仪器使用十年，使仪器在使用期间低成本运行。 系统性能 ? 支持同时安装： - 两个进样口 - 三个检测器（第三个检测器是TCD） - 四个检测器信号 ? 先进的检测器电子线路和全量程的数字化数据输出，使得一次进样中可以对检测器的整个浓度范围（FI D为107）的峰实现定量分析。 ? 所有的进样口和检测器全面使用EPC，对特殊的进样口和检测器部件的控制范围和分离性能进行了优化。? 可以安装多达六个EPC模块，提供多达16个通道的EPC控制。 ? 压力设定值和控制精度达到0.001 psi，对于低压力的分析提供了更精确的保留时间锁定。 ? 用于毛细管柱的EPC 具有四种色谱柱流量控制模式：恒压模式和梯度压力（三阶梯度）模式，恒流模式或梯度流量（三阶梯度）模式。可计算色谱柱的平均线流速。 ? 标准化的大气压和温度补偿，即使实验室环境有变化时，检测结果也不会有改变。 ? 当使用仪器监控及智能诊断软时，甚至当还连接到一个数据系统时，通过LAN 接口可以实时监控色谱仪。 ? 从键盘一键式操作进入维护和服务模式。 ? 预编程的泄漏测试。 ? 自动液体进样器完全整合到主机的控制中。 ? 可以用本机键盘或通过网络数据系统，设定参数和自动控制。可通过前面板对时钟时间编程进行初始化，在未来的日期或时间启动某一事件（开启/关闭，启动方法等）。 ? 每一次分析时间的偏差都记录在案，以保证所有分析方法的参数都存档并保存。 ? 可以提供各种传统的气体进样和色谱柱切换阀。 ? 可设定550个时间事件。 ? 在GC 仪器或数据系统上显示所有GC 和自动液体进样器（ALS）的设定值。 ? 上下文关联的在线帮助。
实验报告 电子能谱实验
实验报告 一、 实验名称 电子能谱实验 二、 实验目的 （1） 了解X 光电子能谱（XPS ）测量原理、仪器工作结构及应用； （2） 通过对选定的样品实验，初步掌握XPS 实验方法及谱图分析。 三、 实验原理 在现代材料分析中，表面问题是材料研究中很重要的部分。尤其是在微型材料、超薄 材料、薄膜材料和材料的表面处理等，都离不开表面科学。而X 光电子能谱（简称XPS ）则是一项重要的表面分析方法。一定能量的X 光作用到样品上，将样品表面原子中的不同能级的电子激发成为自由电子，这些电子带有样品表面信息，具有特征能量，研究这类电子的能量分布，即为X 光电子能谱分析。 （1）光电发射 在具体介绍XPS 原理时，先介绍光电发射效应。光电发射是指，在轨道上运动的电子收到入射的光子的激发而由发射出去成为自由电子的过程。对于固体样品光电发射的能量关系如下： 'b k sa E h E νφ=--（固体）（1） 其中b E 为相对于费米能级的结合能，h ν为光子的能量，'k E 为光电子的动能，sa φ为样品的功函数。 光电发射示意图如下： 原子能级结合能b E 对于原子来说是特征的，具有特异性，可以用它来标识原子及原子能级。 由样品发射的光电子最终将会被探测器俘获，对于探测器有如下能量关系：
b k sp E h E νφ=--（探测器）（2） 式中，sp φ为探测器的功函数。如下图所示： （二）化学位移 XPS 在进行定量分析的时候，有一项很重要的应用就是化学态分析，其中包括化学位移和化学能移。 化学位移是指由于原子处于不同的化学环境而引起的结合能的位移（b E ?）。如化合过程+X+Y=X Y -，X 、Y 因电子的转移引起结合能的变化。相应的电子能谱也会发生改变，通过这种方法，还可以区别同一类原子处于何种能态，这为表面分析提供了很大的便利。 （三）X 光电子能谱仪原理示意图 如下图所示，由X 射线源发出的X 射线入射到样品表面，激发出自由光电子。光电子经过半球形能量分析器后被探测器吸收。探测器将光电子的所携带的信息转化为电信号，由示波器收集并在电脑中显示出来。 XPS 测量原理示意图 X 光电子能谱仪结构示意图
Agilent 7890A气相色谱仪 功能: 蔬菜水果中有机磷、有机氯类农药残留农药的检测 技术参数 工作条件 1.1. 温度： 15°C -- 35°C 1.2. 湿度：5 – 95% 1.3. 耐受温度：-40°C -- 70°C 1.4. 电源：220±5%或110±5% 2. 柱温箱 2.1. 温度：室温+4°C -- 450°C 2.2. 程序升温：20阶21平台，可程序降温 2.3. 在3.5min内，从450°C降温到50°C 2.4. *温度精度：室温每波动1°C ，柱温箱的温度波动<0.01°C 2.5. *双通道柱流失补偿 3. 加热区域 3.1. 除柱温箱外，有6个独立的加热区域（2个进样口，2个检测器，2个辅助 区） 3.2. 辅助区的最大温度：400°C 4. 隔膜吹扫填充柱进样口
4.1. 电子或手动控制压力/流量 4.2. 最高温度400°C 4.3. 压力设定范围：0－100psi 4.4. 气体流量设定范围：0－100mL/min 4.5. 可用于1/4”、1/8”填充柱和0.53mm毛细柱 5. 分流/不分流进样口 5.1. 可以用于50um到530um的色谱柱 5.2. 分流比最大可到7500:1 5.3. 省气模式可以节约气体用量 5.4. 快速扳转系统，更换衬管无需拆卸螺丝 5.5. ***具有EPC功能，气路的压力、流量分流比可键盘输入。 5.6. ***电子控压精度：0.001 psi（千分之一psi） 5.7. 最高温度400°C 5.8. 压力范围：0 -- 100psi 6. 检测器 6.1. 氢火焰离子检测器（FID） 6.1.1. ***电子压力/流量控制 6.1.2. 可用于毛细柱和填充柱 6.1.3. 最高温度450°C 6.1.4. ***具有火焰熄灭监测功能和自动重新点火功能 6.1.5. ***最小检测限：<1.8 pg carbon/sec 6.1.6. 线性动态范围：>107
《材料分析与表征》 俄歇电子能谱(AES)实验报告 学院：材料学院班级：xxx 姓名：xx 学号：xxxxxxxx 一．实验目的 1. 了解俄歇电子能谱的背景知识和基本原理； 2. 了解俄歇电子能谱的基本实验技术及其主要特点； 3. 了解俄歇谱仪的基本结构和操作方法； 4. 了解俄歇电子能谱在材料表面分析中的应用。 二．实验原理 1. AES简介 俄歇电子能谱，英文全称为Auger Electron Spectroscopy，简称为AES，是材料表面化学成分分析、表面元素定性和半定量分析、元素深度分布分析及微区分析的一种有效的手段。俄歇电子能谱仪具有很高表面灵敏度，通过正确测定和解释AES 的特征能量、强度、峰位移、谱线形状和宽度等信息，能直接或间接地获得固体表面的组成、浓度、化学状态等信息。 当原子的内层电子被激发形成空穴后，原子处于较高能量的激发态。这一状态是不稳定的，它将自发跃迁到能量较低的状态——退激发过程，存在两种退激发过程：一种是以特征X射线形式向外辐射能量——辐射退激发；另一种通过原子内部的转换过程把能量交给较外层的另一电子，使它克服结合能而向外发射——非辐射退激发过程(Auger过程)。向外辐射的电子称为俄歇电子。其能量仅由相关能级决定，与原子激发状态的形成原因无关，因而它具有“指纹”特征，可用来鉴定元素种类。 2. 俄歇效应 处于基态的原子若用光子或电子冲击激发使内层电子电离后，就在原子的芯能级上产生一个空穴。这一芯空穴导致外壳层收缩。这种情形从能量上看是不稳定的，并发生弛豫，K空穴被高能态L1的一个电子填充，剩余的能量(E K-E L1)用于释放一个电子，即俄歇电子。如图1所示。
实验一：紫外-可见吸收光谱 一、实验目的 1.熟悉和掌握紫外-可见吸收光谱的使用方法 2.用紫外-可见吸收光谱测定某一位置样品浓度 3.定性判断和分析溶液中所含物质种类 二、实验原理 紫外吸收光谱的波长范围在200~400，可见光吸收光谱的波长在400~800，两者都属于电子能谱，两者都可以用朗伯比尔（Lamber-Beer’s Law）定律来描述 A=ε bc 其中A为吸光度;ε为光被吸收的比例系数；c为吸光物质的浓度,单位mol/L； b为吸收层厚度，单位cm 有机化合物的紫外-可 见吸收光谱，是其分子中外 层价电子跃迁的结果，其中 包括有形成单键的σ电子、 有形成双键的π电子、有未 成键的孤对n电子。外层 电子吸收紫外或者可见辐 射后，就从基态向激发态（反键轨道）跃迁。主要有四种跃迁，所需能量ΔE 大小顺序为σ→σ*>n→σ*>π→π>n→π*
三、实验步骤 1、开机 打开紫外-可见分光光度计开关→开电脑→软件→联接→M（光谱方法）进行调节实验需要的参数：波长范围700-365nm 扫描速度高速；采样间隔：0.5nm 2、甲基紫的测定 （1）校准基线 将空白样品（水）放到比色槽中，点击“基线”键，进行基线校准 （2）标准曲线的测定 分别将5ug/ml、10ug/ml 、15ug/ml 、20ug/ml甲基紫溶液移入比色皿（大约2/3处），放到比色槽中，点击“开始”键，进行扫描，保存 （3）测定试样 将试样甲基紫溶液移入比色皿（大约2/3处），放到比色槽中，点击“开始” 键，进行扫描，保存 3、甲基红的测定 （1）校准基线
将空白样品（乙醇）放到比色槽中，点击“基线”键，进行基线校准 （2）测定试样 将试样甲基紫溶液移入比色皿（大约2/3处），放到比色槽中，点击“开始” 键，进行扫描，保存 四、实验结果 1.未知浓度的测定 分别测定了5μg/ml，10μg/ml，15μg/ml，20μg/ml和未知浓度的甲基紫溶液的紫外吸收光谱，紫外吸收谱图如下： 甲基紫在580nm是达到最大吸收见下表： 浓度/μg*ml-1吸光度 50.665 10 1.274 15 2.048 20 2.659
第27讲 教学目的：使学生了解光电子能谱的实验技术及其应用 教学要求：了解光电子能谱仪的构造、工作原理及制样；熟悉光电子能谱的应用领域 教学重点：XPS实验技术；X射线光电子能谱分析方法的原理及应用 教学难点：XPS谱图能量校正 第2节光电子能谱仪工作原理 以X射线为激发源的光电子能谱仪主要由激发源、样品分析室、能量分析器、电 子检测器、记录控制系统和真空系统等组成。从激发源来的单色光束照射样品室里的 样品，只要光子的能量大于材料中某原子轨道中电子的结合能，样品中的束缚电子就 被电离而逃逸。光电子在能量分析器中按其能量的大小被“色散”、聚集后被检测器接受，信号经放大后输入到记录控制系统，一般都由计算机来完成仪器控制与数据采集 工作。整个谱仪要有良好的真空度，一般情况下，样品分析室的真空度要优于10-5Pa，这一方面是为了减少电子在运动过程中同残留气体发生碰撞而损失信号强度，另一方 面是为了防止残留气体吸附到样品表面上，甚至可能与样品发生反应。谱仪还要避免 外磁场的干扰。这里主要讨论X射线光电子能谱对激发源、能量分析器和电子检测器 的特殊要求。 图19 X射线光电子能谱仪基本构成示意图 (1)X射线激发源
用于电子能谱的X射线源，其主要指标是强度和线宽 ．．．．．。一般采用Kα线，因为它是 X射线发射谱中强度最大的。Kα射线相应于L能级上的一个电子跃迁到K壳层的空穴上。光电效应几率随X射线能量的减少而增加，所以在光电子能谱工作中，应尽可能 采用软X射线（波长较长的X射线）。在X射线光电子能谱中最重要的两个X射线源 是Mg和Al的特征Kα射线（能量分别是1253.6eV和1486.6eV），其线宽分别为 0.7eV和0.9eV。由于Mg的Kα射线的自然宽度稍窄一点，对于分辨率要求较高的测试，一般采用该射线源。如欲观测重元素内层电子能谱，则应采用重元素靶的X射线管。 电子能谱中用的X射线管与X射线衍射分析用的类似。 为了让尽可能多的X射线照射样品，X射线源的靶应尽量靠近样品，另外，X射线 源和样品分析室之间必须用箔窗 ．．隔离，以防止X射线靶所产生的大量次级电子进入样 品分析室而形成高的背底。对Al和Mg的X射线而言，隔离窗材料可选用高纯度的铝 箔或铍箔。X射线也可以利用晶体色散单色化，X射线经单色化后，除了能改善光电子 能谱的分辨率外，还除去了其他波长的X射线产生的伴峰，改善信噪比。 除了用特征X射线作激发源外，还可用加速器的同步辐射，它能提供能量从10eV 到10keV连续可调的激发源。这种辐射在强度和线宽方面都比特征X射线优越，更重 要的是能够从连续能量范围内任意选择所需要的辐射能量值。 (2)电子能量分析器 能量分析器是光电子能谱仪的核心部件。其作用在于把具有不同能量的光电子分 ．．．．．．．．．．．． 别聚焦并分辨开 ．．．．．．．．．．，一般利用电磁场 ．．．来实现电子的偏转性质。电子能量分析器分磁场型 和静电型 ．．．．，前者有很高的分辨能力，但因结构复杂，磁屏蔽要求严格，目前已很少采 用。商品化电子能谱仪都采用静电型能量分析 ．．．．．．．．，．．．．．．．．．．．．．．．．．．器．，它的优点是整个仪器安装比较紧凑 体积较小 ．．．．．．．，外磁场屏蔽简单，易于安装调试。常用的静电型能量分．．．．，真空度要求较低 析器有球形分析器、球扇形分析器和简镜型分析器 ．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．等，其共同特点是：对应于内外两 面的电位差值只允许一种能量的电子通过，连续改变两面间的电位差值就可以对电子．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．． 能量进行扫描 ．．．．．．。 图20是半球形电子能量分析器的示意图。半球形电子能量分析器由内外两个同心 半球面构成，内、外半球的半径分别是r1和r2，两球间的平均半径为r；两个半球间的 电位差为V，内球为正，外球为负。若要使能量为E k的电子沿平均半径r轨道运动， 则必须满足以下条件： 式中: e电子电荷;c由球的内外径决定的谱仪常数[(r2/r1)- (r1/r2)]。
气相色谱仪（I）技术指标 1、安全标准： 1.1CSA/国家认证测试实验室(NRTL) UL61010 1.2设计和制造遵循ISO 9001 质量体系。可以提供ISO 9001 认证证书。 2、主机性能 2.1操作温度：室温以上8-425℃ 2.2程序升温：5阶/6平台 2.3室温每变化1℃柱温变化：<0.01℃ 2.4色谱柱流失补偿 2.5最大升温速率75 o C/min 2.6五个独立的加热区，不包括柱温箱（两个用于进样口、两个用于检测器、一个 用于辅助加热） 2.7辅助加热区的最高操作温度：350 °C 3、电子气路控制 3.1流量传感器准确度：< ±5% 3.2控压精度：0.01psi 3.3大气压力传感补偿高度或环境的变化 3.4保留时间重复性< 0.06% 3.5峰面积重复性< 2% 3.6★全电子流量控制，非手调式或半电子流量控制，提供官方文件证明 4、进样口 （1）分流/不分流毛细管柱进样口 4.1最高使用温度：400℃ 4.2压力设定范围：0-100psi 4.3全电子流量控制 4.4最大分流比250:1 5自动进样器 5.1 16位自动进样塔进样系统。
5.2 最大进样体积：250uL 5.3 ★样品最小进样体积：20 nL以下 5.4 具有3瓶位“三明治”进样功能 5.5 进样塔无需螺母固定，便于移动调整和维护。 5.6具备自校正功能 6、检测器 火焰离子化检测器（FID） 6.1.最高使用温度：425℃ 6.2最低检测限：<3pg碳/秒。 6.3线性动态范围：>107 6.4数据采集速率：达100H Z 6.5全电子压力/流量控制 7、色谱化学工作站 7.1含原装进口中文版操作软件，仪器和电脑联接需采用网卡。 7.2符合FDA 21CFR标准，可以处理如GC、LC、LC/MS、CE 和CE/MS等各种分离技术。基于局域网（LAN）仪器的尖端5级控制和监测保证实现快速而灵活的数据采集，并配以最高效率的数据分析和报告功能。可根据用户要求选择中文和英文色谱原版工作站，并提供中文/英文操作手册。 7.3 可控制液相色谱仪所有参数和运行，可实施编辑功能，自动进行序列样品分析；实时在线显示色谱图，积分并报告出分析结果，绘制标准曲线；具有自我诊断程序。 8、售后服务 8.1仪器到货后，中标方应两周内派工程师到客户实验室免费安装、严格按照仪器性能 指标进行调试及现场培训。 8.2仪器验收合格之日起，对仪器免费保修一年。 9.配置要求 9.1 气相色谱仪主机1台 9.2 分流不分流进样口一套 9.3 16位自动进样器一台 9.4 FID检测器一套 9.5安装工具包一套