当前位置:文档之家› MCS-51实验指导

MCS-51实验指导

DTHS-A

教学实验平台

单片机实验指导

(MCS-51分册)

山东理工大学

目录

第一章系统概述 (1)

1.1上部扩充区(简称上板) (1)

1.2中部核心控制区(简称中板) (2)

1.3下部常规实验区(简称下板) (3)

第二章单片机接口实验 (8)

实验一74LS138译码实验 (8)

实验二P1口亮灯实验 (10)

实验三P1口转向灯实验 (12)

实验四P3.3口输入,P 1口输出 (14)

实验五工业顺序控制 (16)

实验六外部中断实验 (18)

实验七定时/计数器实验 (20)

实验八8255 A.B.C口输出方波 (22)

实验九8255并行口实验:A口输入,B口输出 (23)

实验十8255并行口实验:模拟交通灯 (25)

实验十一I/O口扩展实验 (27)

实验十二A/D模数转换实验 (29)

实验十三D/A数模转换实验 (31)

实验十四音频驱动实验 (33)

实验十五继电器控制实验 (34)

实验十六步进电机控制实验 (35)

实验十七8253定时/计数器实验 (37)

实验十八并/串、串/并转换实验 (39)

实验十九外部数据存储器扩展实验 (41)

实验二十MCS-51串行口应用实验——双机通信 (42)

实验二十一MCS-51串行口应用实验——与PC通信 (43)

实验二十二DS18B20数字温度传感器实验 (45)

实验二十三DS18B20温度闭环实验 (46)

实验二十四直流电机调速实验 (48)

实验二十五LED 16×16点阵显示实验 (50)

实验二十六8255键盘显示实验 (52)

实验二十七LCD128×64液晶显示实验 (54)

实验二十八逻辑加密IC存储卡读写实验 (55)

实验二十九8251串行通信实验 (61)

实验三十8259中断控制实验 (63)

实验三十一串行A/D转换实验 (65)

实验三十二串行D/A转换实验 (66)

实验三十三红外遥控实验 (67)

实验三十四V/F转换实验 (68)

实验三十五PWM转换实验 (70)

实验三十六AT24C02串行存储器实验 (71)

实验三十七X5045P看门狗实验 (72)

实验三十八DS1302实时时钟实验 (73)

实验三十九微型打印机实验 (74)

实验四十RS485差分串行通信实验 (75)

实验四十一CAN-bus现场总线控制实验 (77)

实验四十二基于以太网接口的TCP/IP实验 (79)

实验四十三USB通用串行总线实验 (85)

第一章系统概述

DTHS-A是由山东理工大学、淄博耐思科技有限公司设计制造的单片机与微机接口通用型实验台,它以常规实验设备的开放式实验环境为基础,增加了在线检测模式,在自定义环节融入轨迹捕捉,影射和展现实验电路搭接的全过程,为互动教学活动的展开创造了一个较为完整与规范的实践平台。

DTHS-A实验台由三个部分组成:上部为实验台扩充区,适用于课程设计及实验电路与模块的扩展;中部为实验台核心控制区,主要由通用仿真器、在线控制器、轨迹捕捉器及机电与单总线等实验模块组成;下部为实验台常规实验区,适用于基础性教学实践活动。

DTHS-A实验台支持NICE自主研发的集成开发环境,并与KEIL/MPLAB/A VRStudio 等主流开发环境无缝结合。

1.1上部扩充区(简称上板)

1)直流电压表

上板右上角配有数字式直流电压表,其量程为±20V;电压表左测的钮子开关用于选择电压表的检测来源。

①信号源测量

该钮子开关拨向“外”方向时,位于电压表下方的红孔为电压表输入端(+20V~-20V),其黑孔为电压表直流地端(非负极性输入端),该端与本工位的“GND”己连接互通,仅适用于实验台二工位之间GND的并端,不允许加载负极性或与“GND”相冲突的信号源;

②内置源监视

该钮子开关拨向“内”方向时,由位于钮子开关上方的2×3波段开关选择与确认当前监视源。我们强调监视源的选择应在掉电方式下进行,即在关闭直流源的前提下才能拨动波段开关选择当前监视源,否则会引发+5V、+12V、-12V之间的瞬间短接,对低压供电器件的损伤率极高,亦危及开关电源的寿命。

2)微型打印机

上板偏左上方配有智能窗式针型打印机,位于钮子开关下方的双排八芯座为它的总线口,“STB”孔为打印命令控制端,“BUSY”为打印机忙闲标志,“ERR”为打印机出错标志。

3)逻辑加密存储卡

存储卡正下方为该卡读写加密控制端,该卡左边为插卡口,该卡右边定义状态标志指示。

4)CPLD扩展

上板右下方为CPLD逻辑控制器设计与实践区域,选用Xilinx XC9572为硬布线控制器,配有下载口,用符合Xilinx标准的下载电缆即可实现针对XC9572的逻辑设计与编程。

5)扩充区

上板左下方为自行设计区域,该区域正下方为阻容件、晶体、三极管、二极管扩充区,该区域左上方为门电路、运放等IC-14以下芯片及集成电阻的扩充区,该区域右上方为IC-40以下集成器件扩充区。

1.2中部核心控制区(简称中板)

1)CPU单元

中板左上方为实验台CPU选择单元,目前可适配的CPU类型有MCS-51/PIC单片机、以8088为内核的微机接口。

2)总线接口

①数据总线:双向,来源于仿真器。当CPU单元挂51时,它是由P0口隔离驱动后形成双向总线。

②地址总线:输出,来源于仿真器。当CPU单元挂51时,它的低八位由P0口驱动锁存输出;它的高八位由P2口隔离驱动输出。

③控制总线

●RD:输出,来源于仿真器。当CPU单元挂51时为外部数据读,受P3.7控制

●WD:输出,来源于仿真器。当CPU单元挂51时为外部数据写,受P3.6 控制

●ALE:输出,来源于仿真器。当CPU单元挂51时为地址锁存,受51_ALE控制

●RESET:复位输出,高电平有效,受仿真器复位电路控制

●MER:输出,来源于仿真器。当CPU单元挂88时为内存读,受8088CPU控制

●MEW:输出,来源于仿真器。当CPU单元挂88时为内存写,受8088CPU控制

●AEN:输入,总线出借控制。当CPU单元挂88时为DMA操作,受8237_AEN控制

●φ:时钟输出,当CPU单元挂51时,由51CPU第18脚提供

3)并行模块

①LCD液晶显示

其数据线与总线接口中的D7~D0己连接互通,总线连接定义为省缺项。位于LCD正下方的使能控制端“E”,命令与数据选择端“R/S”及读写选择端“R/W”在自行设计状态定义为实验连接项。

②8255并行口

其数据线与仿真器中的D7~D0己连接互通,总线连接定义为省缺项。位于8255正右测的“CS”为8255选通控制端。位于LCD正下方的add1~add0为8255地址端A1~A0,位于下板“直流源指示”上方的RD、WR为8255读写控制端,在自行定义状态它们为实验连接项。

4)单总线模块

单总线模块超越并行总线的寻址规则,局限于I/O端口寻址,不宜在线掌控,只能工

作在自定义状态,因此在单总线模块的设计与实现中实验连接项不可省缺。

5)闭环控制

①直流电机

直流电机控制单元定义了“调速”与“测速”两个端口,其中调速端为电机启停。正反转及转速控制端,它加载的模拟量范围是0~5V,2.5V时电机处停止状态,大于2.5V启动电机正转,小于2.5V启动电机反转,该端达5V或0V时电机处正转或反转最高速。至于测速端是电机当前状态与转速的反馈端,为电机按设置的参数恒定运作提供依据。在自行设计状态该两个端口定义为实验连接项。

②温度控制

温度控制单元定义了“调温”与“测温”两个端口,其中调温端口由5V电源控制,至于测温端口是当前温度传递端口,反馈温度参数,为加温与恒温提供依据。在自行设计状态该两个端口定义为实验连接项。

6)步进电机

步进电机控制单元设有四拍控制端口,在自行设计状态该四端口定义为实验连接项。

7)虚拟示波器

实验台提供了一个双通道简易示波器,适用于电位及赫兹级低频信号的测量与观察。

8)扁平链接口

中板下方设有五个扁平链接口,其中二个20芯扁平口为检测口,其余三个8芯扁平口为地址与数据总线延伸接口。

1.3下部常规实验区(简称下板)

1)下板接口

①检测接口

下板上方二个20芯扁平口为检测口,“在线”态它为控制口,输出常规实验模块的控制信号。在自定义状态它为状态口,反馈常规实验模块的控制信号。

②总线接口

下板上方三个8芯扁平口为地址与数据总线链接口,该三个接口是主控区(中板)扩展寻址的桥梁,面向下板实验时必须连接。

2)下板总线

①控制线

位于“直流源指示”上方的为下板自定义状态的公共控制总线,以下为它们的定义:

●CLR 下板区域淸除控制,在自定义实验中连接中板RESET复位信号。

●WR 下板区域写控制,在自定义实验中连接中板控制总线单元WR写信号。

●RD 下板区域读控制,在自定义实验中连接中板控制总线单元RD读信号。

●CLK 下板区域锁存控制,在自定义实验中连接中板ALE信号。

②地址线

位于“存储器扩展单元”左下测的ADD2~ADD0为下板区域公共地址线,在自定义实验中通常连接中板A2~A0。遇单模块实验可另行定义,例如0809 A/D转换中ADD2~ADD0用于选择通道,可改接中板地址总线单元A2~A0。

③译码器

位于“发光二极管显示单元”正下方的138译码器亦有二种定义途径,“在线”态实验台赋于的定义是译码端口CBA与A5~A3相连,选通控制端口G2A(低电平有效)由A14控制,当A14为零时,138输出端Y7~Y0八中选一,有一个输出端为“0”,其余输出端为“1”。它的寻址范围为0~3FFFh,8000h~BFFFh。在自定义方式其选通与译码端口呈悬浮态,属译码控制不可省缺的连接项。

3)存储器扩展

位于下板右上角为“存储器扩展单元”,它的地址与数据总线通过其上方的三个8芯扁平接口融入中板主控CPU的寻址范围,位于该单元左上测的MR、MW及MCS分别为存储器读、写和选通控制端。自定义态属实验不可省缺的连接项。在线态由在线控制器掌控,寻址范围为0~0FFFh。

这里需要提示的是不同类型CPU对于并行存储器扩展有其完全不同的寻址路径,中板挂51CPU时,存储器与I/O处同一寻址空间,用相同的控制信号,通常采用译码法分享数据寻址空间;当挂8088CPU时,存储器与I/O处不同的寻址空间,用不同的控制信号,编各自的指令实现当前的寻址操作。

4)I/O口扩展

①16×16点阵

16×16点阵位于“存储器扩展单元”正下方,它的数据总线通过8芯扁平接口(下板上右一)与中板总线单元的D7~D0连接互通,“存储器扩展单元”左下测的ADD1~ADD0定义行与列口地址。16×16S为点阵写选通控制,自定义态属实验不可省缺的连接项。在线态由在线控制器掌控,寻址范围为0ECH~0EFH。

②键盘与八段显示

实验台选用8255为并行键盘与显示接口,定义其A口为字形口,B口为字位与键扫口,PC2~PC0为键入口。位于并行键盘与显示扩展板左则的8255CS为8255选通控制,它的数据总线通过8芯扁平接口(下板上右一)与中板总线单元的D7~D0连接互通,“存

储器扩展单元”左下测的ADD1~ADD0定义其地址线A1~A0,“串并转换单元”右边的RD、WR定义其读写控制信号,自定义态属实验不可省缺的连接项。在线态由在线控制器掌控,寻址范围为0DCH~0DFH。

③简易I/O

实验台选用244为简易I/O缓冲输入器件,该单元“G”为读选通控制,自定义态属实验不可省缺的连接项。该单元“PI7~PI0”为八位缓冲输入端口。

实验台选用273为简易I/O 锁存输出器件,该单元“CLK”为锁存触发端,自定义态属实验不可省缺的连接项。该单元“PO7~PO0”为八位锁存输出端口。

④A/D与D/A

并行A/D转换器0809位于“调模拟电压电位器”正下方,“SC/ALE”为锁通道地址与启动A/D转换,“CLK”为A/D转换时钟,“OE”为A/D采样(读)选通,ADD1~ADD0定义当前通道地址,“自定义”态属实验不可省缺的连接项,“在线”态由在线控制器掌控,寻址范围为0E0H~0E7H,另外“EOC”为A/D转换结束标志,IN7~IN0为A/D转换通道。

并行D/A转换器0832位于“A/D转换单元”左边,“CS”为D/A转换器选通控制,“WR”为D/A转换器启动控制,“自定义”态属实验不可省缺的连接项,“AOUT”为D/A 转换器输岀端。

⑤串并转换

并转串165位于下板左上角,它的并行输入端口通过8芯扁平接口(下板上右一)与中板总线单元的D7~D0连接互通,“SERI”与“QH”分别定义串行输岀8位移位寄存器移入与移岀位,“LOAD”为并行输入端口数据装载控制,“LOCK”为串行移位输岀控制。

串转并164位于165正下方,“DATA”为串行数据输入端,“LOCK”为并行移位输岀控制,位于164下方以H~A顺序排列的“8芯单排针”为164的并行输岀口。

⑥定时计数器

8253定时计数单元位于“串并转换”下方,它的总线口通过8芯扁平接口(下板上右一)与中板总线单元的D7~D0连接互通,“CLK2~CLK0”为定时计数时钟输入端,“OUT2~OUT0”为可编程定时计数输岀端。由“ADD1~ADD0”定义地址线A1~A0,RD、WR定义读写控制线,“8253CS”定义它的片选端。

⑦串行通信

8251串行通信单元位于“8253定时计数单元”右测,它的总线口通过8芯扁平接口(下板上右一)与中板总线单元的D7~D0连接互通,“CLK”与“T/RXC”为它的时钟输入端,“RXD”与“TXD”为它的串行接收与发送端,由“ADD0”定义地址线A0,RD、WR定义读写控制线,“8251CS”定义它的片选端。

⑧中断控制

8259中断控制单元位于“8253定时计数单元”下方,它的总线口通过8芯扁平接口(下板上右一)与中板总线单元的D7~D0连接互通,IRQ7~IRQ0为中断向量输入端,位于“8251串行通信单元”下测的“INT”与“INTA”分别为8259中断请求与中断向量读控制,由“ADD0”定义地址线A0,RD、WR定义读写控制线,位于“8253CS”右边的“8259CS”为它的片选端。

⑨PACK扩展

“PACK扩展单元”位于下板左上方,可选配USB1.1、USB2.0、以太网TCP/IP、CAN-BUS等接口扩展,本实验台把“RS485远程通信”列为PACK扩展的标配模块。

5)通用电路

①12位电平指示

“12位电平指示”位于下板中上方,L11~L0为12个发光二极管驱动器输入端。低电平点亮,高电平熄灭。

②9位电平开关

“9位电平开关”位于下板中下方,K8~K0为逻辑电平开关输出端。开关处上方吋其对应的孔端输出低电平“0”,开关处下方时与其对应的孔端输出高电平“H”。

③单脉冲电路

“单脉冲电路”位于138译码器右测,由AN按钮与RS触发器构成单脉冲电路,毎按一次AN按钮,即可从两个插座上分别输出一个正脉冲“SP”及负脉冲“/SP”,供中断、清零、计数等实验使用。

④音频驱动电路

位于AN按钮左边的LM386为音频信号驱动器,其下方为自锁式音频输出控制开关,上方“VIN”为音频信号输入端,音频发生器位于“存储器扩展单元”6264左边。

⑤393分频器

“393分频器”位于“8251串行通信单元”右边,该分频器淸零端受下板CLR控制,其输入频率由 4.9152MHz晶体振荡源供给,分频器输岀端T0~T7的频率分别为2.4567MHz、1.2288MHz、614.4KHz、307.2KHz、153.6KHz、76.8KHz、38.4Hz、19.0Hz。

⑥继电器控制

“继电器控制”位于D/A转换器左上方,它的输入端“JIN”加载低电平“0”时,继电器吸合,常开触点“JK”闭合,常闭触点“JB”断开,“JZ”为控制信号输入端。

⑦RS232串行口

位于138译码器左测的是实验用RS232串行口,它的“TXD”和“RXD”分别为TTL 电平级的串行发送与串行接收端。

⑧电压调节器

在下板A/D转换上方。实验台提供二路0~5V模拟电压调节器,适用于A/D与V/F转换等对电压有调节需求的实验。

⑨逻辑门电路

在下板138译码器下方左右两测提供了“与”、“或”、“非”三种基本门电路,它们之间的相互串接可形成自定义态实验所需的控制电路。

6)实验扩充

①锁式扩展

在下板逻辑电平开关上方设有一个IC-40芯以下可编程器件的扩展单元,它不但适用于I/O接口器件的扩展,亦可作为CPU的扩展区,让学生设计一个简易的单片机控制器。

②转接单元

在下板逻辑电平开关上方左右两测设有两个“转接单元”,构造了一个扁平八芯、单排八芯及八位插孔之间的并行互通电路,以实现不同接口之间的相互转接。

第二章单片机接口实验

实验一74LS138译码实验

一、实验目的

74LS138是很常见地址译码逻辑芯片,要掌握其基本用法。

二、预备知识

74LS138是低电平有效的3线-8线译码器/数据分配器。

管脚功能描述:VCC是电源。GND接地。A、B、C是地址输入,A是低地址,C是高地址。G1、/G2A、/G2B是控制输入,当G1为“1”并且/G2A和G2B同时为“0”时,138输出端Y7~Y0八中选一,有一个输出端为“0”,其余输出端为“1”。否则Y0~Y7为全“1”。

图 1.174LS138的管脚图和逻辑图

注释:实验台对译码器的使能控制端/G2B已连接直流地(GND),G1已连接VCC。

三、实验内容

1.通过单片机P1.2~P1.0控制74LS138译码器的使能及译码输入端口,控制其译码输出

端口(Y7~Y0)。

2.把译码输出端口Y7~Y0连接到L7~L0八位LED电平指示输入端口,验证74LS138

的逻辑译码功能。

四、实验连线

1.74LS138译码单元/G2A连接GND,C、B、A分别连接P1.2、P1.1、P1.0。

2.74LS138译码单元Y7~Y0分别连接L7~L0。

五、实验步骤

1.译码控制

改变译码输入端CBA(P1.2~P1.0),与Y7~Y0相对应的L7~L0发光二极管八中选一,其中一位灯亮,其余灯灭。

2.实验程序的编写、装载与运行

编写程序,编译、连接并装载到实验台,用全速方式运行程序。

3.观察运行结果

在全速运行状态下,观察发光二极管移位点亮情况。

4.终止运行

按“暂停图标”,使系统无条件退出该程序的运行返回待令状态。

实验二P1口亮灯实验

一、实验目的

1.学习P1口的使用方法;

2.学习延时子程序的编写。

二、实验预备知识

1.P1口对准双向口,每一位都可独立地定义为输出或输入。

2.本实验中延时子程序采用指令循环来实现,机器周期(12/6MHz)*指令所需机器周期

数*循环次数,在系统时间允许的情况下可以采用此方法。

三、实验内容

P1口作为输出口,接八个发光二极管,编写程序,使发光二极管循环点亮。

四、程序流程

五、实验电路

六、实验步骤

1.实验连线

P1.7~P1.0连至L7~L0。

2.实验程序的编写、装载与运行

编写程序,编译、连接并装载到实验台,用全速方式运行程序。

3.观察运行结果

在全速运行状态下,观察发光二极管闪亮移位情况。

4.终止运行

按“暂停图标”,使系统无条件退出该程序的运行返回待令状态。

七、思考

1.改变延时常数,使发光二极管闪亮时间改变。

2.修改程序,使发光二极管闪亮移位方向改变。

实验三P1口转向灯实验

一、实验目的

进一步了解P1口的使用,学习C语言的编程方法与调试技巧。

二、实验内容

P1.0接高电平、P1.1接低电平时,右转向灯闪亮;P1.0接低电平、P1.1接高电平时左转向灯闪亮;否则转向灯关闭。

三、程序流程

四、实验电路

五、实验步骤

1.实验连线

P1.1、P1.0分别连接K1、K0,P1.7~P1.4分别连接L11、L8、L5、L2。

2.实验程序的编写、装载与运行

编写程序,编译、连接并装载到实验台,用全速方式运行程序。

3.观察运行结果

在全速运行状态下,拨动K1、K0,观察转弯灯正确闪亮。

4.终止运行

按“暂停图标”,使系统无条件退出该程序的运行返回待令状态。

实验四P3.3口输入,P 1口输出

一、实验目的

1.掌握P1口、P3口的简单使用方法。

2.学习延时程序的编写和使用。

二、实验内容

1.P3口做输入口,外接一脉冲,每输入一个脉冲,P1口按十六进制加一。

2.P1口做输出口,编写程序,使P1口接的8 个发光二极管L1—L8按16进制加一方式

点亮发光二极管。

三、实验说明

P3口是准双向口,它作为输出口时与一般的双向口使用方法相同,由准双向口结构可知:当P3口作为输入口时,必须先对它置高电平,使内部MOS管截止,因内部上拉电阻是20KΩ—40KΩ,故不会对外部输入产生影响。若不先对它置高,且原来是低电平,则MOS管导通,读入的数据是不正确的。

四、程序流程

五、实验电路

六、实验步骤

1.实验连线

P3.3连接K0,P1.7~P1.0分别连接L7~L0。

2.实验程序的编写、装载与运行

编写程序,编译、连接并装载到实验台,用全速方式运行程序。

3.观察运行结果

在全速运行状态下,观察发光二极管闪亮移位情况。

4.终止运行

按“暂停图标”,使系统无条件退出该程序的运行返回待令状态。

实验五工业顺序控制

一、实验目的

掌握工业顺序控制程序的简单编程,熟悉中断的概念和编程方法。

二、预备知识

在工业控制中,像冲压、注塑、轻纺、制瓶等生产过程,都是一些断续生产过程,按某种程序有规律地完成预定的动作,对这类断续生产过程的控制称顺序控制,例注塑机工艺过程大致按“合模→注射→延时→开模→产伸→产退”顺序动作,用单片机最易实现。

三、实验内容

MCS-51单片机的P1.6~P1.0控制注塑机的七道工序,现模拟控制七只发光二极管的点亮,高电平有效,设定每道工序时间转换为延时,P3.4为开工启动开关,高电平启动。P3.3为外故障输入模拟开关,P3.3为0时不断报警。P1.7为报警声音输出,设定6道工序只有一位输出,第七道工序三位有输出。

四、实验说明

实验中用外部中断0,编中断服务程序的关键是:

1.保护进入中断时的状态,并在退出中断之前恢复进入的状态。

2.必须在中断程序中设定是否允许中断重入,即设置EX0位。

一般中断程序进入时应保护PSW、ACC以及中断程序使用但非其专用的寄存器,本实验中未涉及。

五、程序流程

六、实验电路

七、实验步骤

1.实验连线

1)P3.4、P3.3分别连接K0、K1,P1.6~P1.0分别连接L6—L0,P1.7连SIN(音频输

入端)。

2)K0、K1开关拨在低/高电平位置(钮子开关拨向下方)。

3)按下音频驱动单元自锁式按钮开关(处开位置)。

2.实验程序的编写、装载与运行

编写程序,编译、连接并装载到实验台,用全速方式运行程序。

3.观察运行结果

1)用全速方式开始运行程序,此时应在等待开工状态。

2)K0拨至低电平位置,各道工序应正常运行。

3)K1拨至低电平位置,应有声音报警(人为设置故障)。

4)K1拨至高电平位置,即排除故障,程序应从报警的那道工序继续执行。

4.终止运行

按“暂停图标”,使系统无条件退出该程序的运行返回待令状态。

八、思考

修改程序,使每道工序中有多位输出。

相关主题
文本预览
相关文档 最新文档