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实验三十三、光栅特性参数的测量

实验三十三、光栅特性参数的测量
实验三十三、光栅特性参数的测量

实验三十三、光栅特性参数的测量

[实验目的]

1、 进一步熟悉分光计的调整和使用

2、 用已知汞灯光谱中的绿光波长为546.07nm ,测量衍射光栅的特征参数。

3、 从测定汞灯光谱在可见光范围内的几条波长的过程中,观察和研究光栅的衍射现象

4、 测量汞灯光谱中的黄光和紫光的波长。

[实验仪器]

分光计、汞灯,衍射光栅、钠灯

[实验原理]

一、光栅衍射

衍射光栅是利用光的衍射原理使光波发生色散的光

学元件,它是由大理相互平行、等宽的狭缝组成的,设光栅的总缝数为N ,缝宽为a ,缝隙间不透光部分的宽度为b ,则缝距d=a+b ,叫光栅常数(如图1)。按夫琅和费衍射理论,当一束平行光垂直入射到光栅的表面时,通过不同的缝,光要发生干涉,但同时每条缝都要发生衍射,且N 条缝N 套衍射条纹通过透镜后完全重合,如图1所示,当衍射角θ满足光栅方程dsin θ=k λ(k=0、±1、±2、…)时,任何两缝所发出的两束光都干涉相长,形成细而亮的主极大明条纹。 二、光栅光谱

单色光经过光栅衍射后,形成各级主极大的细亮线称为这种单色光的衍射谱线,如果用复色光照射,由光栅方程可知不同波长的同一级谱线(零级除外)的角位置是不相同的,交按波长由短到长的次序由中央向外侧依次排列,每一干涉级次都有这样的一级谱线,在较高级次,各级谱线可能相互重叠,光栅衍射击产生的这种按波线排列的谱线称为光栅光谱,

评定光栅好坏的标志是角色散率和光栅的分辨本领。 1、 角色散率ψ为

角色散率的定义为:λθ

ψ??=

,其中θ?为两谱线衍射角之差,由dsin θ=k λ和对前一式两边取微分得:θ

λθλθψcos d k

d d ==??=。 2、 分辨本领

根据瑞利判断,光栅能分辨出相邻两条谱线的能力是有限的,波长相差为λ?的两条相邻谱线,若其中的一条谱线的最亮处刚好落在另一谱线的最暗处,则称这两条谱线能被分辨,设这两条谱线的平均波长为λ,则此时光栅的分辨本领

为:λ

λ

?R

。 光栅分辨本领R 与光谱级数k,以及在入射光束范围内的光栅宽度有关

当入射光不是垂直入射时,光栅方程变为:

λθk i d =±)sin (sin (k=0、±1、±2 …)

“—”号表示衍射光线与入射光线在法线的异侧,“+”号表示衍射光线与入射光线在法线的同侧,如图2。

实际操作时,我们可以测出相同颜色的两条谱线的夹角θ2而得到谱线的衍射角θ。

[实验内容]

1、调整好分光计。

2、 测出所给全息光栅的主要性能参数:光栅常数d 、角色

散率ψ、分辨本领R 。

3、 利用所给光栅(d 一定)测出钠灯双黄线、激光的波长。

4、 将光栅光谱与棱镜光谱作一比较。

[数据记录]

已知绿光波长绿λ=546.07nm

可由公式算出每条衍射光的衍射角θ;2

)()(221

21a a a a '-'+-=

θ

[思考题]

1、 试比较棱镜光谱与光栅衍射光谱的各自特点。

2、应用光栅方程时应满足什么条件?

实验四 控制系统频率特性的测试(实验报告)

实验四 控制系统频率特性的测试 一. 实验目的 认识线性定常系统的频率特性,掌握用频率特性法测试被控过程模型的原理和方法,根据开环系统的对数频率特性,确定系统组成环节的参数。 二.实验装置 (1)微型计算机。 (2)自动控制实验教学系统软件。 三.实验原理及方法 (1)基本概念 一个稳定的线性定常系统,在正弦信号的作用下,输出稳态与输入信号关系如下: 幅频特性 相频特性 (2)实验方法 设有两个正弦信号: 若以)(t x ω为横轴,以)(y t ω为纵轴,而以t ω作为参变量,则随t ω的变化,)(t x ω和 )(y t ω所确定的点的轨迹,将在 x--y 平面上描绘出一条封闭的曲线(通常是一个椭圆)。这 就是所谓“李沙育图形”。 由李沙育图形可求出Xm ,Ym ,φ,

四.实验步骤 (1)根据前面的实验步骤点击实验七、控制系统频率特性测试菜单。 (2)首先确定被测对象模型的传递函数, 预先设置好参数T1、T2、ξ、K (3)设置好各项参数后,开始仿真分析,首先做幅频测试,按所得的频率范围由低到高,及ω由小到大慢慢改变,特别是在转折频率处更应该多取几个点 五.数据处理 (一)第一种处理方法: (1)得表格如下: (2)作图如下: (二)第二种方法: 由实验模型即,由实验设置模型根据理论计算结果绘制bode图,绘制Bode图。

(三)误差分析 两图形的大体趋势一直,从而验证了理论的正确性。在拐点处有一定的差距,在某些点处也存在较大的误差。 分析: (1)在读取数据上存在较大的误差,而使得理论结果和实验结果之间存在。 (2)在数值应选取上太合适,而使得所画出的bode图形之间存在较大的差距。 (3)在实验计算相角和幅值方面本来就存在着近似,从而使得误差存在,而使得两个图形之间有差异 六.思考讨论 (1)是否可以用“李沙育”图形同时测量幅频特性和想频特性 答:可以。在实验过程中一个频率可同时记录2Xm,2Ym,2y0。 (2)讨论用“李沙育图形”测量频率特性的精度,即误差分析(说明误差的主要来源)答:用“李沙育图形”测量频率特性的精度从上面的分析处理上也可以看出是比较高的,但是在实验结果和理论的结果之间还是存在一定的差距,这些误差主要来自于从“李沙育图形”上读取数据的时候存在的误差,也可能是计算机精度方面的误差。 (3)对用频率特性测试系统数学模型方法的评测 答:用这种方法进行此次实验能够让我们更好地了解其过程,原理及方法。但本次实验的数据量很大,需要读取较多坐标,教学软件可以更智能一些,增加一些自动读取坐标的功能。 七.实验总结 通过本次实验,我加深了对线性定常系统的频率特性的认识,掌握了用频率特性法测试被控过程模型的原理和方法。使我把书本知识与实际操作联系起来,加深了对课程内容的理解。在处理数据时,需要进行一定量的计算,这要求我们要细心、耐心,作图时要注意不能用普通坐标系,而是半对数坐标系进行作图。

光栅衍射实验实验报告

工物系 核11 李敏 2011011693 实验台号19 光栅衍射实验 一、 实验目的 (1) 进一步熟悉分光计的调整与使用; (2) 学习利用衍射光栅测定光波波长及光栅常数的原理和方法; (3) 加深理解光栅衍射公式及其成立条件; 二、 实验原理 2.1测定光栅常数和光波波长 如右图所示,有一束平行光与光栅的法线成i 角,入射到光栅上产生衍射;出射光夹角为?。从B 点引两条垂线到入射光和出射光。如果在F 处产生了一个明条纹,其光程差AD CA +必等于波长λ的整数倍,即 ()sin sin d i m ?λ ±= (1) m 为衍射光谱的级次, 3,2,1,0±±±.由这个方程,知道了λ?,,,i d 中的三个 量,可以推出另外一个。 若光线为正入射,0=i ,则上式变为 λ ?m d m =sin (2) 其中 m ?为第m 级谱线的衍射角。 据此,可用分光计测出衍射角m ?,已知波长求光栅常数或已知光栅常数求 波长。 2.2用最小偏向角法测定光波波长 如右图。入射光线与m 级衍射光线位于光栅法线同侧,(1)式中应取加号,即d (sin φ+sin ι)=mλ。以Δ=φ+ι为偏向角,则由三角形公式得 2d (sin Δ 2cos φ?i 2 )=mλ (3) 易得,当φ?i =0时,?最小,记为δ,则(2.2.1)变

为 ,3,2,1,0,2 sin 2±±±==m m d λδ (4) 由此可见,如果已知光栅常数d ,只要测出最小偏向角δ,就可以根据(4)算出波长λ。 三、 实验仪器 3.1分光计 在本实验中,分光计的调节应该满足:望远镜适合于观察平行光,平行光管发出平行光,并且二者的光轴都垂直于分光计主轴。 3.2光栅 调节光栅时,调节小平台使光栅刻痕平行于分光计主轴。放置光栅时应该使光栅平面垂直于小平台的两个调水平螺钉的连线。 3.3水银灯 1.水银灯波长如下表 2.使用注意事项 (1)水银灯在使用中必须与扼流圈串接,不能直接接220V 电源,否则要烧 毁。 (2)水银灯在使用过程中不要频繁启闭,否则会降低其寿命。 (3)水银灯的紫外线很强,不可直视。 四、 实验任务 (1)调节分光计和光栅使满足要求。 (2)测定i=0时的光栅常数和光波波长。 (3)测定i=15°时的水银灯光谱中波长较短的黄线的波长

线性系统的频率特性实验报告(精)

实验四 线性系统的频率特性 一、实验目的: 1. 测量线性系统的幅频特性 2. 复习巩固周期信号的频谱测量 二、实验原理: 我们讨论的确定性输入信号作用下的集总参数线性非时变系统,又简称线性系统。线性系统的基本特性是齐次性与叠加性、时不变性、微分性以及因果性。对线性系统的分析,系统的数学模型的求解,可分为时间域方法和变换域方法。这里主要讨论以频率特性为主要研究对象,通过傅里叶变换以频率为独立变量。 设输入信号)(t v in ,其频谱)(ωj V in ;系统的单位冲激响应)(t h ,系统的频率特性 )(ωj H ;输出信号)(t v out ,其频谱)(ωj V out ,则 时间域中输入与输出的关系 )()()(t h t v t v in out *= 频率域中输入与输出的关系 )()()(ωωωj H j V j V in out ?= 时间域方法和变换域方法并没有本质区别,两种方法都是将输入信号分解为某种基本单元,在这些基本单元的作用下求得系统的响应,然后再叠加。变换域方法可以将时域分析中的微分、积分运算转化为代数运算,将卷积积分变换为乘法;在信号处理时,将输入时间信号用一组变换系数(谱线)来表示,根据信号占有的频带与系统通带间的关系来分析信号传输,判别信号中带有特征性的分量,比时域法简便和直观。 三、实验方法: 1. 输入信号的选取 这里输入信号选取周期矩形信号,并且要求 τ T 不为整数。这是因为周期矩形信号具有丰富的谐波分量,通过观察系统的输入、输出波形的谐波的变化,分析系统滤波特性。周期矩形信号可以分解为直流分量和许多谐波分量;由于测量频率点的数目有限,因此需要排除谐波幅度为零的频率点,周期矩形信号谐波幅度为零的频率点是 Ω KT ,其中1=K 、2、3、… 。 图11.1 输入的周期矩形信号时域波形 t

系统频率特性的测试实验报告

东南大学自动化学院课程名称:自动控制原理实验 实验名称:系统频率特性的测试 姓名:学号: 专业:实验室: 实验时间:2013年11月22日同组人员: 评定成绩:审阅教师:

一、实验目的: (1)明确测量幅频和相频特性曲线的意义; (2)掌握幅频曲线和相频特性曲线的测量方法; (3)利用幅频曲线求出系统的传递函数; 二、实验原理: 在设计控制系统时,首先要建立系统的数学模型,而建立系统的数学模型是控制系统设计的重点和难点。如果系统的各个部分都可以拆开,每个物理参数能独立得到,并能用物理公式来表达,这属机理建模方式,通常教材中用的是机理建模方式。如果系统的各个部分无法拆开或不能测量具体的物理量,不能用准确完整的物理关系式表达,真实系统往往是这样。比如“黑盒”,那只能用二端口网络纯的实验方法来建立系统的数学模型,实验建模有多种方法。此次实验采用开环频率特性测试方法,确定系统传递函数。准确的系统建模是很困难的,要用反复多次,模型还不一定建准。另外,利用系统的频率特性可用来分析和设计控制系统,用Bode 图设计控制系统就是其中一种。 幅频特性就是输出幅度随频率的变化与输入幅度之比,即)()(ωωi o U U A =。测幅频特性时, 改变正弦信号源的频率,测出输入信号的幅值或峰峰值和输输出信号的幅值或峰峰值。 测相频有两种方法: (1)双踪信号比较法:将正弦信号接系统输入端,同时用双踪示波器的Y1和Y2测量系统的输入端和输出端两个正弦波,示波器触发正确的话,可看到两个不同相位的正弦波,测出波形的周期T 和相位差Δt ,则相位差0360??=ΦT t 。这种方法直观,容易理解。就模拟示波 器而言,这种方法用于高频信号测量比较合适。 (2)李沙育图形法:将系统输入端的正弦信号接示波器的X 轴输入,将系统输出端的正弦信号接示波器的Y 轴输入,两个正弦波将合成一个椭圆。通过椭圆的切、割比值,椭圆所在的象限,椭圆轨迹的旋转方向这三个要素来决定相位差。就模拟示波器而言,这种方法用于低频信号测量比较合适。若用数字示波器或虚拟示波器,建议用双踪信号比较法。 利用幅频和相频的实验数据可以作出系统的波Bode 图和Nyquist 图。 三、预习与回答: (1)实验时,如何确定正弦信号的幅值?幅度太大会出现什么问题,幅度过小又会出现什 么问题? 答:根据实验参数,计算正弦信号幅值大致的范围,然后进行调节,具体确定调节幅值时,首先要保证输入波形不失真,同时,要保证在频率较大时输出信号衰减后人能够测量出来。如果幅度过大,波形超出线性变化区域,产生失真;如果波形过小,后续测量值过小,无法精确的测量。

实验四 系统频率特性测量(模拟实验)

实验四 系统频率特性测量 一、实验目的 1.加深了解系统及元件频率特性的物理概念。 2.掌握系统及元件频率特性的测量方法。 二、实验仪器 1.EL-AT-II 型自动控制系统实验箱一台 2.计算机一台 三、实验原理 1.模拟电路图 若输入信号U1(t )=U1sin ωt,则在稳态时,其输出信号为U2(t )=U2sin (ωt+ψ),改变输入信号角频率ω值,便可测得二组U2/U1和ψ随ω变化的数值,这个变化规律就是系统的幅频特性和相频特性。 图4-1为二阶系统的模拟电路图,它是由惯性环节、积分环节和比例环节组成。图4-2为图4-1的方框原理图,图中2321211 2 ,,C R T C R T R R K === 。 图4-1 二阶系统的模拟电路 图4-2 二阶系统原理图

由图4-1求得二阶系统的闭环传递函数为: 2 11 22 122 2112)()()(T T K T s s T T K K s T s T T K s U s U s ++=++== φ 典型二阶系统的闭环传递函数为: 2 2 22)(n n n s s s ωζωωφ++= 对比可得:21T T K n =ω,K T T 124=ζ 若令s T 2.01=,s T 5.01=,则K n 10=ω,K 625.0=ζ 由上式可知,调节开环增益K 的值,就能同时改变系统阻尼比ζ和无阻尼自然频率n ω的值,我们可以改变k 的值,令系统处于稳定状态下。 当625.0>K ,10<<ζ,系统处于欠阻尼状态,当625.0=K ,1=ζ,系统处于临界阻尼状态, 当625.0ζ,系统处于过阻尼状态。 四、实验步骤 1.连接被测量典型环节的模拟电路。电路的输入U1接A/D 、D/A 卡的DA1输出,电路的输出U2接A/D 、D/A 卡的AD1输入。检查无误后接通电源。 2.启动计算机,在桌面双击图标 [自动控制实验系统] 运行软件。 3.测试计算机与实验箱的通信是否正常,通信正常继续。如通信不正常查找原因使通信正常后才可以继续进行实验。 测频率图 4.选中 [实验课题→系统频率特性测量→手动方式] 菜单项,鼠标单击将弹出参数设置窗口。参数设置完成后点确认等待观察波形,如图4-4所示。 图4-4 手动方式测量波特图

自动控制原理学生实验:二阶开环系统的频率特性曲线

实验三 二阶开环系统的频率特性曲线 一.实验要求 1.研究表征系统稳定程度的相位裕度γ和幅值穿越频率c ω对系统的影响。 2.了解和掌握欠阻尼二阶开环系统中的相位裕度γ和幅值穿越频率c ω的计算。 3.观察和分析欠阻尼二阶开环系统波德图中的相位裕度γ和幅值穿越频率ωc ,与计算值作比对。 二.实验内容及步骤 本实验用于观察和分析二阶开环系统的频率特性曲线。 由于Ⅰ型系统含有一个积分环节,它在开环时响应曲线是发散的,因此欲获得其开环频率特性时,还是需构建成闭环系统,测试其闭环频率特性,然后通过公式换算,获得其开环频率特性。 自然频率:T iT K = n ω 阻尼比:KT Ti 2 1= ξ (3-2-1) 谐振频率: 2 21ξωω-=n r 谐振峰值:2 121lg 20)(ξ ξω-=r L (3-2-2) 计算欠阻尼二阶闭环系统中的幅值穿越频率ωc 、相位裕度γ: 幅值穿越频率: 24241ξξωω-+? =n c (3-2-3) 相位裕度: 4 24122arctan )(180ξξξω?γ++-=+=c (3-2-4) γ值越小,Mp%越大,振荡越厉害;γ值越大,Mp%小,调节时间ts 越长,因此为使 二阶闭环系统不致于振荡太厉害及调节时间太长,一般希望: 30°≤γ≤70° (3-2-5) 本实验所构成的二阶系统符合式(3-2-5)要求。 被测系统模拟电路图的构成如图1所示。 图1 实验电路 本实验将数/模转换器(B2)单元作为信号发生器,自动产生的超低频正弦信号的频率从低到高变化(0.5Hz~16Hz ),OUT2输出施加于被测系统的输入端r (t),然后分别测量被测系统的输出信号的开环对数幅值和相位,数据经相关运算后在虚拟示波器中显示。 实验步骤: (1)将数/模转换器(B2)输出OUT2作为被测系统的输入。 (2)构造模拟电路:安置短路套及测孔联线表同笫3.2.2 节《二阶闭环系统的频率特性曲线测试》。 (3)运行、观察、记录: ① 将数/模转换器(B2)输出OUT2作为被测系统的输入,运行LABACT 程序,在界面 的自动控制菜单下的线性控制系统的频率响应分析-实验项目,选择二阶系统,就会弹出虚拟示波器的界面,点击开始,实验开始后,实验机将自动产生0.5Hz~16H 等多种频率信号,等待将近十分钟,测试结束后,观察闭环对数幅频、相频曲线和幅相曲线。 ② 待实验机把闭环频率特性测试结束后,再在示波器界面左上角的红色‘开环’或‘闭

实验报告三_频率特性测量

实验报告 课程名称: 自动控制理论实验 指导老师: 吴越 成绩: 实验名称: 频率特性测量 实验类型: 同组学生姓名: 鲍婷婷 一、实验目的和要求(必填) 二、实验内容和原理(必填) 三、主要仪器设备(必填) 四、操作方法和实验步骤 五、实验数据记录和处理 六、实验结果与分析(必填) 七、讨论、心得 一、实验目的 1. 掌握用超低频信号发生器和示波器测定系统或环节频率特性的方法; 2. 了解用TD4010型频率响应分析测试仪测定系统或环节的频率特性方法。 二、主要仪器设备 1.超低频信号发生器 2.电子模拟实验装置 3.超低频慢扫描示波器 三、实验步骤 1.测量微分积分环节的频率特性; (1)相频特性 相频特性的测试线路如图4-3-1所示,其中R 1=10k Ω、C 1=1uF 、R 2=2k Ω、C 2=50uF 。测量时,示波器的扫描旋钮指向X-Y 档。把超低频信号发生器的正弦信号同时送入被测系统和X 轴,被测系统的输出信号送入示波器Y 轴,此时在示波器上可得到一李沙育图形。 然后将椭圆移至示波器屏幕中间,椭圆与X 轴两交点的间的距离即为2X 0,将 Y 输入接地,此时得到的延X 轴光线长度 即为2X m ,因此求得θ=sin -1 (2X 0/2X m ),变化输入信号频率ω(rad/s),即可得到一 组θ(ω)。测量时必须注意椭圆光点的转动方向,以判别相频特性是超前还是迟后。当系统或环节的相频特性是迟后时,光点为逆时针转动;反之超前时,光点为顺时针转动。测试时,ω取值应匀称,否则会影响曲线的准确度。 (2) 幅频特性:示波器选择停止扫描档,超低频信号发生的正弦信号同时送入X 轴和被测系统;被测环节的输出信号仍送入Y 轴;分别将X 通道和Y 通道接地,示波器上出现的两条光线对应的两条光线长度为2X m 、2Y m ,改变频率ω,则可得一组L(ω)。

光栅衍射实验报告

字体大小:大| 中| 小2007-11-05 17:31 - 阅读:4857 - 评论:6 南昌大学实验报告 --- ---实验日期: 20071019 学号:+++++++ 姓名:++++++ 班级:++++++ 实验名称:光栅衍射 实验目的:1.进一步掌握调节和使用分光计的方法。 2.加深对分光计原理的理解。 3.用透射光栅测定光栅常数。 实验仪器:分光镜,平面透射光栅,低压汞灯(连镇流器) 实验原理: 光栅是由一组数目很多的相互平行、等宽、等间距的狭缝(或刻痕)构成的,是单缝的组合体,其示意图如图1所示。原制光栅是用金刚石刻刀在精制的平面光学玻璃上平行刻划而成。光栅上

的刻痕起着不透光的作用,两刻痕之间相当于透光狭缝。原制光栅价格昂贵,常用的是复制光栅和全息光栅。图1中的为刻痕的宽度, 为狭缝间宽度, 为相邻两狭缝上相应两点之间的距离,称为光栅常数。它是光栅基本常数之一。光栅常数的倒数为光栅密度,即光栅的单位长度上的条纹数,如某光栅密度为1000条/毫米,即每毫米上刻有1000条刻痕。 图1光栅片示意图图2光线斜入射时衍射光路图3光栅衍射光谱示意图图4载物台 当一束平行单色光垂直照射到光栅平面时,根据夫琅和费衍射理论,在各狭缝处将发生衍射,所有衍射之间又发生干涉,而这种干涉条纹是定域在无穷远处,为此在光栅后要加一个会聚透镜,在用分光计观察光栅衍射条纹时,望远镜的物镜起着会聚透镜的作用,相邻两缝对应的光程差为 (1) 出现明纹时需满足条件 (2) (2)式称为光栅方程,其中:为单色光波长;k为明纹级数。 由(2)式光栅方程,若波长已知,并能测出波长谱线对应的衍射角,则可以求出光栅常数d 。 在=0的方向上可观察到中央极强,称为零级谱线,其它谱线,则对称地分布在零级谱线的两侧,如图3所示。 如果光源中包含几种不同波长,则同一级谱线中对不同的波长有不同的衍射角,从而在不同的位置上形成谱线,称为光栅谱线。对于低压汞灯,它的每一级光谱中有4条谱线: 紫色1=435.8nm;绿色2=546.1nm;黄色两条3=577.0nm和4=579.1nm。 衍射光栅的基本特性可用分辨本领和色散率来表征。 角色散率D(简称色散率)是两条谱线偏向角之差Δ两者波长之差Δ之比:

频率特性2(精)

1 引言 频率特性是一个网络性能最直观的反映。频率特性测试仪用于测量网络的幅频特性和相频特性,是根据扫频法的测量原理设计,是一种快速、简便、实时、动态、多参数、直观的测量仪器,可广泛应用于电子工程等领域。由于模拟式扫频仪价格昂贵,不能直接得到相频特性,更不能打印网络的频率响应曲线,给使用带来诸多不便。为此,设计了低频段数字式频率特性测试仪。该测试仪采用数字直接频率合成技术专用的集成电路AD985l产生扫频信号,以单片机和FPGA为控制核心,通过A/D和D/A转换器等接口电路,实现扫频信号频率的步进调整、数字显示及被测网络幅频特性与相频特性的数显等。该系统成本低廉,扫频范围较宽 (10 Hz~1MHz),可方便地与打印机连接,实现频率特性曲线的打印。 2 多功能计数器设计方案 2.1 幅频和相频特性测量方案 方案1:利用公式H(s)=R(s)/E(s),以冲击函数为激励,则输出信号的拉氏变换与系统函数相等。但是产生性能很好的冲击函数比较困难,需要对采集的数据做FFT变换,需要占用大量的硬件和软件资源,且精度也受到限制。 方案2:扫频测试法。当系统在正弦信号的激励下,稳态时,响应信号与输入激励信号频率相同,其幅值比即为该频率的幅频响应值,而两者的相位差即为相频特性值。采用频率逐点步进的测试方法。无需对信号进行时域与频域的变换计算,通过对模拟量的测量与计算完成,且精度较高。 综上所述,选择方案2。 2.2 扫描信号产生方案 方案1:采用单片函数发生器。其频率可由外围电路控制。产生的信号频率稳定度低,抗干扰能力差,灵活性差。 方案2:采用数字锁相环频率合成技术。但锁相环本身是一个惰性环节,频率转换时间长,整个测试仪的反应速度就会很慢,而且带宽不高。 方案3:采用数字直接频率合成技术(DDFS)。以单片机和FPGA为控制核心,通过相位累加器的输出寻址波形存储器中的数据,以产生固定频率的正弦信号。该方案实现简单,频率稳定,抗干扰能力强。 综上分析,采用方案3。 2.3 幅度检测方案 方案1:采用二极管峰值检测电路。但是二极管的导通压降会带来较大误差,小信号测量精度不高,而且模拟电路易受到外部的影响,稳定性不高。

控制系统频率特性实验

实验名称控制系统的频率特性 实验序号实验时间 学生姓名学号 专业班级年级 指导教师实验成绩 一、实验目的: 研究控制系统的频率特性,及频率的变化对被控系统的影响。 二、实验条件: 1、台式计算机 2、控制理论计算机控制技术实验箱系列 3、仿真软件 三、实验原理和内容: .被测系统的方块图及原理被测系统的方块图及原理: 图—被测系统方块图 系统(或环节)的频率特性(ω)是一个复变量,可以表示成以角频率ω为参数的幅值和相角。 本实验应用频率特性测试仪测量系统或环节的频率特性。 图—所示系统的开环频率特性为: 采用对数幅频特性和相频特性表示,则式(—)表示为: 将频率特性测试仪内信号发生器产生的超低频正弦信号的频率从低到高变化,并施

加于被测系统的输入端[()],然后分别测量相应的反馈信号[()]和误差信号[()]的对数 幅值和相位。频率特性测试仪测试数据经相关器件运算后在显示器中显示。 根据式(—)和式(—)分别计算出各个频率下的开环对数幅值和相位,在半对数坐标纸 上作出实验曲线:开环对数幅频曲线和相频曲线。 根据实验开环对数幅频曲线画出开环对数幅频曲线的渐近线,再根据渐近线的斜率和转角频确定频率特性(或传递函数)。所确定的频率特性(或传递函数)的正确性可以由测量的相频曲线来检验,对最小相位系统而言,实际测量所得的相频曲线必须与由确定的 频率特性(或传递函数)所画出的理论相频曲线在一定程度上相符。如果测量所得的相位 在高频(相对于转角频率)时不等于-°(-)[式中和分别表示传递函数分子和分母 的阶次],那么,频率特性(或传递函数)必定是一个非最小相位系统的频率特性。 .被测系统的模拟电路图被测系统的模拟电路图:见图- 注意:所测点()、()由于反相器的作用,输出均为负值,若要测其正的输出点, 可分别在()、()之后串接一组的比例环节,比例环节的输出即为()、()的 正输出。 四、实验步骤: 在此实验中,利用型系统中的转换单元将提供频率和幅值均可调的基准正弦信 号源,作为被测对象的输入信号,而型系统中测量单元的通道用来观测被测环节的输出(本实验中请使用频率特性分析示波器),选择不同角频率及幅值的正弦信号源作 为对象的输入,可测得相应的环节输出,并在机屏幕上显示,我们可以根据所测得的 数据正确描述对象的幅频和相频特性图。具体实验步骤如下: ()将转换单元的端接到对象的输入端。 ()将测量单元的(必须拨为乘档)接至对象的输出端。 ()将信号发生器单元的和端断开,用号实验导线将端接至单元中的。 (由于在每次测量前,应对对象进行一次回零操作,即为对象锁零控制端,在这里,我们用的口对进行程序控制) ()在机上输入相应的角频率,并输入合适的幅值,按键后,输入的角频率开始闪烁,直至测量完毕时停止,屏幕即显示所测对象的输出及信号源,移动游标,可得 到相应的幅值和相位。 ()如需重新测试,则按“”键,系统会清除当前的测试结果,并等待输入新的角频率,准备开始进行下次测试。 ()根据测量在不同频率和幅值的信号源作用下系统误差()及反馈()的幅值、相 对于信号源的相角差,用户可自行计算并画出闭环系统的开环幅频和相频曲线。 实验数据处理及被测系统的对数幅频曲线和相频曲线 表实验数据(ωπ)

光栅衍射实验报告

光栅衍射实验报告 字体大小:大|中|小2007-11-05 17:31 - 阅读:4857 - 评论:6 南昌大学实验报告 ------实验日期: 20071019 学号:+++++++ 姓名:++++++ 班级:++++++ 实验名称:光栅衍射 实验目的:1.进一步掌握调节和使用分光计的方法。 2. 加深对分光计原理的理解。 3. 用透射光栅测定光栅常数。 实验仪器:分光镜,平面透射光栅,低压汞灯(连镇流器) 实验原理: 光栅是由一组数目很多的相互平行、等宽、等间距的狭缝(或刻痕)构成的,是单缝的组合体,其

示意图如图1所示。原制光栅是用金刚石刻刀在精制的平面光学玻璃上平行刻划而成。光栅上

,常用的是复制光栅和 的刻痕起着不透光的作用,两刻痕之间相当于透光狭缝。原制光栅价格昂贵 全息光栅。图1中的为刻痕的宽度,为狭缝间宽度,为相邻两狭缝上相应两点之间的距离,称为光栅常数。它是光栅基本常数之一。光栅常数的倒数为光栅密度,即光栅的单位长度上的条纹 数,如某光栅密度为1000条/毫米,即每毫米上刻有1000条刻痕。 图1光栅片示意图图2光线斜入射时衍射光路 图3光栅衍射光谱示意图图4载物台 当一束平行单色光垂直照射到光栅平面时,根据夫琅和费衍射理论,在各狭缝处将发生衍射, 所有衍射之间又发生干涉,而这种干涉条纹是定域在无穷远处,为此在光栅后要加一个会聚透镜, 在用分光计观察光栅衍射条纹时,望远镜的物镜起着会聚透镜的作用,相邻两缝对应的光程差为 (1) 岀现明纹时需满足条件 (2) (2 )式称为光栅方程,其中:为单色光波长;k为明纹级数。 由(2 )式光栅方程,若波长已知,并能测岀波长谱线对应的衍射角,则可以求岀光栅常数 d。 在=0的方向上可观察到中央极强,称为零级谱线,其它谱线,则对称地分布在零级谱线的 两侧,如图3所示。 如果光源中包含几种不同波长,则同一级谱线中对不同的波长有不同的衍射角,从而在不同 的位置上形成谱线,称为光栅谱线。对于低压汞灯,它的每一级光谱中有4条谱线: 紫色1=435.8nm; 绿色2=546.1 nm; 黄色两条3=577.0nm 和4=579.1 nm 。 衍射光栅的基本特性可用分辨本领和色散率来表征。

实验三-模拟一阶系统频率特性测试实验

实验三-模拟一阶系统频率特性测试实验

实验三模拟一阶系统频率特性测试实验 一、实验目的 学习频率特性的测试方法,根据所测量的数据,绘制一阶惯性环节的开环伯德图,并求取系统的开环传递函数。 二、实验内容 利用频域法的理论,从一阶系统的开关频率特性分析闭环系统的特性。根据给定的一阶频域测试电路,使用所给的元器件搭建实验电路。利用信号发生器所产生的正弦波作为输入信号,用数字存储示波器观察并测量系统在不同频率输入信号的作用下,输出信号的幅值和相位变化情况。 1.频域分析法原理 频率特性的频域分析方法是一种图解分析方法,它根据系统的开环频率特性去判断闭环系统的性能,能够方便地分析系统中的参数对系统暂态响应的影响,从而找到改善系统性能的途径。 实验表明,对于稳定的线性定常系统,输入正弦信号所产生系统输出的稳态分量仍然是与输入信号同频率的信号,而幅值和相位的变化则是频率ω的函数。

因此,定义正弦信号输入下,系统的稳态输出与系统的输入之比为系统的频率特性,并记为 ) ()()(ωωωj U j Y j G = 式中,)(ωj G —系统的频率特性;)(ωj Y —系统的稳态输出;)(ωj U —系统的正弦输入 对一个线性系统来说,在正弦信号的作用下,系统的稳态输出仍然是一个正弦函数,其频率与输入信号的频率相同,一般情况下,输出的幅值小于输入幅值,输出的相位滞后于输入相位。当输入信号的幅值不改变而频率发生变化时,输出信号的幅值一般会随输入正弦信号频率增加而减小;相位滞后角度一般都会随输入正弦信号频率的增加而增加。 一阶模拟环节电路图如下图所示 R610k R710k R3 10k 10k R815k R110k R2 10k C1 1uF U c(t) U r(t) 其中F 1为惯性环节;F 2为放大环节(放大倍数K=5.1)。 这个系统的传递函数为:

频率特性的测量实验报告

课程名称: 控制理论乙 指导老师: 成绩: 实验名称: 频率特性的测量 实验类型: 冋组学生姓名: 一、实验目的和要求(必填) 二、实验内容和原理(必填) 三、主要仪器设备(必填) 四、操作方法和实验步骤 五、实验数据记录和处理 六、实验结果与分析(必填) 七、讨论、心得 、实验目的和要求 1掌握用李沙育图形法,测量各典型环节的频率特性; 2 ?根据所测得的频率特性,作出伯德图,据此求得环节的传递函数。 、实验内容和原理 1. 实验内容 (1) R-C 网络的频率特性。图 5-2为滞后--超前校正网络的接线图,分别测试其幅频特性和相频特性。 1 (2)闭环频率特性的测试 2. 实验原理 对于稳定的线性定常系统或环节,当其输入端加入一正弦信号 X (t )二X m sin ?,t ,它的稳态输出是 T --------- 1 10K 1 O-QIuF I RJ Ci 1DK Ur Uc 被测的二阶系统如图 5-3所示,图5-4为它的模拟电路图。 取参考值 R 。=51K , R i 接470K 的电位器,R^510K , 200K

与输入信号同频率的正弦信号,但其幅值和相位随着输入信号频率 Y(t) =Y m Sin (co t 十护)=G( j co ) sin (^t 只要改变输入信号的频率,就可以测得输出信号与输入信号的幅值比 ■■(■ ■)。不断改变x(t)的频率,就可测得被测环节(系统)的幅频特性和相频特性。 本实验采用李沙育图形法,图 5-1为测试的方框图 在表(1)中列出了超前于滞后时相位的计算公式和光点的转向。 相 角 9 前 超 丄 J 虽 / 计算公式 in 1m)-1 zE

模拟滤波器频率特性测试

实验二 模拟滤波器频率特性测试 一、实验目的 1、掌握低通无源滤波器的设计; 2、学会将无源低通滤波器向带通、高通滤波器的转换; 3、了解常用有源低通滤波器、高通滤器、带通滤波器、带阻滤波器的结构与特性; 二、预备知识 1、 学习“模拟滤波器的逼近”; 2、 系统函数的展开方法; 3、低通滤波器的结构与转换方法; 三、实验原理 模拟滤波器根据其通带的特征可分为: (1)低通滤波器:允许低频信号通过,将高频信号衰减; (2)高通滤波器:允许高频信号通过,将低频信号衰减; (3)带通滤波器:允许一定频带范围内的信号通过,将此频带外的信号衰减; (4)带阻滤波器:阻止某一频带范围内的信号通过,而允许此频带以外的信号衰减; 各种滤波器的频响特性图: 图2一1低通滤波器 图2一2高通滤波器 图2一3带通滤波器 图2一4带阻滤波器 在这四类滤波器中,又以低通滤波器最为典型,其它几种类型的滤波器均可从它转化而来。 1、系统的频率响应特性是指系统在正弦信号激励下系统的稳态响应随激励信号频率变化的情况。用矢量形式表示: ()()()j H j H j e φωωω= 其中:|H(j ω)|为幅频特性,表示输出信号与输入信号的幅度比随输入信号频率的变化关系;φ(ω)为相频特性,表示输出信号与输入信号的相位差随输入信号频率的变化关系。

2、H(j ω)可根据系统函数H(s)求得:H(j ω)= H(s)︱s=j ω因此,对于给定的电路可根椐S 域模型先求出系统函数H(s),再求H(j ω),然后讨论系统的频响特性。 3、频响特性的测量可分别测量幅频特性和相频特性,幅频特性的测试采用改变激励信号的频率逐点测出响应的幅度,然后用描图法描出幅频特性曲线;相频特性的测量方法亦可改变激励信号的频率用双踪示波器逐点测出输出信号与输入信号的延时τ,根椐下面的公式推算出相位差 ()2T τφωπ = 当响应超前激励时为 ()φω正,当响应落后激励时()φω为负。 四、实验原理图 图2一5实验电路 图中:R=38k Ω,C=3900pF ,红色框内为实验板上的电路。 五、实验内容及步骤: 将信号源CH1的信号波形调为正弦波,信号的幅度调为Vpp=10V 。 1、RC 高通滤波器的频响特性的测量: 将信号源的输出端(A)接实验板的IN1端,滤波后的信号OUT1接示波器的输入(B) 。根据被测电路的参数及系统的频特性,将输入信号的频率从低到高逐次改变十 次以上(幅度保持Vipp=10v) , 逐个测量输出信号的峰峰值大小(Vopp)及输出信号与输入信号的相位差 ,并将测量数据填入表一: 表一 2.RC 低通滤波器的频响特性的测量: 将信号源的输出(A)接实验板的IN2,滤波后的输出信号OUT2接示波器的输入(B) 。根据被测电路的参数及系统的幅频特性,将输入信号的频率从低到高逐次改变十 次以上(幅度保持Vipp=10v) , 逐个测量输出信号的峰峰值大小(Vopp) 及Φ(ω),并将测量数据填入表二: 表二 Vi(V) 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 f(Hz) 150 200 300 350 400 450 500 550 1000 1500 2000 2500 3000 3500 4000 Vo(v) 1.44 1.2 1.26 2.96 3.28 3.60 4 4.24 6.60 7.44 8.00 8.40 8.72 8.76 8.88 φ(ω)(10 -2 ) 5.024 3.768 1.884 1.6328 1.5072 1.256 1.1304 1.0048 0.3768 0.1884 0.11304 0.08792 0.05024 0.04396 0.03768 Vi(V) 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10

典型环节和系统频率特性地测量

课程名称:_________控制理论(甲)实验_______指导老师:_____ ____成绩:__________________ 实验名称:___典型环节和系统频率特性的测量___实验类型:________________同组学生:__________ 一、实验目的 二、实验原理 三、实验接线图 四、实验设备 五、实验步骤 六、实验数据记录 七、实验数据分析 八、实验结果或结论 一、实验目的 1.了解典型环节和系统的频率特性曲线的测试方法; 2.根据实验求得的频率特性曲线求取传递函数。 二、实验原理 1.系统(环节)的频率特性 设G(S)为一最小相位系统(环节)的传递函数。如在它的输入端施加一幅值为X m 、频率为ω的正弦信号,则系统的稳态输出为 )sin()()sin(?ωω?ω+=+=t j G Xm t Y y m 由式①得出系统输出,输入信号的幅值比相位差 )() (ωωj G Xm j G Xm Xm Ym == (幅频特性) )()(ωωφj G ∠= (相频特性) 式中)(ωj G 和)(ωφ都是输入信号ω的函数。 2.频率特性的测试方法 2.1 沙育图形法测试 2.1.1幅频特性的测试 由于 m m m m X Y X Y j G 22)(= = ω 改变输入信号的频率,即可测出相应的幅值比,并计算 m m X Y A L 22log 20)(log 20)(==ωω (d B ) 其测试框图如下所示:

图5-1 幅频特性的测试图(沙育图形法) 注:示波器同一时刻只输入一个通道,即系统(环节)的输入或输出。 2.1.2相频特性的测试 图5-2 相频特性的测试图(沙育图形法) 令系统(环节)的输入信号为:t X t X m ωsin )(= (5-1) 则其输出为 )sin()(φω+=t Y t Y m (5-2) 对应的沙育图形如图5-2所示。若以t 为参变量,则)(t X 与)(t Y 所确定点的轨迹将在示波器的屏幕上形成一条封闭的曲线(通常为椭圆),当t=0时,0)0(=X 由式(5-2)得 )sin()0(φm Y Y = 于是有 m m Y Y Y Y 2) 0(2sin )0(sin )(1 1--==ωφ (5-3) 同理可得 m X X 2) 0(2sin )(1 -=ωφ (5-4) 其中: )0(2Y 为椭圆与Y 轴相交点间的长度; )0(2X 为椭圆与X 轴相交点间的长度。 式(5-3)、(5-4)适用于椭圆的长轴在一、三象限;当椭圆的长轴在二、四时相位φ的计算公式变为 m Y Y 2) 0(2sin 180)(1 0--=ωφ 或 m X X 2)0(2sin 180)(10--=ωφ

频率特性的测量实验报告

课程名称: 控制理论乙 指导老师: 成绩: 实验名称: 频率特性的测量 实验类型: 同组学生姓名: 一、实验目的和要求(必填) 二、实验内容和原理(必填) 三、主要仪器设备(必填) 四、操作方法和实验步骤 五、实验数据记录和处理 六、实验结果与分析(必填) 七、讨论、心得 一、实验目的和要求 1.掌握用李沙育图形法,测量各典型环节的频率特性; 2.根据所测得的频率特性,作出伯德图,据此求得环节的传递函数。 二、实验内容和原理 1.实验内容 (1)R-C 网络的频率特性。图5-2为滞后--超前校正网络的接线图,分别测试其幅频特性和相频特性。 (2)闭环频率特性的测试 被测的二阶系统如图5-3所示,图5-4为它的模拟电路图。 取参考值051R K =,1R 接470K 的电位器,2510R K =,3200R K = 2.实验原理 对于稳定的线性定常系统或环节,当其输入端加入一正弦信号()sin m X t X t ω=,它的稳态输出是一

与输入信号同频率的正弦信号,但其幅值和相位随着输入信号频率ω的改变而改变。输出信号为 ()sin()()sin()m Y t Y t G j t ω? ωω?=+=+ 其中()m m Y G j X ω= ,()arg ()G j ?ωω= 只要改变输入信号的频率,就可以测得输出信号与输入信号的幅值比()G j ω和它们的相位差 ()?ω。不断改变()x t 的频率,就可测得被测环节(系统)的幅频特性和相频特性。 本实验采用李沙育图形法,图5-1为测试的方框图 在表(1)中列出了超前于滞后时相位的计算公式和光点的转向。

光栅衍射实验报告

光栅衍射实验 系别 精仪系 班号 制33 姓名 李加华 学号 2003010541 做实验日期 2005年05月18日 教师评定____________ 一、0i =时,测定光栅常数和光波波长 光栅编号:___2____;?=仪___1’___;入射光方位10?=__7°6′__;20?=__187°2′__。 由衍射公式,入射角0i =时,有sin m d m ?λ=。 代入光谱级次m=2、绿光波长λ=546.1及测得的衍射角m ?=19°2′,求得光栅常数 ()2546.13349sin sin 192/60m m nm d nm λ??= ==+? cot cot 2m m m d d ?????==?=? ()4cot 192/601/60 5.962101802180ππ-????=+??=? ? ????? 445.96210 5.962103349 1.997d d nm nm --?=??=??= ()33492d nm =± 代入其它谱线对应的光波的衍射角,得 ()3349sin 2013/60sin 578.72 m nm d nm m ?λ?+?===黄1

()3349sin 209/60576.82 nm nm λ?+? = =黄2 ()3349sin 155/60435.72 nm nm λ?+?==紫 λ λ?== 578.70.4752nm nm λ?==黄1 576.80.4720nm nm λ?= =黄2 435.70.4220nm nm λ?==紫()578.70.5nm λ=±黄1,()576.80.5nm λ=±黄2,()435.70.4nm λ=±紫 由测量值推算出来的结果与相应波长的精确值十分接近,但均有不同程度的偏小。由于实验中只有各个角度是测量值(给定的绿光波长与级数为准确值),而分光计刻度盘读数存在的误差为随机误差,观察时已将观察显微镜中心竖直刻线置于谱线中心——所以猜测系统误差来自于分光镜调节的过程。 二、150'i =?,测量波长较短的黄线的波长 光栅编号:___2____;光栅平面法线方位1n ?=__352°7′__;2n ?=__172°1′__。

频率特性测量

实验二 自控系统频率特性测量 一、实验目的 1、掌握测取系统或环节频率特性的基本方法; 2、由开环对数频率特性求取传递函数。 二、仪器、设备 微型计算机(安装有EWB 软件或MA TLAB 软件) 1台 三、实验原理 线性系统(环节)在正弦信号输入下的稳态输出为一个与输入信号同频率的正弦信号,但其振幅和相位与输入信号不同,并随输入信号的频率变化而变化,测取不同频率下的输入输出信号的振幅比,相位差,即可求得该系统(环节)的幅频特性A (ω)相频特性φ(ω),从而获得该系统(环节)的频率特性G (j ω)。 G (j ω)= A (ω)e j φ(ω) 测取系统(环节)的频率特性的方法有几种,本实验采用函数发生器和频率测试仪来测试系统的频率特性:保持输入正弦信号幅值不变,估算出系统的转折频率后,设置输入信号的频率从系统(最低)转折频率的十分之一到(最高)转折频率的十倍范围,通过频率测试仪测得系统的频率特性。 四、实验内容: 1、) 11.0(12 )(1+= S S S G (1)在EWB 实验软件中构建一个开环传递函数为:) 11.0(1 )(1+= S S S G 的实验模拟电路; (2)测试频率范围(建议在系统(最低)转折频率的“十分之一”到(最高)转折频率的“十倍”的频率范围内),在此范围内选择至少12个点进行测量,并通过描点法画出系统波德图。 (3)测量出该系统的穿越频率c ω、相角裕量γ和幅值裕量g K 。 (4)计算出该系统的穿越频率c ω、相角裕量γ和幅值裕量g K 的理论值,并与测量出的实验值比较。 2、) 11.0() 9.01(6)(22++= S S s S G (1)按同样的方法构建一个开环传递函数为:) 11.0() 9.01(6)(2 2++= S S s S G 的单位反馈系统的实验模拟电路; (2)测试频率范围(建议在系统(最低)转折频率的“十分之一”到(最高)转折频率的“十倍”的频率范围内),在此范围内选择至少12个点进行测量(选择本实验的12个点的频率与系统一相同),并通过描点法画出系统波德图。

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