当前位置:文档之家› Bridgman的晶体生长技术

Bridgman的晶体生长技术

Bridgman的晶体生长技术
Bridgman的晶体生长技术

Bridgman的晶体生长技术

Bridgman的晶体生长技术

1.Bridgeman法晶体生长技术简介

Bridgman法是由Bridgman于1925年提出的。传统Bridgman法晶体生长的基本原理如图.1所示。将晶体生长的原料装入合适的容器中,在具有单向温度梯度的Bridgman长晶炉内进行生长。Bridgman长晶炉通常采用管式结构,并分为3个区域,即加热区、梯度区和冷却区。加热区的温度高于晶体的熔点,冷却区低于晶体熔点,梯度区的温度逐渐由加热区温度过渡到冷却区温度,形成一维的温度梯度。首先将坩埚置于加热区进行熔化,并在一定的过热度下恒温一段时间,获得均匀的过热熔体。然后通过炉体的运动或坩埚的移动使坩埚由加热区穿过梯度区向冷却区运动。坩埚进入梯度区后熔体发生定向冷却,首先达到低于熔点温度的部分发生结晶,并随着坩埚的连续运动而冷却,结晶界面沿着与其运动相反的方向定向生长,实现晶体生长过程的连续进行。

图1Bridgman法晶体生长的基本原理

(a)基本结构;(b)温度分布。

图1.所示坩埚轴线与重力场方向平行,高温区在上方,低温区在下方,坩埚从上向下移动,实现晶体生长。该方法是最常见的Bridgman法,称为垂直Bridgman法。除此之外,另一种应用较为普遍的是的水平Bridgman法其温度梯度(坩埚轴线)方向垂直于重力场。垂直

Bridgman法利于获得圆周方向对称的温度场和对流模式,从而使所生长的晶体具有轴对称的性质;而水平Bridgman法的控制系统相对简单,并能够在结晶界面前沿获得较强的对流,进行晶体生长行为控制。同时,水平Bridgman法还有利于控制炉膛与坩埚之间的对流换热,获得更高的温度梯度。此外,也有人采用坩埚轴线与重力场成一定角度的倾斜Bridgman法进行晶体生长。而垂直Bridgman法也可采用从上向下生长的方式。

2.Bridgman法的结构组成

典型垂直Bridgman法晶体生长设备包括执行单元和控制单元。其中执行单元的结构,由炉体、机械传动系统和支撑结构3个部分构成。炉体部分采用管式炉,通过多温区的结构设计实现一维的温度分布,获得晶体生长的温度场。生长晶体的坩埚通过一个支撑杆放置在炉膛内的一维温度场中,如图1所示。机械传动部分包括电机和减速机构。减速机构将电机的转动转换为平移运动,控制坩埚与温度场的相对运动。可以采取控制炉体的上升或坩埚的下降两种方式实现晶体生长速率的控制。通常Bridgman生长设备还包括坩埚旋转机构,通过另外一个电机驱动坩埚支撑杆转动,控制坩埚在炉膛内按照设定的方式和速率转动,进行温度场和对流控制。支撑结构提供一个稳定的平台,用于固定炉体和机械传动系统,实现其相对定位。在支撑结构中设计位置调节结构和减震结构,保证晶体生长速率的稳定性。控制单元包括温度控制和机械传动控制。温度控制主要进行不同加热段加热功率的调节,形成恒定的温度场。通常通过热电偶等测温元件提供温度信息,进行实时控制。机械传动控制部分进行电机转速控制,从而实现坩埚或炉体移动速度的控制,以及坩埚的旋转。

3.坩埚的选材与结构设计

坩埚是直接与所生长的晶体及其熔体接触的,并且对晶体生长过程的传热特性具有重要的影响。因此,坩埚材料的选择是晶体生长过程能否实现以及晶体结晶质量优劣的控制因素之一。坩埚材料的选择是由所生长的晶体及其在熔融状态下的性质决定的。对于给定的晶体材料,所选坩埚材料应该满足以下物理化学性质:

(1)有较高的化学稳定性,不与晶体或熔体发生化学反应。

(2)具有足够高的纯度,不会在晶体生长过程中释放出对晶体有害的杂质、污染晶体材料,或与晶体发生粘连。

(3)具有较高的熔点和高温强度,在晶体生长温度下仍保持足够高的强度,并且在高温下不会发生分解、氧化等。

(4)具有一定的导热能力,便于在加热区对熔体加热或在冷却区进行晶体的冷却。

但导热能力太强对晶体生长是不利的。坩埚的导热特性对晶体生长过程的影响较为复杂,通过具体的传热计算才能准确理解。

(5)具有可加工性,便于根据晶体生长的需要加工成不同的形状。特别是在生长高蒸气压或易氧化的材料时,要进行坩埚的焊封,对其可加工性和高温强度要求更高。(6)具有与晶体材料匹配的热膨胀特性,不会在晶体生长过程中对晶体形成较大的压应力,并在晶体生长结束后易于取出。

4.温度场的控制方法

如图1所示,晶体的结晶过程是在温度梯度区内完成的,维持一个稳定的温度梯度是晶体生长过程中温度控制的关键。从维持平面结晶界面的角度考虑,温度梯度应该较大,但过大的温度梯度可能导致晶体中出现较大的应力,对晶体结晶质量的控制不利。同时,过大的温度梯度也会带来温度控制技术上的困难。因此,实际温度梯度应针对具体的晶体材料,综合多个因素确定。温度梯度的控制通常是通过控制加热区的温度、冷却区的温度及梯度区的长度实现的。假定加热区的温度恒定为T1,冷却区的温度恒定为T2,梯度区的长度为L,则梯度区的平均温度梯度为:

G = (T1-T2)/L

实际上,由于炉膛内的温度分布是由传热原理控制的,其温度的分布是非线性的,可以通过实际测温或计算方法确定结晶界面附近的温度分布及梯度。同时,值得指出的是,坩埚的存在将对温度分布产生影响,因此需要将炉膛、坩埚以及其中的熔体和晶体作为一个整体的换热体系进行分析计算。从晶体生长的角度考虑,希望加热区和冷却区的温度分布尽可能均匀,而梯度区的炉膛最好是绝热的,从而可以获得理想的一维温度场。

5. 生长速率的控制方法

在Bridgman法晶体生长过程中,生长速率的控制是通过控制炉体和坩埚的相对运动实现的。对于图1所示的垂直Bridgman法晶体生长过程,可以通过控制炉体均匀上行或坩埚均匀下行的速率实现,还可以同时控制炉体和坩埚同向或反向运动,控制其相对速率,坩埚与炉体的相对运动速度称为抽拉速率,记为犞d。当两者反向运动时,抽拉速度是二者运动速率的和,可以获得较大的生长速率;而二者同向运动时,抽拉速率是二者运动速度的差,可以获得更低的抽拉速率。晶体的实际生长速率犚,即结晶界面的移动速率,是由抽拉速度决定的,但二者通常并不相等。Bridgman法晶体生长过程中,抽拉速率的控制是由一个高精度的机电控制系统完成的。该系统不仅要实现电机的旋转运动向直线运动的转换,而且由于晶体

生长的低速要求,需要实现大比率的减速。较传统的机械系统是采用大减速比的减速机构对电机的转速进行减速后驱动滚珠丝杠转动。目前随着机电控制技术的发展,采用步进电机直接驱动滚珠丝杠即可获得很低的转速,实现低的抽拉速率。对于大多数晶体材料,所要求的典型抽拉速率在每小时1mm乃至0.1mm的数量级。

晶体生长方法

晶体生长方法 一、提拉法 晶体提拉法的创始人是J. Czochralski,他的论文发表于1918年。提拉法是熔体生长中最常用的一种方法,许多重要的实用晶体就是用这种方法制备的。近年来,这种方法又得到了几项重大改进,如采用液封的方式(液封提拉法,LEC),能够顺利地生长某些易挥发的化合物(GaP等);采用导模的方式(导模提拉法)生长特定形状的晶体(如管状宝石和带状硅单晶等)。所谓提拉法,是指在合理的温场下,将装在籽晶杆上的籽晶下端,下到熔体的原料中,籽晶杆在旋转马达及提升机构的作用下,一边旋转一边缓慢地向上提拉,经过缩颈、扩肩、转肩、等径、收尾、拉脱等几个工艺阶段,生长出几何形状及内在质量都合格单晶的过程。这种方法的主要优点是:(a)在生长过程中,可以方便地观察晶体的生长情况;(b)晶体在熔体的自由表面处生长,而不与坩埚相接触,这样能显著减小晶体的应力并防止坩埚壁上的寄生成核;(c)可以方便地使用定向籽晶与“缩颈”工艺,得到完整的籽晶和所需取向的晶体。提拉法的最大优点在于能够以较快的速率生长较高质量的晶体。提拉法中通常采用高温难熔氧化物,如氧化锆、氧化铝等作保温材料,使炉体内呈弱氧化气氛,对坩埚有氧化作用,并容易对熔体造成污杂,在晶体中形成包裹物等缺陷;对于那些反应性较强或熔点极高的材料,难以找到合适的坩埚来盛装它们,就不得不改用其它生长方法。 二、热交换法

热交换法是由D. Viechnicki和F. Schmid于1974年发明的一种长晶方法。其原理是:定向凝固结晶法,晶体生长驱动力来自固液界面上的温度梯度。特点:(1) 热交换法晶体生长中,采用钼坩埚,石墨加热体,氩气为保护气体,熔体中的温度梯度和晶体中的温度梯度分别由发热体和热交换器(靠He作为热交换介质)来控制,因此可独立地控制固体和熔体中的温度梯度;(2) 固液界面浸没于熔体表面,整个晶体生长过程中,坩埚、晶体、热交换器都处于静止状态,处于稳定温度场中,而且熔体中的温度梯度与重力场方向相反,熔体既不产生自然对流也没有强迫对流;(3) HEM法最大优点是在晶体生长结束后,通过调节氦气流量与炉子加热功率,实现原位退火,避免了因冷却速度而产生的热应力;(4) HEM可用于生长具有特定形状要求的晶体。由于这种方法在生长晶体过程中需要不停的通以流动氦气进行热交换,所以氦气的消耗量相当大,如Φ30 mm的圆柱状坩埚就需要每分钟38升的氦气流量,而且晶体生长周期长,He气体价格昂贵,所以长晶成本很高。 三、坩埚下降法 坩埚下降法又称为布里奇曼-斯托克巴格法,是从熔体中生长晶体的一种方法。通常坩埚在结晶炉中下降,通过温度梯度较大的区域时,熔体在坩埚中,自下而上结晶为整块晶体。这个过程也可用结晶炉沿着坩埚上升方式完成。与提拉法比较该方法可采用全封闭或半封闭的坩埚,成分容易控制;由于该法生长的晶体留在坩埚中,因而适于生长大块晶体,也可以一炉同时生长几块晶体。另外由于工艺条件

Bridgman的晶体生长技术

Bridgman的晶体生长技术

Bridgman的晶体生长技术 1.Bridgeman法晶体生长技术简介 Bridgman法是由Bridgman于1925年提出的。传统Bridgman法晶体生长的基本原理如图.1所示。将晶体生长的原料装入合适的容器中,在具有单向温度梯度的Bridgman长晶炉内进行生长。Bridgman长晶炉通常采用管式结构,并分为3个区域,即加热区、梯度区和冷却区。加热区的温度高于晶体的熔点,冷却区低于晶体熔点,梯度区的温度逐渐由加热区温度过渡到冷却区温度,形成一维的温度梯度。首先将坩埚置于加热区进行熔化,并在一定的过热度下恒温一段时间,获得均匀的过热熔体。然后通过炉体的运动或坩埚的移动使坩埚由加热区穿过梯度区向冷却区运动。坩埚进入梯度区后熔体发生定向冷却,首先达到低于熔点温度的部分发生结晶,并随着坩埚的连续运动而冷却,结晶界面沿着与其运动相反的方向定向生长,实现晶体生长过程的连续进行。 图1Bridgman法晶体生长的基本原理 (a)基本结构;(b)温度分布。 图1.所示坩埚轴线与重力场方向平行,高温区在上方,低温区在下方,坩埚从上向下移动,实现晶体生长。该方法是最常见的Bridgman法,称为垂直Bridgman法。除此之外,另一种应用较为普遍的是的水平Bridgman法其温度梯度(坩埚轴线)方向垂直于重力场。垂直

Bridgman法利于获得圆周方向对称的温度场和对流模式,从而使所生长的晶体具有轴对称的性质;而水平Bridgman法的控制系统相对简单,并能够在结晶界面前沿获得较强的对流,进行晶体生长行为控制。同时,水平Bridgman法还有利于控制炉膛与坩埚之间的对流换热,获得更高的温度梯度。此外,也有人采用坩埚轴线与重力场成一定角度的倾斜Bridgman法进行晶体生长。而垂直Bridgman法也可采用从上向下生长的方式。 2.Bridgman法的结构组成 典型垂直Bridgman法晶体生长设备包括执行单元和控制单元。其中执行单元的结构,由炉体、机械传动系统和支撑结构3个部分构成。炉体部分采用管式炉,通过多温区的结构设计实现一维的温度分布,获得晶体生长的温度场。生长晶体的坩埚通过一个支撑杆放置在炉膛内的一维温度场中,如图1所示。机械传动部分包括电机和减速机构。减速机构将电机的转动转换为平移运动,控制坩埚与温度场的相对运动。可以采取控制炉体的上升或坩埚的下降两种方式实现晶体生长速率的控制。通常Bridgman生长设备还包括坩埚旋转机构,通过另外一个电机驱动坩埚支撑杆转动,控制坩埚在炉膛内按照设定的方式和速率转动,进行温度场和对流控制。支撑结构提供一个稳定的平台,用于固定炉体和机械传动系统,实现其相对定位。在支撑结构中设计位置调节结构和减震结构,保证晶体生长速率的稳定性。控制单元包括温度控制和机械传动控制。温度控制主要进行不同加热段加热功率的调节,形成恒定的温度场。通常通过热电偶等测温元件提供温度信息,进行实时控制。机械传动控制部分进行电机转速控制,从而实现坩埚或炉体移动速度的控制,以及坩埚的旋转。 3.坩埚的选材与结构设计 坩埚是直接与所生长的晶体及其熔体接触的,并且对晶体生长过程的传热特性具有重要的影响。因此,坩埚材料的选择是晶体生长过程能否实现以及晶体结晶质量优劣的控制因素之一。坩埚材料的选择是由所生长的晶体及其在熔融状态下的性质决定的。对于给定的晶体材料,所选坩埚材料应该满足以下物理化学性质: (1)有较高的化学稳定性,不与晶体或熔体发生化学反应。 (2)具有足够高的纯度,不会在晶体生长过程中释放出对晶体有害的杂质、污染晶体材料,或与晶体发生粘连。 (3)具有较高的熔点和高温强度,在晶体生长温度下仍保持足够高的强度,并且在高温下不会发生分解、氧化等。 (4)具有一定的导热能力,便于在加热区对熔体加热或在冷却区进行晶体的冷却。

盐类结晶实验报告-结晶与晶体生长形态观察

盐类结晶实验报告 一、实验名称: 盐类结晶与晶体生长形态观察 二、实验目的: 1.通过观察盐类的结晶过程,掌握晶体结晶的基本规律及特点。为理解金属的结晶理论建立感性认识。 2.熟悉晶体生长形态及不同结晶条件对晶粒大小的影响。观察具有枝晶组织的金相照片及其有枝晶特征的铸件或铸锭表面,建立金属晶体以树枝状形态成长的直观概念。 3.掌握冷却速度与过冷度的关系。 三、实验原理概述: 金属及其合金的结晶是在液态冷却的过程中进行的,需要有一定的过冷度,才能开始结晶。而金属和合金的成分、液相中的温度梯度和凝固速度是影响成分过冷的主要因素。晶体的生长形态与成分过冷区的大小密切相关,在成分过冷区较窄时形成胞状晶,而成分过冷区较大时,则形成树枝晶。由于液态金属的结晶过程难以直接观察,而盐类亦是晶体物质,其溶液的结晶过程和金属很相似,区别仅在于盐类是在室温下依靠溶剂蒸发使溶液过饱和而结晶,金属则主要依靠过冷,故完全可通过观察透明盐类溶液的结晶过程来了解金属的结晶过程。 在玻璃片上滴一滴接近饱和的热氯化氨(NH4CI)或硝酸铅[Pb(NO3)2]水溶液,随着水分蒸发,温度降低,溶液逐渐变浓而达到饱和,继而开始结晶。我们可观察到其结晶大致可分为三个阶段:第一阶段开始于液滴边缘,因该处最薄,蒸发最快,易于形核,故产生大量晶核而先形成一圈细小的等轴晶(如图1所示),接着形成较粗大的柱状晶(如图2所示)。因液滴的饱和程序是由外向里,故位向利于生长的等轴晶得以继续长大,形成伸向中心的柱状晶。第三阶段是在液滴中心形成杂乱的树枝状晶,且枝晶间有许多空隙(如图3所示)。这是因液滴已越来越薄,蒸发较快,晶核亦易形成,然而由于已无充足的溶液补充,结晶出的晶体填布满枝晶间的空隙,从而能观察到明显的枝晶。 四、材料与设备: 1)配置好的质量分数为25%~30%氯化铵水溶液。 2)玻璃片、量筒、培养皿、玻璃棒、小烧杯、氯化铵、冰块。 3)磁力搅拌器、温度计。 4)生物显微镜。 五、实验步骤: 1.将质量分数为25%~30%氯化铵水溶液,加热到80~90℃,观察在下列条件下的结晶过程及晶体生长形态。 1)将溶液倒入培养皿中空冷结晶。 2)将溶液滴在玻璃片上,在生物显微镜下空冷结晶。 3)将溶液滴入试管中空冷结晶。 4)在培养皿中撒入少许氢化氨粉末并空冷结晶。 5)将培养皿、试管置于冰块上结晶。 2.比较不同条件下对氯化铵水溶液空冷结晶组织的影响: 氯化钠溶液在玻璃皿中空冷时由于玻璃皿边缘与中心的介质不同,造成氯化钠溶液洁净的不均匀,从而造成晶粒的大小不同;另外撒入少量的氯化铵粉末后粉末在促进结晶的同时也成为氯化铵的成长中心,析出的氯化铵依附在撒入的粉末上成长,即撒入的粉末有引导结晶的作用,实际的形态和撒入的量、分布有关。

晶体生长理论发展现状

晶体生长理论发展现状 人造晶体是一种重要的材料,随着科技的进步,合成手段不断的发展,晶体在精密光学仪器,激光武器,甚至日常生活等方面扮演越来越重要的角色。近些年来,基础学科(如物理学,化学)和制备技术的不断进步,晶体生长理论的研究无论是研究手段、研究对象,还是研究层次都得到了很快的发展,已经成为一门独立的学科。晶体生长理论在经历了Bravais法则、负离子配位多面体生长基元模型等理论后日趋发展完善。但近些年来的研究,特别是对空心晶体的研究显示了晶体生长理论新的迹象。周午纵等提出的逆向晶体生长理论不仅完善了晶体生长的理论,同时也为我们更好地认识空心晶体,研究制备晶体提供了新的途径。传统晶体生长理论 传统晶体生长理论认为,晶体的形成是由晶体的成核和生长两个过程组成。完美的多面体外形是以晶核为中心逐渐长大形成的,经历基元的形成、基元在生长界面上的吸附、基元在界面的运动和基元在界面上结晶和脱附等过程。传统晶体生长理论自开始研究,主要经历了以下5个阶段: 1.晶体平衡形态理论:主要包括布拉维法则(Law of Bravais)、Curie-Wulff 生长定律、BFDH法则(或称为Donnay-Harker原理)以及Frank运动学理论等。晶体平衡形态理论从晶体内部结构、应用结晶学和热力学的基本原理来探讨晶体的生长,注重于晶体的宏观和热力学条件。以晶体平衡形态理论解释晶体生长形态--晶面的发育。但它们共同的局限性是:没有考虑外部因素(环境相和生长条件)变化对晶体生长的影响,无法解释晶体生长形态的多样性。 2.界面生长理论:主要有完整光滑界面模型、非完整光滑界面模型、粗糙界面模型、弥散界面模型、粗糙化相变理论等理论或模型。界面生长理论重点讨论晶体与环境的界面形态在晶体生长过程中的作用。以界面生长理论解释晶核长大的动力学模型。现有的界面结构模型有以下局限性:晶体结构过于简单;没有考虑环境相(溶液、熔体或气体)的结构;在界面上吸附的基元限定为单个原子。 3.PBC(周期键链)理论:1952年,P.Hartman、W.G.Perdok提出,把晶体划分为三种界面:F面、K面和S面。BC理论主要考虑了晶体的内部结构——周期性键链,而没有考虑环境相对于晶体生长的影响。对于环境相结构效应的忽

SiC晶体生长工艺装备

SiC晶体生长工艺装备 一、SiC晶体生长工艺装备发展现状 由于SiC具有宽带隙、高临界击穿电场、高热导率、高载流子饱和浓度、化学性能稳定、高硬度、抗磨损等特点,使得它在军用和航天领域的高温、高频、大功率光电器件方面具有优越的应用价值。具体来看,其导热性能是Si材料的3倍以上;在相同反压下,SiC材料的击穿电场强度比Si高10倍,而内阻仅是Si片的百分之一。SiC器件的工作温度可以达到600℃,而一般的Si器件最多能坚持到150℃。因为这些特性,SiC可以用来制造各种耐高温的高频大功率器件,应用于Si器件难以胜任的场合。 目前SIC半导体材料发展十分迅速,总的发展趋势是晶体大直径、大尺寸化,向高纯无缺陷发展。6H和4H单晶片实现了商品化,3英寸(直径≥76.2mm)是主流产品,4英寸也有少量供应。4H-SiC 上的微管缺陷密度显著减小,n型4H-SiC的极低微管缺陷晶片上微管密度可接近0cm-2。 SiC材料的生长需要特殊的工艺装备。目前这些工艺装备的技术主要掌握在美日欧三方手中。这些发达国家和地区已对SiC 生长设备进行了持续的研究,积累了宝贵的经验。特别是美国,技术最成熟,凭借着先进的技术,不断研制基于SiC基的新军事电子产品,目前在航空、航天、军舰、卫星、深海等方面都得到了实际的应用,得以使其继续在全球军事电子领域保持领先地位。欧盟和日本也紧随其后,投入大量的人力和财力进行追赶。

美国Cree公司是世界上能够商业化提供SiC 产品最大的公司,占全球市场90%以上,其在工艺装备方面的技术先进、成熟稳定,领先世界水平,但受政策影响,技术处于绝对保密之中。 欧洲SiC晶体生长工艺装备的设备制造商集中在德国、瑞典和英国,目前主要生产以3“直径为主的工艺装备,但为了追赶世界先进水平,已开始进行4” SiC晶圆工艺装备的研发。 无论是美国、欧洲还是日本,其晶体生长工艺装备都是军方在三代半导体方面要重点发展的方向之一,长期得到国家的支持和投入,如美国海军、陆军、空军、美国国家航空航天局(NASA )、弹道导弹防卫局和国防预研局、几乎美国国防部所有部门都将SiC技术研究列入了各自军事系统发展规划。其中SiC晶体生长工艺装备是重要的组成部分,美军正是凭借其在碳化硅装备方面的强大实力,在军事电子方面继续拉大与其他国家的距离。 国内碳化硅研究始于2000年前后,基本都是在Si晶圆研究的基础上进行一些理论性的研究,工艺装备也是在原有的Si晶圆的工艺装备基础上进行了部分改造,研究进展缓慢,装备的缺乏已成为国内SiC项目研究的瓶径。近些年有些研究机构通过各种渠道引进了部分国外发达国家的工艺装备,但价格高昂,所引进设备的技术也不属于前沿技术,并且在引进过程中,对引进单位也有条款上的种种制约,限制了SiC项目在国内的研究。尽管起步早,但目前研究水平还处于初级阶段。 总之,国内SIC项目的研究以进口晶片为主,昂贵的晶片价格,

晶体生长及加工设备项目可行性研究报告--标准案例

晶体生长及加工设备项目可行性研究报告 中咨国联出品

目录 第一章总论 (9) 1.1项目概要 (9) 1.1.1项目名称 (9) 1.1.2项目建设单位 (9) 1.1.3项目建设性质 (9) 1.1.4项目建设地点 (9) 1.1.5项目负责人 (9) 1.1.6项目投资规模 (10) 1.1.7项目建设规模 (10) 1.1.8项目资金来源 (12) 1.1.9项目建设期限 (12) 1.2项目建设单位介绍 (12) 1.3编制依据 (12) 1.4编制原则 (13) 1.5研究范围 (14) 1.6主要经济技术指标 (14) 1.7综合评价 (16) 第二章项目背景及必要性可行性分析 (18) 2.1项目提出背景 (18) 2.2本次建设项目发起缘由 (20) 2.3项目建设必要性分析 (20) 2.3.1促进我国晶体生长及加工设备产业快速发展的需要 (21) 2.3.2加快当地高新技术产业发展的重要举措 (21) 2.3.3满足我国的工业发展需求的需要 (22) 2.3.4符合现行产业政策及清洁生产要求 (22) 2.3.5提升企业竞争力水平,有助于企业长远战略发展的需要 (22) 2.3.6增加就业带动相关产业链发展的需要 (23) 2.3.7促进项目建设地经济发展进程的的需要 (23) 2.4项目可行性分析 (24) 2.4.1政策可行性 (24) 2.4.2市场可行性 (24) 2.4.3技术可行性 (24) 2.4.4管理可行性 (25) 2.4.5财务可行性 (25) 2.5晶体生长及加工设备项目发展概况 (25) 2.5.1已进行的调查研究项目及其成果 (26) 2.5.2试验试制工作情况 (26) 2.5.3厂址初勘和初步测量工作情况 (26)

晶体生长机理研究综述

晶体生长机理研究综述 摘要 晶体生长机理是研究金属材料的基础,它本质上就是理解晶体内部结构、缺陷、生长条件和晶体形态之间的关系。通过改变生长条件来控制晶体内部缺陷的形成从而改善和提高晶体的质量和性能使材料的强度大大增强开发材料的使用潜能。本文主要介绍了晶体生长的基本过程和生长机理,晶体生长理论研究的技术和手段,控制晶体生长的途径以及控制晶体生长的途径。 关键词:晶体结构晶界晶须扩散成核 一、晶体生长基本过程 从宏观角度看,晶体生长过程是晶体-环境相、蒸气、溶液、熔体、界面向环境相中不断推移的过程,也就是由包含组成晶体单元的母相从低秩序相向高度有序晶相的转变从微观角度来看,晶体生长过程可以看作一个基元过程,所谓基元是指结晶过程中最基本的结构单元,从广义上说,基元可以是原子、分子,也可以是具有一定几何构型的原子分子聚集体所谓的基元过程包括以下主要步骤:(1)基元的形成:在一定的生长条件下,环境相中物质相互作用,动态地形成不同结构形式的基元,这些基元不停地运动并相互转化,随时产生或消失(2)基元在生长界面的吸附:由于对流~热力学无规则的运动或原子间的吸引力,基元运动到界面上并被吸附 (3)基元在界面的运动:基元由于热力学的驱动,在界面上迁移运动 (4)基元在界面上结晶或脱附:在界面上依附的基元,经过一定的运动,可能在界面某一适当的位置结晶并长入固相,或者脱附而重新回到环境相中。 晶体内部结构、环境相状态及生长条件都将直接影响晶体生长的基元过程。环境相及生长条件的影响集中体现于基元的形成过程之中;而不同结构的生长基元在不同晶面族上的吸附、运动、结晶或脱附过程主要与晶体内部结构相关联。不同结构的晶体具有不同的生长形态。对于同一晶体,不同的生长条件可能产生不同结构的生长基元,最终形成不同形态的晶体。同种晶体可能有多种结构的物相,即同质异相体,这也是由于生长条件不同基元过程不同而导致的结果,生长机理如下: 1.1扩散控制机理从溶液相中生长出晶体,首要的问题是溶质必须从过饱和溶液中运送到晶体表面,并按照晶体结构重排。若这种运送受速率控制,则扩散和对流将会起重要作用。当晶体粒度不大于1Oum时,在正常重力场或搅拌速率很低的情况下,晶体的生长机理为扩散控制机理。 1.2 成核控制机理在晶体生长过程中,成核控制远不如扩散控制那么常见但对于很小的晶体,可能不存在位错或其它缺陷。生长是由分子或离子一层一层

2012年晶体生长设备行业研究报告

2012晶体生长设备行业研究报告 https://www.doczj.com/doc/0a3814710.html,/clcz2012 2012年3月

目录 一、光伏行业简介 (7) 1、光伏 (7) 2、晶硅太阳能光伏产业 (7) 3、光伏装备行业 (8) 4、晶体生长设备 (9) (1)单晶硅生长炉 (9) (2)多晶硅铸锭炉 (9) 5、产业链基本情况 (10) 6、光伏能源的优势 (11) (1)转换环节最少最直接 (12) (2)碳排放量接近零且不污染环境 (12) (3)光伏发电逐渐具有经济优势 (12) 二、行业管理体制及主管单位 (12) 三、行业法律、规划及部门规章 (13) 1、产业政策 (13) 2、行业主要法律法规 (15) (1)财税优惠政策 (15) (2)投资补贴政策 (16) (3)上网发电价格补贴政策 (17) 四、行业发展情况及趋势 (18) 1、全球光伏产业发展情况及趋势 (18) (1)光伏市场在欧洲率先启动,并快速发展 (18) (2)欧洲光伏市场的快速发展使得短期内多晶硅供求失衡,价格暴涨 (20) (3)金融危机背景下,欧洲各国的投资恐慌短期内抑制了光伏投资需求,使得多晶硅价格快速回归理性,促使光伏组件成本大幅降低 (20)

(4)2010 年全球经济复苏,欧洲光伏市场随之复苏,鉴于光伏发电成本的快速下降,欧洲各国适度下调光伏上网电价 (22) ①下调光伏上网电价有利于光伏行业良性发展 (22) ②成本优势使得中国光伏企业在本轮欧洲国家降低光伏补贴过程中,获得难得 的发展机遇 (22) (5)全球光伏市场逐步走向多元化 (23) (6)2011年欧债危机及美国双反调查对光伏行业的影响 (25) (7)2011年福岛核电站危机将使光伏能源在能源构成中获得更为重要的地位 (31) 2、我国光伏行业发展情况及趋势 (32) (1)我国是全球最大的光伏产品供应国,光伏产业逐渐成为我国自主品牌、自主创新、引领世界的新兴战略产业 (32) (2)长期以来中国的光伏电池及组件主要用于出口 (33) (3)我国光伏应用市场在政策扶持下正式启动 (35) ①2002 年以来我国的光伏应用市场,以远远超过国家发展规划的速度持续快 速增长 (35) ②随着一系列对光伏应用产生深远影响政策的出台,2011 年中国光伏应用市 场迎来前所未有的发展机遇 (35) ③实质性制约国内光伏行业发展的限制性因素正在逐渐消除 (38) ④自2012 年开始,可再生能源电价附加征收标准提高一倍,中国政府投资光 伏行业的资金来源将大幅增加 (38) ⑤2012 年国家对光电一体化的补贴范围及补贴力度均大幅增加,有助于推动 光伏发电应用在光电一体化建筑方面的快速发展 (39) ⑥中国的光伏应用市场呈现正式启动 (39) (4)未来中国将成为世界最重要的光伏市场之一 (40) (5)随着技术进步及光伏产业链的不断完善,中国光伏发电成本快速下降 (41) (6)我国光伏产业正在向中西部地区转移 (42) 3、光伏装备发展情况及趋势 (43) (1)光伏装备的发展情况 (43) (2)全球光伏装备市场情况 (44) (3)我国光伏装备市场情况 (44)

红外光学晶体产业化可行性研究报告

红外光学晶体地产业化可行性研究报告 北京玻璃研究院 2009年5月20日

一.项目概况 为了满足急剧增长地红外光学产品需求,实现产品结构调整和优化能力,加快高技术材料领域地产业化步伐,增强抵抗市场风险地能力,北京玻璃研究院根据研发孵化总体规划,在充分论证地基础上,提出“红外光线晶体产业化”项目. 本项目利用北京玻璃研究院地氟化物系列红外光学晶体生长及光学器件制备技术,进一步扩大晶体生长和光学加工方面地生产规模,增加光学窗口设计和窗口制作环节,延伸产业链,建成一条完整地红外光学窗口生产线.项目技术属于国内领先、国际先进,而且批量化生产技术成熟,产品现有应用市场广阔,市场需求迫切.项目完成后,将形成年产200万片红外光线晶体产品和年产15万件红外光学窗口地生产能力. 项目利用北京玻璃研究院现有地晶体生长及加工车间,需增加真空下降晶体生长炉10台套,切割设备10台,光学研磨及抛光设备9台,光学窗口组装系统5套,光学镀膜机3台套;需增加检测仪器傅立叶变换红外光谱仪1台;需改造真空下降晶体生长炉8台套,外圆切割机2台;需改造光学加工车间;需电力增容500kW,并改造循环冷却水系统.项目总投资约为3000万元,其中申请国资委拨款1200万元,自筹1800万元. 项目建设周期为一年半.项目完成后将形成200万片孵化为红外光学晶体材料和15万件红外光学窗口地年生产能力.项目完成后年内以红外光学晶体加工器件地销售为主,年销售收入达到5000万元,年利润约1250万元,产品利润率为25%;项目完成后三到五年内,以红外光学窗口地销售为主,年销售收入达1.2亿元,年利润约3000万元,产品利润率为25%.

单晶生长原理

直拉法:直拉法即切克老斯基法(Czochralski: Cz), 直拉法是半导体单晶生长用的最多的一种晶体生长技术。 直拉法单晶硅工艺过程 -引晶:通过电阻加热,将装在石英坩埚中的多晶硅熔化,并保持略高于硅熔点的温度,将籽晶浸入熔体,然后以一定速度向上提拉籽晶并同时旋转引出晶体; -缩颈:生长一定长度的缩小的细长颈的晶体,以防止籽晶中的位错延伸到晶体中; -放肩:将晶体控制到所需直径;-等径生长:根据熔体和单晶炉情况,控制晶体等径生长到所需长度;-收尾:直径逐渐缩小,离开熔体; -降温:降底温度,取出晶体,待后续加工 直拉法-几个基本问题 最大生长速度 晶体生长最大速度与晶体中的纵向温度梯度、晶体的热导率、晶体密度等有关。提高晶体中的温度梯度,可以提高晶体生长速度;但温度梯度太大,将在晶体中产生较大的热应力,会导致位错等晶体缺陷的形成,甚至会使晶体产生裂纹。为了降低位错密度,晶体实际生长速度往往低于最大生长速度。 熔体中的对流 相互相反旋转的晶体(顺时针)和坩埚所产生的强制对流是由离心力和向心力、最终由熔体表面张力梯度所驱动的。所生长的晶体的直径越大(坩锅越大),对流就越强烈,会造成熔体中温度波动和晶体局部回熔,从而导致晶体中的杂质分布不均匀等。实际生产中,晶体的转动速度一般比坩锅快1-3倍,晶体和坩锅彼此的相互反向运动导致熔体中心区与外围区发生相对运动,有利于在固液界面下方形成一个相对稳定的区域,有利于晶体稳定生长。 生长界面形状(固液界面) 固液界面形状对单晶均匀性、完整性有重要影响,正常情况下,固液界面的宏观形状应该与热场所确定的熔体等温面相吻合。在引晶、放肩阶段,固液界面凸向熔体,单晶等径生长后,界面先变平后再凹向熔体。通过调整拉晶速度,晶体转动和坩埚转动速度就可以调整固液界面形状。 生长过程中各阶段生长条件的差异 直拉法的引晶阶段的熔体高度最高,裸露坩埚壁的高度最小,在晶体生长过程直到收尾阶段,裸露坩埚壁的高度不断增大,这样造成生长条件不断变化(熔体的对流、热传输、固液界面形状等),即整个晶锭从头到尾经历不同的热历史:头部受热时间最长,尾部最短,这样会造成晶体轴向、径向杂质分布不均匀。 直拉法-技术改进: 一,磁控直拉技术 1,在直拉法中,氧含量及其分布是非常重要而又难于控制的参数,主要是熔体中的热对流加剧了熔融硅与石英坩锅的作用,即坩锅中的O2, 、B、Al等杂质易于进入熔体和晶体。热对流还会引起熔体中的温度波动,导致晶体中形成杂质条纹和旋涡缺陷。 2,半导体熔体都是良导体,对熔体施加磁场,熔体会受到与其运动方向相反的洛伦兹力作用,可以阻碍熔体中的对流,这相当于增大了熔体中的粘滞性。在生产中通常采用水平磁场、垂直磁场等技术。 3,磁控直拉技术与直拉法相比所具有的优点在于: 减少了熔体中的温度波度。一般直拉法中固液界面附近熔体中的温度波动达10 C以上,而施加0.2 T 的磁场,其温度波动小于 1 ℃。这样可明显提高晶体中杂质分布的均匀性,晶体的径向电阻分布均匀性也可以得到提高;降低了单晶中的缺陷密度;减少了杂质的进入,提高了晶体的纯度。这是由于在磁场作用下,熔融硅与坩锅的作用减弱,使坩锅中的杂质较少进入熔体和晶体。将磁场强度与晶体转动、坩锅转动等工艺参数结合起来,可有效控制晶体中氧浓度的变化;由于磁粘滞性,使扩散层厚度增大,可提高杂

晶体生长规律

1.如何知道晶体沿哪个晶面生长?一个晶体有多个晶面,怎么知道它沿哪个晶面生长?是不是沿XRD测出来的峰最强的那个晶面生长?扫描电镜可以观察晶体有多个面,如何知道每个面所对应的晶面?答:一般是晶体的密排面,因为此晶面的自由能最低。这个和温度有关,温度高就是热力学生长,能克服较大势垒,一般沿111面长成球或者四方。温度低的话,就是动力学生长,沿着100面,成为柱状了。对于完美无缺陷的晶体来说,原子间距最小的面最容易生长,如111面,长成球或者四方。改变外界条件,如温度、PH值、表面活性剂等,都会影响晶体的生长。对于缺陷晶体来说,除以上因素外,杂质缺陷、螺旋位错等也会影响晶体的生长。如果按照正常生长的话,都是密排面生长,但是熔体的条件改变后生长方式发生改变,例如铝硅合金的变质,加入变质剂后就不是密排面生长,而是频繁的分枝,各个面可能都有。完美条件下是沿吴立夫面生长,但总会有外界条件影响晶面的表面能,导致吴立夫面不是表面能最低的面,所以晶体露在外边的面就不一定是吴立夫面了,但应该是该生长条件下表面能最低的面。 HRTEM 和SAED可以表征生长方向~晶面能量越高,原子堆积速度越快,垂直该晶面方向的生长速度就快。而这样的后果有两个: 1.晶体沿垂直该晶面的方向快速生长; 2.该晶面在生长过程中消失。 引晶是拉晶里面的一个步骤,一般拉晶是指单晶生长的整个过程,其中包括清炉、装料、抽空、化料、引晶、放肩、转肩、等径、收尾、

停炉。拉晶有些人是叫长晶,引晶一般是指将籽晶(又称晶种)放入溶液硅中,然后沿着籽晶引出一段细晶,这过程主要是为了排除位错和缺陷,使后面的晶体能够较好的生长。

化学计量比LiNbO3晶体生长技术和批量化生产融资投资立项项目可行性研究报告(中撰咨询)

化学计量比LiNbO3晶体生长技术和批量化生产立项投资融资项目 可行性研究报告 (典型案例〃仅供参考) 广州中撰企业投资咨询有限公司

地址:中国〃广州

目录 第一章化学计量比LiNbO3晶体生长技术和批量化生产项目概论 (1) 一、化学计量比LiNbO3晶体生长技术和批量化生产项目名称及承办单位 (1) 二、化学计量比LiNbO3晶体生长技术和批量化生产项目可行性研究报告委托编制单位 (1) 三、可行性研究的目的 (1) 四、可行性研究报告编制依据原则和范围 (2) (一)项目可行性报告编制依据 (2) (二)可行性研究报告编制原则 (2) (三)可行性研究报告编制范围 (4) 五、研究的主要过程 (5) 六、化学计量比LiNbO3晶体生长技术和批量化生产产品方案及建设规模 (6) 七、化学计量比LiNbO3晶体生长技术和批量化生产项目总投资估算6 八、工艺技术装备方案的选择 (6) 九、项目实施进度建议 (6) 十、研究结论 (7) 十一、化学计量比LiNbO3晶体生长技术和批量化生产项目主要经济技术指标 (9) 项目主要经济技术指标一览表 (9) 第二章化学计量比LiNbO3晶体生长技术和批量化生产产品说明 . 15第三章化学计量比LiNbO3晶体生长技术和批量化生产项目市场分析预测 (16) 第四章项目选址科学性分析 (16) 一、厂址的选择原则 (16)

二、厂址选择方案 (17) 四、选址用地权属性质类别及占地面积 (17) 五、项目用地利用指标 (17) 项目占地及建筑工程投资一览表 (18) 六、项目选址综合评价 (19) 第五章项目建设内容与建设规模 (20) 一、建设内容 (20) (一)土建工程 (20) (二)设备购臵 (20) 二、建设规模 (21) 第六章原辅材料供应及基本生产条件 (21) 一、原辅材料供应条件 (21) (一)主要原辅材料供应 (21) (二)原辅材料来源 (21) 原辅材料及能源供应情况一览表 (22) 二、基本生产条件 (23) 第七章工程技术方案 (24) 一、工艺技术方案的选用原则 (24) 二、工艺技术方案 (25) (一)工艺技术来源及特点 (25) (二)技术保障措施 (26) (三)产品生产工艺流程 (26) 化学计量比LiNbO3晶体生长技术和批量化生产生产工艺流程示意简图 (26) 三、设备的选择 (27) (一)设备配臵原则 (27) (二)设备配臵方案 (28)

CZ法单晶生长原理及工艺流程

CZ生长原理及工艺流程 CZ法的基本原理,多晶体硅料经加热熔化,待温度合适后,经过将籽晶浸入、熔接、引晶、放肩、转肩、等径、收尾等步骤,完成一根单晶锭的拉制。炉内的传热、传质、流体力学、化学反应等过程都直接影响到单晶的生长与生长成的单晶的质量,拉晶过程中可直接控制的参数有温度场、籽晶的晶向、坩埚和生长成的单晶的旋转与升降速率,炉内保护气体的种类、流向、流速、压力等。 CZ法生长的具体工艺过程包括装料与熔料、熔接、细颈、放肩、转肩、等径生长和收尾这样几个阶段。 1.装料、熔料 装料、熔料阶段是CZ生长过程的第一个阶段,这一阶段看起来似乎很简单,但是这一阶段操作正确与否往往关系到生长过程的成败。大多数造成重大损失的事故(如坩埚破裂)都发生在或起源于这一·阶段。 2.籽晶与熔硅的熔接 当硅料全部熔化后,调整加热功率以控制熔体的温度。一般情况下,有两个传感器分别监测熔体表面和加热器保温罩石墨圆筒的温度,在热场和拉晶工艺改变不大的情况下,上一炉的温度读数可作为参考来设定引晶温度。按工艺要求调整气体的流量、压力、坩埚位置、晶转、埚转。硅料全部熔化后熔体必须有一定的稳定时间达到熔体温度和熔体的流动的稳定。装料量越大,则所需时间越长。待熔体稳定后,降下籽晶至离液面3~5mm距离,使粒晶预热,以减少籽经与熔硅的温度差,从而减少籽晶与熔硅接触时在籽晶中产生的热应力。预热后,下降籽晶至熔体的表面,让它们充分接触,这一过程称为熔接。在熔接过程中要注意观察所发生的现象来判断熔硅表面的温度是否合适,在合适的温度下,熔接后在界面处会逐渐产生由固液气三相交接处的弯月面所导致的光环(通常称为“光圈”),并逐渐由光环的一部分变成完整的圆形光环,温度过高会使籽晶熔断,温度过低,将不会出现弯月面光环,甚至长出多晶。熟练的操作人员,能根据弯月面光环的宽度及明亮程度来判断熔体的温度是否合适。 3.引细颈 虽然籽晶都是采用无位错硅单晶制备的[16~19],但是当籽晶插入熔体时,由于受到籽晶与熔硅的温度差所造成的热应力和表面张力的作用会产生位错。因此,在熔接之后应用引细颈工艺,即Dash技术,可以使位错消失,建立起无位错生长状态。 Dash的无位错生长技术的原理见7.2节。金刚石结构的硅单晶中位错的滑移面为{111}面。当以[l00]、[lll]和[ll0]晶向生长时,滑移面与生长轴的最小夹角分别为36.16°、l9.28°和0°。位错沿滑移面延伸和产生滑移,因此位错要延伸、滑移至晶体表面而消失,以[100]晶向生长最容易,以[111]晶向生长次之, 以[ll0]晶向生长情形若只存在延伸效应则位错会贯穿整根晶体。细颈工艺通

晶体生长方法(新)

晶体生长方法 1) 提拉法(Czochralski,Cz ) 晶体提拉法的创始人是J. Czochralski ,他的 论文发表于1918年。提拉法是熔体生长中最常 用的一种方法,许多重要的实用晶体就是用这 种方法制备的。近年来,这种方法又得到了几 项重大改进,如采用液封的方式(液封提拉法, LEC ),如图1,能够顺利地生长某些易挥发的化 合物(GaP 等);采用导模的方式(导模提拉法) 生长特定形状的晶体(如管状宝石和带状硅单 晶等)。 所谓提拉法,是指在合理的温场下,将装 在籽晶杆上的籽晶下端,下到熔体的原料中, 籽晶杆在旋转马达及提升机构的作用下,一边 旋转一边缓慢地向上提拉,经过缩颈、扩肩、 转肩、等径、收尾、拉脱等几个工艺阶段,生长出几何形状及内在质量都合格单晶的过程。这种方法的主要优点是:(a) 在生长过程中,可以方便地观察晶体的生长情况;(b) 晶体在熔体的自由表面处生长,而不与坩埚相接触,这样能显著减小晶体的应力并防止坩埚壁上的寄生成核;(c) 可以方便地使用定向籽晶与“缩颈”工艺,得到完整的籽晶和所需取向的晶体。提拉法的最大优点在于能够以较快的速率生长较高质量的晶体。 提拉法中通常采用高温难熔氧化物,如氧化锆、氧化铝等作保温材料,使炉体内呈弱氧化气氛,对坩埚有氧化作用,并容易对熔体造成污杂,在晶体中形成包裹物等缺陷;对于那些反应性较强或熔点极高的材料,难以找到合适的坩埚来盛装它们,就不得不改用其它生长方法。 图1 提拉法晶体生长装置结构示意图

2)热交换法(Heat Exchange Method, HEM) 热交换法是由D. Viechnicki和 F. Schmid于1974年发明的一种长晶方法。 其原理是:定向凝固结晶法,晶体生长 驱动力来自固液界面上的温度梯度。特 点:(1) 热交换法晶体生长中,采用钼 坩埚,石墨加热体,氩气为保护气体, 熔体中的温度梯度和晶体中的温度梯 度分别由发热体和热交换器(靠He作 为热交换介质)来控制,因此可独立地 控制固体和熔体中的温度梯度;(2) 固 液界面浸没于熔体表面,整个晶体生长 过程中,坩埚、晶体、热交换器都处于 静止状态,处于稳定温度场中,而且熔 体中的温度梯度与重力场方向相反,熔 体既不产生自然对流也没有强迫对流; (3) HEM法最大优点是在晶体生长结束 后,通过调节氦气流量与炉子加热功率, 实现原位退火,避免了因冷却速度而产 生的热应力;(4) HEM可用于生长具有 图2HEM晶体生长装置结构示意图 特定形状要求的晶体。 由于这种方法在生长晶体过程中需要不停的通以流动氦气进行热交换,所以氦气的消耗量相当大,如Φ30mm的圆柱状坩埚就需要每分钟38升的氦气流量,而且晶体生长周期长,He气体价格昂贵,所以长晶成本很高。

蓝宝石项目晶体生长技术研究报告

蓝宝石研究报告 1. 背景 蓝宝石(Sapphire)是一种氧化铝(α-Al2O3)的单晶,又称为刚玉,如图1。蓝宝石晶体具有优异的光学性能、机械性能和化学稳定性,强度高、硬度大、耐冲刷,可在接近2000℃高温的恶劣条件下工作,因而被广泛的应用于红外军事装置、卫星空间技术、高强度激光的窗口材料。其独特的晶格结构、优异的力学性能、良好的热学性能使蓝宝石晶体成为实际应用的半导体GaN/Al2O3发光二极管(LED),大规模集成电路SOI和SOS及超导纳米结构薄膜等最为理想的衬底材料。近年来,随着现代科学技术的发展,对蓝宝石晶体材料的尺寸、质量不断提出新的要求。例如,美国国家自然科学基金委员会作为LIGO(Laser Interferometer Gravitational Wave Observatory)计划中分光透镜用的蓝宝石晶体,晶体尺寸:¢350×120mm,光学均匀性:△n<2×10-7,弱光吸收系数(1064nm):10-6/cm;红外成像探测设备的窗口材料,最小口径为¢150mm,工作波段透过率>80%。另外,基于实际加工过程中加工余量和透波方向的考虑,蓝宝石单晶坯体必须具有一定的外形尺寸方可满足上述要求,所以低成本、高质量地生长大尺寸蓝宝石单晶已成为当前面临的迫切任务。 2. 蓝宝石晶体的应用 蓝宝石晶体的化学成分为氧化铝(α-Al2O3),是由三个氧原子和两个铝原子以共价键型式结合而成,其晶体结构为六方晶格结构,如图2、3、4所示。就颜色而言,单纯的氧化铝结晶是呈现透明无色的,因不同显色元素离子渗透于生长中的蓝宝石,因而使蓝宝石显出不同的颜色。在自然界中当蓝宝石在生长时,晶体内含有钛离子(Ti3+)与铁离子(Fe3+)时,会使晶体呈现蓝色,而成为蓝色蓝宝石(Blue Sapphire)。当晶体内含有铬离子(Cr3+)时,会使晶体呈现红色,而成为红宝石(Ruby)。又当晶体内含有镍离子(Ni3+)时,会使晶体呈现黄色,而成为黄色蓝宝石。 表1所列为蓝宝石之特性表。蓝宝石晶体化学性质非常稳定,一般不溶于水

cz生长原理及工艺

cz生长原理及工艺 New Roman "> CZ法的差不多原理,多晶体硅料经加热熔化,待温度合适后,通过将籽晶浸入、熔接、引晶、放肩、转肩、等径、收尾等步骤,完成一根单晶锭的拉制。炉内的传热、传质、流体力学、化学反应等过程都直截了当阻碍到单晶的生长与生长成的单晶的质量,拉晶过程中可直截了当操纵的参数有温度场、籽晶的晶向、坩埚和生长成的单晶的旋转与升降速率,炉内爱护气体的种类、流向、流速、压力等。 CZ法生长的具体工艺过程包括装料与熔料、熔接、细颈、放肩、转肩、等径生长和收尾如此几个时期。 1.装料、熔料 装料、熔料时期是CZ生长过程的第一个时期,这一时期看起来看起来专门简单,然而这一时期操作 正确与否往往关系到生长过程的成败。大多数造成重大缺失的事故(如坩埚破裂)都发生在或起源于这一·时期。 2.籽晶与熔硅的熔接 当硅料全部熔化后,调整加热功率以操纵熔体的温度。一样情形下,有两个传感器分不监测熔体表面和加热器保温罩石墨圆筒的温度,在热场和拉晶工艺改变不大的情形下,上一炉的温度读数可作为参考来设定引晶温度。按工艺要求调整气体的流量、压力、坩埚位置、晶转、埚转。硅料全部熔化后熔体必须有一定的稳固时刻达到熔体温度和熔体的流淌的稳固。装料量越大,则所需时刻越长。待熔体稳固后,降下籽晶至离液面3~5mm距离,使粒晶预热,以减少籽经与熔硅的温度差,从而减少籽晶与熔硅接触时在籽晶中产生的热应力。预热后,下降籽晶至熔体的表面,让它们充分接触,这一过程称为熔接。在熔接过程中要注意观看所发生的现象来判定熔硅表面的温度是否合适,在合适的温度下,熔接后在界面处会逐步产生由固液气三相交接处的弯月面所导致的光环(通常称为“光圈”),并逐步由光环的一部分变成完整的圆形光环,温度过高会使籽晶熔断,温度

晶体生长原理与技术

晶体生长原理与技术课程教学大纲 一、课程说明 (一)课程名称、所属专业、课程性质、学分; 课程名称:晶体生长原理及电化学基础 所属专业:金属材料物理学 课程性质:专业方向选修课,学位课,必修环节 学分: 4 学时: 72 (二)课程简介、目标与任务; 课程简介:本课程将在绪论中,对人工晶体生长的基本概念,研究范畴,研究历史和晶体生长 方法分类等基本概念进行简要介绍。然后分4篇进行论述。第一篇为晶体生长的基本原理,将分5 章,对晶体生长过程的热力学和动力学原理,结晶界面形貌与结构,形核与生长的动力学过程进行 描述。第二篇为晶体生长的技术基础,将分3章,对晶体生长过程的涉及的传热、传质及流体流动 原理,晶体生长过程的化学原理和晶体生长过程控制涉及的物理原理进行论述。第三篇为晶体生长 技术,将分4章对熔体生长、溶液生长、气相生长的主要方法及其控制原理进行论述。第四篇,晶 体的性能表征与缺陷,将分2章,分别对晶体的结构、性能的主要表征方法,晶体的结构缺陷形成 与控制原理进行论述。 目标与任务:掌握晶体生长的基本物理原理,学会将基本物理知识运用与晶体生长过程分析讨论。 (三)先修课程要求,与先修课与后续相关课程之间的逻辑关系和内容衔接; 修完普通物理学及四大力学课程、固体物理课程后才可学习该课程,该课程向前联系基本物理知识的运用,向后衔接研究生科学研究中遇到的实际结晶学问题。 (四)教材与主要参考书。 教材两本: 《晶体生长原理与技术》,介万奇,北京:科学出版社,2010 参考书: 《晶体生长科学与技术》[上、下册],张克从,凝聚态物理学丛书,北京:科学出版社,1997 《人工晶体:生长技术、性能与应用》,张玉龙,唐磊,化学工业出版社,2005 《晶体生长基础》,姚连增,中国科学技术大学出版社,1995

晶体的生长模式

晶体的生长模式 晶体的生长过程一般认为有三个阶段:首先是溶液或气体达到过饱和状态或过冷却状态,然后整个体系中出现瞬时的微细结晶粒子,这就是形成了晶核,最后这些粒子按照一定的规律进一步生长,成为晶体。科学家已经发现了晶体生长的多种模式,其中较为重要的是层生长模式和螺旋生长理论。 晶体生长理论简介 自从1669年丹麦学者斯蒂诺(N.Steno)开始研究晶体生长理论以来,晶体生长理论经历了晶体平衡形态理论、界面生长理论、PBC理论和负离子配位多面体生长基元模型4个阶段,目前又出现了界面相理论模型等新的理论模型。现代晶体生长技术、晶体生长理论以及晶体生长实践相互影响,使人们越来越接近于揭开晶体生长的神秘面纱。 下面简单介绍几种重要的晶体生长理论和模型。 .晶体平衡形态理论:主要包括布拉维法则(Law of Bravais)、Gibbs—Wulff 生长定律、BFDH法则(或称为Donnay-Harker原理)以及Frank运动学理论等。晶体平衡形态理论从晶体内部结构、应用结晶学和热力学的基本原理来探讨晶体的生长,注重于晶体的宏观和热力学条件,没有考虑晶体的微观条件和环境相对于晶体生长的影响,是晶体的宏观生长理论。 .界面生长理论:主要有完整光滑界面模型、非完整光滑界面模型、粗糙界面模型、弥散界面模型、粗糙化相变理论等理论或模型。界面生长理论重点讨论晶体与环境的界面形态在晶体生长过程中的作用,没有考虑晶体的微观结构,也没有考虑环境相对于晶体生长的影响。 .PBC(周期键链)理论:1952年,P.Hartman、W.G.Perdok提出,把晶体划分为三种界面:F面、K面和S面。BC理论主要考虑了晶体的内部结构——周期性键链,而没有考虑环境相对于晶体生长的影响。

相关主题
文本预览
相关文档 最新文档