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YQH-150滚轮式湿膜厚度规和滚轮式湿膜厚度规价格

实验三干涉显微镜测量薄膜厚度

实验三干涉显微镜测量薄膜厚度一、实验目的 1．掌握干涉显微镜的工作原理及使用方法； 2．用干涉显微镜测量薄膜厚度。二、实验说明 2.1 实验原理把显微镜和光波干涉仪结合起来设计而成的显微镜为干涉显微镜。干涉显微镜的类型很多，常用的干涉显微镜是以迈克耳逊干涉仪为原型，其原理却都是以劈尖干涉为基础的，下图1为劈尖干涉的示意图：若在两块平面玻璃间垫一细丝，即形成一个空气劈尖（为便于说明问题图中夸大了细丝的直径）。当一束单色光射入时，则在空气劈尖（n=1）上下两表面所引起的反射光线将相互干涉。若这两束光的光程差恰为半波长的奇数倍时，则发生相消干涉而呈现暗色条纹；若光程差为半波长的偶数倍时，发生加强干涉而得到明亮条纹。一定的明暗条纹对应一定的厚度，所以这些干涉条纹也叫等厚条纹。条纹间的距离l ，随劈尖的夹角而变化，越小，l 越大。在迈克耳逊干涉仪中，只要某一光程差发生变化，就要引起干涉场中条纹移动，光程差每改变半个波长()，则干涉条纹移动一个条纹间距。故待测样品表面若存在局部不平, 结果会导致干涉条纹发生弯曲, 条纹弯曲的程度是样品表面微观凹凸不平程度的反映, 只要测出条纹的弯曲量就可以求出样品表面的凹凸量。根据这一原理, 可借助该仪器来测量镀膜膜层的厚度. 设M 1、M 2是两个不严格垂直的理想平面，则得到等厚干涉直线条纹。若表面M 2上有沟槽，干涉条纹将发生弯曲或断折，如图2所示。沟槽的深度h 由式（4—1）决定。（4—1） θθ2λe H h ?= 2λ 图 1 劈尖干涉的示意图图2表面沟槽及干涉条纹的形状图3薄膜与其干涉条纹的形状

式中，Ｈ为干涉条纹曲折量，e 为条纹的间距。若用白光照明，e 是指两根接近黑色的干涉条纹中心间的距离。这时λ取540nm （绿光λ=0.53μm=5300?）。若被测件的部分表面镀有厚度为h 的薄膜，则只要测量出干涉条纹间距e 和因镀膜而引起的干涉条纹位移量Ｈ，就可算出该薄膜的厚度。如图3所示。 2.26JA 型干涉显微镜的光学系统及构造 2.2.1 6JA 型干涉显微镜的光学系统本实验用的是6JA 型干涉显微镜, 其光学系统如图1所示, 属于双光束干涉系统。光源1发出的光经聚光镜2投射到孔径光阑4平面上, 视场光阑5不在照明物镜6的前焦面上, 光经分光板7, 被分成两部分: 一部分反射, 另一部分透射. 被反射的光经物镜8射向标准反射镜M1, 再由M1 反射, 射向目镜14; 而从分光板上透射的光线通过补偿板9、物镜10射向工件表面M2, 再由M2反射, 射向目镜14. 在目镜分划板13上两束光产生干涉. 从目镜中可以观察到干涉条纹. 若样品表面平滑,则干涉条纹是平直的. 图五 6JA 型干涉显微镜构造 11a 5b 5a 105 131113 2 2a 2b 2c 14897a 44a 3 15 8 7 16 1b 1c 图4 6JA 型干涉显微镜光学系统 1-光源 2-聚光镜 3,11,15-反光镜 4-孔径光阑 5-视场光阑 6-照明物镜 7-分光板 8,10-物镜 9-补偿板 12-转向棱镜 13-分划板 14-目镜 16-摄影物镜

湿膜厚度计

OUPU 湿膜厚度计使用说明书

基本概述湿膜厚度计又叫湿膜计、湿膜测厚计、湿膜测厚规、湿膜测试仪、湿膜检测仪、湿膜厚度测量仪、湿膜测厚仪厂家、湿膜测厚仪价格、梳式湿膜测厚仪、湿油漆测厚仪、湿涂层如何检测、湿膜卡、湿膜片、湿膜厚度卡具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

欧谱梳式湿膜厚度规是测量色漆、清漆等各种涂料湿膜涂刷厚度的测量工具，数值以微米(m m)表示。湿膜厚度规适用于平整的基板上，测量精度高。本厚度量程为10～100m m、20～200m m、250～700m m、50～750m m、50～950m m、25～2000m m、25～3000m m七种规格供选择，以适应不同行业的需要。使用方法：各种涂料施工后，立即将湿膜厚度规稳定垂直的放在平整的湿膜涂层表面，将湿膜厚度规从湿膜中移出，即可测得湿膜涂层的厚度。湿膜厚度应是在被湿膜浸润的那个最短的齿及邻近那个没有被浸到的齿之间。以同样方式在不同的位置再测取两次，以得到一定范围内的代表性结果。使用完毕后，将湿膜厚度规洗净、揩干。

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达高特测厚仪https://www.doczj.com/doc/021251160.html, MX3测厚仪https://www.doczj.com/doc/021251160.html, PX7测厚仪https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 狄夫斯高https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 数字式粘度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 油漆粘度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 粘度仪https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 无损检测https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 百格刀https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 笔式硬度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 透光率仪https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 硬度测量仪https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 数显硬度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 台式硬度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 林格曼黑度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 显微硬度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 维氏硬度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 钳式硬度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 镀层硬度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 漆膜硬度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 涂层硬度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 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Mikrotest测厚仪https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 电火花测漏仪https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 手持式粗糙度仪https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 超声波检测仪https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 数显邵氏硬度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 数显巴氏硬度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 数显韦氏硬度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 数显布氏硬度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 数显洛氏硬度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 数显里氏硬度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 便携式里氏硬度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 尼克斯https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 旋转粘度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 分类目录https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 石墨硬度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 邵氏橡胶硬度计https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 铸铁测厚仪https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 湿膜厚度规https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 钢结构测厚仪https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 薄膜测厚仪https://www.doczj.com/doc/021251160.html, 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椭偏仪测量薄膜厚度与折射率

椭偏仪测量薄膜厚度和折射率近代科学技术中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此，能够更加迅速和精确地测量薄膜的光学参数例如厚度和折射率已变得非常迫切。在实际工作中可以利用各种传统的方法来测定薄膜的光学参数，如布儒斯特角法测介质膜的折射率，干涉法测膜。另外，还有称重法、X 射线法、电容法、椭偏法等等。其中，椭圆偏振测量（椭偏术）是研究两媒质界面或薄膜中发生的现象及其特性的一种光学方法，其原理是利用偏振光束在界面或薄膜上的反射或透射时出现的偏振变换。因为椭偏法具有测量精度高，灵敏度高，非破坏性等优点，已广泛用于各种薄膜的光学参数测量，如半导体、光学掩膜、圆晶、金属、介电薄膜、玻璃（或镀膜）、激光反射镜、大面积光学膜、有机薄膜等，也可用于介电、非晶半导体、聚合物薄膜、用于薄膜生长过程的实时监测等测量。实验目的了解椭圆偏振测量的基本原理，并掌握一些偏振光学实验技术。实验原理光是一种电磁波，是横波。电场强度E 、磁场强度H 和光的传播方向构成一个右旋的正交三矢族。光矢量存在着各种方位值。与光的强度、频率、位相等参量一样，偏振态也是光的基本量之一。在一光学材料上镀各向同性的单层介质膜后，光线的反射和折射在一般情况下会同时存在的。通常，设介质层为n 1、n 2、n 3，φ1为入射角，那么在1、2介质交界面和2、3介质交界面会产生反射光和折射光的多光束干涉。这里我们用2δ表示相邻两分波的相位差，其中222cos /dn δπφλ=，用r 1p 、 r 1s 表示光线的p 分量、s 分量在界面1、2间的反射系数，用r 2p 、r 2s 表示光线的p 分量、s 分量在界面2、3间的反射系数。由多光束干涉的复振幅计算可知： 2122121i p p rp ip i p p r r e E E r r e ?δ --+= + (1) 2122121i s s rs is i s s r r e E E r r e ? δ --+=+ (2) 其中E ip 和E is 分别代表入射光波电矢量的p 分量和s 分量，E rp 和E rs 分别代表反射光波电矢量的p 分量和s 分量。现将上述E ip 、E is 、E rp 、E rs 四个量写成一个量G ，即：

湿膜厚度测试仪

OUPU 湿膜厚度测试仪使用说明书

基本概述湿膜测厚仪又叫湿膜测厚规、湿膜测试仪、湿膜检测仪、湿膜厚度测量仪、湿膜测厚仪厂家、湿膜测厚仪价格、梳式湿膜测厚仪、湿油漆测厚仪、湿涂层如何检测、湿膜卡、湿膜片、湿膜厚度卡具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

湿膜测厚卡

OUPU 湿膜测厚卡使用说明书

基本概述湿膜测厚卡又叫湿膜测厚卡片、不锈钢湿膜测厚卡、PG3501湿膜卡、PG3507湿膜测厚卡、湿膜测厚规、湿膜测试仪、湿膜检测仪、湿膜厚度测量仪、湿膜测厚卡厂家、湿膜测厚卡价格、梳式湿膜测厚仪、湿油漆测厚仪、湿涂层如何检测、湿膜卡、湿膜片、湿膜厚度卡具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。