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继电器温度加速寿命试验方案设计与分析继电器是一种电气控制设备，通常用于控制电气设备的开关。
在许多情况下，继电器需要长时间工作在一定的温度环境下，这就对继电器的温度特性和寿命提出了挑战。
为了验证继电器在不同温度环境下的工作性能和寿命，需要进行温度加速寿命试验。
本文将设计并分析一份继电器温度加速寿命试验方案，以验证继电器在不同温度条件下的可靠性和耐久性。
一、试验目的1. 验证继电器在不同温度环境下的工作性能和寿命；2. 探索继电器在高温环境下的故障模式和寿命特性；3. 为继电器的设计和制造提供可靠性保障和寿命预测依据。
二、试验方案设计1. 试验继电器选择选择适合的继电器型号，并确保其具有一定的使用历史和销售量，以保证试验结果的参考性和代表性。
2. 温度环境设置根据实际工作场景和需求，设置继电器在不同温度下的工作环境。
一般可设置高温、常温和低温三种环境。
通常选择的温度范围为-40℃~70℃。
3. 试验方案（1）持续工作试验设置继电器在不同温度环境下进行长时间的持续工作试验，观察其工作状态、响应时间、接触电阻等参数的变化情况。
（2）循环工作试验设置继电器在不同温度环境下进行循环工作试验，观察其在连续开关操作过程中的性能变化和寿命特性。
（3）加速寿命试验选择适当的加速寿命试验方法，如高温老化试验、温度循环试验等，以加速继电器的老化过程，验证其在高温环境下的寿命特性。
4. 试验参数监测监测记录继电器在不同温度环境下的工作参数，包括工作电流、工作电压、接触电阻、触点温度等参数变化情况。
5. 故障分析在试验过程中，及时记录继电器的故障情况，并进行分析统计，探索继电器在不同温度环境下的故障模式和寿命特性。
2. 高温环境下的故障模式分析针对高温环境下可能出现的故障模式，进行深入分析和总结，为产品设计和制造提供参考依据。
3. 寿命预测和改进措施根据试验结果，对继电器的寿命进行预测，并提出相应的改进措施，以提高产品的可靠性和耐久性。
1 明确试验方案的具体目的在电子产品温度加速寿命试验中，主要目的就是明确产品的实际寿命情况，根据试验结果进行合理的研究与分析，开展管理工作，提升寿命管理工作效果。
对于寿命较长的产品而言，在温度试验的过程中，可实现合理的管理工作，开展合理的分析工作，在明确试验条件下具体情况之后，了解应力水平之下的寿命特点，开展正常应力水平之下的分析工作，以此形成良好的寿命管理工作模式。
对于电子产品而言，在实际试验的过程中，会受到应力方面与可靠性方面的因素影响，因此，需建设加速应力模型，开展温度类型、湿度类型与电场类型的试验工作，在试验期间了解具体的平衡性与寿命特征，了解无故障时间的平衡情况。
电子产品寿命试验，主要针对产品的应力情况与可靠性特点等进行严格分析，建立加速模型，例如：阿伦纽斯与逆幂率等模型，能够通过模型的支持，全面优化整体试验工作体系，了解当前电子产品的寿命特点与具体情况，提高整体试验工作的应用效果。
2 电子产品温度加速寿命试验概念与理论分析在电子产品温度加速寿命试验的过程中，需了解具体的概念与理论内容，实现合理的管理工作，了解当前产品寿命试验的内容与特点，全面提高整体工作效果。
■2.1 概念分析在加速寿命试验的过程中，需开展工程与统计假设等工作，合理试验物理失效等管理方式创建统计模型，了解正常情况下的具体情况，开展加速环境之下的信息转换管理工作，明确额定应力之下的具体产品特点，开展数值估计的管理工作，提升应力管理工作效果。
在实际工作中，应开展失效机制的管理工作，明确应力情况，筛选最佳的试验方式，提高管理工作效果。
管理工作，明确参数情况，提升整体管理工作效果，优化整体参数的管理模式。
在加速寿命方程建设过程中，需创建合理的管理体系，建设先进模型。
对于产品剩余寿命而言，在实际试验的过程中，应开展合理的假设工作，实现寿命数据的计算工作。
■2.3 加速寿命试验类型分析在加速寿命试验的过程中，应开展可靠性的试验工作，针对电子产品的寿命进行严格控制，筛选最佳的试验方法，创建合理的电子产品管理机制，提升加速寿命试验管理工作效果，满足当前的工作要求。
继电器温度加速寿命试验方案设计与分析继电器作为电气控制元件，在工业控制系统中起着至关重要的作用。
继电器在使用过程中，受到温度的影响很大，高温容易缩短继电器的使用寿命，降低可靠性，因此继电器的温度加速寿命试验是非常重要的。
本文将对继电器温度加速寿命试验方案进行设计与分析。
**一、试验目的**1. 评估继电器在高温环境下的稳定性和可靠性。
2. 检验继电器的使用寿命。
3. 指导继电器在实际工业控制系统中的应用和维护。
1. 试验样品的选取选取不同品牌、型号和规格的继电器作为试验样品，保证试验结果的普适性和可靠性。
2. 试验环境的确定设定继电器的工作环境温度，并根据实际情况确定温度范围和变化规律。
一般情况下，继电器的工作温度范围在-40℃~85℃之间，根据实际情况选取合适的温度范围。
3. 试验参数的设定a. 时间：确定试验持续时间，一般情况下可选择300小时或更长时间。
b. 温度变化：根据实际情况设定温度的变化规律，可以是恒温恒湿，也可以是根据实际使用环境的温度变化规律进行模拟。
4. 数据采集和记录设备：选择合适的温度记录仪和数据采集设备，记录继电器在不同温度下的工作情况和性能参数。
参数：记录继电器的动作次数、触点接触电阻、触点的导通时间等关键参数。
1. 数据分析a. 继电器的动作可靠性：分析继电器在不同温度下的动作次数及动作时间，评估其动作可靠性。
b. 触点接触电阻：观察继电器在不同温度下触点的接触电阻变化情况，评估其接触可靠性。
c. 寿命评估：根据试验数据和寿命模型，评估继电器在不同温度下的寿命。
1. 安全第一：在试验过程中要遵守相关的安全操作规程，确保试验人员和设备的安全。
2. 设备选择：选择合适的温度控制设备和数据采集设备，确保试验数据的准确性和可靠性。
3. 试验环境：保持试验环境的稳定性和一致性，避免外界因素对试验结果的影响。
4. 数据记录：确保试验数据的准确记录和存档，为后续的分析和评估提供可靠的数据支持。
继电保护装置高加速寿命试验导则
继电保护装置高加速寿命试验导则是用于评估继电保护装置在高加速环境下的寿命和可靠性的指南。
该导则主要包括以下内容：
1. 试验目的：明确试验的目的和要求，例如评估继电保护装置在高加速环境下的寿命和可靠性。
2. 试验装置和设备：列出进行试验所需的装置和设备，包括高加速设备、测量设备和数据记录设备等。
3. 试验参数设置：确定试验过程中的相关参数，如高加速等级、试验时间等。
4. 试验方法和步骤：详细描述试验的具体方法和步骤，包括装置的安装和调试、试验环境的控制、试验样品的加速和监测等。
5. 数据采集和分析：说明采集试验数据的方法和要求，以及对数据进行分析的方法和指标。
6. 试验结果评价：根据试验数据和分析结果，对继电保护装置的寿命和可靠性进行评价和判定。
7. 安全措施：列出进行试验时需要注意的安全措施，确保试验过程中的安全性。
8. 试验报告：要求编写试验报告，包括试验目的、装置和设备、
试验方法和步骤、试验结果等内容。
以上是继电保护装置高加速寿命试验导则的主要内容，不同的标准和要求可能会有所不同。
根据实际情况和需要，进行必要的调整和修改。
一、可靠性理论基础1.可靠度：如果有N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t)，当N足够大时，产品在t时刻的可靠度可近似表示为：随时间的不断增长，将不断下降。
它是介于1与0之间的数，即。
2.累积失效概率：表示发光二极管在规定条件下工作到t这段时间内的失效概率，用F(t)表示，又称为失效分布函数。
如果N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t)，则当N足够大时，产品在该时刻的累积失效概率可近似表示为：3.失效分布密度：表示规定条件下工作的发光二极管在t时刻的失效概率。
失效分布函数的导函数称为失效分布密度，其表达式如下：•早期失效期；•偶然失效期(或稳定使用期) ；•耗损失效期。
二、寿命老化：LED发光亮度随着长时间工作而出现光强或光亮度衰减现象。
器件老化程度与外加恒流源的大小有关，可描述为：B t为t时间后的亮度，B0为初始亮度。
通常把亮度降到B t=0.5B0所经历的时间t称为二极管的寿命。
1. 平均寿命如果已知总体的失效分布密度f（t），则可得到总体平均寿命的表达式如下：2. 可靠寿命可靠寿命T R是指一批LED产品的可靠度下降到r时，所经历的工作时间。
T R可由R（T R）=r求解，假如该产品的失效分布属指数分布规律，则：即可求得T R如下:3. 中位寿命中位寿命T0.5指产品的可靠度R(t)降为50%时的可靠寿命，即：对于指数分布情况，可得：二、LED寿命测试方法LED寿命加速试验的目的概括起来有：•在较短时间内用较少的LED估计高可靠LED的可靠性水平•运用外推的方法快速预测LED在正常条件下的可靠度；•在较短时间内提供试验结果，检验工艺；•在较短时间内暴露LED的失效类型及形式，便于对失效机理进行研究，找出失效原因；•淘汰早期失效产品，测定元LED的极限使用条件1. 温度加速寿命测试法由于通常LED寿命达到10万小时左右，因此要测得其常温下的寿命时间太长，因此采用加速寿命的方法。
继电器温度加速寿命试验方案设计与分析一、试验目的本试验的目标是通过监测和记录继电器在不同温度下的运行性能，分析温度变化对继电器寿命的影响，确定继电器的最大工作温度和工作时间，为产品设计和生产提供数据支持。
二、试验方案1.试验设备：(1)继电器样品：选用已经通过初步测试的继电器样品，确保其具有相近的基本参数。
(2)试验台架：可以模拟不同温度环境的试验台架，可以通过控制溫度、风速、潮湿度等参数来模拟现实环境。
(3)测试仪器：数字万用表、万能波形发生器、示波器、温度计等测试仪器。
2.试验流程：(1)把继电器样品放置在试验台架上，控制温度从一定的初始值逐渐升高至最高工作温度。
(2)在每个温度级别，进行以下测试：a.电气测试：在继电器输入端施加脉冲电压，记录输出端的状态；根据工作时间和测试结果来分析继电器的失效情况。
b.机械测试：在继电器输入端施加脉冲电压，以观察继电器的操作和释放状态是否正常，以及操作次数是否达到标准要求。
(3)在每个温度级别完成测试后，降低温度，继续进行下一次测试。
3.试验参数：(1)温度范围：从-30℃到100℃(2)温度变化速度：每小时约升高/降低10℃(3)测试时间：每种温度下持续测试24小时(4)测试电压：根据继电器的额定值进行测试4.数据记录和分析：(1)在每个温度级别下，记录继电器的操作次数、工作时间、操作状态、电流大小等测试参数，统计成功操作的次数和失败操作的次数，计算继电器的平均失效时间（MTBF）和失效率。
(2)根据测试结果，分析温度变化对继电器性能和寿命的影响，确定继电器的最大工作温度和工作时间范围。
(3)根据测试数据和实际生产需要，制定相应的继电器质量控制标准。
三、误差分析(1)由于试验台架的温度分布可能存在不均匀性，因此测量结果可能存在误差。
(2)继电器的初步测试过程中可能存在个体差异，因此在样品选择和试验过程中应尽可能避免差异的影响。
(3)在温度升高和降低，机械和电气测试过程中，需要实时监测和记录测试数据，以避免实验结果偏差。
加速寿命试验报告产品名称：电子器件电容，电阻，贴片数量： 1000试验数量： 20试验日期： 2019年-----科技公司加速寿命试验报告1. 试验设备与测试仪器﹑仪表2. 加速系数计算产品使用寿命与温湿度应力关系符合复合模型即温度-非热型（T-NT ）模型，T-NT 模型的加速系数Af 计算公式为:Af =(RHt RHu)p ×e (Ea k )×(1Tu −1Tt )式中：RHt ——试验湿度 RHu ——使用湿度 Tu ——使用温度（K ） Tt ——试验温度（K ）P ——指数，2~3，典型值为2.66 Ea ——活化能，对电子设备Ea=0.67K ——Boltzman 波尔兹曼常数=8.617×10-5eV/K;现场使用环境湿度恒定为60%，试验湿度取95%，得出(RHt RHu ⁄)p =3.3952，现场使用温度恒温25℃转换为热力学温度等于298K ，试验温度取恒温+85℃转换为热力学温度等于358K ，计算得(Ea K ⁄)×(1Tu ⁄−1Tt ⁄)=4.3729，e （Ea K ⁄）×（1Tu ⁄−1Tt⁄）=79.27，代入公式计算得出加速系数Af=3.3952×79.27=269.1375，即在此试验环境下工作325.48h 相当于实际环境中正常工作10年。
3. 试验方法在做加速寿命试验前，受试样品全部按GB 行外观检查及常温性能测试，应全部符合验收规范要求。
试验中，根据现场极限使用参数和频率设定产品工作条件，具体测试点设置如下：在试验最后2h 内在试验箱内测绝缘电阻，在试验结束后将断 路器从试验箱内取出，在标准大气压下放置2h 后，进行绝缘耐压、时间特性、电气特性测试及外观检查。
3.1试验周期与应力3.1.1 温度应力温度应力为 +85℃恒温。
试验前，把受试样品放置于试验箱内，工作电路放置于试验箱外，受试样品与工作电路的连接线引出；试验时，从室温条件下开始，温度变化速率为3℃/min ，将受试样品通电开机， 如此循环直到试验结束。
印制电路板加速寿命试验方法综述近年来，印制电路板已经成为各种电子设备中不可或缺的一部分。
随着电子设备的应用范围日益扩大，对印制电路板的性能和寿命要求也越来越高。
因此，印制电路板加速寿命试验方法的研究成为了一个重要的课题。
印制电路板的寿命试验方法十分重要，因为它能够快速地模拟出实际使用过程中的环境和使用时间，从而检验印制电路板的性能和寿命。
本文将综述目前常用的印制电路板加速寿命试验方法，主要包括高温高湿环境试验、温度循环试验、震动试验等。
一、高温高湿环境试验高温高湿环境试验是一种较为常见的印制电路板寿命试验方法。
该方法主要是利用高温高湿环境模拟印制电路板在热湿环境中的实际使用情况，对印制电路板的性能和寿命进行评估。
高温高湿环境试验的过程主要是将印制电路板放置在高温高湿的环境中，对其持续进行加热和湿度控制，检测印制电路板在这种环境中的可靠性和寿命。
此外，高温高湿环境试验还可以根据真实的生产环境来设置各种测试条件，从而更好地模拟实际使用条件，提高测试的可靠性。
二、温度循环试验温度循环试验是另一种常用的印制电路板寿命试验方法，该方法主要是在不同的温度和湿度条件下来模拟印制电路板的实际使用情况。
通过这种方式，可以检测印制电路板在不同温度和湿度环境下的可靠性和寿命。
温度循环试验方法的过程主要是将印制电路板在不同的温度条件下进行加热和冷却，并且对其进行湿度控制，模拟印制电路板在实际使用过程中的变化。
此外，温度循环试验还可以对印制电路板进行长时间的测试，从而更好地评估其可靠性和寿命。
三、震动试验震动试验是一种利用人工或机械手段在印制电路板上施加加速度仿真振动负荷的试验方法。
该方法主要是模拟印制电路板在实际使用过程中可能受到的加速度振动，以评估印制电路板的结构强度和可靠性。
震动试验的方法主要是利用电磁振动器来对印制电路板进行不同的振动测试，检测印制电路板在不同振动条件下的可靠性和寿命。
此外，震动试验还可以根据实际使用条件来设置各种测试条件，从而更好地模拟印制电路板在实际使用过程中可能受到的振动环境。
电工电子产品加速寿命试验之一
1概述
寿命试验是基本的可靠性试验方法，在正常工作条件下，常常采用寿命试验
方法去评估产品的各种可靠性特征。但是这种方法对寿命特别长的产品来说，不
是一种合适的方法。因为它需要花费很长的试验时间，甚至来不及作完寿命试验，
新的产品又设计出来，老产品就要被淘汰了。因此，在寿命试验的基础上形成的
加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法逐渐取代了常规的寿命试验方法。
加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法，
激发产品在短时间内产生跟正常应力水平下相同的失效，缩短试验周期。然后运
用加速寿命模型，评估产品在正常工作应力下的可靠性特征。加速环境试验是
近年来快速发展的一项可靠性试验技术。该技术突破了传统可靠性试验的
技术思路，将激发的试验机制引入到可靠性试验，可以大大缩短试验时间，
提高试验效率，降低试验耗损。
2 常见的物理模型
元器件的寿命与应力之间的关系，通常是以一定的物理模型为依据的，
下面简单介绍一下常用的几个物理模型。
2.1失效率模型
失效率模型是将失效率曲线划分为早期失效、随机失效和磨损失效三
个阶段，并将每个阶段的产品失效机理与其失效率相联系起来，形成浴盆
曲线。该模型的主要应用表现为通过环境应力筛选试验，剔除早期失效的
产品，提高出厂产品的可靠性。
2.1 失效率模型图示：
O
1
典型的失效率曲线
规定的失效率
随机失效
早期
失效
磨损失效
t
2.2应力与强度模型
该模型研究实际环境应力与产品所能承受的强度的关系。
应力与强度均为随机变量，因此，产品的失效与否将决定于应力分布
和强度分布。随着时间的推移，产品的强度分布将逐渐发生变化，如果应
力分布与强度分布一旦发生了干预，产品就会出现失效。因此，研究应力
与强度模型对了解产品的环境适应能力是很重要的。
2.3最弱链条模型
最弱链条模型是基于元器件的失效是发生在构成元器件的诸因素中最
薄弱的部位这一事实而提出来的。
该模型对于研究电子产品在高温下发生的失效最为有效，因为这类失
效正是由于元器件内部潜在的微观缺陷和污染，在经过制造和使用后而逐
渐显露出来的。暴露最显著、最迅速的地方，就是最薄弱的地方，也是最
先失效的地方。
2.4反应速度模型
该模型认为元器件的失效是由于微观的分子与原子结构发生了物理或
化学的变化而引起的，从而导致在产品特性参数上的退化，当这种退化超
过了某一界限，就发生失效，主要模型有Arrhenius模型和Eyring模型等。
3加速因子的计算
加速环境试验是一种激发试验，它通过强化的应力环境来进行可靠性
试验。加速环境试验的加速水平通常用加速因子来表示。加速因子的含义
是指设备在正常工作应力下的寿命与在加速环境下的寿命之比，通俗来讲
就是指一小时试验相当于正常使用的时间。因此，加速因子的计算成为加
速寿命试验的核心问题，也成为客户最为关心的问题。加速因子的计算也
是基于一定的物理模型的，因此下面分别说明常用应力的加速因子的计算
方法。
3.1温度加速因子
温度的加速因子由Arrhenius 模型计算：
其中，Lnormal为正常应力下的寿命，Lstress为高温下的寿命，Tnormal为室温绝对温度，
Tstress为高温下的绝对温度，Ea为失效反应的活化能（eV），k为Boltzmann常
数，8.62×10－5eV/K，实践表明绝大多数电子元器件的失效符合Arrhenius 模型，
表1给出了半导体元器件常见的失效反应的活化能。
表1 半导体元器件常见失效类型的活化能
设备名称 失效类型 失效机理 活化能（eV）
IC 断开 Au-Al金属间产生化合物 1.0
IC 断开 Al的电迁移 0.6
IC（塑料） 断开 Al腐蚀 0.56
MOS IC（存贮
器）
短路 氧化膜破坏 0.3～0.35
二极管 短路 PN结破坏（Au-Si 固相反应） 1.5
晶体管 短路 Au的电迁移 0.6
MOS 器件 阈值电压漂移 发光玻璃极化 1.0
MOS 器件 阈值电压漂移 Na离子漂移至Si氧化膜 1.2～1.4
MOS 器件 阈值电压漂移 Si-Si氧化膜的缓慢牵引 1.0
3.2、电压加速因子
电压的加速因子由Eyring 模型计算：
其中，Vstress为加速试验电压，Vnormal为正常工作电压，β为电压的加速率常数。
3.3、湿度加速因子
湿度的加速因子由Hallberg和Peck 模型计算：
其中，RHstress 为加速试验相对湿度，RHnormal为正常工作相对湿度，n为湿度的加
速率常数，不同的失效类型对应不同的值，一般介于2～3之间。
3.4、温度变化加速因子
温度变化的加速因子由 Coffin－Mason公式计算：
其中， 为加速试验下的温度变化， 为正常应力下的温度变化，n为温度变化的
加速率常数，不同的失效类型对应不同的值，一般介于4～8之间。
3.5、计算实例
例题：某种电子产品在室温下使用，计划在75℃、85%RH下做加速寿命测试，
计算该加速试验的加速因子。
解析：本试验涉及温度和湿度两种应力，因此，分别计算各应力的加速因子，
然后相乘得到整个加速试验的加速因子。
其中，Ea为激活能（eV），k为玻尔兹曼常数且k=8.6×10-5eV/K，T为绝
对温度、RH为相对湿度（单位％），一般情况下n取为2。
根据产品的特性，取Ea为0.6eV，室温取为25℃、75%RH，把上述数据带
入计算，求AF＝37，即在75℃、85%RH下做1小时试验相当于室温下寿命约37
小时。
还需要说明的一点是，加速因子的计算公式都是建立在特定的模型基础上
的，而模型的建立往往会包含一些假设，并且会忽略或简化次要的影响因素，因
此计算的结果也仅仅具有指导和参考意义，不能死板地认为只要试验足够时间就
一定能确保产品的寿命。
4、加速寿命试验方法
4.1、常用加速寿命试验方法
目前常用的加速寿命试验方法分为以下三种:
（1）恒定应力加速寿命试验:该试验方法是将试样分为几组，每组在固定的应力
水平下进行寿命试验，各应力水平都高于正常工作条件下的应力水平，试验做到
各组样品均有一定数量的产品发生失效为止。
（2）步进应力加速寿命试验:该试验方法是预先确定一组应力水平，各应力水平
之间有一定的差距，从低水平开始试验，一段时间后，增加至高一级应力水平，
如此逐级递增，直到试样出现一定的失效数量或者到了应力水平的极限停止试
验。
（3）序进应力加速寿命试验:该试验方法是将试样从低应力开始试验，应力水平
水试验时间等速升高，直到一定数量的失效发生或者到了应力水平的极限为止。
上述三种加速寿命试验方法，以恒定应力加速寿命试验最为成熟．尽管这种
试验所需时间不是最短，但比一般的寿命试验的试验时间还是缩短了不少．因此
它还是经常被采用的试验方法。后面两种试验方法对设备都有比较高的要求，试
验成本比较高，因此目前开展的比较少。
4.2、高加速寿命试验
高加速寿命试验（HALT）是目前比较先进成熟的寿命试验方法，属于步进应
力加速寿命试验，具体含义是指在产品设计和制造工艺设计过程中，在加速测试
环境下对产品施加所有可能达到的应力以期找到设计和制造工艺中的薄弱环节，
并针对每一个薄弱环节提供改进设计和制造工艺的机会，从而达到缩短设计周
期、提高可靠性和降低成本的目的。
HALT 测试施加的应力并不是完全模拟产品使用过程中出现的应力，而是对
少量样品施加较大应力在短时间内发现产品设计和制造中存在的问题，施加的应
力逐步提高并超过使用环境的应力范围，解决测试中所发现的问题，直到产品强
度达到技术要求。
HALT主要测试过程为：逐步施加应力直到产品失效或出现故障；采取修正
措施，修正产品的失效或故障；继续逐步施加应力直到产品再次失效或出现故障，
并再次加以修正；重复以上应力-失效-修正的步骤；找出产品的基本操作界限和
基本破坏界限。可施加的应力包括振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电
压边际及频率边际测试等。
典型的HALT试程包括以下几个过程：
1) 低温步进应力试验 ；
2) 高温步进应力试验；
3) 快速热循环试验；
4) 振动步进应力试验 ；
5) 综合应力试验 。
概括来讲，HALT是一种发现缺陷的工序,它通过设置逐级递增的环境应力，
来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱点，然后对暴露的缺陷和故障从设计、工艺和
用料等诸方面进行分析和改进，从而达到提升产品可靠性的目的，其最大的特点
是设置高于样品设计运行限的环境应力，从而使暴露故障的时间大大短于正常可
靠性应力条件下的所需时间。
5、小结
加速环境试验技术通过在加严的应力条件下的试验，确定产品能承受
安全应力的极限水平，获得有效的可靠性特征数据，并通过数理统计及外
推的方法预测工作在特定条件下的产品可靠性。该技术解决了试验样品数
量和试验时间之间的矛盾，逐渐成为考核产品的材料和工艺过程，鉴定和
改进产品质量的有效手段，成为可靠性工作的重要内容。
