材料分析考试习题大全

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材料分析方法习题

1、 选择题

1. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称( B )

A. Kα;

B. Kβ;

C. Kγ;

D. Lα。

2. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选( C )

A. Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。

3. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称( A )

A. 短波限λ0;

B. 激发限λk;

C. 吸收限;

D. 特征X射线

4.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生( D )

A. 光电子;

B. 二次荧光;

C. 俄歇电子;

D. (A+C)

5.最常用的X射线衍射方法是( B )。

A. 劳厄法;

B. 粉末法;

C. 周转晶体法;

D. 德拜法。

6.射线衍射方法中,试样为单晶体的是(D )

A、劳埃法

B、周转晶体法

C、平面底片照相法

D、 A和B

7.晶体属于立方晶系,一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4,则该晶面的指标为( B)

A、(364)

B、(234)

C、(213)

D、(468)

8.立方晶系中,指数相同的晶面和晶向(B )

A、相互平行

B、相互垂直

C、成一定角度范围

D、无必然联系

9.晶面指数(111)与晶向指数(111)的关系是( C )。

A. 垂直;

B. 平行;

C. 不一定。

10.在正方晶系中,晶面指数{100}包括几个晶面( B )。

A. 6;

B. 4;

C. 2

D. 1;。

11.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是( B )

A.X射线透射学;

B.X射线衍射学;

C.X射线光谱学;

D.其它

12、对于简单点阵结构的晶体,系统消光的条件是( A )

A、不存在系统消光

B、h+k为奇数

C、h+k+l为奇数

D、h、k、l为异性

13、立方晶系{100}晶面的多重性因子为( D )

A、2

B、3

C、4

D、6

14、洛伦兹因子中,第一几何因子反映的是( A )

A、晶粒大小对衍射强度的影响

B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响

C、衍射线位置对衍射强度的影响

D、试样形状对衍射强度的影响

15、洛伦兹因子中,第二几何因子反映的是( B )

A、晶粒大小对衍射强度的影响

B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响

C、衍射线位置对衍射强度的影响

D、试样形状对衍射强度的影响

16、洛伦兹因子中,第三几何因子反映的是( C )

A、晶粒大小对衍射强度的影响

B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响

C、衍射线位置对衍射强度的影响

D、试样形状对衍射强度的影响

17、对于底心斜方晶体,产生系统消光的晶面有( C )

A、112

B、113

C、101

D、111

18、对于面心立方晶体,产生系统消光的晶面有( C )

A、200

B、220

C、112

D、111

19、热振动对x-ray衍射的影响中不正确的是(E )

A、温度升高引起晶胞膨胀

B、使衍射线强度减小

C、产生热漫散射

D、改变布拉格角

E、热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小

20、衍射仪的测角仪在工作时,如试样表面转到与入射线成30度角时,计数管与入射线成多少度角?(B)

A. 30度;

B. 60度;

C. 90度。

21、不利于提高德拜相机的分辨率的是( D )。

A. 采用大的相机半径;

B. 采用X射线较长的波长;

C. 选用大的衍射角;

D.选用面间距较大的衍射面。

22、德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是( C )

A、正装法

B、反装法

C、偏装法

D、以上均可

23、样品台和测角仪机械连动时,计数器与试样的转速关系是( B )

A、1﹕1

B、2﹕1

C、1﹕2

D、没有确定比例

24、关于相机分辨率的影响因素叙述错误的是( C )

A、相机半径越大,分辨率越高

B、θ角越大,分辨率越高

C、X射线波长越小,分辨率越高

D、晶面间距越大,分辨率越低

25、粉末照相法所用的试样形状为( C )

A、块状

B、分散

C、圆柱形

D、任意形状

26、低角的弧线接近中心孔,高角线靠近端部的底片安装方法为( A )

A、正装法

B、反装法

C、偏装法

D、任意安装都可

27、以气体电离为基础制造的计数器是( D)

A、正比计数器

B、盖革计数器

C、闪烁计数器

D、A和B

28、利用X射线激发某种物质会产生可见的荧光,而且荧光的多少与X射线强度成正比的特性而制造的计数器为( C )

A、正比计数器

B、盖革计数器

C、闪烁计数器

D、锂漂移硅检测器

29、测定钢中的奥氏体含量,若采用定量X射线物相分析,常用方法是( C )。

A. 外标法;

B. 内标法;

C. 直接比较法;

D. K值法。

30、X射线物相定性分析时,若已知材料的物相可以查( C )进行核对。

A. 哈氏无机数值索引;

B. 芬克无机数值索引;

C.戴维无机字母索引;

D. A或B。

31、PDF卡片中,数据最可靠的用( B )表示

A、i

B、★

C、○

D、C

32、PDF卡片中,数据可靠程度最低的用( C )表示

A、i

B、★

C、○

D、C