电容的去老化问题
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电容退耦原理采用电容退耦是解决电源噪声问题的主要方法。
这种方法对提高瞬态电流的响应速度,降低电源分配系统的阻抗都非常有效。
对于电容退耦,很多资料中都有涉及,但是阐述的角度不同。
有些是从局部电荷存储(即储能)的角度来说明,有些是从电源分配系统的阻抗的角度来说明,还有些资料的说明更为混乱,一会提储能,一会提阻抗,因此很多人在看资料的时候感到有些迷惑。
其实,这两种提法,本质上是相同的,只不过看待问题的视角不同而已。
为了让大家有个清楚的认识,本文分别介绍一下这两种解释。
4.1 从储能的角度来说明电容退耦原理。
在制作电路板时,通常会在负载芯片周围放置很多电容,这些电容就起到电源退耦作用。
其原理可用图 1 说明。
图 1 去耦电路当负载电流不变时,其电流由稳压电源部分提供,即图中的 I0,方向如图所示。
此时电容两端电压与负载两端电压一致,电流 Ic 为 0,电容两端存储相当数量的电荷,其电荷数量和电容量有关。
当负载瞬态电流发生变化时,由于负载芯片内部晶体管电平转换速度极快,必须在极短的时间内为负载芯片提供足够的电流。
但是稳压电源无法很快响应负载电流的变化,因此,电流 I0 不会马上满足负载瞬态电流要求,因此负载芯片电压会降低。
但是由于电容电压与负载电压相同,因此电容两端存在电压变化。
对于电容来说电压变化必然产生电流,此时电容对负载放电,电流 Ic 不再为 0,为负载芯片提供电流。
根据电容等式:(公式 1)只要电容量 C 足够大,只需很小的电压变化,电容就可以提供足够大的电流,满足负载瞬态电流的要求。
这样就保证了负载芯片电压的变化在容许的范围内。
这里,相当于电容预先存储了一部分电能,在负载需要的时候释放出来,即电容是储能元件。
储能电容的存在使负载消耗的能量得到快速补充,因此保证了负载两端电压不至于有太大变化,此时电容担负的是局部电源的角色。
从储能的角度来理解电源退耦,非常直观易懂,但是对电路设计帮助不大。
从阻抗的角度理解电容退耦,能让我们设计电路时有章可循。
电容故障原因1. 温度过高会不会是电容故障的原因呢?就像人在高温环境下会不舒服一样,电容长期处在高温状态下,也容易出问题呀!比如在一些散热不好的设备里,电容就可能因为温度太高而罢工。
2. 电压不稳定难道不是电容故障的一个重要因素吗?这就好比坐船在波涛汹涌的海上,晃来晃去的能不出事嘛!像有些地方电压波动大,那电容可就遭罪了,很容易就坏了。
3. 电容质量不行肯定也是故障原因之一啊!你想想,要是买个质量差劲的东西,能好用吗?就好比买了双劣质鞋子,没走几步就坏了,电容质量不好,它能正常工作才怪呢!4. 频繁的充放电会不会搞坏电容呢?这就跟让你不停地跑马拉松一样,累也累死了呀!像一些反复启动的设备,电容就得不断经历充放电,时间长了能不故障嘛。
5. 潮湿的环境是不是也会让电容出问题呢?就好像把东西放在潮湿的地方会发霉一样,电容在潮湿环境里也容易受损啊!比如在一些湿度大的地方,电容就可能受潮故障。
6. 机械损伤会不会是电容故障的罪魁祸首呢?这就像人被撞伤了会受伤一样,电容要是被磕了碰了,那也容易坏呀!比如在搬运设备的时候不小心碰到电容。
7. 化学物质的侵蚀会不会也导致电容故障呢?这不就跟腐蚀东西一样嘛!像在一些有腐蚀性化学物质的环境中,电容就可能被侵蚀而出现故障。
8. 长期不使用电容,它会不会就自己出问题了呢?就好像车放久了不开会出毛病一样!要是电容长时间闲着不用,等要用的时候可能就不好使了。
9. 超过电容的使用寿命,它能不故障吗?人老了都会体弱多病,电容用久了当然也会不行呀!所以到了一定时间就得注意电容是不是该换了。
10. 不恰当的安装方式难道不会引发电容故障吗?这就像盖房子基础没打好一样,肯定有隐患啊!比如安装的时候不规范,那电容就可能随时出问题。
我觉得电容故障的原因有很多,我们在使用过程中一定要多加注意,尽量避免这些问题的出现,这样才能让电容更好地为我们服务啊!。
电容好坏的判断及测量方法及原理一、引言在电子产品中,电容作为一种重要的电子元件,被广泛应用于各种电路中。
然而,由于电容本身的特性和工作环境的影响,电容在使用过程中有可能会出现各种问题,如老化、漏电、失效等。
正确判断电容的好坏并采取相应的措施是非常重要的。
本文将围绕电容好坏的判断及测量方法及原理展开探讨,旨在帮助读者对电容进行有效的检测和维护。
二、电容好坏的判断1. 外观检查我们可以通过外观来初步判断电容的好坏。
观察电容外壳是否有变形、裂纹、漏液等情况,这些都是电容故障的表现,需要及时更换。
2. 电容表面温度在电容工作时,如果温度异常高,很可能是电容发生了问题。
观察电容工作时的温度表现也是判断电容好坏的重要依据之一。
3. 测量电容数值利用万用表等工具可以测量电容的数值,如果测量结果与标称值差距较大,说明电容可能存在问题。
4. 使用示波器观察电容放电波形将电容放电后的波形通过示波器观察,可以得知电容是否存在漏电等问题。
如果波形异常,说明电容需要进行更换。
三、电容测量方法及原理1. 电容数值测量电容的数值测量可以通过万用表或LCR表完成。
在测量时,需要注意将电容从电路中拆除,并将万用表或LCR表的测试端子与电容的正负极连接正确,然后根据仪器的指示进行测量。
2. 电容放电测量电容放电是一种常用的测量方法,通过将电容与一个电阻串联放电,然后利用示波器观察放电的波形来判断电容的好坏。
正常的电容放电波形应该是指数下降的曲线,如果波形异常,很可能是电容发生了问题。
3. 电容串并联测量在电路中,电容可能会与其他元件串并联,因此在实际测量中需要将电容与其他元件分离,然后进行单独测量。
对于大容量电容,可以通过串联小容量电容的方式进行测试,最终得出大容量电容的性能。
四、电容测量原理1. 电容数值测量原理电容的数值测量原理是利用测试仪器的交流信号或脉冲信号作用下,通过测量电流和电压的相位差及大小来计算出电容的数值。
通过这种方式可以有效地获取电容的参数信息。
《7805稳压电源滤波电容故障解析》1. 引言稳压电源在各种电子设备中都是不可或缺的组成部分,而其中的滤波电容作为保证输出电压稳定的重要组件之一,一旦出现故障就会对整个电源系统造成严重影响。
本文将重点探讨7805稳压电源滤波电容故障的原因、影响以及解决方法。
2. 滤波电容的作用我们需要了解滤波电容在稳压电源中的作用。
在7805稳压电源中,滤波电容通过对输入电压进行平滑处理,减小电压的波动和噪声,从而保证输出电压的稳定性。
滤波电容的故障可能导致输出电压的波动,甚至影响整个电源系统的稳定性。
3. 7805稳压电源滤波电容故障的原因滤波电容故障的原因主要包括以下几点:(1) 电容老化:长时间工作下,电容内部介质会逐渐老化,导致电容性能下降。
(2) 过压击穿:在输入端发生过压时,电容可能会受到击穿损坏。
(3) 过流过载:电容在承受过大的电流或过载情况下可能会损坏。
4. 故障的影响在滤波电容故障的情况下,7805稳压电源的输出电压可能会出现波动,甚至发生突变,从而导致输出电压的不稳定。
这对于一些对电压稳定性要求高的电子设备来说,可能会导致设备的不稳定工作,甚至影响设备的寿命。
5. 解决方法针对7805稳压电源滤波电容故障的情况,我们可以采取以下几种解决方法:(1) 更换故障电容:对于老化或受到过压击穿的电容,需要及时更换为新的电容。
(2) 增加并联电容:在一些特殊情况下,可以考虑增加并联电容来提高滤波效果,从而降低电容故障的影响。
(3) 增加过压保护电路:在输入端增加过压保护电路,可以有效避免电容受到过压击穿的现象。
6. 个人观点在实际电子设备维护中,我认为对于7805稳压电源滤波电容故障,我们需要及时的诊断和处理,以避免对整个电源系统造成影响。
另外,平时在进行日常维护时,也需要对相关电容进行定期检测,及时更换老化的电容,以保证整个稳压电源系统的稳定性和可靠性。
7. 总结通过对7805稳压电源滤波电容故障的原因、影响和解决方法进行分析,我们可以更全面、深刻地理解滤波电容在稳压电源中的重要性,以及故障对整个电源系统的影响。
了解电力电子技术中的电容电压稳定器失效故障电容电压稳定器是电力电子技术中常用的一种电压稳定器,它能够通过控制电容器的充放电来稳定电路电压。
然而,在使用电容电压稳定器的过程中,有时会出现失效故障,导致电压稳定器无法正常工作。
本文将探讨电容电压稳定器失效的原因和常见故障,并介绍相关的故障诊断和解决方法。
一、电容电压稳定器失效的原因电容电压稳定器失效的原因可以归结为以下几点:1. 电容器老化:电容器作为电容电压稳定器的核心部件,随着使用时间的增加,内部介质会老化,导致电容器性能下降,从而影响电压稳定器的工作效果。
2. 温度过高:电容电压稳定器在工作过程中会产生一定的热量,如果温度过高,将会使电容器受热过度,影响其电气性能,最终导致失效。
3. 过电流冲击:电容电压稳定器在电路中常常承受高频、高压的冲击,如果冲击电流过大,就会使电容器受到损伤,从而引发失效。
4. 电压过高:电容器工作时,如果输入电压超出其耐压范围,会导致电容器击穿、短路,进而失去稳压的功能。
5. 震动或机械损坏:电容电压稳定器在工作时如果受到剧烈的震动或机械碰撞,可能会导致电容器内部元件松动、接触不良,进而引发失效。
二、常见故障及解决方法1. 电容器漏电故障故障表现:电容电压稳定器工作时,输出电压偏低,且电容器外壳发热。
解决方法:更换漏电的电容器,确保新安装的电容器质量合格。
同时,检查电路连接是否牢固,确保电容器的接触良好。
2. 电容器短路故障故障表现:电容电压稳定器工作时,输出电压不稳定,甚至无法工作。
解决方法:检查电路中是否存在短路引起的故障,如有短路现象,需要找出并修复短路点。
若电容器已经短路,需要更换新的电容器。
3. 电容器容量衰减故障故障表现:电容电压稳定器输出电压波动较大,无法达到稳定状态。
解决方法:更换容量衰减的电容器。
在选用电容器时,应根据电路负载的需求合理选择电容器的额定容量。
4. 电压过高故障故障表现:电容电压稳定器工作时,输出电压超过额定电压,甚至电容器发生击穿现象。
有极性电容与无极性电容的区别1、原理上相同。
(1)都是存储电荷和释放电荷;(2)极板上的电压(这里把电荷积累的电动势叫电压)不能突变。
(3)区别在于介质的不同、性能不同、容量不同、结构不同致使用环境和用途也不同。
反过来讲,人们根据生产实践需要,实验制造了各种功能的电容器来满足各种电器的正常运行和新设备的运转。
随着科学技术的发展和新材料的发掘,更优质、多样化的电容器会不断涌现。
2、介质不同。
介质是什么东西?说穿了就是电容器两极板之间的物质。
有极性电容大多采用电解质做介质材料,通常同体积的电容有极性电容容量大。
另外,不同的电解质材料和工艺制造出的有极性电容同体积的容量也会不同。
再有就是耐压和使用介质材料也有密切关系。
无极性电容介质材料也很多,大多采用金属氧化膜、涤纶等。
由于介质的可逆或不可逆性能决定了有极、无极性电容的使用环境。
3、性能不同。
性能就是使用的要求,需求最大化就是使用的要求。
如果在电视机里电源部分用金属氧化膜电容器做滤波的话,而且要达到滤波要求的电容器容量和耐压。
机壳内恐怕也就只能装个电源了。
所以作为滤波只能使用有极性电容,有极性电容是不可逆的。
就是说正极必须接高电位端,负极必须接低电位端。
一般电解电容在1微法拉以上,做偶合、退偶合、电源滤波等。
无极性电容大多在1微法拉以下,参与谐振、偶合、选频、限流、等。
当然也有大容量高耐压的,多用在电力的无功补偿、电机的移相、变频电源移相等用途上。
无极性电容种类很多,不一一赘述。
4、容量不同。
前面已经讲过同体积的电容器介质不同容量不等,不一一赘述。
5、结构不同。
原则上讲不考虑尖端放电的情况下,使用环境需要什么形状的电容都可以。
通常用的电解电容(有极性电容)是圆形,方型用的很少。
无极性电容形状千奇百变。
像管型、变形长方形、片型、方型、圆型、组合方型及圆型等等,看在什么地方用了。
当然还有无形的,这里无形指的就是分布电容。
对于分布电容在高频和中频器件中决不可忽视。
电容坏掉阻值变小的原因
电容是电子元件中常见的一种,它具有存储和释放电荷的能力。
然而,在使用过程中,我们有时会遇到电容坏掉阻值变小的情况。
那么,造成电容坏掉阻值变小的原因是什么呢?
电容器的阻值是指电容器本身的电阻大小。
电容器在正常工作状态下,应该具有较高的阻值,以保证电路的稳定性和正常运行。
然而,当电容器遭受损坏或老化时,其阻值往往会变小。
造成电容坏掉阻值变小的主要原因有以下几点:
1. 电容器的老化:随着时间的推移,电容器内部的电介质会逐渐老化,导致电容器的阻值变小。
这是因为老化的电介质会导致电容器内部的电阻减小,从而使整体阻值变小。
2. 电容器的损坏:电容器在使用过程中可能会受到外界的冲击或过电压的影响,导致电容器内部结构损坏。
例如,电容器的电介质可能会被击穿或破裂,导致电容器阻值变小。
3. 温度变化:温度的变化也会对电容器的阻值产生影响。
当温度升高时,电容器内部的电介质会膨胀,导致电容器的阻值变小。
相反,当温度降低时,电容器内部的电介质会收缩,导致电容器的阻值增加。
4. 电容器的质量问题:有时候,电容器的质量可能存在问题,例如
制造过程中的瑕疵或原材料的质量不合格。
这些问题可能导致电容器的阻值变小,甚至无法正常工作。
电容坏掉阻值变小的原因可以归结为电容器的老化、损坏、温度变化和质量问题等因素。
为了避免这种情况的发生,我们应该选择质量可靠的电容器,并避免过电压、过温等因素对电容器的影响。
此外,定期检查和维护电路中的电容器也是必要的,以确保电容器的正常工作和使用寿命。
做电容器实验时常见故障及解决方法电容器是电子学中常用的元件之一,具备存储和释放电荷的能力,可用于多种电路应用。
然而,在进行电容器实验时,常常会遇到各种故障,如电容器无法充电或放电、电容器内部损坏等。
本文将针对这些常见故障提出解决方法,帮助读者更好地进行电容器实验。
一、电容器无法充电或放电在实验过程中,如果发现电容器无法充电或放电,可能存在以下几种故障原因及对应的解决方法:1. 导线连接错误:检查连接电容器的导线是否正确连接至电源或负载。
确保正负极连接正确无误。
2. 电源电压异常:检查电源电压是否符合电容器工作电压范围。
有时电容器的电压需求高于实验电源提供的电压。
3. 电容器损坏:检查电容器是否有破损或漏液现象,如发现异常,及时更换电容器。
另外,也要确保电容器的极性正确。
二、电容器内部损坏电容器内部损坏是电容器实验中常见的问题,这可能导致电容器无法正常工作,甚至出现短路、漏电等危险情况。
因此,一旦发现电容器内部损坏,应立即采取相应的解决措施。
1. 漏电:如果电容器表面湿润或有电解液渗出等迹象,表明电容器发生漏电,需立即断开电源,并更换损坏的电容器,避免可能的安全隐患。
2. 短路:当电容器短路时,会导致电流异常增大,可能造成电路损坏,甚至引起火灾。
在发现电容器短路时,应立即切断电源,并更换短路的电容器。
3. 极性反接:有些电容器具有极性,如果误将电容器的正极与负极连接反了,会导致电容器无法正常工作,需要检查并重新连接正确的极性。
三、电容器存储效果差在实验中,有时会发现电容器的存储效果较差,无法长时间稳定保存电荷。
这可能是由于以下原因导致的,有针对性地解决可以提高电容器的存储效果。
1. 电容器质量问题:有些低质量的电容器在制作过程中可能存在工艺不良,或电介质材料选择不当,导致存储效果差。
此时,可尝试更换质量较好的电容器,并注意选择适合实验要求的型号。
2. 温度变化:电容器在高温环境下会出现电容值下降现象,存储效果也会受到一定影响。
电容串联故障排查方案及措施背景介绍电容器是电子电路中常用的元件之一,广泛应用于电源滤波、耦合、去除噪声等方面。
然而,在使用电容器时,有时会遭遇故障或失效的情况,影响电路正常运行。
本文将介绍电容串联故障的排查方案及相应的措施。
故障现象分析在电容串联故障中,常见的故障现象包括电容器值略小或完全失效。
当电容器值略小时,会导致电路工作频率不稳定,信号失真等问题。
而完全失效的电容器则会导致电路无法工作。
排查方案及措施1. 故障现象的确认首先,需要确认电容器是否发生了故障。
可通过以下方法进行检查:- 使用电容表进行测试:将电容器终止器(耳朵)连接到电容器的引线上,分别将电容表的两个探头(红黑线)接到电容器的两个引线上。
若电容表显示电容器的值较小,或显示为无穷大,则意味着电容器可能出现故障。
2. 排查导致故障的原因一旦确认电容器发生了故障,就需要找出导致故障的原因。
可能的原因包括:- 过电压:电容器在过高的电压下工作,可能会导致其故障。
检查电路中的电压来源,排查是否存在过电压的情况。
- 过电流:电容器在过大的电流下,可能会损坏。
检查电路中的电流大小,确保电容器所能承受的电流范围内。
- 温度过高:电容器在高温环境下可能会发生故障。
检查周围环境温度,保证电容器正常工作温度范围内。
3. 解决方案及措施根据导致故障的原因,可以采取以下解决方案及措施:- 使用合适的电容器:根据电路工作条件,选择电容器的额定电压和电流范围。
确保电容器能够正常工作。
- 降低电压:若电容器在过电压环境下工作,可通过添加压力分压电路、电压调节器等措施来降低电压,以保护电容器不受损。
- 增加电流限制器:若电容器在过大电流下发生故障,可通过增加电流限制器的方式来控制电流大小,以防止电容器超负荷工作。
- 提高散热条件:若电容器在高温环境下失效,可通过增加散热片、使用风扇等方式来提高散热条件,确保电容器在正常工作温度范围内运行。
4. 故障预防措施为了避免电容器串联故障的发生,还可以采取以下预防措施:- 合理布局:在电路设计中,合理安排电容器的位置和布局,避免电容器受到周围环境的影响。
问题解答
晶片电容中的CLASSⅠ和CLASSⅡ有什麽区别
2008-2-27
?
classⅰ电容(是指陶瓷材料为c0g、c0h、c0k等)是由对温度变化不敏感
的陶瓷材料制成,这样同一颗电容的容值在低温(例如-25℃)时所测舆其
在高温(例如75℃)时所测的结果没有太大变化。
eia里有提及到像
“temperature compensating”和用ppm/℃做测量。
这些典型的容值偏
低是因为其由陶瓷所制所造成,但是它会展现近似完美的不随温度变化
的容值稳定性,使它在有频率控制要求的应用上像收音机和电视高频头,展现优越的性能。
下面举一个例:
c0g=±30ppm(在-55℃~85℃温度范围内),classⅱ电容器(x7r,y5v,z5u)
是由对温度敏感的以钛酸钡(batio3)为主体的陶瓷材料制成。
这样在不
同的温度状态便有不同的敏感度。
这些电容器考虑到大容量小体积的关
系。
举classⅱ温度特性例子如下:
x7r =±15%(在-55℃~125℃温度范围内)
y5v =+22%,-82%(在-30℃~85℃温度范围内)
z5u =+22%,-56%(在+10℃~85℃温度范围内)
另外,以钛酸钡(batio3)为主体的陶瓷材料制成的电容器是铁电体的,因此当它经过一段时间
一直处於无负载和不受热的状态下,极易老化和容值稳定性控制减弱。
classⅰ是非铁电体的所
以没有老化问题。
电容使
用者应
偿老化问题2008-3-1
电容使用者应该期望自烘烤後6个周内容值应落在标准偏差内,这个时间大概是元件从制造者到使用者的交货时间。
电容使用者不应该期望
classⅰ、ⅱ、ⅳ陶瓷电容器在过锡炉後或高温制程後容值还落在标准偏差
(电容会
因此被去
老化)。
在了解老
化和去老
化作用之
後,电路
测试系统
需要纳入
考虑电容
老化现象
电容器制造商如何补偿老化问题
2008-3-6
?
既然钛酸钡所做的电容的容量随时间变化,所以给电子元件厂商造成独特的难题。
那就是“什麽是电容器的容量”
像电压频率这些测试条件在业界因老化问题达成了长期的共识,并确定了一个电容器测试标准(iec-384-9)。
明确规定电容在置放1000小时,容值必须落在标准差内。
电容厂商在去老化後根据材料的老化率计算出容值的偏差范围,然後将如上因素(比如老化率最终烘烤时间)考虑进去之後进行100%电性筛选。
比喻说一个±10%规格的电容,如果它的材料老化率是3%,在筛选时设定容值偏差范围为-7%~+13%。
通过利用这个方法,厂商可保证电容在经过1000小时老化後容值仍落在标准偏差内。
特别说明:因为老化关系过些时间容值将会降低,所以可能会出现如下情况:从烘烤後算起1000小时内有容值超出偏差上限的可能,在超过1000小时後容值有低於偏差下限的可能。
什麽是电容的去老化
2008-2-29
去老化是利用加热的方式消除老化问题。
简单地说是重启老化的过程,但是它不能阻止老化。
当电容器受温达到居里温度以上时,介质的晶体结构恢复到最佳无序外形,电容器此时产生最大容量。
一般建议去老化条件是150℃1小时。
特别说明的是:为了後续容量测试,记录最终加热时间(tolh也称去老化时间)是很重要的。
?
什麽是电容器绝缘介质的老化
2008-2-26
所谓老化通常是指在eia标准里classⅱ的电容在放置一段时间後出现容值衰减的现象。
它是一个不可避免的自然现象,源於它的绝缘材料采用的是铁电体的配方设计。
老化是一个可逆的物理现象,它的
发生原因是由於绝缘材的晶体结构会随温度和时间变化。
老化被特别提到:每十进位的时间延长,容
值衰减1%。
因老化符合自然对数规律,所以在第一个10小时老化时间内,它的容值变化最明显。
另外df(dissipation factor) 也会老化,其递减的倍数快於容量。
晶片电容中的CLASSⅠ和CLASSⅡ有什麽区别
2008-2-27
?
classⅰ电容(是指陶瓷材料为c0g、c0h、c0k等)是由对温度变化不敏感的陶瓷材料制成,这样同一颗电容的容值在低温(例如-25℃)时所测舆其在高温(例如75℃)时所测的结果没有太大变化。
eia里有提及到像“temperature compensating”和用ppm/℃做测量。
这些典型的容值偏低是因为其由陶瓷所制所造成,但是它会展现近似完美的不随温度变化的容值稳定性,使它在有频率控制要求的应用上像收音机和电视高频头,展现优越的性能。
下面举一个例:
c0g=±30ppm(在-55℃~85℃温度范围内),classⅱ电容器(x7r,y5v,z5u)是
由对温度敏感的以钛酸钡(batio3)为主体的陶瓷材料制成。
这样在不同的温度状态便有不同的敏感度。
这些电容器考虑到大容量小体积的关系。
举classⅱ温度特性例子如下:
x7r =±15%(在-55℃~125℃温度范围内)
y5v =+22%,-82%(在-30℃~85℃温度范围内)
z5u =+22%,-56%(在+10℃~85℃温度范围内)
另外,以钛酸钡(batio3)为主体的陶瓷材料制成的电容器是铁电体的,因此当它经过一段时间一直处於无负载和不受热的状态下,极易老化和容值稳定性控制减弱。
classⅰ是非铁电体的所以没有老化问题。
以钛酸钡(BaTiO3)为主体的陶瓷材料制成的电容器为什麽有老化问题及如何老化的
2008-2-27
?
经过一段时间後,内部分子结构的电偶极子做有序排列,此电偶极子的排列方式会影响到分子结构保持电子电荷的能力,有序排列要比无序排列保持电子电荷能力差。
像每次pcb上的焊接受热。