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学生实验报告
（理工类）
课程名称：晶体光学专业班级：17宝石及材料工艺学（1）或（2）学生学号：学生姓名：
所属院部：材料工程学院指导教师：李明
20 18 ——20 19 学年第 1 学期
金陵科技学院教务处制
实验项目名称：一、偏光显微镜实验学时： 2学时
同组学生姓名：实验地点：工科楼A405 实验日期： 2018.10.18 实验成绩：
批改教师：李明批改时间： 2018.10.18 一、实验目的和要求
1．了解偏光显微镜的构造、装置和用途；
2．学会偏光显微镜的调节和校正方法(调节焦距，中心校正及视域直径的测定)。
二、实验仪器和设备
1.XPT-3偏光显微镜；
2.矿物、岩石薄片若干；
3．晶体光率体模型若干；
三、实验过程
（自己按照实验指导书上择抄相关内容）
四、实验结果与分析
1．详细说明偏光显微镜每个光学元件的位置和功能。
2．详细说明确定下偏光振动方向的方法步骤。
实验项目名称：二、解理、多色性、吸收性的测定实验学时： 3学时同组学生姓名：实验地点：工科楼A405 实验日期：2018.10.18（2学时）10.25（1学时）实验成绩：
批改教师：李明批改时间： 2018.10.25 一、实验目的和要求
1．认识解理等级，了解同一矿物不同方向切面上解理缝的表现情况不同。学会解理夹角的测定方法；
2．认识多色性现象及其明显程度,了解同一矿物，不同方向切面上多色性表现情况不同。
二、实验仪器和设备
1.XPT-3偏光显微镜；
2.矿物、岩石薄片若干（主要为电气石、辉石、橄榄石矿物薄片）；
三、实验过程
（自己按照实验指导书上择抄相关内容）
四、实验结果与分析
1．描述普通角闪石不同方向切面上解理缝的表现情况；
2. 描述并比较电气石不同方向切面的多色性明显程度。
实验项目名称：三、突起及闪突起的观察实验学时： 2学时
同组学生姓名：实验地点：工科楼A405 实验日期： 2018.10.25 实验成绩：
批改教师：李明批改时间： 2018.10.25 一、实验目的和要求
1．认识贝克线，学会利用贝克线移动规律确定两相邻物质折射率的相对大小和突起的相对高低；
2．观察突起等级，认识不同突起等级的特征；
3．认识闪突起的特征；
二、实验仪器和设备
1.XPT-3偏光显微镜；
2.矿物、岩石薄片若干（花岗岩薄片若干；方解石、白云母矿片若干）；
三、实验过程
（自己按照实验指导书上择抄相关内容）
四、实验结果与分析
1．记录所观察的矿物边缘、糙面的特征，
2．根据贝克线移动方向，判断矿物突起正负和等级；
3．描述白云母的闪突起现象。
实验项目名称：四、光率体椭圆半径名称及干涉色级序的测定实验学时：3学时同组学生姓名：实验地点：工科楼A405 实验日期：2018.10.25（1学时）11.1（2学时）实验成绩：
批改教师：李明批改时间： 2018.11.1 一、实验目的和要求
1．认识1～3级干涉色及高级白干涉色的特征，学会区分一级灰白与高级白干涉色；
2．学会使用用石膏试板、云母试板测定矿片上光率体椭圆半径方向和名称的方法；
3．学会使用石英楔测定矿片干涉色级序的方法；
4．学会利用所测干涉色级序，测定矿片双折率的方法；
5．学会应用楔形边法判断矿片干涉色级序的方法。
二、实验仪器和设备
1.XPT-3偏光显微镜；
2.矿物、岩石薄片若干；
3．云母试板、石膏试板、石英楔试板；
三、实验过程
（自己按照实验指导书上择抄相关内容）
四、实验结果与分析
1．观察并描述具一级灰白干涉色的石英（或正长石）矿片，加试板后干涉色的变化情况；
2．观察并描述测定白云母（具一组清晰解理）光率体椭圆长短半径情况和结果。
3．观察并描述测定薄片厚度和白云母双折率的方法步骤。
实验项目名称：五、消光类型、消光角及延性符号的测定实验学时： 3学时同组学生姓名：实验地点：工科楼A405 实验日期：2018.11.1（2学时）11.8（1学时）实验成绩：
批改教师：李明批改时间： 2018.11. 8 一、实验目的和要求
1．认识和鉴别各种消光类型；
2．学会测定消光角及延性符号的方法。
二、实验仪器和设备
1.XPT-3偏光显微镜；
2.矿物、岩石薄片若干；
三、实验过程
（自己按照实验指导书上择抄相关内容）
四、实验结果与分析
1．详细描述测定白云母延性符号方法步骤；
2．详细描述矿物的三种消光类型。
实验项目名称：六、锥光镜下干涉图的观察与测定实验学时： 3学时同组学生姓名：实验地点：工科楼A405 实验日期： 2018.11. 8 实验成绩：
批改教师：李明批改时间： 2018.11. 8 一、实验目的和要求
1．掌握锥光镜的装置和使用，并了解其光学特点；
2．认识一轴晶主要切面类型干涉图的图像特点；
3．学会应用垂直光轴切面或斜交光轴切面干涉图，测定一轴晶矿物的光性符号；
4．认识二轴晶主要切面类型干涉图的图像特点；
5．学会应用垂直Bxa切面或垂直光轴切面干涉图测定光性符号的方法。
二、实验仪器和设备
1.XPT-3偏光显微镜；
2.矿物、岩石薄片若干；
3．石英、白云母等已定向的矿物薄片若干；
三、实验过程
（自己按照实验指导书上择抄相关内容）
四、实验结果与分析
