扫描隧道电子显微镜
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扫描隧道显微镜的使用教程随着科学技术的进步,扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope,STM)作为一种高分辨率的显微技术,被广泛应用于材料科学、纳米技术等领域。
本文将介绍扫描隧道显微镜的基本原理和使用教程,帮助读者了解并正确运用这一先进的显微镜技术。
一、基本原理扫描隧道显微镜基于一种称为隧道效应的物理原理。
当一根尖端针的尖端与被测物体非常接近时,由于电子的波动性,电子会发生隧道穿越现象,从尖端流向被测物体表面。
通过测量流经尖端的电流大小,我们可以得到被测物体表面的形貌信息。
二、准备工作在使用扫描隧道显微镜之前,首先需要准备相关的实验设备和样品。
实验室中应该配备一台高精度的扫描隧道显微镜系统,以及适量的样品和导电性良好的探针。
确保实验环境干净、无尘,以避免尘埃影响显微镜的观察效果。
三、样品制备与安装选择合适的样品,并进行必要的表面处理,以保证样品表面的平整度和干净度。
常见的处理方式包括超声清洗、化学溶液浸泡等。
待处理好的样品需要被固定在扫描隧道显微镜样品台上,可以使用夹具、胶带或其他固定装置。
确保样品的稳定性,以免在扫描过程中发生移动或变形。
四、扫描参数设定在开始实验之前,需要根据样品的性质和实验需求来设定扫描参数。
这些参数包括扫描区域的大小、扫描速度、扫描模式等。
通常情况下,较小的扫描区域能够提供更高的分辨率,但同时需花费更长的扫描时间。
根据实际需要进行权衡,并进行相应的设定。
五、开始扫描确认样品和参数设定后,即可开始实际的扫描操作。
在扫描过程中,需要特别注意显微镜头与样品的距离。
通过微调装置,逐渐将尖端针靠近样品表面,直到隧道电流能够经过,并稳定在合适的范围内。
同时,需要根据实际情况进行针尖的横向和纵向调整,以使得扫描过程中的信号稳定和清晰。
六、结果分析与处理扫描完成后,可以得到样品表面的形貌信息。
使用相应的软件工具,可以对获得的数据进行图像重建、三维重建和分析处理等操作。
高分辨电子显微镜与扫描隧道显微镜高分辨电子显微镜与扫描隧道显微镜是现代科学领域中非常重要的工具。
它们被广泛应用于材料科学、生物学、化学等各个领域,为科学研究提供了重要的技术支持。
这两种显微镜在原理和应用上有一些共同点,但也存在一些区别。
本文将重点探讨它们的原理、应用和未来发展方向。
高分辨电子显微镜(High-Resolution Electron Microscopy,简称HRTEM)是一种使用电子束来观察和分析样品的显微镜。
与光学显微镜相比,电子束具有更短的波长,能够提供更高的分辨率。
HRTEM可以观察到物质的原子排列和晶体结构,因此在材料科学领域中有着广泛的应用。
它可以帮助科学家研究材料的晶格缺陷、晶界和界面等微观结构,从而深入了解材料的性质和行为。
在纳米科学和纳米技术领域,HRTEM也发挥着重要作用。
通过HRTEM,科学家可以观察到纳米材料的尺寸、形状和结构,为设计和制备新型纳米材料提供了宝贵的信息。
扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscopy,简称STM)是一种利用量子力学中的隧穿效应来观察和操控样品表面原子的显微镜。
STM是由瑞士物理学家弗兰茨·巴尔扎(Gerd Binnig)和海因里希·罗尔(Heinrich Rohrer)于1981年发明的,为他们赢得了诺贝尔物理学奖。
STM不同于传统显微镜,它不需要光学透镜来放大图像,而是通过在样品表面移动电子束来扫描,并通过隧道电流的变化来重建样品表面的原子结构。
STM不仅能够提供更高的分辨率,还能够在原子尺度上进行操控。
它被广泛应用于表面物理学、纳米技术和生物物理学等领域。
通过STM,科学家可以观察和操控单个原子和分子,研究表面反应、表面吸附和纳米材料等问题。
尽管高分辨电子显微镜和扫描隧道显微镜在原理和应用上有一些不同,但它们也存在一些共同点。
首先,它们都利用电子束来观察和分析样品,因此可以提供更高的分辨率。
电子显微镜和扫描隧道显微镜- 电子显微镜与扫描隧道显微镜显微镜是生命科学和物理学研究中最常用的工具之一。
从简单的光学显微镜到高级的电子显微镜和扫描隧道显微镜,显微镜在不同领域中都起着至关重要的作用。
电子显微镜(EM)和扫描隧道显微镜(STM)是现代科学中最重要的显微镜之一,它们在材料科学、物理学、化学和生命科学等领域中都具有广泛的应用。
- 电子显微镜(EM)电子显微镜是一种使用电子束而非光线的显微镜。
它使用的光束是电子束,通过电镜管产生。
这种方法比光线显微镜提供更高的分辨率,可以获得更高的放大倍率,因此可以检测纳米级别的细节。
电子显微镜有两种主要类型:透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(SEM)。
TEM使用点状的能量电子束穿过样品,模拟晶体结构的形象,如生物分子或晶格。
与透射电子显微镜不同,SEM不是通过射线,而是通过扫描一个电子束的“感应场”对样品进行显微镜检查的。
SEM在图像处理方面更加灵活,因为沿特定的方向移动的“感应场”仅作用于特定的物体。
SEM还可以使用样品表面的中子以增强样品的成像质量。
- 扫描隧道显微镜(STM)扫描隧道显微镜(STM)是由瑞士物理学家希罗德·罗斯特和德国物理学家海因里希·鲍姆(Heinrich Rohrer和Gerd Binnig)首次发现的。
STM使用一个非接触的探针通过扫描样品表面来检测电流。
STM的分辨率超过了几个原子的间距,并可检测网络结构的局部。
STM没有透射电子显微镜或扫描电子显微镜,因为它检测的是样品表面的原子状态。
但与透射电子显微镜和扫描电子显微镜不同,STM使用的探头不留下成像细节,但非常适合检测表面的局部结构。
- 应用电子显微镜和扫描隧道显微镜可以应用于不同领域,如以下例子所示:材料科学:电子显微镜可用于研究纳米颗粒、多晶金属等材料科学研究,以及晶体成长和表面变换等方面的基础研究。
STM可用于生成高分辨率的图像,可以研究新颖材料的原子结构。
扫描隧道电子显微镜
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扫描隧道电子显微镜(scanning tunneling microscope,STM)是一种利用量子理论中的隧道效应探测物质表面结构的仪器,利用电子在原子间的量子隧穿效应,将物质表面原子的排列状态转换为图像信息的。
中文名
扫描隧道电子显微镜
外文名
scanning tunneling microscop
简称
STM
发明者
格尔德·宾宁
目录
1. 1 定义
2. 2 背景
3. 3 发展
1. 4 原理
2. 5 工作方式
3. ▪恒流模式
4. ▪恒高模式
1. 6 应用
2. 7 展望
定义编辑
扫描隧道电子显微镜(scanning tunneling microscope,STM)是一种利用量子理论中的隧道效应探测物质表面结构的仪器,利用电子在原子间的量子隧穿效应,将物质表面原子的排列状态转换为图像信息的。
在量子隧穿效应中,原子间距离与隧穿电流关系相应。
通过移动着的探针与物质表面的相互作用,表面与针尖间的隧穿电流反馈出表面某个原子间电子的跃迁,由此可以确定出物质表面的单一原子及它们的排列状态。
背景编辑
透射电子显微镜在观察物质的整体结构方面是很有用的,但在表面结构的分析上却
较困难,这是因为透射电子显微镜是由高
能电透过样品来获得信息的,反映的是样品物质的内部信息。
扫描电子显微镜(SEM)虽然能揭示一定的表面情况,但由于入射
电子总具有一定能量,会穿入样品内部,因此分析的所谓“表面” 总在一定深度上,而
且分辫率也受到很大限制。
场发射电子显微镜(FEM)和场离子显微镜(FIM)虽然能很好地用于表面研究,但是样品必须特殊制备,只能置于很细的针尖上,并且样品还需能承受高强电场,这样就使它的应用范围受到
了限制。
扫描隧道电子显微镜(STM)的工作原理完全不同,它不是通过电子束作用于样品(如透射和扫描电子显微镜)来获得关于样品物质的信息,也不是通过高电场使样品中的电子获得大于脱出功的能量而形成的
发射电流成象(如场发射电子显微镜),
并以此来研究样品物质,它是通过探测样品表面的隧道电流来成象,从而对样品表面
进行研究。
发展编辑
它于1981年由格尔德·宾宁(Gerd
K.Binnig)及亨利希·罗勒(Heinrich Rohrer)在IBM位于瑞士苏黎世的苏黎世实验室发明,两位发明者因此与厄恩斯特·鲁什卡分享了1986年诺贝尔物理学奖。
作为一种扫描探针显微术工具,扫描隧道显微镜可以让科学家观察和定位单个原子,它具有比它的同类原子力显微镜更加高的分辨率。
此外扫描隧道显微颌在低温下可以利用探针尖端精确操纵原子,因此它在纳米科技既是重要的测量工具又是加工工具。
原理编辑
扫描隧道显微镜是根据量子力学中的隧道效应原理,通过探测固体表面原子中电子的隧道电流来分辨固体表面形貌的新型显微装置。
由于电子的隧道效应,金属中的电子并不完全局限在表面边界之内,即电子的密度并不在表面边界突然降为零,而是在表面以外呈指数衰减;衰减长度约为1nm,它是电
子逸出表面势垒的量度。
如果两块金属互相靠得很近,它们的电子云就可能发生重叠;如果在两金属间加一微小电压,那就可以观察到它们之间的电流(称为隧道电流)。
工作方式编辑
尽管扫描隧道电子显微镜的构型各不相同, 但都包括有下述三个主要部分:驱动探针相对于导电试样表面作三维运动的机械
系统(镜体),用于控制和监视探针与试样之间距离的电子系统和把测得的数据转换成
图像的显示系统。
它有两种工作方式:恒流模式、恒高模式。
恒流模式
利用一套电子反馈线路控制隧道电流,使其保持恒定。
再通过计算机系统控制针尖在样品表面扫描,即是使针尖沿x、y 两个方向作二维运动。
由于要控制隧道电流不变,针尖与样品表面之间的局域高度也会保持
不变,因而针尖就会随着样品表面的高低起伏而作相同的起伏运动,高度的信息也就由
此反映出来。
这就是说,扫描隧道电子显微镜得到了样品表面的三维立体信息。
这种工作方式获取图像信息全面,显微图象质量高,应用广泛。
恒高模式
在对样品进行扫描过程中保持针尖的绝
对高度不变;于是针尖与样品表面的局域距离将发生变化,隧道电流I 的大小也随着发生变化;通过计算机记录隧道电流的变化,并转换成图像信号显示出来,,即得到了扫描隧道电子显微镜显微图。
这种工作方式仅适用于样品表面较平坦、且组成成分单一。
应用编辑
隧道显微镜的原理是巧妙地利用了物理
学上的隧道效应及隧道电流。
金属体内存在大量"自由"电子,这些"自由"电子在金属体
内的能量分布集中于费米能级附近,而在金属边界上则存在一个能量比费米能级高的
势垒。
因此,从经典物理学来看,在金属内的"自由"电子,只有能量高于边界势垒的那
些电子才有可能从金属内部逸出到外部。
但根据量子力学原理,金属中的自由电子还具有波动性,这种电子波在向金属边界传播而遇到表面势垒时,会有一部分透射。
也就是说,会有部分能量低于表面势垒的电子能够穿透金属表面势垒,形成金属表面上的"电子云"。
这种效应称为隧道效应。
所以,当两种金属靠得很近时(几纳米以下),两种金属的电子云将互相渗透。
当加上适当的电压时,即使两种金属并未真正接触,也会有电流由一种金属流向另一种金属,这种电流称为隧道电流。
隧道电流和隧道电阻随隧道间隙的变化
非常敏感,隧道间隙即使只发生0.01nm的变化,也能引起隧道电流的显著变化。
如果用一根很尖的探针(如钨针)在距离该光滑样品表面上十分之几纳米的高度上
平行于表面在x,y方向扫描,由于每个原
子有一定大小,因而在扫描过程中隧道间隙就会随x,y的不同而不同,流过探针的隧
道电流也不同。
即使是百分之几纳米的高度变化也能在隧道电流上反映出来。
利用一台
与扫描探针同步的记录仪,将隧道电流的变化记录下来,即可得到分辨本领为百分之几纳米的扫描隧道电子显微镜图像。
展望编辑
扫描隧道电子显微镜的出现为人类认识
和改造微观世界提供了一个极其重要的新
型工具。
随着实验技术的不断完善,STM 将在单原子操纵和纳米技术等诸多研究领域
中得到越来越广泛的应用。
STM和SEM 的结合在纳米技术中的应用必将极大地促
进纳米技术不断发展。
可预言,在未来科学的发展中,STM 和SEM 的结合将渗透到表
面科学、材料科学、生命科学等各个科学技术领域中。
词条标签:
中国电子学会,自然学科,科技,理学,物理学,仪器
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3 发展
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5.1 恒流模式
5.2 恒高模式
6 应用
7 展望
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