电子衍射的原理
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电子的衍射原理电子的衍射原理是指当电子束通过一个尺寸与其波长接近的孔或经过晶体时,会发生衍射现象。
这个现象与光波的衍射原理非常相似,但是由于电子的特殊性质,使得电子的衍射具有一些独特的特点。
首先,我们知道根据德布罗意波动方程,物质粒子也具有波动性质。
对于电子来说,它的波长可以由德布罗意公式λ = h/p计算得出,其中h是普朗克常数,p为电子的动量。
电子的衍射主要是通过电子与晶体或孔的相互作用来产生的。
当电子束遇到晶格的时候,晶格的周期性结构会对电子束产生散射,这种散射就是电子的衍射。
晶格常数决定了衍射的微细结构,而晶体的平面则决定了衍射的方向性。
衍射的过程可以通过惠更斯-菲涅尔原理来描述。
根据该原理,每个点上的波前都可以看作是一系列波源发出的次级波的叠加,这些次级波形成了新的波前。
在电子的衍射过程中,散射的电子波可以视为次级波,而晶体或孔则形成了作为波前的电子波传播的界面。
电子的衍射表现出了一些有趣的现象。
首先是衍射图样的特点,类似于光的衍射,电子的衍射图样也会出现干涉条纹。
这些条纹的形状和分布可以提供关于晶体结构的有用信息,因此电子衍射技术在材料科学中有着重要的应用。
另一个有趣的现象是衍射的相对强度。
电子的散射过程中,不同方向的电子波会相互干涉,形成强度不均匀的衍射图样。
这些强度的变化可以通过使用衍射模型和计算方法来解释。
电子衍射原理在很多领域都有重要的应用,特别是在材料科学、凝聚态物理和电子显微镜技术中。
使用电子衍射技术,科学家们可以研究材料的晶体结构、晶格常数、晶格缺陷等重要的性质。
此外,电子衍射还可用于表征纳米材料、薄膜以及生物分子的结构,为相关研究提供了强有力的工具。
总之,电子的衍射原理是基于电子的波动性而实现的一种衍射现象。
通过电子与晶体或孔的相互作用,电子束会发生散射,形成干涉和衍射的图样。
电子衍射原理的理解和应用对于探索材料的微观结构、研究纳米领域以及发展电子显微镜技术都具有重要的意义。
理解电子衍射原理及其在材料分析中的应用引言:材料科学与工程领域中,电子衍射技术是一种重要的分析手段。
通过电子衍射,我们可以了解材料的晶体结构、晶格常数、晶体缺陷等信息。
本文将从电子衍射的原理入手,探讨其在材料分析中的应用。
一、电子衍射原理电子衍射原理是基于波粒二象性理论的,即电子既具有粒子性又具有波动性。
当高速电子束通过物质时,会与物质中的原子发生相互作用,进而发生衍射现象。
电子衍射的原理与光学衍射类似,但由于电子的波长远小于光波长,电子衍射可以提供更高的分辨率。
二、电子衍射技术的应用1. 晶体结构分析电子衍射可以通过测量衍射斑图来确定材料的晶体结构。
在电子衍射中,衍射斑图是由电子束与晶体中的原子相互作用形成的。
通过解析衍射斑图,我们可以得到晶体的晶格常数、晶体的对称性、晶体的晶体缺陷等信息。
2. 相变研究相变是材料研究中一个重要的课题。
电子衍射可以用来研究材料的相变过程。
通过观察相变过程中电子衍射斑图的变化,我们可以了解材料的相变机制、相变温度等信息。
3. 晶体缺陷分析晶体缺陷是晶体中存在的一些非理想性质,如晶格缺陷、晶体畸变等。
电子衍射技术可以用来分析晶体的缺陷结构。
通过观察电子衍射斑图中的强度变化和衍射斑的形状,我们可以推断晶体中的缺陷类型和缺陷密度。
4. 薄膜分析薄膜是材料科学中常见的一种材料形态。
电子衍射可以用来分析薄膜的晶体结构和晶格常数。
通过测量电子衍射斑图的形状和强度分布,我们可以了解薄膜的晶体有序性和晶格畸变情况。
5. 纳米材料分析纳米材料是近年来材料科学中的研究热点。
电子衍射技术可以用来研究纳米材料的晶体结构和晶格畸变。
由于纳米材料的尺寸较小,传统的X射线衍射技术难以应用,而电子衍射技术可以提供更高的分辨率。
结论:电子衍射是一种重要的材料分析技术,可以用来研究材料的晶体结构、晶体缺陷、相变过程等。
通过电子衍射技术,我们可以了解材料的微观结构和性质,为材料的设计和应用提供重要的理论依据。
电子衍射实验导言:电子衍射实验是一项经典的物理实验,它通过通过高速电子的衍射现象来研究物质的粒子性质。
本文将详细介绍电子衍射实验的原理、实验准备和过程,并讨论其在实际应用中的其他专业性角度。
一、原理解析:1. 单缝衍射原理:根据波粒二象性原理,粒子也能表现出波动性。
当电子通过一个狭缝时,就像波一样会发生衍射。
这一现象被称为单缝衍射,其原理类似于光的衍射。
2. 双缝干涉原理:当电子通过两个狭缝时,它们会形成干涉图案。
这一现象被称为双缝干涉,通过干涉图案我们可以了解电子的波动性质。
3. 德布罗意关系:根据德布罗意关系,电子的波长可以由其动量和质量计算而得。
波长越小,衍射现象越明显。
二、实验准备:1. 光路准备:为了产生出足够的直线电子流,我们需要将电子加速器与狭缝和探测器相连接。
狭缝用于产生单缝衍射或双缝干涉的实验装置。
探测器用于检测电子的位置和强度。
2. 实验装置:实验装置应包括一个高速电子加速器,以及具有单缝或双缝的狭缝装置。
通常,狭缝与探测器之间还会加入电子透镜和偏转电场,以调控电子束在实验中的走向和位置。
三、实验步骤:1. 调整实验装置:首先,我们需要调整电子加速器,确保电子束稳定直线且具有足够高的速度。
然后,调整狭缝和探测器的位置,使其在实验装置中合适而稳定。
2. 单缝衍射实验:将实验装置调整至单缝衍射模式,保持电子加速器和狭缝之间的距离一定,并记录探测器上的衍射图案。
通过衍射图案,我们可以观察到电子的波动性以及电子波长的大小。
3. 双缝干涉实验:将实验装置调整至双缝干涉模式。
确保狭缝之间的距离与电子波长相匹配,使得双缝干涉效应最为明显。
记录探测器上的干涉图案,通过干涉图案,我们可以观察到电子的干涉现象。
四、实验应用:1. 量子力学研究:电子衍射实验是研究量子力学的重要实验之一。
通过电子的波动性和干涉现象,我们可以了解到电子的粒子性质。
这对于研究电子行为和物质结构非常重要。
2. 材料科学:电子衍射实验在材料科学中有着广泛的应用。
第一节 电子衍射的原理1.1 电子衍射谱的种类在透射电镜的衍射花样中,对于不同的试样,采用不同的衍射方式时,可以观察到多种形式的衍射结果。
如单晶电子衍射花样,多晶电子衍射花样,非晶电子衍射花样,会聚束电子衍射花样,菊池花样等。
而且由于晶体本身的结构特点也会在电子衍射花样中体现出来,如有序相的电子衍射花样会具有其本身的特点,另外,由于二次衍射等会使电子衍射花样变得更加复杂。
上图中,图a和d是简单的单晶电子衍射花样,图b是一种沿[111]p方向出现了六倍周期的有序钙钛矿的单晶电子衍射花样(有序相的电子衍射花样);图c是非晶的电子衍射结果,图e和g 是多晶电子的衍射花样;图f是二次衍射花样,由于二次衍射的存在,使得每个斑点周围都出现了大量的卫星斑;图i和j是典型的菊池花样;图h和k是会聚束电子衍射花样。
在弄清楚为什么会出现上面那些不同的衍射结果之前,我们应该先搞清楚电子衍射的产生原理。
电子衍射花样产生的原理与X 射线并没有本质的区别,但由于电子的波长非常短,使得电子衍射有其自身的特点。
1.2 电子衍射谱的成像原理在用厄瓦尔德球讨论X射线或者电子衍射的成像几何原理时,我们其实是把样品当成了一个几何点,但实际的样品总是有大小的,因此从样品中出来的光线严格地讲不能当成是一支光线。
之所以我们能够用厄瓦尔德来讨论问题,完全是由于反射球足够大,存在一种近似关系。
如果要严格地理解电子衍射的形成原理,就有必要搞清楚两个概念:Fresnel(菲涅尔)衍射和Fraunhofer(夫朗和费)衍射。
所谓Fresnel(菲涅尔)衍射又称为近场衍射,而Fraunhofer(夫朗和费)衍射又称为远场衍射.在透射电子显微分析中,即有Fresnel(菲涅尔)衍射(近场衍射)现象,同时也有Fraunhofer(夫朗和费)衍射(远场衍射)。
Fresnel(菲涅尔)衍射(近场衍射)现象主要在图像模式下出现,而Fraunhofer(夫朗和费)衍射(远场衍射)主要是在衍射情况下出现。
小孔的直接衍射成像(不加透镜)就是一个典型的Fresnel(菲涅尔)衍射(近场衍射)现象。
在电镜的图像模式下,经常可以观察到圆孔的菲涅尔环。
Fraunhofer(夫朗和费)衍射是远场衍射,它是平面波在与障碍物相互作用后发生的衍射。
严格地讲,光束之间要发生衍射,必须有互相叠加,平行光严格意义上是不能叠加的,所以在没有透镜的前提下,夫朗和费衍射只是一种理论上的概念。
但是在很多情况下,可以将衍射当成夫朗和费衍射来处理,X射线衍射就是这样一种情况。
虽然X射线是照射在晶体中的不同晶面上,但是由于晶面间距的值远远小于厄瓦尔德球(X射线波长的倒数),即使测试时衍射仪的半径跟晶面间距比也是一个非常大的值,所以X射线衍射可以当成夫朗和费衍射处理,因为此时不同晶面上的X射线叠加在一点上时,它们的衍射角仍然会非常接近布拉格角。
论:X射线并非严格的夫朗和费衍射,但可以将其当成夫朗和费衍射处理。
电子衍射是有透镜参与的Fraunhofer(夫朗和费)衍射,所以与X射线衍射的相比,它才是严格的远场衍射。
上图只是给出了晶体在某个方向的平行光能彼此加强时,一定会在透镜的背焦面上会聚成一个加强的衍射斑点。
而晶体究竟会在哪些方向产生平行光之间彼此加强的衍射,最终还是取决于它满不满足布拉格方程,即厄瓦尔德几何条件。
下图是单晶电子的厄瓦尔德示意图,图中的比例关系中,反射球的尺度被大大缩小。
如上图所示,如果倒易点阵都是理想意义上的点,那么根本不可能使某个零层倒易面上的点同时满足布拉格方程,即其上的每个点同时落在厄瓦尔德球上。
因此之所以能得到单晶电子衍射花样,是因为电子衍射有其自身的特点。
首先电子波的波长非常短,因为与其对应的厄瓦尔德球半径会非常大(远大于地球),因此与倒易点阵相交的地方接近是一个平面(个人并不认可这一观点,因为倒易点阵的矢量也会非常大,总的来说必须满足布拉格条件,而且我们记录时不可能做出一个这个大的设备)。
但是厄瓦尔德球半径与倒易矢之间的比例关系确实发生了变化,指数不是太高的晶面其布拉格角都会在几度的范围内。
第二个原因是在电镜下观察的是薄膜样品,因此在垂直于厚度的方向,倒易点会拉长为倒易杆。
如前所述,标准电子衍射花样应该是零层倒易面的比例图像,它实际上是对透射电镜中物镜的背焦面上的图像的放大。
右图是倒易矢量、电子波的波数、相机长度与电子衍射花样中的衍射斑点的矢量之间的示意图,由图马上可以得到下面的比例关系:通常将K=λL=Rd称为相机常数,而L被称为相机长度。
上面的示意图中,比例关系没有问题,但我们应该注意的是,倒易球是非常大的,而相机长度不可能太大。
所以上面的示意图如果把相机长度放在倒易球内就会更加接近实际。
实际上在电子衍射操作时,没有放大以前,衍射花样就成在物镜的背焦面上,相机长度就是物镜的焦距 f0,我们在底片上得到的焦距是经过中间镜和投影镜放大后的结果,所以实际处理时的相机长度值就是:L= f0 MIMP.1.3 电子衍射花样的优点:1.3.1 电子衍射花样的优点:●电子衍射能在同一试样上将形貌观察与结构分析结合起来。
●电子波长短,单晶的电子衍射花样就象晶体的倒易点阵的一个二维截面在底片上放大投影,从底片上的电子衍射花样可以直观地辨认出一些晶体的结构和对称性特点,使晶体结构的研究比X射线的简单。
●●物质对电子的散射能力强,约为X射线一万倍,曝光时间短。
1.3.2 电子衍射花样的不足不处:●电子衍射强度有时几乎与透射束相当,以致两者产生交互作用,使电子衍射花样,特别是强度分析变得复杂,不能象X射线那样从测量衍射强度来广泛的测定结构;●散射强度高导致电子透射能力有限,要求试样薄,这就使试样制备工作较X射线复杂;●在精度方面也远比X射线低。
1.4 选区电子衍射如果在物镜的像平面处加入一个选区光阑,那么只有A’B’范围的成像电子能够通过选区光阑,并最终在荧光屏上形成衍射花样。
这一部分的衍射花样实际上是由样品的AB范围提供的,因此利用选区光阑可以非常容易分析样品上微区的结构细节。
上图是一个选区电子衍射的实例,其中图a是一个简单的明场像,图b、c和d是对图a中的不同区域进行选区电子衍射操作以后得到的结果。
为了得到晶体中某一个微区的电子衍射花样,一般用选区衍射的方法,选区光阑放置在物镜像平面(中间镜成像模式时的物平面),而不是直接放在样品处的原因如下:1、做选区衍射时,所要分析的微区经常是亚微米级的,这样小的光阑制备比较困难,也不容易准确地放置在待观察的视场处;2、在很强的电子照射下,光阑会很快污染而不能再使用;3、现在的电镜极靴缝都非常小,放入样品台以后很难再放得下一个光阑;现在电镜的选区光阑可以做到非常小,如JEOL 2010的选区光阑孔径分别为:5μm,20μm,60μm,120μm。
1.5 衍射与选区的对应A 磁转角1.由于在拍摄电子显微像及衍射图时使用的中间镜电流不同,因此两者在中间镜磁场中的旋转角度不同,也就是像与衍射花样之间有一定的相对转动。
它们之间相差的角度就称之为磁转角;2.ψ=ψi-ψd,在不同的放大倍数下测出其磁转角;3.有的TEM安装有磁转角自动补正装置,在分析时就不必考虑磁转角的影响B 位置不对应由于球差的存在而引起的位置不对应可以用下式来表示:由上式可以看出这种不对应有如下的特点:衍射点的指数越高,产生的位移越大,不对应性也就越明显;物镜离焦也会加大这种不对应性,即物镜像面、选区光阑不共面时,也会引起选区电子衍射的不对应性。
下表是Al在F30和JEOM-2010两种电镜下,用不同的衍射斑成像时,图像的偏离程序:1.6 准确获得选区电子衍射花样的操作步骤:1.调整中间镜电流使选区光阑边缘的像在荧光屏上非常清晰,这就使中间镜的物面与选区光阑的平面相重;2.调整物镜电流使试样在荧光屏上呈现清晰像,这就使物镜的像平面与选区光阑及中间镜的物面相重;3.抽出物镜光阑,减弱中间镜(用于衍射的)电流,使其物面与物镜后焦面相重,在荧光屏上获得衍射谱的放大像;在现代电镜中,只要转换倒衍射模式,并调节衍射镜电流使中心斑调整到最小最圆;4.减弱聚光镜电流以降低入射束孔径角,得到尽可能趋近于平行的电子束,使衍射斑尽量明锐。
第二节 电子衍射花样的标定与分析电子衍射谱的标定就是确定电子衍射图谱中的诸衍射斑点(或者衍射环)所对应的晶面的指数和对应的晶带轴(多晶不需要)。
电子衍射谱主要有多晶电子衍射谱和单晶电子衍射谱。
电子衍射谱的标定主要有以下几种情况:1.晶体结构已知;2.晶体结构虽然未知,但可以确定它的范围;3.晶体结构完全未知。
2.1 多晶电子衍谱的标定在做电子衍射时,如果试样中晶粒尺度非常小,那么即使做选区电子衍射时,参与衍射的晶粒数将会非常多,这些晶粒取向各异,与多晶X射线衍射类似,衍射球与反射球相交会得到一系列的衍射圆环。
由于电子衍射时角度很小,透射束与反射球相交的地方近似为一个平面,再加上倒易点扩展成倒易球,多晶衍射花样将会是如下图所示的一个同心衍射圆环。
圆环的半径可以用下式来计算:R=L λ/d;A、晶体结构已知的多晶电子衍射花样的标定1、测出各衍射环的直径,算出它们的半径;2、考虑晶体的消光规律,算出能够参与衍射的最大晶面间距,将其与最小的衍射环半径相乘即可得出相机常数和相机长度(如果相机常数已知,则直接到第三步);3、由衍射环半径和相机常数,可以算出各衍射环对应的晶面间距,将其标定。
如果已知晶体Al h k l 111 222 333 444 555F30 d(nm) 1.54 12.341.6 98.6 1932010 d(nm) 0.64 5.1417.3 41.1 80.2的结构是面心、体心或者简单立方,则可以根据衍射环的分布规律直接写出各衍射环的指数。
B、晶体结构未知,但可以确定其范围的多晶电子衍射花样的标定1、首先看可能的晶体结构中有没有面心、体心和简单立方,如有,看花样与之是否对应;2、测出各衍射环的直径,算出它们的半径;3、考虑各晶体的消光规律,算出能够参与衍射的最大晶面间距,将其与最小的衍射环半径相乘得出可能的相机常数和相机长度,用此相机常数来计算剩下的衍射环对应的晶面间距,看是不是与所选的相对应;每个可能的相都这样算一次,看哪一个最吻合;4、按最吻合的相将其标定。
C、晶体结构完全未知的多晶电子衍射花样的标定1、首先想办法确定相机常数;2、测出各衍射环的直径,算出它们的半径;3、算出各衍射环对应的晶面的面间距;4、根据衍射环的强度,确定三强线,查PDF卡片,最终标定物相;这种方法由于电子衍射的精度有限,而且电子衍射的强度并不能与X射线一样可信,因此这种方法很有可能找不到正确的结果。
2.2 单晶电子衍谱的标定单晶电子衍射谱实际上是倒空间中的一个零层倒易面,对它标定时,只考虑相机常数已知的情况。