有效期验证报告

有效期验证报告

产品名称：动态心电记录仪申报人：xxxxxxxxxxxxxxxxxxxxx

1目的

验证动态心电记录仪的可靠性，确定其安全有效的使用期限，保证使用者的安全和临 床应用中检测的准确性。

2 验证时间：2016-8-11 至 2016-10-11 3实验人员：项目组 4实验设备：环境试验箱 5概述

在正常工作条件下，常常采用寿命试验方法去评估产品的各种可靠特征。对于那种寿命 比较长的产品来说，不是一种合适的方法，因此，在寿命试验的基础上形成的加大应力、 缩短时间的加速寿命试验方法逐渐取代了常规的寿命试验方法。

加速寿命试验是用加大试验应力（诸如热应力、电应力等）的方法，激发产品在短时间产 生跟正常应力水平下相同的失效，缩短试验周期。然后运用加速寿命模型，评估产品在正 常工作应力下的可靠性特征。加速环境试验是近年来快速发展的一项可靠性试验技术。该 技术突破了传统可靠性试验的技术思路，将激发的试验机制引入到可靠性试验，可以大大 缩短试验时间，提高试验效率，降低试验耗损。

6常见加速模型

加速环境试验是一种激发试验，它通过强化的应力环境来进行可靠性试验。加速环境试 验的加速水平通常用加速因子来表示。加速因子的含义是指设备在正常工作应力下的寿命 与在加速环境下的寿命之比，通俗来讲就是指一小时试验相当于正常使用的时间。因此， 加速因子的计算成为加速寿命试验的核心问题，也成为客户最为关心的问题。加速因子的 计算也是基于一定的物理模型的，因此下面分别说明常用应力的加速因子的计算方法。

6.1温度加速因子

温度的加速因子由 Arrhe nius

模型计算：

其中,

Lnormal 为正常应力下的寿命， Lstress 为高温下的寿命，Tnormal 为室温绝对温 Tstress 为高温下的绝对温度， Ea 为失效反应的活化能（eV ）, k 为Boltzma nn 常数， 8.62 x 10-5eV/K ，实践表明绝大多数电子元器件的失效符合

Arrhenius 模型，表1给出

了半导体元器件常见的失效反应的活化能。

^物

IC 断开Al的电迁移0.6

IC（塑料）断开Al腐蚀0.56

MOS IC （存储器）短路氧化膜破坏0.3-0.35

二极管短路PN结破坏（Au-Si固相

反应）

1.5

晶体管短路Au的电迁移0.6

MOS器件阀值电压漂移发光玻璃极化 1.0

MOS器件阀值电压漂移Na离子漂移至Si氧化膜 1.2-1.4

MOS器件阀值电压漂移Si-Si氧化膜的缓慢牵引

1.0

6.2湿度加速因子

湿度的加速因子由Hallberg和Peck模型计算:

其中，RHsress为加速试验相对湿度，RHnormal为正常工作相对湿度，n为湿度的加

速率常数，不同的失效类型对应不同的值，一般介于2-3之间。

6.3温度变化加速因子

温度的加速因子由Cofin-Maso n公式计算:

其中，△ Tsress为正常应力下的温度变化，n

为温度变化的加速率常数，不同的失效类型对应不同的值，一般介于4-8之间。

7试验方案

影响本心电记录仪使用寿命的主要部件有设备部的电路板，而决定这些部件的寿命环境因素主要为温度和湿度，本试验采用最弱链条的失效模型，通过提高试验温度和湿度来考核产品的使用寿命。在75C、

85%RHF做加速寿命测试，故其加速因子应为温度加速因子和湿度加速因子的乘积，计算如下：

normal)

TEk

AG

^normal)

AF = T AF x H AF

试验采用三台样机同时进行恒定应力寿命试验，试验时仪器正常通电，每天进行 24小

时试验，试验过程每隔十天进行一次功能测试，每次功能测试连续测试三次，以验证试验 阶段产品的完好性。停

止试验后时产品回到正常工作环境静止 30分钟，然后进行功能测试

并记录数据。如此反复，连续测量 60天后，试验结束，结束后静止 30分钟，在进行性能

测试并记录数据。

8试验结果

本试验从2016年8月11日开始，至2016年10月11日，实际有效的试验时间为 60 天，每天试验为

24小时，共1440小时。本试验是75C 、85%RHF 做加速寿命测试，故其 加速因子应为温度加速因子和湿度加

速因子的乘积，计算如下：其中， Ea 为激活能

（eV ）, k 为玻尔兹曼常数且 k=8.6 x 10-5eV/K , T 为绝对温度、RH 为相对湿度（单 位％）, —般情况下

n 取为2。根据产品的特性，取 Ea 为0.6eV ，室温取为25 C 、

75%RH 把上述数据带入计算，求

AF = 37,即在75 C 、85%RHF 做1小时试验相当于室温

下寿命约37小时。试验总时间为 1440小时，相当于正常环境工作时间为 1140*37=53280 小时。由于仪器是家庭或者医院进行佩戴心电测量的，患者佩戴时间长达 24小时，几乎全 年无休的。设备一年的工作时间为 365*24=8760 ,故设备理论使用寿命为

53280/8760=6.08

年，考虑试验的偏差以及一些非预期的因素，确保仪器的安全有效，确定其有效期为

5年

（每天连续工作时间 24小时）。

序号

阶段及节点

试验记录

1

试验前阶段

2016-08-11

附表1

2016-08-11 / ^2016-08-21 附表2

2016-08-21 / ^2016-08-31 附表3 2

试验阶段

2016-08-31 / ^2016-09-10 附表4

2016-09-10 / 7 2016-09-20 附表5

2016-09-20 / 7 2016-09-30 附表6

2016-09-30 / ^2016-10-10

附表7

10试验结果

依据以上实验安排，在温度

75C ，湿度为85%老化运行大约 9周（60天），相当于

在20C ，湿度为50%勺环境下工作6年。根据各个时间阶段和节点的试验记录，各个参数 性能均符合产品的技术要求。综合考虑试验的偏差以及一些非预期的因素，确保仪器的安 全有效，最终定义有效期为 5年。

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