下载文档原格式
用两个万用表就可以测了。
光电耦合器由发光二极管和受光三极管封装组成。
如光电耦合器４Ｎ２５，采用ＤＩＰ－６封装，共六个引脚，①、②脚分别为阳、阴极，③脚为空脚，④、⑤、⑥脚分别为三极管的ｅ、ｃ、ｂ极。
以往用万用表测光耦时，只分别检测判断发光二极管和受光三极管的好坏，对光耦的传输性能未进行判断。
这里以光耦４Ｎ２５为例，介绍一种测量光耦传输特性的方法。
１．判断发光二极管好坏与极性：用万用表Ｒ×１ｋ挡测量二极管的正、负向电阻，正向电阻一般为几千欧到几十千欧，反向电阻一般应为∞。
测得电阻小的那次，红笔接的是二极管的负极。
２．判断受光三极管的好坏与放大倍数：将万用表开关从电阻挡拨至三极管ｈＦＥ挡，使用ＮＰＮ型插座，将Ｅ孔连接④脚发射极，Ｃ孔连接⑤脚集电极，Ｂ孔连接⑥脚基极，显示值即为三极管的电流放大倍数。
一般通用型光耦ｈＦＥ值为一百至几百，若显示值为零或溢出为∞，则表明三极管短路或开路，已损坏。
３．光耦传输特性的测量：测试具体接线见下图，将数字万用表开关拨至二极管挡位，黑笔接发射极，红笔接集电极，⑥脚基极悬空。
这时，表内基准电压２．８Ｖ经表内二极管挡的测量电路，加到三极管的ｃ、ｅ结之间。
但由于输入二极管端无光电信号而不导通，液晶显示器显示溢出符号。
当输入端②脚插入Ｅ孔，①脚插入Ｃ孔的ＮＰＮ插座时，表内基准电源２．８Ｖ经表内三极管ｈＦＥ挡的测量电路，使发光二极管发光，受光三极管因光照而导通，显示值由溢出符号瞬间变到１８８的示值。
当断开①脚阳极与Ｃ孔的插接时，显示值瞬间从１８８示值又回到溢出符号。
不同的光耦，传输特性与效率也不相同，可选择示值稍小、显示值稳定不跳动的光耦应用。
由于表内多使用９Ｖ叠层电池，故给输入端二极管加电的时间不能过长，以免降低电池的使用寿命及测量精度，可采用断续接触法测量。
817是常用的线性光藕，在各种要求比较精密的功能电路中常常被当作耦合器件，具有上下级电路完全隔离的作用，相互不产生影响。
光耦好坏的检测方法1. 引言光耦（Optocoupler）是一种能够将输入电信号和输出电信号进行隔离的电子器件。
它通常由一个发光二极管和一个光敏三极管组成，通过光的传导来实现输入与输出之间的隔离。
在电子设备中，光耦广泛应用于隔离、调节、控制等功能。
本文将介绍光耦好坏的检测方法，帮助读者了解如何判断一个光耦是否正常工作。
2. 光耦的工作原理在了解如何检测光耦好坏之前，我们首先需要了解光耦的工作原理。
一个基本的光耦由发光二极管（LED）和光敏三极管（Phototransistor）组成。
当外加电压施加到LED时，LED会发出可见或红外光。
这些发出的光线会被传输到与之相连的光敏三极管中，从而控制输出端口。
具体来说，在正常工作状态下，当输入端口施加一个高电平时，LED会发出高能量的光线并照射到接收端口上。
接收端口中的光敏三极管会受到光线的刺激，导致电流增加，从而使输出端口输出高电平。
反之，当输入端口施加一个低电平时，LED不会发出光线，接收端口中的光敏三极管不受到刺激，导致电流减小，从而使输出端口输出低电平。
3. 光耦好坏的检测方法接下来我们将介绍几种常用的光耦好坏检测方法。
3.1 使用万用表进行检测使用万用表可以快速检测光耦是否正常工作。
以下是具体步骤：1.将万用表调整为二极管测试模式。
2.将正极（红色探针）连接到LED的阳极，将负极（黑色探针）连接到LED的阴极。
3.如果万用表显示一个较小的电压值（通常在0.6V左右），则说明LED正常工作。
4.如果万用表显示一个无穷大或非常高的电阻值，则说明LED损坏。
3.2 使用示波器进行检测示波器可以帮助我们观察和分析光耦输入和输出信号的波形。
以下是具体步骤：1.将示波器的探头的接地线连接到光耦的接收端口。
2.将示波器的信号线连接到光耦的输入端口。
3.施加一个高电平或低电平信号到光耦的输入端口上。
4.观察示波器上输出信号的波形。
如果输出信号与输入信号相符，且幅度正常，则说明光耦正常工作。
电气特性1、High Level output Current I OH2、Low Level output Current I OL3、High Level output Voltage V OH4、Low Level output Voltage V OL5、输入正向电压V F6、输入级与输出级之间的绝缘电阻Rio7、电流传输比CTR开关特性一、输入特性光耦合器的输入特性实际也就是其内部发光二极管的特性。
常见的参数有：1. 正向工作电压Vf（Forward Voltage）Vf是指在给定的工作电流下，LED本身的压降。
常见的小功率LED通常以If=20mA来测试正向工作电压，当然不同的LED，测试条件和测试结果也会不一样。
2. 反向电压Vr（Reverse Voltage ）是指LED所能承受的最大反向电压，超过此反向电压，可能会损坏LED。
在使用交流脉冲驱动LED 时，要特别注意不要超过反向电压。
3. 反向电流Ir（Reverse Current）通常指在最大反向电压情况下，流过LED的反向电流。
4. 允许功耗Pd（Maximum Power Dissipation）LED所能承受的最大功耗值。
超过此功耗，可能会损坏LED。
5. 中心波长λp（Peak Wave Length）是指LED所发出光的中心波长值。
波长直接决定光的颜色，对于双色或多色LED，会有几个不同的中心波长值。
6. 正向工作电流If（Forward Current）If是指LED正常发光时所流过的正向电流值。
不同的LED，其允许流过的最大电流也会不一样。
7. 正向脉冲工作电流Ifp（Peak Forward Current）Ifp是指流过LED的正向脉冲电流值。
为保证寿命，通常会采用脉冲形式来驱动LED，通常LED规格书中给中的Ifp是以0.1ms脉冲宽度,占空比为1/10的脉冲电流来计算的。
二、输出特性光耦合器的输出特性实际也就是其内部光敏三极管的特性，与普通的三极管类似。
光耦合的检测方法
（1）检测发射管当向导电性能。
用万用表而R×1k档测量发射管的正向电阻，当红，黑表笔测正，反向电阻应有明显的差异，二者差值越大，说明发射管单向导电性越好。
若正，反向阻值无差别，说明发射管已经损坏
（2）检测接收管是否正常
因为光耦合的接收方式不尽相同，所以测试时应针对不同结构进行测量和判断。
测量接收管时，应按测试三极管的方法进行测量。
即用万用表R×1k挡或R×100挡分别测量接收管的集电极与发射极的正，反向电阻，均应有单向导通的特性。
另外，也要检查一下集电极C和发射极之间的电阻值，以判断穿透电流的大小。
（3）测量发射极与集电极之间的绝缘电阻。
用万用表的R×10k挡，依次测量输入端的两脚与输出端各引脚的电阻值都是无穷大。
发射管与接收管之间不应有漏电阻存在。
双万用表测量法
检测电路如图所示，表1和表2均设置于R×100挡。
先不接一表，只将2表的黑表笔接5脚，红表笔接4脚此时接收管处于在截止状态，表2电阻读数无穷大。
然后将表1接入，黑表笔接1脚，红表笔接2脚。
此时，表2的电阻值应有几百欧的电阻，表明接收管已经导通。
从表2指针摆动幅度可判断出被测光耦合器电流传送比的大小。
表2的指针偏转的角度越大，说明光耦合器的CTR值越高。
如果表2指针根本不摆动，说明光耦合器已经损坏。
如是数字万用表可看读数的变化。
光电耦合器的测试一：教学目的：掌握光电耦合器的测试方法。
二：教学重点：1、光电耦合器好坏的判加别。
2、光电耦合器性能的判别。
三：教学难点：光电耦合器性能的判别。
四：教学方法：讲授、现场。
五：教学过程：（一）导入1、据光耦内部电路图分析，它内部是由哪能两个元件构成的。
2、光电耦合器是一种电——光——电转换器件。
它是怎样实现转换的？（二）光耦内部的组成：光耦是一种电——光——电转换器件，它由发光源和受光器两部份组成，把发光源和受光器组装在同一密闭的壳体内、发光源的引脚为输入端、受光器的引脚为输出端、在输入端加上电信号，发光源发光，受光器在光照产生电流，电输出端引出。
（三）性能检测：1、静态检测：由于光耦中的发光管与光敏管是互相独立的，可用不同表单儿检测这两部份、测量分三步进行。
○1用万用表R×100或R×1K挡测量发光管的正反向阻值，正常正向阻值为几百欧、反向阻值为无穷大，测正反向阻值相近、表测发光二极管已坏。
注意，不能使用R×10K挡因为发光二极管工作电压为1.5V-2.3V，会导致发光二极管击穿。
○2检测穿透电流Iceo：应用R×10K挡、黑毛接集电极，红笔接发射极，表针应微动，对调两表笔再测，表针应不动，即测量其阻值均为无穷大。
否则光敏三极管已坏。
○3用万用表R×10K挡检测发光管与光敏管之间的绝缘电阻应为无穷大。
上述发光管与光敏管只要有一个损坏或它们之间绝缘不良，则光耦就不能正常工作。
2、检测：用两只万用表测动态特性：两只表均置二R×1挡，一只表测输入端正向电阻，加一只表测输出端正向电阻Rce，Rce的阻值为+n欧。
如测量的阻值符合上述数值，表明光耦是好的，如阻值偏差太大，说明该器件已损坏或性能欠佳，不能使用。
六、板书设计：一、（1）R×100测发光管的正反向电阻。
（2）检测穿透电流Iceo，用R×10K挡黑笔接c笔接e，表针微动，对调列针应为无穷大。
光耦检测仪的制作方法-概述说明以及解释1.引言1.1 概述概述光耦检测仪是一种用于检测光信号的仪器，它利用光电效应将光信号转化为电信号，从而实现对光信号的检测和分析。
光耦检测仪广泛应用于光电领域的研究和工程实践中，具有高灵敏度、快速响应和广泛应用范围等优势。
本文将介绍光耦检测仪的制作方法，包括其原理、制作所需的材料和工具，以及具体的制作步骤。
通过本文的阅读，读者将了解到如何制作一台简单的光耦检测仪，并理解其工作原理和应用前景。
本文的结构如下：首先，引言部分将对光耦检测仪的概述进行详细介绍。
接下来，正文部分将分为三个部分，分别介绍光耦检测仪的原理、制作所需的材料和工具，以及具体的制作步骤。
最后，结论部分将评估制作光耦检测仪的可行性，并展望其在光电领域的应用前景。
通过本文的阅读，读者将全面了解光耦检测仪的制作方法，为进一步深入研究和应用光耦检测仪提供了基础。
无论是在科学研究中还是在工程实践中，掌握光耦检测仪的制作方法都具有重要的意义。
1.2 文章结构文章结构:本文分为引言、正文和结论三个部分。
在引言部分，将概述光耦检测仪的概念和原理，并介绍文章的目的。
在正文部分，首先解释光耦检测仪的原理，然后详细说明制作光耦检测仪所需的材料和工具，并逐步介绍制作步骤。
在结论部分，对制作光耦检测仪的可行性进行评估，并展望光耦检测仪的应用前景。
最后，以结束语总结全文的内容。
通过这样的结构，读者可以全面了解光耦检测仪的制作方法，并对其应用前景进行探讨。
1.3 目的光耦检测仪是一种常见的光电检测设备，广泛应用于各个领域中。
本文的目的是介绍光耦检测仪的制作方法，帮助读者了解如何制作自己的光耦检测仪。
具体来说，本文的目的包括以下几个方面：1. 提供制作光耦检测仪的详细步骤：本文将详细介绍光耦检测仪的制作步骤，涵盖所需材料和工具的准备、电路连接的操作，以及光耦检测仪的组装调试等关键步骤。
通过清晰的步骤说明，读者可以一步步地跟随指导完成自己的光耦检测仪。
光耦检测过零
光耦检测过零是一种电路连接方式，用于检测交流电信号的过零点。
光耦是由一个发光二极管和一个光敏三极管组成的光电器件，使用光的传导来隔离输入和输出电路。
在光耦检测过零电路中，交流电信号通过一个电阻器分压并输入到发光二极管端。
当交流电信号经过过零点时，发光二极管会熄灭，光敏三极管感知到光的消失，并输出一个低电平信号。
检测到过零点后，可以利用该信号触发其他电路动作，例如控制触发器翻转或在零点切断或接通交流电信号。
光耦检测过零的主要优点是电气隔离和较高的信号处理速度。
由于使用光传导而不是电传导，光耦可以在输入和输出电路之间提供电气隔离，有效防止电气干扰和噪声。
此外，光耦的响应速度较快，可以实现精确的过零点检测。
光耦检测过零电路常应用于交流电调光、变频器控制和电力电子领域中，用于精确控制交流电信号。
光耦、霍尔元件的检测与代换一、光电耦合器的种类较多但在家电电路中常见的只有4种结构:1.第一类为发光二极管与光电晶体管封装的光电耦合器结构为双列直插4引脚塑封内部电路见表一主要用于开关电源电路中。
2.第二类为发光二极管与光电晶体管封装的光电耦合器主要区别引脚结构不同结构为双列直插6引脚塑封内部电路见表一也用于开关电源电路中。
3.第三类为发光二极管与光电晶体管(附基极端子)封装的光电耦合器结构为双列直插6引脚塑封内部电路见表一主要用于AV转换音频电路中。
4.第四类为发光二极管与光电二极管加晶体管(附基极端子)封装的光电耦合器结构为双列直插6引脚塑封内部电路见表一主要用于AV 转换视频电路中。
类别型号第一类 PC817 PC818 PC810 PC812 PC502 LTV817 TLP521-1 TLP621-1 ON3111 OC617 PS2401-1 GIC5102 第二类 TLP632 TLP532 TLP519 TLP509 PC504 PC614 PC714 PS208B PS2009B PS2018 PS2019 第三类 TLP503 TLP508 TLP531 PC613 4N25 4N26 4N27 4N28 4N35 4N36 4N37 TIL111 TIL112 TIL114 TIL115 TIL116 TIL117 TLP631 TLP535 第四类 TLP551 TLP651 TLP751 PC618 PS2006B 6N135 6N136二、光电耦合器的检测方法(不在路时):1.电阻检测法(见表2)2.加电检测法在光电耦合器的初级即第1~3类的①~②脚间或第4类的②~③脚间加上+5V电压电源电流限制在35mA左右可在+5V电源正极串一支150Ω1/2W的限流电阻。
加电用RX1K档测次级正向电阻即第1类的③~④脚间即第2~3类的④~⑤脚间即第4类的⑦~⑧脚间的正向电阻一般在30Ω~100Ω之间为正常偏差太大为损坏。
光耦测量原理光耦合器（Optocoupler）是一种用于隔离电路的器件，它通过光学和电学的相互作用，将输入端和输出端隔离开来。
其基本构成包括一个发光二极管（（LED）和一个光敏元件（（通常是光敏电阻、光电二极管或光电晶体管），它们分别位于两个不同的电路中。
光耦的测量原理主要是基于光电控制技术。
当光源（（通常是发光二极管，简称LED）发出的光线照射到光敏元件上时，光敏元件会根据接收到的光线强度或波长转换成相应的电信号。
通过检测这个电信号，可以对各种物理量（如光照强度、位移、速度等）进行非接触式测量。
光耦测量原理如下：1.输入端（发光二极管）：输入电路的信号作用于发光二极管，使其发出光。
当输入信号施加在发光二极管上时，LED就会发光。
2.输出端（光敏元件）：光从LED传播到光敏元件。
这个光敏元件会对光信号做出反应。
典型的光敏元件可能是光敏电阻或光电二极管，能够根据光的强弱变化电阻或产生电流。
3.电隔离：光传播的过程中，两个电路之间通过光传输信号，从而实现电隔离。
这使得两个电路之间能够传递信息，但彼此之间不存在直接的电气接触。
4.输出信号：光敏元件产生的电信号用于输出电路中。
输出电路可以根据光敏元件的电阻变化或电流产生不同的输出信号，进而实现控制、测量或隔离作用。
光耦合器常用于需要电气隔离和信号传递的场合，例如在电源隔离、噪声滤波、模拟-数字转换、逻辑隔离以及工业控制系统中的信号隔离等方面。
其原理简单有效，能够帮助保护电路免受干扰或高电压的影响，并提供安全可靠的电气隔离。
具体来说，光耦测量原理可以归结为以下三个步骤：1.发射：光耦中的光源（（如LED）发出光线，该光线通过待测物体反射或透射后，进入光敏元件。
2.转换：光敏元件将接收到的光线转换成相应的电信号。
这个过程涉及到光电效应，即某些物质在光照下会产生电子-空穴对，从而形成电导或电动势。
3.检测：光耦测量系统的电路部分检测这个电信号，并将其转换为可处理和传输的信号。
光耦过零检测波形一、引言光耦（Optocoupler）是一种将输入和输出电路隔离开来的器件，通过光电转换的原理来实现隔离，广泛应用于电气控制系统中。
在许多应用场合中，需要对交流电路进行过零检测，以实现精确的控制。
光耦过零检测是一种常见的应用，本文将详细介绍光耦过零检测波形的特点和分析。
二、光耦过零检测原理光耦过零检测是通过将交流电压信号经过光耦输入端的光电转换，然后输出到检测电路中，通过对输出信号波形的分析来实现对交流电路过零点的准确检测。
常见的过零检测方法有两种：零点交叉检测和增量式检测。
无论采用哪种方法，光耦过零检测的核心思想是将交流电压信号通过光耦转换为光信号，然后再转换回电信号进行分析判断。
三、光耦过零检测波形特点1. 正弦波形光耦过零检测所处理的通常是交流电压信号，因此输出波形会呈现周期性的正弦波形。
在过零点处，波形会经历零点电压，此时输出波形的变化率最大，便于进行零点检测。
2. 波形延迟由于光耦本身的响应时间和输出端的检测电路延迟，输出波形会出现一定的延迟。
这种延迟对于过零检测的准确性有一定影响，需要在设计时加以考虑和补偿。
3. 波形失真在一些特殊情况下，光耦输出波形可能会出现失真，即波形的形状不再是纯粹的正弦波形。
这可能由于光耦本身的非线性特性或者外部环境干扰所导致，需要通过分析和优化电路来解决。
四、光耦过零检测波形分析1. 过零点检测光耦输出波形的过零点处对应着交流电路的零点电压，因此可以通过检测波形过零点的位置来实现对零点的精确检测。
通过比较过零点的时间和交流电路周期的关系，可以得到精确的过零检测信号。
2. 波形延迟补偿对于输出波形延迟的问题，可以采用延迟补偿电路或者在控制系统中引入延迟补偿算法来解决。
通过对系统响应时间的测量和分析，可以实现对延迟的准确补偿，提高过零检测的精确度。
3. 波形失真处理在面对波形失真的情况下，需要对光耦输出端的电路进行优化设计，避免非线性效应的影响。
光电耦合器的检测方法判断光耦的好坏，可在路测量其内部二极管和三极管的正反向电阻来确定。
更可靠的检测方法是以下三种。
１．比较法拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值，用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。
２．数字万用表检测法下面以ＰＣ１１１光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法，检测电路如图１所示。
检测时将光耦内接二极管的＋端{1}脚和－端{2}脚分别插入数字万用表的Ｈfe的ｃ、ｅ插孔内，此时数字万用表应置于ＮＰＮ挡；然后将光耦内接光电三极管ｃ极{5}脚接指针式万用表的黑表笔，ｅ极{4}脚接红表笔，并将指针式万用表拨在Ｒ×１ｋ挡。
这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度——实际上是光电流的变化，来判断光耦的情况。
指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低；若表针不动，则说明光耦已损坏。
３．光电效应判断法仍以ＰＣ１１１光耦合器的检测为例，检测电路如图２所示。
将万用表置于Ｒ×１ｋ电阻挡，两表笔分别接在光耦的输出端{4}、{5}脚；然后用一节１．５Ｖ的电池与一只５０～１００Ω的电阻串接后，电池的正极端接ＰＣ１１１的{1}脚，负极端碰接{2}脚，或者正极端碰接{1}脚，负极端接{2}脚，这时观察接在输出端万用表的指针偏转情况。
如果指针摆动，说明光耦是好的，如果不摆动，则说明光耦已损坏。
万用表指针摆动偏转角度越大，表明光电转换灵敏度越高。
高速光电耦合器(光耦)6N1376N137光耦合器是一款用于单通道的高速光耦合器，其内部有一个850 nm波长AlGaAs LED和一个集成检测器组成，其检测器由一个光敏二极管、高增益线性运放及一个肖特基钳位的集电极开路的三极管组成。
具有温度、电流和电压补偿功能，高的输入输出隔离，LSTTL/TTL兼容，高速(典型为10MBd)，5mA的极小输入电流。
其工作原理是: 6N137的结构原理如图1所示，信号从脚2和脚3输入，发光二极管发光，经片内光通道传到光敏二极管，反向偏置的光敏管光照后导通，经电流-电压转换后送到与门的一个输入端，与门的另一个输入为使能端，当使能端为高时与门输出高电平，经输出三极管反向后光电隔离器输出低电平。
光耦检验规程编制:审核:批准:天正集团质量部光耦检验规程１适用范围本规程适用于公司外购光耦的检验与验收。
２引用标准及检验依据GB2828 逐批检查计数抽样程序及抽样表。
光耦检验标准。
可焊性检验规程。
包装标志检验规程。
产品封样。
３检验设备及工具QT2图示仪、自制光耦测试台、DF2676AD交直流输出耐压测试仪游标卡尺、三氯乙烷清洗液。
４检验程序4.1 包装标志检验包装标志检验按《包装标志检验规程》进行，检验结果应符合要求。
4.2 可焊性检验可焊性检验按《可焊性检验规程》进行，检验结果应符合要求。
4.3 外观尺寸检验4.3.1 抽检要求正常检查：一次抽样方案检验水平：Ⅱ AQL值：0.044.3.2 检验要求a) 外观：封装应完整，清洁，无划伤、破损、碎裂现象，引脚无不规则，扭曲现象。
b) 标志：光耦上的规格、型号、批号、字符、图符清晰、正确，仔细检验光耦批号，应一致，不能同时出现二批以上批次，用三氯乙烷清洗液浸泡20min后不掉字（每批取5只）。
c) 引脚：引脚应牢固，光亮，无松动、氧化、腐蚀等缺陷。
4.4 电性能检验4.4.1 抽检要求正常检查：一次抽样方案检验水平：S-4 AQL值：0.104.4.2 检验要求a) 用QT2图示仪测试光耦二极管正向压降：VF ≤1.3（IF=10mA）；反向耐压VR≥5V（IR=10µA）b) 用自制测试台给光耦输入50000次脉冲信号后，光耦能正常工作。
c) 用DF2676AD交直流输出耐压测试仪测量光耦（光电二极管与光电三极管）耐压：Vrms≥5000VACt=60s5 检验结果及处理意见5.1 质量记录将检验结果按要求填写在《抽样检验报告单》上，对不合格品应写明质量情况。
5.2 入库交接a) 检验员根据检验结果填写《产品报验单》。
b) 代用、应生产急用需代用的检验员根据实际情况填写代用单，交部门负责人签字批准后办理有关手续方可入库。
c) 对检验合格后的产品给予合格标识，见本部门《内部管理制度》中规定关于检验合格后产品入库操作程序。
XXXXXXX有限公司检测标准
1.适用范围: 适合于816系列光电耦合器。
一. 外型尺寸图：
1.LTV-816光耦尺寸图：
二. 光耦实物图：
三. 测试电路图：
四. 输出波形图：
五.光电特性：
CTR=I
C /I
F
X100%
六. 传输特性：
七. 光耦检测项目：
1.包装标识：供应商应具有生产厂家的代理资格证书及相关质量保证书，内外包装应防静
电、防潮、密封，标识清楚，外箱包装具备下述内容：
a. 名牌商标
b. 型号规格
c. CTR 范围代码
d. 封装地
e. 数量
f. 制造年月、批号
2. 外观：元件本体商标、型号、CTR范围代码、批号应与外包装相符，表面不应该有锈
蚀、裂痕和其它损伤，形状规则大小统一，管脚分布整齐光洁，刻字圆点（表
示第一脚）清楚，耐清洗剂清洗。
3. 尺寸：符合供货方提供的我公司认可的尺寸要求。
（游标卡尺）
4. 可焊性：各管脚需有良好的可焊性，光亮易锡（30W 烙铁Φ 0.6锡丝）
5.电性能：
6. 万用表检测光电耦合器:
6.1 用RX100(或者RX1K)档测量发射管的正、反向电阻，检测单向导电性。
6.2 分别测量接收管的集电结与发射结的正、反向电阻，均应单向导电，然后测量穿透
电流Iceo 应等于零。
6.3 用RX10K 档检查发射管与接收管的绝缘电阻应为无穷大。
有条件者最好选兆欧表实
测绝缘电阻值，但兆欧表的额定电压不得超过光电耦合器的绝缘电压V DC 值，测量时间不超过一分钟。
6.4 光电耦合器的输入端和输出端之间是绝缘的，绝缘电阻根据封装形式有差异，一般
大于1010，耐压超过1KV 。
7. 半导体特性图示仪检测：
注：X 轴：0.2V/格，Y 轴：5mA/格。
测试输入端正向电压V F =1.2V ，反向耐压V R =6V 输出端电压V CEO =80V, V ECO =6V
参数 符号 数值 单位 输入
正向电流
I f
50 mA 反向电压 V R
6 V 功耗
P
70
mW
输出
集电极-发射极 电压 V CEO 80 V 发射极-集电极 电压
V ECO
6
V
集电极电流 I C
50 mA
集电极功耗 P c 150 mW
8. 耐压测试：
输入端两脚短接,输出端两脚短接后，输入与输出端打耐压5KV、1mA 、1min
9. 盐雾试验：检测光耦管脚是否生锈。
10. 在传输数字信号时还需考虑上升时间、下降时间、延迟时间和存储时间等参数。
（注：素材和资料部分来自网络，供参考。
请预览后才下载，期待你的好评与关注！）。
