当前位置：文档之家 › 最新Rietveld 结构精修原理与应用

最新Rietveld 结构精修原理与应用

  • 格式：pptx
  • 大小：7.74 MB
  • 文档页数：41

下载文档原格式

  / 41

合集下载

2 重要 关于Rietveld拟合的方法及其说明应用

2 重要 关于Rietveld拟合的方法及其说明应用

5.强度准确衍射谱的收集及分峰，校核空间群
解结构时，强度准确比位置准确,高分辨更重要
6.解初始结构(包括结构扩展)
直接法，派特逊法，电子密度图，差值电子密度
程序：SHLEX，MULTAN等
7.结构精修
Rietveld精修，DBWS，XRS，GSAS等
8.列表输出各种结构参数、绘制分子结构及晶体结 构图
2.高温超导体YBa2Cu3O7-x
常以孪晶出现，不宜用单晶法 O：X射线不灵敏，中子灵敏 Cu,Y：中子散射强度相近，不易分辨。X射线原 子散射因子有较大差别，可分辨 结合XPD和NPD数据得出O 的立体化学与Cu-O 键长,Y、Cu的无序，并很好联系了超导特性。
五．粉末衍射从头晶体结构测定：
• 影响高分辨率的因素： （1）仪器因素:
1)衍射几何：平板样品，表面偏离轴心 2)光源的发散与多色性：使衍射峰宽化，
不对称 3)仪器制造与调整的准确度
（2）样品因素： 样品的吸收，晶粒尺寸，点阵畸变等 微结构因素
• 改进措施：
1)小狭缝，特别RS，还有Sollar狭缝要长 2)提高仪器制造精度，细心调整与操作 3)用小焦点X射线管 4)用真聚焦测角仪(如Guinier几何) 5)用入射线单色器代替衍射线单色器
Bi2O3 Sb2O3 Co2O3 Cr2O3 MnO2 ZnO 1 0.5 0.5 0.5 0.5 0.5 97.5%
6 2 2 0.5 7 4 84.5%
传统法结果：
1. Co2.33Sb0.67O4(15-517) 2.尖晶石,误差大
#1 指标化：a=0.8541nm与0.854(15-517)吻合良好 全谱拟合 Rwp=12.80% Rexp=2.56% GoF=4.98% 可认为相组成即为Co2.33Sb0.67O4

Rietveld 结构精修原理与应用

Rietveld 结构精修原理与应用

精品文档
28
5 6
1 4 选择峰型函数类型，根据CMPR修改各个 峰型参数
2
3
精品文档
29
这是按下“powpref”的画面，跑 完后按任意键继续
精品文档
30
再按一下“genles”开始计算最小平方
循环递回次数
精品文档
31
精品文档
32
红色x为实验值，绿色实线为拟合值， 紫色实线为实验值与拟合值的差，这一 个图形窗口我们可以留着不要关掉，他 会随着我们的精算一路更新。
精品文档
33
精品文档
34
精算峰型函数
精修所有原子的坐标，热振动，占位
精品文档

35
精品文档
36
当精算的到的最佳的時候，如上图，紫色的差值几乎成为一直线。 χ2与R-factor都到达最佳后，我们可以把结果給输出。
精品文档
37
⑦ 精修结果的判定 • 差值线尽量平直 • Rwp ,Rp尽可能的低，低到15%认为可以接受，低到10%以下，认为精修结果能令人满意。 • χ2拟合度因子应趋近等于1 • 化学键长键角应该在合理的范围内
精品文档
3
（2）粉末衍射技术： 三维空间数据被压缩成一维，数据太少，无法得到电子云 密度图，因此很难解出结构。 缺点：方法很复杂
精品文档
4
1966年，荷兰科学家Hugo M Rietveld 采用拟合整个衍射图谱 （峰位、强度、线形等）来精修晶体结构，最初用于中子粉末衍 射。
某衍射峰(hkl)的衍射净强度： Yhkl=Ghkl*Ihkl
Xj , Yj , Zj是原子j的原子坐标；hkl是产生衍射的晶面指数；fj是j原子的散射因子。
精品文档

Rietveld全谱拟合及应用

Rietveld全谱拟合及应用
矿物成分分析
通过Rietveld全谱拟合，可以对 矿物样品进行精确的成分分析， 确定矿物中各元素的含量和比例。
晶体结构测定
Rietveld全谱拟合可以用于测定矿 物的晶体结构，包括晶格常数、原 子位置等，有助于深入了解矿物的 物理和化学性质。
地质学研究
在地质学研究中，Rietveld全谱拟 合可以帮助确定岩石的组成和形成 过程，为地质构造和板块运动等研 究提供重要依据。
参数拟合过程
1
参数拟合是通过最小化实验观测到的衍射谱与理 论计算得到的衍射谱之间的差异，来求解晶体结 构参数的过程。
2
常用的参数拟合方法包括非线性最小二乘法、遗 传算法等。
3
参数拟合过程中需要考虑实验误差、仪器分辨率 等因素，以提高拟合精度和可靠性。
02
Rietveld全谱拟合的应用领 域
矿物学
实例二：化学中的Rietveld拟合
总结词
在化学领域，Rietveld全谱拟合被用于研究分子的振动光谱和化学键信息。
详细描述
通过Rietveld拟合，可以精确地解析分子的振动光谱，获得分子内部结构和化 学键信息。这对于理解化学反应机理、设计新材料以及药物研发等领域具有重 要意义。
实例三：生物学中的Rietveld拟合
化学
化合物结构解析
对于一些复杂的化合物，Rietveld全谱拟合可以用于解析其结构， 确定分子中的键合方式和空间排列。
化学反应机理研究
通过Rietveld全谱拟合，可以研究化学反应过程中物质的结构变化， 有助于深入了解化学反应机理。
新材料合成表征
在新材料合成与表征中，Rietveld全谱拟合可以用于分析材料的晶体 结构和化学组成，为新材料的研发和应用提供支持。

Rietveld全谱拟合及应用

Rietveld全谱拟合及应用
2.衍射谱是各衍射峰的叠加
Yi Yib Yik k 精品课件
3. 根据结构模型计算粉末衍射谱Yic。
4. 改变结构模型（结构参数），利用 非线性最小二乘法时计算谱拟合实 测谱。
M iW i(YioYic)2
精品课件
5.判别因子R
Rp=| Yio-Yic |/Yio Rwp=[Wi (Yio-Yic)2/WiYio2]1/2
Rietveld全谱拟合及 应用
精品课件
一、Rietveld全谱拟合--多晶体衍射 全谱拟合
所谓多 晶体衍射谱，调整这些结构参数与 峰型函数使算得的多晶体衍射谱能 与实验谱相符合，从而获得结构参 数和峰型参数的方法。这一逐渐逼 近的过程就称为拟合。
精品课件
精品课件
始就同时对所有的参数精修，则参数改 变的途径会很多，可能使得到的最小二 乘法收敛到伪极小。
因此，Rietveld精修总是分布 进行。先调整、精修1～2个参数，将其 它的固定在处之。在最小二乘方极小后， 在增加1～2个参数，这样逐步增加，直 到全部参数都被修正。
精品课件
一般地，先精修的常是定 标因子和零位校正，接下来是本底 参数和晶胞参数，其后是原子坐标， 占有率和各向同性温度因子，再后 是考虑各种线性参数，如高斯峰宽 中的U、V、W，洛仑兹峰宽中的X、Y、 Z，PV函数中的比例因子等，最后是 各向异性温度因子的精修。
精品课件
Structural model
Raw data
shif t
Rietveld Refinement
Refined model
精品课件
全谱拟合原理 1.衍射峰可用函数模拟（Gik为峰形函数）
Yik Gik Ik
Ik SMkLk Fk 2

2锂电前沿：Rietveld精修-Jade

2锂电前沿：Rietveld精修-Jade
15
操作步骤示例
1 物相检索，确定晶体结构模型 模型选择为PDF卡片，称为“非结构相”，模型选择为晶体结构（ Cif文件），称为“结构相”。 Jade通过选择“计算卡片”来读入“结构相”模型。
16
操作步骤示例
2 进入精修窗口 选择“Options | WPF Refine”命令，进入全谱拟合窗口。 图中显示4个物相被引入。
4
结构模型
Jade特色
精修模式
测量数据
非结构模型
基本参数精修
基本参数精修
晶胞参数精修
晶胞参数精修
峰形参数精修
峰形参数精修
结构参数精修
峰强参数精修
结构精修
结果模型
全图拟合
5
Jade特色
精修指标
Jade设计了两个参数E和R： E 100 (N P)
I (o,i)
R 100
(w(i) (I (o,i) I (c,i))2 w(i) (I (o,i) I (b,i))2
2
Jade特色
1 Jade有两种精修模式：结构精修和全图拟合。 结构精修：以物相的晶体结构为模型进行精修，是一个标准的Rietveld精 修程序。可以用于计算晶胞参数，物相定量和微结构。而且可以修正晶 体结构。 全图拟合：以PDF卡片(衍射峰位置和衍射峰相对强度)为模型进行精修， 它仅是一个全图拟合程序。可以用于计算晶胞参数，物相定量和微结构。
3个层次进行精修,按照 精修的目的选择精修的 程度。
与仪器、整体谱图相关的参数
12
操作界面
精修步骤按照：
1）全局变量 2）相参数 3）原子结构 3个层次进行精修,按照 精修的目的选择精修的 程度。
与仪器、整体谱 图相关的参数

XRD数据Rietveld_精修和GSAS专题培训课件

XRD数据Rietveld_精修和GSAS专题培训课件
影响衍射强度的因素很多，讨论这一问题必须一 步步进行：
一个电子对x-ray的散射强度原子内各电子散射 波合成一个原子晶胞内各原子 一个晶胞 小晶体内各晶胞 一个小晶体对x-ray的散射强度与衍射强度 参加衍射的晶粒（小晶体）数目 多晶体积分强度
晶胞的衍射强度结构因子
结构因子
n
F f e HKL
入射强度
入射波长
结构振幅
温度因子
电子电荷 电子质量
衍射仪半径 晶胞体积
多重性因子 角因子
吸收因子
光速
试样被照射面积
角因子
角因子包括了洛伦兹因子及偏振因子 偏振因子：入射X光是非偏振的，但衍射X光是偏
振的。一部分与电子振动方向垂直的分量的X光 不起作用。
1 (1 cos2 2 )
2
洛伦兹因子：由于X光的发散及光源的非绝对单 色性。
随着衍射角度的增加，温度因子使得高角度的衍 射峰强度变弱。
这就是BB几何衍射谱高角度衍射线强度弱的一个重要原因。
对于粉末照相法（德拜-谢乐几何），由于试样的吸收随 着衍射角的增加而减小，其对强度的影响可以温度因子相 互抵消，因而可以在高角度获得较强的衍射。
衍射峰的强度的理论计算
1、各个衍射峰的理论强度受到多重性因子、结构因子、吸 收因子、温度因子、角因子的影响。
度分布在一定的范围内。采用峰形函数来拟合其 分布。 4、在低角度的峰形需进行不对称校正。 5、由仪器存在系统误差，需要进行零点校正。
衍射谱中各点的强度
多相加和 比例因子 不同衍射峰的贡加和
衍射峰理 论强度
强度分布 函数即峰 形函数
角度
其它特殊校正因子
背底 衍射峰位置
角因子及多重性因子 吸收因子 择优取向 结构振幅

X射线晶体学 第13章 Rietveld全谱拟合精修 图文

对于结构已知的物相，使用完整的物理模型可以进行 Rietveld精修，ห้องสมุดไป่ตู้到非常精确的晶体结构的参数，甚至 允许调整原子坐标、占有率和热参数；
比较好的精修方法是逐步放开参数，开始先修正一两 个线性或稳定的参数，然后再逐步放开其他参数一起修 正，最后一轮的修正应放开所有参数。
在修正的过程中，应经常利用图形软件显示修正结果， 从中可获得一些有关参数的重要信息，以便进行进一步 精修，直到得到很好的结果。
(4) Rietveld精修软件
从1979年R. A. Young等人发表第一个用于Rietveld分析 的计算软件DBWS以来，已有很多类似的软件问世，但 目前广泛被采用的主要有GSAS、FULL-PROF、BGMN、 JANA2000、DBWS等。 由于Rietveld分析方法的优化参数众多，而且是一个迭 代过程，使得上述各程序都具有难于书写控制文件的缺 点。
X射线晶体学
12. Rietveld全谱拟合精修
提纲
1. Rietveld结构精修方法 2. 全谱拟合精修过程举例 3. 物相的添加 4. 全局变量精修 5. 物相参数精修 6. 物相原子参数精修 7. 精修控制 8. 精修显示与结果输出 9. 全谱拟合精修应用实例
1. Rietveld结构精修方法
Rietveld方法是荷兰晶体学家H. M. Rietveld在1969年提 出的，是一种由中子粉末衍射图阶梯扫描测得的峰型 强度数据对晶体结构进行修正的方法。
1979年，R.A.Young 等人将Rietveld方法应用于X射线 衍射领域，并对属于15种空间群的近30种化合物的结 构成功地进行了修正。
FULLPROF是一个非常优秀的Rietveld分析软件，对于 初 学者来说，此软件的操作毕竟不是一件容易的事情。

Rietveld方法原理

Rietveld方法原理
目录
• Rietveld方法的简介 • Rietveld方法的原理 • Rietveld方法的实施步骤 • Rietveld方法的优势和局限性 • Rietveld方法的应用领域 • Rietveld方法的未来发展
01
Rietveld方法的简介
Rietveld方法的定义
析。
B
C
D
对实验条件要求严格
Rietveld方法需要严格的实验条件，如温 度、湿度、压力等，以确保实验结果的准 确性和可靠性。
仪器设备昂贵
进行Rietveld分析需要高精度的X射线衍 射仪等昂贵的仪器设备，因此成本较高。
05
Rietveld方法的应用领域
矿物学
确定矿物成分
通过Rietveld方法分析矿物衍射数据 ，可以精确测定矿物的化学成分，包 括微量杂质和固溶体。
Rietveld方法是一种用于分析晶体结 构的方法，通过分析X射线或中子衍 射数据，推断出晶体中原子的位置和 取向。
该方法基于晶体学原理，利用衍射数 据中的强度和角度信息，通过数学模 型和计算，确定晶体的晶格参数、原 子坐标、取向等结构参数。
Rietveld方法的重要性
Rietveld方法是研究晶体结构的重要手段之一，广泛应用于材料科学、化学、生 物学等领域。
实验操作
对样品进行适当的处理和安装，确保样品的稳定性和 代表性。
数据记录
记录实验过程中收集到的X射线衍射数据，包括衍射 峰的位置、强度和宽度等信息。
晶体结构解析
峰形拟合
结构验证
对每个衍射峰进行峰形拟合，提取出 衍射峰的位置、强度和宽度等参数。
通过计算模拟的衍射图与实验数据对 比，验证晶体结构模型的准确性。

Rietveld 结构精修原理与应用


感谢您的观看
汇报人：
应用效果：提高了核磁共振实验的精度和准确性为样品的结构分析提供 了有力的支持。
05
Rietveld 结构精修的 未来发展
Rietveld 结构精修技术的改进与创新
提高计算效率：通 过优化算法和并行 计算技术提高精修 速度
提高精度：通过引 入更高精度的测量 技术和更精确的模 型提高精修精度
扩展应用领域：将 Rietveld结构精修 技术应用于更多领 域如生物大分子、 纳米材料等
Rietveld 结构精修的算法流程
输入：X射线衍射数据、晶体结构模型 计算：根据输入数据计算结构因子 拟合：将计算结果与实验数据进行拟合 优化：根据拟合结果调整晶体结构模型 输出：优化后的晶体结构模型
Rietveld 结构精修的优缺点
优点：精确测定晶体结构适用于多种晶体材料 缺点：需要大量数据计算量大需要专业软件支持
添加 标题
案例目的：通过 Rietveld 结构精修可以获 得更精确的晶体结构信息从而更好地理解晶 体的物理和化学性质。
添加 标题
案例结果：通过 Rietveld 结构精修可以获 得更精确的晶体结构信息从而更好地理解晶 体的物理和化学性质。
Rietveld 结构精修在粉末 X 射线衍射中的应用案例
Rietveld 结构精修在单晶 X 射线衍射中的应用案例
添加 标题
案例背景：单晶 X 射线衍射是一种常用的 结构分析方法Rietveld 结构精修是其中一 种重要的数据处理方法。
添加 标题
案例方法：首先通过单晶 X 射线衍射实验 获得衍射数据；然后使用 Rietveld 结构精 修方法对数据进行处理和分析；最后得到更 精确的晶体结构信息。
药物设计：利用 Rietveld结构精 修技术进行药物 设计提高药物研 发效率

2锂电前沿：Rietveld精修-Jade

2
Jade特色
1 Jade有两种精修模式：结构精修和全图拟合。 结构精修：以物相的晶体结构为模型进行精修，是一个标准的Rietveld精 修程序。可以用于计算晶胞参数，物相定量和微结构。而且可以修正晶 体结构。 全图拟合：以PDF卡片(衍射峰位置和衍射峰相对强度)为模型进行精修， 它仅是一个全图拟合程序。可以用于计算晶胞参数，物相定量和微结构。
1. 对于结构相,按下 进入到晶体结构修正窗口。 2. 在这里可以修正各个原子的位置(x,y,z),占位率(n)和与结构因子相
关的B或U因子。 3. 按下“All”,则表示修正该结构中所有允许修正的因子。 4. 或者按类选择或手动选择只修正其中的某些因子。
23
8. 结果观察
操作步骤示例
显示精修状态
这些参数根据选择不同，有些参数受限不能修正。 对于结构相，还可以修正结构参数(原子位置等)。 如果样品中存在多个物相，则必须针对每一个物相都做这些精修。 并不一定每个参数都要修正，重要的参数才需要精修。 并不一定每个物相都要精修，应当先精修主要的或重要的物相。
22
操作步骤示例
7 “晶体结构参数”精修
2 有自己独立的精修核心算法，评价标准不同于其它标准精修软件。
3 Jade有自己的晶体结构数据库，可以直接读取晶体结构模型。
4 所有精修步骤已经由软件安排，操作图形化，简单易学。
3
Jade特色
建立模型
非结构相:非结构模型以PDF卡片上的数据为模型,对所测衍射谱 进行分峰,可用于物相定量,晶胞参数修正,晶粒尺寸与微观应变计 算,不可以反映晶体内部的原子位置变化和原子占位率的变化 结构相:以晶体学数据库中的物相晶体学结构为模型对测量谱进 行拟合,可反映晶体内部的原子位置变化和原子占位率的变化。 结构相也可以直接使用CIF文件。
  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。

（2）CIF数据 American Mineralogist Crystal structure Database ICSD数据库 Crystallograpgy Open Database Findit
（3）精修软件 GSAS，Topas ，fullprof ，Jana2006 ，MDI Jade，
不断的调整峰形参数和晶体结构参数，并采用最小 二乘法使计算谱拟合实测谱。 当差值（M）达到最小值，即精修结构完成。
• 判别拟合好坏的R因子
Rp 全谱因子
Rwp加权的全谱因子
Rexp期望因子
χ2拟合度因子
wi为统计权重因子；yio为点 i 处的实测（毛）强度值；yic 是点 i 处的计算强度值；N 为衍射图谱数据点的数目；P 为拟合中的可变参数的数目。
缺点：方法很复杂
1966年，荷兰科学家Hugo M Rietveld 采用拟合整个衍 射图谱（峰位、强度、线形 等）来精修晶体结构，最初 用于中子粉末衍射。
某衍射峰(hkl)的衍射净强度： Yhkl=Ghkl*Ihkl
Ghkl为峰形函数：Gauss， Lorentz，Viogt，Pearson-Ⅶ ， Pseudo-Voigt；
引入限制和约束
3.结构精修
①准备工作：CMPR转出GSAS实验档
1
3
4
1
2
5
6
8
7 9
10
②准备工作：峰形参数：U、V、W、X、Y的获得
1 2
6 3
4 5
7 8
11 9
13
12
10 14
16
15
③建立项目(XXX.exp) 以Al2O3例
1
2
3
4 5 6
④CIF数据录入
1 2
3
这是选择使用汇入晶格资料档的画面
•背景函数 选第一种类型（多项式 类型） terms：先小后大
•标度因子 不可以同时把两个选上 多个物相时，在各物相后面的 refine打钩；而scale后面的refine 不打勾
•峰位置 zero ；晶胞参数； shift
•结构参数：
原子类型 坐标 占位 热振动
分步精修——整体精修
先重原子后轻原子
这样我们就可以在工作目录下面找到 Al2O3.LST文件，用写字板打开，所有 的信息都包括在里面。包括晶格常数， 峰形函数，背景函数，温度因子及其他 们的误差。需要注意的所有拟合的数据 都在里面，所以我们要选取最后的数据。
X射线衍射: Pesudo-Voigt （Lorentz与Gaussian函数的线性组合） Pearson-Ⅷ
中子衍射: Gaussian
• 峰形参数： 峰宽：
Gu、Gv、Gw由仪器造成 Lx：样品晶粒宽化引起 Ly：应力引起 Gp：样品晶粒宽化引起 asym:低角度不对称 trns:样品透明，轻元素化合物 shift ：样品偏心
Maud ，DBWS
（4）精修策略（GSAS为例）
第一类：峰形（profile) 取决于样品和仪器。 包括：峰形函数、峰形参数、 背景函数、标度因子、 零点校正、晶胞参数
第二类：强度（intensity) 取决于晶体结构 包括：原子类型、坐标、占位、热振动
峰形函数： 样品原因（颗粒大小、应力、缺陷） 仪器原因（辐射源、衍射仪、狭缝大小）
Rietveld 结构精修原理与应用
1.原理
技术方法：
（1）单晶衍射技术 得到上千个数据，通过傅 里叶转换得到电子云密度 图
（直接法，patterson 法） 优点：方法简单，结果可信
度高 缺点：但是经常很难得到足
够大的单晶（0.1～0.2mm) 来测试分析
（2）粉末衍射技术：
三维空间数据被压缩成 一维，数据太少，无法 得到电子云密度图，因 此很难解出结构。
⑤ 衍射数据、仪器参数的录入
选择XXX.gsas数据 选择实验仪器参数档XXX.ins
这是输入完成后的画面
⑥ 精算各个参数
选择背景函数
标度因子
5 6
1 4
选择峰型函数类型，根据 CMPR修改各个峰型参数
2
3
这是按下“powpref” 的画面，跑完后按 方
⑦ 精修结果的判定 • 差值线尽量平直 • Rwp ,Rp尽可能的低，低到15%认为可以接受，
低到10%以下，认为精修结果能令人满意。 • χ2拟合度因子应趋近等于1 • 化学键长键角应该在合理的范围内
⑧数据的导出与处理
• 1.精修数据的导出
Results → hstdmp →弹出对话框后按回车可 以查看每个选项的含义，然后输入L，表示 copy the entire profile to the .LST file, 再输入1， 表示输出第一个相，如果有多个相的话可以 继续输入，最后输入0结束。
循环递回次数
红色x为实验值，绿色 实线为拟合值，紫色实 线为实验值与拟合值的 差，这一个图形窗口我 们可以留着不要关掉， 他会随着我们的精算一 路更新。
精算峰型函数 精修所有原子的坐标，热振动，占位
当精算的到的最佳的時候，如上图，紫色的差值几乎成为一直线。 χ2与R-factor都到达最佳后，我们可以把结果給输出。
Y(2Ɵ)c为计算强度值，Y(2Ɵ)b为背景强度， Ghkl*Ihkl为衍射峰强度。
Rietveld 方法就是利用电子计算机程序逐点比较衍射 强度的计算值和实测值，用最小二乘法调节结构原子 参数和峰形参数，使计算峰形和实测峰型符合。在最 小二乘方法精修过程中，要达到最小化的量值称为残 差 M:
的w2强Ɵ为度权重因子，Y(2Ɵ)O 为观测的强度， Y(2Ɵ)c计算
Ihkl为某hkl衍射峰的积分强 度
而
Ihkl=SMhklLhkl | Fhkl |2
S:标度因子，Mhkl:衍射线hkl的多重因子，Lhkl洛伦兹因子， Fhkl 结构因子
Fhkl 计算公式：
Xj , Yj , Zj是原子j的原子坐标；hkl是产生衍射的晶面指数； fj是j原子的散射因子。
衍射图上任何一处（2Ɵ）的计算强度：
2.精修步骤与策略
（1）高质量衍射数据的获取 • 中子衍射
中子与原子核相互作用，适合于确定点阵中轻元素的位置 和值邻近元素的位置。 • 同步辐射 波长连续可调，高强度，光性单一 • X射线衍射 扫描范围尽可能的宽，以获取高角度部分的数据； 步进扫描，步长一般为半高宽的1/5~1/8（0.02或者0.01） 停留时间1秒以上； 最高峰强度应至少在背景的50倍以上。