LTE杂散及部分接收项测试

中国移动通信企业标准QB-╳╳-╳╳╳-╳╳╳╳T D-L T E无线子系统射频测试规范T D-L T E R A N S u b-s y s t e m T e s tS p e c i f i c a t i o n f o r R F d i v i s i o n版本号：1.1.0╳╳╳╳-╳╳-╳╳发布╳╳╳╳-╳╳-╳╳实施中国移动通信集团公司发布<测试规范定义>测试规范是对网络设备/网络接口协议/设备性能进行的测试的依据，力图对该设备的功能，接口，协议，性能等各方面进行全面的测试。

该类技术文件应具有如下特点：1、全面性该类规范应该在其规定的测试范围内的进行全面的测试，以便反映该设备的是否真正正确的实现了功能/协议，以便完成对该设备的评价。

2、正确性测试规范作为鉴定设备的正确性的依据。

其表述的内容必须首先是正确的。

判断正确与否的测试结果必须是可以正确得到的，也是设备本身能够完成和必须完成的。

3、容错性测试规范必须对发生错误情况下设备的反馈进行详细的测试。

测试项目必须全面包括各种异常情况。

4、权威性该类规范是集团公司在测试和检验方面的重要文件，应该观点明确，测试项目全面，论述过程不应体现在正文中，可以根据情况在附件或编制说明中体现；在用辞上注意规范的强制性，不应使用建议性的语气。

所有检验结果都必须是确定的。

5、强可操作性该类规范是实际指导测试的文件，因此要具有强可操作性。

该规范直接为技术人员所利用，相关人员应该可以按照规范的规定直接进行实际测试。

<使用范围>中国移动通信集团内部，外部，用于指导集团公司和省公司进行网络实施、新业务开展时的设备测试和验收。

<与其他规范之间关系>在业务规范，总体技术要求，设备规范、接口规范基础上完成，是进行组建一个网络或者业务系统的设备的验收性指导性规范。

<主要内容>主要包括测试环境，测试配置，测试工具及测试方法的描述，设备的常规测试、功能测试、接口测试、协议测试、质量指标测试（性能测试）、计费结算功能测试、业务测试、网络管理、人机界面测试、可靠性测试、网络安全测试等等，目的是对在规定的范围内，对设备进行详尽的测试。

TD—LTE移动基站杂散发射测试方案作者：何占儿王慧陈伟来源：《移动通信》2018年第02期【摘要】杂散发射是衡量移动基站通信性能的重要指标之一，是指不必要的发射机引起的发射，主要包含谐波发射、寄生发射、互调产物以及变频产物，但带外发射除外。

从杂散发射的测试原理入手，提出一种双工滤波器和低噪放相结合的测试方法，并在此基础上实现了一种新型的共址杂散发射测试方案，该方案能够有效避免频谱仪灵敏度和动态范围不足的局限性，同时提高了杂散发射测试的准确性。

【关键词】移动基站；杂散发射；测试A Solution to Spurious Emission Testing of TD-LTE BTS TransmitterHE Zhaner1， WANG Hui1， CHEN Wei2[Abstract]Spurious emission is one of the most important performance metrics of mobile base station，which are caused by unwanted transmitter effects such as harmonics emission， parasitic emission，intermodulation products and frequency conversion products except for out-of-band emissions. According to the principle of spurious emission testing， a method combined diplexer DPF with low noise amplifier （LNA） is proposed. Then， a novel solution to co-location spurious emission testing is implemented. It can not only effectively deal with the limitations of sensitivity and dynamic range of spurious analyzer， but also enhance the accuracy of spurious emission testing.[Key words]BTS； spurious emission； testing1 引言随着移动通信技术的高速发展，无线基站密度大幅提升，电磁环境愈加复杂，而其中的无线干扰问题尤为突出，已经成为影响移动基站通信性能和客户满意度的重要因素。

2011年，我国在六个城市开始实施TD-LTE规模技术试验，试验将分为两个阶段，进行终端、核心网、传输和承载、无线网络性能和网络质量、多天线技术、网管等多项测试。

通过这些测试，将对TD-LTE系统的同频组网能力进行验证，并促进TD-LTE产品成熟与完善。

本文介绍了TD-LTE规模技术试验的各项测试内容和为其制定的规范体系。

1 规模技术试验的背景和目的为进一步推动TD-LTE研发和产业化进程，在研发技术试验的基础上，于2011年在我国南京、上海、杭州、厦门、广州、深圳六个城市及工业和信息化部电信研究院MTNet实验室/外场开展了TD-LTE规模技术试验。

主要目的包括：（1）进一步验证TD-LTE关键技术、优化完善设备关键性能，促进产品成熟。

（2）验证TD-LTE系统组网能力、网络性能以及业务应用，促进产业链各环节的研发和产业化进展。

（3）为TD-LTE国际推广起到示范和带动作用，吸引国外运营商采用TD-LTE技术，同时促进全球有实力的设备制造企业积极参与TD-LTE产业。

2 规模技术试验的阶段划分为了适应产品功能增强、测试内容逐步深入的实际情况，规模技术试验总体上分为两个阶段：R8单模终端阶段和R9多模终端阶段，初步规划1.5~2两年完成（见图1）。

图1 TD-LTE规模技术试验阶段划分第一阶段（R8单模终端阶段）主要进行R8版本的无线网络性能测试和单模终端的性能测试。

第一阶段规模技术试验网络不与现网连接。

第二阶段（R9多模终端阶段）主要进行R9多天线测试、多模终端测试、多种TD-LTE 业务（宽带高速数据业务、分组域语音业务和增值业务）测试，以及网管测试等。

3 规模技术试验主要测试内容根据上述阶段划分，规模技术试验的测试内容也针对两个阶段分别规划。

第一阶段测试内容如表1所示。

表1中所列的规模技术试验第一阶段测试内容分为“六城市测试”和“MTNet 测试”两大类。

表1 TD-LTE规模技术试验第一阶段主要测试内容3.1 第一阶段“六城市测试”内容第一阶段“六城市测试”的主要目标，是促进TD-LTE产品成熟与完善，充分验证TD-LTE 的同频组网能力，并在MIMO模式选择等关键技术问题上做出选择。

无线移动终端辐射杂散测试曲岩;宋崇汶【摘要】辐射杂散测试是评估无线移动终端辐射性能的有效方法.文章阐述了进行无线移动终端辐射杂散测试的技术要求、限值和测试方法;着重总结和归纳了在测试过程中需要注意的技术细节;同时对LTE移动终端辐射测试的带来的新问题进行了预分析.【期刊名称】《现代电信科技》【年(卷),期】2010(040)005【总页数】4页(P32-35)【关键词】辐射杂散;替代法;调制模式;自由空间;LTE【作者】曲岩;宋崇汶【作者单位】工业和信息化部通信计量中心;工业和信息化部通信计量中心【正文语种】中文辐射杂散测试一直是衡量无线移动终端射频性能的重要指标，是所有国家强制认证的性能要求之一，其测试原理基本依循了电磁兼容的测试方法。

目前的国际和国内的行业测试标准只规定了基本的技术要求、测试限值和实验布置方法，不能满足日益发展的移动终端辐射杂散测试的细节要求，在进行此项测试时执行的实验方法差异较大。

本文在总结国际上辐射杂散测试经验的基础上，给出了进行2G和3G终端辐射杂散测试的全面解决方案。

1 辐射杂散测试的基本要求和原理辐射杂散是当移动终端处于空闲或业务模式时，从移动终端的机壳或结构中（包括所有内部连接的线缆）辐射出来的任意发射。

1.1 辐射杂散的基本测试方法和环境在任何可能的情况下，辐射杂散的测试应该在可以模拟自由空间条件的室外环境或全电波暗室进行。

实验过程中，使用绝缘材料对被测试终端进行支撑和固定，采用测试天线和测量接收机（可以使用频谱分析仪）测量所有散射信号的平均功率。

试验中在散射信号出现的每个频率点，需要旋转被测移动终端来获得最大的响应，采用替代法作为参考方法来测得散射信号的有效辐射功率，同时需要在测试天线的正交极化平面中重复进行测量。

测量过程中应使用校正过的偶极子天线或者已知增益的全向天线，实验设置应尽可能接近被测终端的正常使用状态。

图1和图2是辐射杂散测试的基本实验原理图。

在进行终端的辐射杂散测试之前，首先要进行场地的预校准，而后通过替代法进行实际终端的辐射杂散测试。

LTE网络测试和指标介绍1概述1.1网络结构与规模密集城区或典型城区环境测试，无线网络形成比较规则的多层蜂窝结构、成片覆盖。

1.2测试区域与测试路线测试区域为多小区连续覆盖、比较规则的多层蜂窝结构所覆盖区域作为测试区域，在该区域内路测。

网络采用20MHz同频组网。

路测时，测试路线应尽可能遍历测试区域内的主干道、次主干道、支路等道路，并遍历选定测试区域内所有小区；如无特别说明，测试车应视实际道路交通条件以中等速度（30km/h左右）行驶。

1.3测试网络基本配置网络配置如下：1.4测试设备要求路测系统可连接终端、GPS接收设备，能够显示、记录终端的L1、L2和高层信令与控制数据，能够显示、记录GPS时间、经纬度，并能将GPS时间、经纬度与终端记录数据进行正确关联，为终端记录数据提供地理位置。

路测终端支持测量、显示与记录层1、层2和层3信令与控制数据，包括：RSRP、RSRQ、SINR、CQI、MCS、MIMO方式、RRC信令等，其中RSRP、RSRQ、SINR等参数支持每100ms至少输出一次，CQI等参数支持每10ms（无线帧）至少输出一次，MCS、MIMO方式等参数支持每1ms（子帧）输出一次。

GPS接收设备应支持显示、记录时间与经纬度。

并且GPS接收设备记录的时间、经纬度数据应能与扫频仪、路测终端记录数据准确关连，为扫频仪、终端所记录的数据提供绝对时间与地理位置。

测试数据处理上，支持生成测试路线上RSRP/RSRQ/SINR打点图，RSRP/RSRQ/SINR 的PDF/CDF分布曲线等。

考虑到路测终端、GPS接收设备的原始测试数据一般按周期定时记录存储，由于车速不均匀和停车等候等原因，导致不同路段由于速度不一而使得平均每单位距离上的样本点数不一样。

要求生成得到的PDF/CDF分布，单位距离上的样本点数应一样，以准确反映地理上的覆盖性能。

根据杭州深圳的测试情况，成都现场测试工具建议选择为：2测试用例2.1长呼测试2.2短呼测试2.3定点CQT3各项KPI指标3.1RSRP指标定义：RSRP参考信号接收功率，衡量网络覆盖水平。

LTE,通用移动通信技术的长期演进,是基于3G基础上的世界先进技术，目前，LTE分为TD-LTE,FDD-LTE。

在中国，需要做的认证为CCC,SRRC,CAT认证。

就终端类产品申请SRRC,CTA认证，做如下介绍。

一，SRRC认证:
中国无线电产品型号准入认证，在国家无线电检测中心申请受理，测试周期在10个工作日出报告，核准证办理需要10个工作日。

申请资料准备：填写申请表，提供产品说明书，产品电路图，结构图，产品照片，公司介绍，公司营业执照，ISO9000证书，产品铭牌。

申请样机：6套样机，包括电池，电源。

1根射频线。

测试内容：涉及到的测试频段为GSM900，DCS1800，射频性能，传导杂散发射，辐射杂散。

检测依据为：YD1214-2006，YD1215-2006，YD1032-2000.
测试内容：
1）RMS相位误差，2）频率容限；3）功率控制；4）射频输出调制频谱；5）传导杂散发射；6）峰值相位误差；7）最大平均功率；8)突发时间功率关系；9）射频输出切换频谱；10）静态参考灵敏度；11）辐射杂散发射。

二CTA认证：
1.测试流程：
2.申请进网所需要的资料：
3.测试周期：2-3周完成测试
4.测试样品要求：EMC需要3台样机，性能需要6台样机。

射频线需要3根。

5.测试费用：根据模式的不同，费用不同。

6.测试项目：
性能测试：LTE业务测试，射频接收性能，数据接收性能，信息安全协议，TD-LTE协议，卡与终端的互通性能，网络互通性，电磁互通性能，电磁信息安全。

LTE基础知识与测试分析LTE（Long Term Evolution）是一种高速无线通信技术，也被称为4G网络。

在LTE中，数据传输使用分组交换，与之前的2G和3G网络使用的电路交换方式不同。

LTE具有更高的传输速率和更低的延迟，可以提供更好的用户体验。

在LTE中，主要有以下几个关键技术：1. OFDMA（Orthogonal Frequency Division Multiple Access）正交频分多址：LTE使用OFDMA技术进行下行数据传输。

OFDMA将频谱分成多个子载波，每个子载波之间相互正交，避免了干扰。

这样可以提高频谱的利用率，达到更高的传输速率。

2. SC-FDMA（Single Carrier Frequency Division Multiple Access）单载波频分多址：LTE使用SC-FDMA技术进行上行数据传输。

与OFDMA不同的是，SC-FDMA使用单个载波来传输数据，这样能够减少功率消耗，延长终端设备的电池寿命。

3. MIMO（Multiple-Input Multiple-Output）多天线技术：LTE使用MIMO技术来提高传输速率和信号的可靠性。

MIMO通过使用多个天线进行数据传输，同时增加了系统容量和频谱效率。

4.小区和扇区：LTE将网络划分为多个小区，每个小区又分为多个扇区。

每个小区由一个基站负责覆盖，并使用不同的频段和码片进行区分。

这种分区能够提高网络的容量和覆盖范围。

5. QoS（Quality of Service）服务质量：LTE支持QoS机制，可以根据不同应用的需求，为不同业务提供不同的优先级和资源分配，实现更好的用户体验。

LTE的测试分析主要包括以下几个方面：1.信号强度测试：测试LTE网络的信号强度，评估网络的覆盖范围和信号质量。

2.信号质量测试：测试LTE网络的信号质量，包括信噪比、误码率、误比特率等指标，评估网络的稳定性和可靠性。

lte杂散测试的指标LTE杂散测试是对LTE系统中的杂散信号进行测试和评估的过程。

杂散信号是指在LTE系统中产生的一些非预期或不希望出现的信号，可能会对系统性能和用户体验造成负面影响。

本文将从多个方面介绍LTE杂散测试的指标和相关内容。

一、功率杂散测试功率杂散是指在LTE系统中，由于不同通信设备、天线、信号处理等因素导致的无线信号在频率、功率和方向上的偏移。

在LTE杂散测试中，需要对系统中的功率杂散进行评估，确保信号的传输质量和覆盖范围符合预期。

1. 频率偏移：LTE系统中的频率偏移是指实际传输信号的频率与预设频率之间的差异。

频率偏移过大会导致信号的接收和解调出现问题，影响数据传输的可靠性和速率。

2. 功率偏移：LTE系统中的功率偏移是指实际传输信号的功率与预设功率之间的差异。

功率偏移过大会导致信号的覆盖范围不均匀，一部分区域可能无法正常接收到信号，影响用户通信质量。

3. 方向偏移：LTE系统中的方向偏移是指实际传输信号的传输方向与预设方向之间的差异。

方向偏移过大会导致信号的覆盖范围不均匀，造成部分区域的信号质量较差，影响用户体验。

二、杂散干扰测试杂散干扰是指在LTE系统中，由于邻近频段、邻近基站或其他无线设备的信号干扰而引起的信号质量下降。

在LTE杂散测试中，需要对系统中的杂散干扰进行评估，确保信号的接收和解调不受干扰影响。

1. 邻频干扰：LTE系统中的邻频干扰是指邻近频段的信号对LTE信号的干扰。

邻频干扰会导致信号的接收和解调出现错误，降低通信质量和速率。

2. 邻小区干扰：LTE系统中的邻小区干扰是指邻近基站的信号对LTE信号的干扰。

邻小区干扰会导致信号的接收和解调出现错误，影响用户通信质量和速率。

3. 其他无线设备干扰：LTE系统中的其他无线设备干扰是指其他无线设备（如无线电、微波炉等）对LTE信号的干扰。

这种干扰可能会导致信号质量下降，影响通信的可靠性和速率。

三、杂散抑制测试杂散抑制是指LTE系统中对于杂散信号的抑制能力。

LTE band 1 发射功率指标要求LTE 终端射频指标总体要求是：对于发射机，一方面要求能够精确产生符合标准要求的LTE 有用信号，另一方面要求把无用发射和干扰电平控制在一定水平之内。

对于接收机，要求能够在一定的环境条件下，能够可靠、准确地接收和解调有用信号，同时也要求能够抵抗一定的干扰信号。

LTE 终端射频测试项目分为4 大部分，即发射机指标、接收机指标、性能要求、信道状态信息上报。

虽然LTE 信号结构与UMTS 不同，但是LTE 终端射频测试需求基本上来自于UMTS 已定义好的射频需求，只有少部分新增测试项。

在接收机和性能统计上，UMTS 系统是通过BER 和BLER 衡量接收性能，而LTE 系统是通过吞吐量来衡量的。

在性能测试部分，针对LTE的信道结构也增加了相应的信道解调性能指标。

另外，对于LTE 终端射频测试，需要对终端所支持的多种带宽、多种RB 配置以及多种调制方式都要进行测试，测试量也是非常巨大的。

下面对这4 大部分的测试项目进行简单的描述。

(1)在发射机指标里，包含如下几类测试项目：1、发射功率相关的项目如UE 最大输出功率，最大功率回退(MPR)，UE配置输出功率等。

这些测试项目，主要是考察终端的发射功率是否符合标准要求。

如果终端最大发射功率过大，会对其他信道或系统造成干扰，最大发射功率过小会造成系统覆盖范围减少。

最大功率回退是新增测试项，后面会做详细分析。

2、输出功率动态范围如最小输出功率、发射关断功率、开关时间模板等。

这些测试项目，主要是考察终端的输出功率范围是否符合标准要求。

如果最小输出功率以及关断功率过大，就会对其他终端和系统造成干扰。

开关时间模板验证终端能否准确地打开或者关闭其发射机，否则会对其他信道造成干扰或者增加上行信道的发射误差。

3、功率控制如绝对功率控制容限、相对功率控制容限等。

功率控制的目的是限制终端的干扰电平和补偿信道衰落，这部分测试主要是验证终端能否正确的设置其发射功率，并且发射功率在一定的容限范围之内。

2021移动LTE初级认证考试考试考题试题及答案解析15考号姓名分数一、单选题(每题1分,共100分)1、用于读取系统消息的是A.PBCH物理广播信道B.C.D.答案：A2、LTE的特殊时隙不包括A.DwPTSB.GPC.UpPTSD.Gs答案：D3、下面关于TD-LTE帧结构特点描述不正确的是A.无论是正常子帧还是特殊子帧，长度均为1msB.一个无线帧分为两个5ms半帧，帧长10msC.特殊子帧DwPTS+GP+UpPTS=1msD.转换周期为1ms答案：D4、LTE下行ACK/NACK信令BER目标中ACK→NACK错误的目标质量为（）A.10-1B.10-2D.10-4答案：D5、LTE系统中的一个载波上的PDSCH和PMCH是（）A.时分B.频分C.码分D.空分答案：A6、那个节点作为归属网络的网关和宿主完成 3GPP的会话管理（）A.SGWB.SGSNC.PGWD.MGW答案：C7、（）接口定义为E-UTRAN和EPC之间的接口。

A.UUB.S1C.X1D.X2答案：B8、H-PCRF和V-PCRF之间的接口是（）A.S9B.S10C.S11D.S12答案：A9、LTE室分目标覆盖区域内95%以上的信号电平（RSRP）要求＞( )dBm。

A.-75B.-85D.-105答案：D10、对于50ms的延迟限（对于VoIP而言是典型的），LTE上行8ms的HARQ RTT意味着每个包可能高达（）次传输A.3B.4C.5D.6答案：D11、异系统干扰分析时，取规避阻塞干扰隔离度和规避杂散干扰隔离度的:，作为MCL:A.最大B.最小C.其中一个D.答案：A12、单站验证测试过程中网优人员的工作任务是_________A.检查各小区的基本功能是否正常B.检查空闲模式下的小区状态C.检查连接模式下的小区状态以及业务连接情况D.单站点覆盖DT测试答案：A13、LTE室分峰值吞吐量演示测试中，期望的MCS索引值是？（）A.20B.25C.28D.32答案：D14、配置EPG-M 2012A 节点S11网络接口的IP地址需要用以下哪些命令（）A.[edit services epg sgw control-plane protocols gtp interfacess11] address-rangeaddress-rangeB.[edit services epg sgw] s11-vip-address s11-vip-address;C.[edit services epg sgw user-plane protocols gtp ran-network]address-range address-range;D.[edit services epg sgw control-plane protocols gtp interfacess4s11] address-range address-range;答案：D15、对于TD-LTE，一个无线帧时间长度( ）A.0.5msB.1msC.5msD.10ms答案：D16、跟踪区列表，由一组TAI组成，最多包含__个TAIA.15B.16C.17D.18答案：B17、TD-LTE优化初期我们对RSRP的覆盖要求应该是：RSRP大于等于-105dBm的采样点占所有采样点的比例应大于？（）A.0.85B.0.9C.0.95D.0.98答案：C18、关于系统消息广播的功能，描述错误的是____A.系统信息广播（System Information Broadcast）是通信系统中的一个重要功能，主要提供了接入网系统的主要信息，以便于UE建立无线连接B.下发对小区中UE配置的专用消息。

Anritsu MT8820C LTE测试使用指南前言目前;中兴通讯LTE测试仪表主要借用Anritsu MT8820C和Rohde&Schwarz CMW500两类仪表;很多测试方案随着技术不断的成熟被不断提出;用来完善LTE的测试..就目前而言 ;Anritsu MT8820C继承了安利仪表的特点;在测试速度上和测试项的设置上优于RS的CMW500;因此;有必要就是Anritsu MT8820C的使用做一些简单的说明;方便大家对LTE的测试..主要分为三个部分：第一部分为LTE射频常规测试项目;包括：最大发射功率;最大功率衰减;矢量幅度误差;临道泄露比;最小发射功率;接收灵敏度;最大输入电平..第二部分为LTE射频常规测试项目;包括：最大发射功率;最大功率衰减;矢量幅度误差;临道泄露比;最小发射功率;接收灵敏度;最大输入电平..第三部分为3GPP要求的测试内容 ;包括开功率;关功率;配置UE功率;PUCCH;绝对功率Absolute Power;相对功率Relative Power第一部分：安利仪表的初始化设置1.使用安利仪表std按键进行制式的切换2.我们所说的信道例如Band 7 2850指的是下行信道;配置了相应的LTE信道;安利仪表会自动匹配相应的频段..3.scenario对应的是类型;高通的芯片使用Type3类型4.设置帧结构和信道带宽;以AL621为例;帧结构是FDD;信道带宽是10MHz5.设置小区功率;当测试最大接入能力时;Level项的Output子项设置为25.7dBm;其中EPRE的大小与Output的大小一一对应..6.设置线损External Loss：安利仪表的线损和RS的仪表相同;配置项为正数..需要注意的是;线损值是固定的;也就是说;当切换频率时;线损需要重新设定..7.设置测试信道类型：信道类型主要有两种：PUCCH和PUSCH;目前测试仪表暂时不支持PUCCH一般使用PUSCH 来传输数据;因此;测试最大发射功率等RF指标时;当没有特殊说明时;一般指的是PUSCH..8.选择UE Category 目前的等级设置为3默认值9.配置UL RMC上行RB数量;起始位置;调制方式..使用满RB的QPSK方式比较容易起呼连接;以AL621 Band7为例子;设置为起始位置0;RB数量50;调制方式QPSK..10.在不同的安利仪表版本中;对应的参数设置略有不同;在高版本的设置中;会加入新的测试项;但是也同时加强了对呼叫进程的检测的功能;这样就需要仪表设置测试卡对应的IMSI 号码;以便能正常进行连接..Call Processing Parameter项中;分为基站定义项定义小区编号;MCC等;移动台定义项主要是定义IMSI号;功率控制TPC参数设置;PCCH参数设置;RACH参数设置;HARQ混合自动重传参数设置等;需要对呼叫进程测试时;可以在此处进行参数设置..一般测试中;选择为默认就可以了;如果呼叫困难;可以设置IMSI的号码与SIM卡实际号码保持一直;这个设置在高版本的安利仪表中需要设置;否则会出无法呼叫或者呼叫掉话的现象..11.在发射测试参数和接收测试参数中;选择默认设置就可以了..12.测试参数功能设置中;可以选择需要的测试项和采点的数量;原则上是采点取平均;但是进行平均值的计算上;安利仪表花费的周期非常长;因此;一般选择Count数量为1;这点同8960和RS的仪表不太相同..第二部分：LTE常规射频测试项最大发射功率测试1．对仪表进行初始化设置2．给数据卡供电;等待数据卡自动注册;安立目前仪表的版本是支持注册后自动链接的..注册上以后;状态栏会自动显示Connected标识注册成功..并且UE Power会显现一定的功率读数..3．点击Next参数切换按键;进入第二页;点击F3选择TX-1 Test Parameter测试模式4．点击F1选择TX-1 Max.Power测试模式5．点击F1选择QPSK 1RB测试模式6．记录此时TX Power的值就是调制方式为QPSK;资源块数量为1RB时的最大发射功率7．根据3GPP要求;最大发射功率必须在20.3dBm——25.7dBm之间8．点击F2选择QPSK Partial RB测试模式9．记录此时TX Power的值就是调制方式为QPSK;资源块数量为Partial的值以10MHz带宽为例;Partial对应的RB数量为12;需要指出的是;在功率测量的时候;信道功率略低与发射功率..10．根据3GPP要求;最大发射功率必须在20.3——25.7之间..最大功率衰减MPR测试1．对仪表进行初始化设置2．给数据卡供电;等待数据卡自动注册;注册上以后;状态栏会自动显示Connected标识注册成功..并且UE Power会显现一定的功率读数..3．点击Next参数切换按键;进入第二页;点击F3选择TX-1 Test Parameter测试模式4．点击F1选择TX-1 Max.Power测试模式5．点击F3选择QPSK FULL测试模式6．记录此时TX Power的值就是调制方式为QPSK;资源块数量为50RB时的最大功率衰减7．点击F4选择16QAM Partial测试模式8．点击F5选择16QAM FULL测试模式9．最大功率衰减的通过准则：矢量幅度误差测试：1．对仪表进行初始化设置2．给数据卡供电;等待数据卡自动注册;注册上以后;状态栏会自动显示Connected标识注册成功..并且UE Power会显现一定的功率读数..3．点击Next参数切换按键;进入第二页;点击F3选择TX-1 Test Parameter测试模式4．点击F1选择TX-1 Max.Power测试模式5．点击F2选择QPSK Partial RB测试模式6．在Screen Control区域点击Focus按键;切换到Fundamental窗口下7．调节旋钮至Modulation Analysis部分;读出EVM的值..8．描述EVM的有三个选项;分别是EVM;参考信号下EVM;峰值EVM9．根据3GPP要求;EVM的值不能大于17.5%10．点击F3选择QPSK FULL RB测试模式;记录此时EVM的数值;不能大于17.5% 11．点击F4选择16QAM Partial RB测试模式;记录测试EVM的数值;不大于17.5% 12．点击F5选择16QAM FULL RB测试模式;记录测试EVM的数值;不大于17.5%临道泄露比ACLR测试1.对仪表进行初始化设置2.给数据卡供电;等待数据卡自动注册;注册上以后;状态栏会自动显示Connected标识注册成功..并且UE Power会显现一定的功率读数..3.点击Next参数切换按键;进入第二页;点击F3选择TX-1 Test Parameter测试模式4.点击F1选择TX-1 Max.Power测试模式5.点击F2选择QPSK Partial RB测试模式6.调节旋钮至Adjacent Channel Power部分;读出E-UTRA的值7.根据3GPP要求; E-UTRA的值不能大于-29.2dB8.点击F3选择QPSK FULL RB测试模式;记录此时ACLR的数值;不能大于-29.2dB9.点击F4选择16QAM Partial RB测试模式;记录此时ACLR的数值;不能大于-29.2dB10.点击F5选择16QAM FULL RB测试模式;点击Focus按键切换至Parameter界面11.点击Page Down按钮至最下端;将Adjacent Channel Power选择为ON12.读取ACLR的E-UTRA的数值;不能大于-29.2dB最小发射功率的测试1．对仪表进行初始化设置2．给数据卡供电;等待数据卡自动注册;注册上以后;状态栏会自动显示Connected标识注册成功..并且UE Power会显现一定的功率读数..3．点击Next参数切换按键;进入第二页;点击F3选择TX-1 Test Parameter测试模式4．点击F2选择TX-1 Min. Power测试模式5．点击F3选择QPSK FULL RB测试模式6．读取TX Power的功率值;根据3GPP要求;不能大于-39.0dBm接收灵敏度测试1．对仪表进行初始化设置2．给数据卡供电;等待数据卡自动注册;注册上以后;状态栏会自动显示Connected标识注册成功..并且UE Power会显现一定的功率读数..3．点击Next参数切换按键;进入第三页;点击F6选择RX Test Parameter测试模式4．点击F1选择RX Ref. Sens. Freq. Error测试模式;系统会自动将Output Level设置为-94.3dBm;将界面调到Throughput部分5．点击Output Level按键;选择合适的输出电平大小;直到吞吐率Throughput略高于95.0%门限值..记录下此时的输出电平大小;即为接收灵敏度..需要注意的是;安利仪表接收灵敏度项的测试;默认为QPSK FULL情况下的接收灵敏度..如果需要测试其他调制方式下的接受灵敏度;需要配置相应的信号参数..最大输入电平测试1．对仪表进行初始化设置2．给数据卡供电;等待数据卡自动注册;注册上以后;状态栏会自动显示Connected标识注册成功..并且UE Power会显现一定的功率读数..3．点击Next参数切换按键;进入第三页;点击F6选择RX Test Parameter测试模式4．点击F2选择Max. Input Level测试模式;系统会自动将Output Level设置为-25.7dBm;将界面调到Throughput部分;吞吐率大于95%标识最大输入电平通过..第三部分：根据3GPP要求的测试项附加功率衰减配置UE功率配置UE功率对-2.3;16.7;20.7三种输入Input Level功率下测量发射关功率开关时间模板占用带宽频率误差PRACH时间模板SAS时间模板PRACH功率控制绝对容限功率控制相对容限集成功率控制容限IQ构成未分配RB带内发射频谱平坦度频谱发射模板附加频谱发射模板传输杂散辐射杂散辐射频段UE共存附加杂散辐射发射交调临道选择性ACS带内阻塞特性带外阻塞特性杂散响应宽带交调杂散发射。

实用标准文案TD-LTE基站射频测试操作说明第一部分 TX测试一、TX测试连接图RRH衰减器频谱分析仪BBUTrigger ReferenceNote: 衰减为输出功率2.5倍以上，此处选择30dB。

10MH 参考线时钟线reference接BBU针孔，10毫秒trigger接B板最右边网口。

二、仪表等附件内容频谱分析仪(Agilent MXA Signal Analyzer N9020A,10Hz~13.6GHz), 30dB衰减，System DC Power 7Supply (Agilent N5747A/60V/12.5A/750W)，VGA信号源。

LTE NEM，Secure CRT。

三、NEM操作系统配置四、频谱仪选键设置Step 1. 选择LTE模式，Press Mode, LTE TDD.Step 2. 频点设置FREQ ChannelStep 3. 频点补偿设置Input/Output, External Gain, BTSStep 4. 下行模式设置Mode Setup, Radio, Direction to be Downlink.Step 5. 链路配置设Mode Setup, Radio, ULDLAlloc, Config 3；DW/GP/Up Len, More, Config 8.Step 6. 时间门限设置Sweep/control, Gate, Gate Delay=5ms, Gate Length=6.8msStep 7. 带宽设置Mode setup, Prest To Standard=10/20MHzStep 8. 触发方式设置Trigger, External 1/2配置完后频谱分析仪显示如下：五、下行发射项测试操作步骤1. 输出功率Output Power测试项选择 Meas---Channel power测试模式 E-TM1.1Note: 查看Channel Power值，(10W标准值40dBm)。

Anritsu MT8820C LTE测试使用指南前言目前，中兴通讯LTE测试仪表主要借用Anritsu MT8820C和Rohde&Schwarz CMW500两类仪表，很多测试方案随着技术不断的成熟被不断提出，用来完善LTE的测试。

就目前而言，Anritsu MT8820C继承了安利仪表的特点，在测试速度上和测试项的设置上优于RS的CMW500，因此，有必要就是Anritsu MT8820C的使用做一些简单的说明，方便大家对LTE 的测试。

主要分为三个部分：第一部分为LTE射频常规测试项目，包括：最大发射功率，最大功率衰减，矢量幅度误差，临道泄露比，最小发射功率，接收灵敏度，最大输入电平。

第二部分为LTE射频常规测试项目，包括：最大发射功率，最大功率衰减，矢量幅度误差，临道泄露比，最小发射功率，接收灵敏度，最大输入电平。

第三部分为3GPP要求的测试内容，包括开功率，关功率，配置UE功率，PUCCH，绝对功率（Absolute Power），相对功率（Relative Power）第一部分：安利仪表的初始化设置1.使用安利仪表std按键进行制式的切换2.我们所说的信道（例如Band 7 2850）指的是下行信道，配置了相应的LTE信道，安利仪表会自动匹配相应的频段。

3.scenario对应的是类型，高通的芯片使用Type3类型4.设置帧结构和信道带宽，以AL621为例，帧结构是FDD,信道带宽是10MHz5.设置小区功率，当测试最大接入能力时，Level项的Output子项设置为,其中EPRE的大小与Output的大小一一对应。

6.设置线损（External Loss）：安利仪表的线损和RS的仪表相同，配置项为正数。

需要注意的是，线损值是固定的，也就是说，当切换频率时，线损需要重新设定。

7.设置测试信道类型：信道类型主要有两种：PUCCH和PUSCH，（目前测试仪表暂时不支持PUCCH）一般使用PUSCH 来传输数据，因此，测试最大发射功率等RF指标时，当没有特殊说明时，一般指的是PUSCH。

LTE基本项的测试CMW500测试的预设置一、LTE Signalling 界面设置1.signal gen →选LTE下面的子项signalling2.进入LTE signalling 界面。

按config 键，进行设置。

1）测试场景设置scenario : 若进入SISO测试选standard cell(基本项测试)，若进行MIMO测试选Two RF out ports. 2）测试端口选择和线损设置RF settings→RF output (RF input), routing 为设置端口。

若进行SISO 测试RF output 和RF input 都选为RF1com.若进行分集测试RF output 选RF1out; RF input 选RF1COM.若进行单分集测试时RF output选RF1COM; RF input 选RF3COM若进行MIMO测试时RF output 选RF1COM和RF3COM；RF input 选RF1COMExternal Attenuation 为设置线损，根据实际情况设置。

3）设置期望功率模式RF setting →RF power uplink →Exp.Nominal Power Mode→According to UL Power Control setting4）设置上行功控Uplink Power Control →PUSCH→Tx Power Contronl→ActiveTPC setup .根据需要进行具体选择（注：Max allowed Power P-Max 需设置为24dbm,避免最大功率上不去）5）设置网络参数进入network 把鉴权设置的前三项打勾。

Network→Security将Authentication / NAS security/As security 都勾上进入connection →Additional Spectrum Emission 设置为NS-01 (默认)二LTE Multi Eval 界面设置1.按仪器右上角Measure 键，勾选LTE 下子项“Multi Evaluation”和“Extended BLER”。

Rohde&Schwarz对UMTSLTE包括LTE标准化的情况、所使用的关键技术、LTE空中接口的协议架构、相关过程，3GPP系统架构演进（SAE）、演进的分组系统（EPS）以及EPS所涉及的不同步骤和机制，同时还对LTE所支持的各项业务等都有熟练的掌握了。

设备制造商自始自终都可以依赖于Rohde&Schwarz公司的产品和专家级的支持。

由于3GPPLTE标准的发展还未最终完成，R&S公司在开发LTE选件时保持了高度的灵活性，软件会定期更新，确保测试仪表依据的标准和最新发展保持一致，使它们满足3GPPLTE未来开发的要求。

LTE概念的提出意味着目标的确立，为了有一个清晰的技术发展路线，3GPP制定了明确的时间表。

整个标准发展过程分为两个阶段，研究项目阶段和工作项目阶段。

研究项目阶段预计在2006年年中结束，该阶段将主要完成对目标需求的定义，以及明确LTE的概念等；然后征集候选技术提案，并对技术提案进行评估，确定其是否符合目标需求。

工作项目预计在2006年年中以前建立，并开始标准的建立。

LTE信号产生LTE的测试首先需要模拟LTE射频信号，并且研究其统计特性。

对于LTE下行，研究人员可以从WiMAX和WLAN等技术中参考得到OFDMA的射频特性。

但是对于上行，LTE 上行使用的SC-FDMA技术在其他标准中并没有使用。

因此上行信号特性需要进行特别的研究。

选件R&SSMx-K55用于R&S公司的信号源，诸如R&SSMU200A，R&SSMJ100A和R&SSMATE200A就可以按照TS36.211标准规定产生LTEFDD和TDD的上下行射频信号，用于元器件性能测试以及基站和移动终端的接收机测试。

此外R&S还提供了高性能的双通道基带信号源AMU200A以及AFQ100A，加上AMU-K55或者AFQ-K255选件后，就可以模拟LTE的基带信号，用于LTE研发早期基带信号的模拟。

LTE测试指导本文档主要介绍根据3GPP 36。

521，使用CMW500进行LTE测试的方法及测试步骤。

一、测试项目二、测试设置2.1 初始化设置1)点击CMW500左上角RESET键，弹出复位界面 .2)选择Global菜单下的Reset选项，然后点击Reset按钮确认。

3)设置线损,在LTE Signaling界面下点击Config按钮,在RF Settings下选择测试端口以及线损。

4)设置功率控制模式，在LTE Signaling界面下点击Config按钮,在Uplink Power Control下选择TX Power Control(TPC)，Active TPC Setup选择为Max power模式。

5)网络连接设置，在LTE Signaling界面下点击Config按钮，在Connection下选择Additional Spectrum Emission设置为NS_01模式.UE Meas. Filter Coefficient设置FC4模式.6)点击面板上Measure按钮,选择LTE1 Multi Eval菜单7)点击右下角Config按钮，选择LTE1 Multi Eval菜单，选择Scenario设置为Combined Signal Path模式，即信令模式.8)测试控制设置。

选择Measurement Control，设置Repetition为Continuous模式9） .................................................................................................................................. 选择Modulation，设置Modulation Scheme为Auto模式10）点击Measure选择LTE Signaling模式11）在Operating Band内选择频段，Downlink Channel选择信道,Cell Band选择带宽,点击面板上的ON按钮打开小区，开始注册。