LED可靠性分析报告
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晶科电子APT-PAK-RE03Rev. 1.0 APT Electronics Ltd.SMD3528白光LED可靠性测试报告本报告将阐明SMD3528白光LED 产品的可靠性测试项目及寿命测试、环境测试的测试方法、参考标准及测试结果,为客户在应用SMD3528白光LED 产品时提供参考。
可靠性测试项目下表列出了SMD3528白光LED产品可靠性测试项目、测试条件及失效判定标准:Array注:1、失效判定标准:光电性能失效:正向电压VF漂移>0.2V,亮度衰减Iv% ≥10%灾难性失效:死灯、封装材料受到损伤或发生变形,外观尺寸超出规格尺寸误差范围LED是电流驱动元件,随着LED受电流作用时间的增加,LED发出的光通量会逐渐衰减,而且衰减的幅度和速率受驱动电流的大小和环境条件的影响。
目前行业内普遍将LED光通量衰减为其初始值的70%所经历的使用时间L70,或LED光通量衰减为其初始值的50%所经历的使用时间L50,定义为LED的使用寿命。
参考IES LM-80-08文件提供的光通量维持率的测试标准和JEDEC标准文件JESD22-A108C、JESD22-A101B中提供的恒温老化测试和恒温恒湿老化测试的标准,晶科电子SMD3528白光LED产品进行了常温老化测试、高温老化测试和高温高湿老化测试,并根据测试结果对LED产品的寿命进行了预测,下图给出了相关的测试结果及寿命推测结果。
在影响白光LED使用寿命的因素中,最为关键的两个为LED的工作结温T j及工作电流I f。
通过详细测试及分析晶科电子白光LED不同条件下的结温T j,结合实际测量的光通维持数据,通过对SMD3528产品在不同结温T j使用条件下的使用寿命进行推算,得出如下图所示的推算结果。
1支完整的白光LED中包含了支架、固晶胶、芯片、金线、荧光粉、硅胶等多种不同材料并形成多个界面,在白光LED的使用过程中,当外界环境条件(尤其是温度和湿度条件)发生变化时,不同封装材料之间的热膨胀系数的差异容易造成LED失效。
led灯具检测报告一、引言近年来,随着绿色环保理念的普及和科技的发展,LED(Light Emitting Diode)灯具的应用逐渐增多。
然而,市面上存在着一些低质量和不合格的LED灯具产品,这不仅影响了用户的体验,还可能对健康和环境造成潜在的风险。
为了保障消费者的权益和社会的可持续发展,本报告对LED灯具进行了综合检测。
二、检测内容1. 光效与能效检测光效和能效是衡量LED灯具质量的重要指标之一。
我们对样本中的LED灯具进行了光通量、功率和效率的检测。
结果显示,90%的样本光效和能效达到或超过了国家标准要求,证明其具有较高的能源利用率和较高的亮度输出。
2. 色温和色彩指数检测LED灯具的色温和色彩指数对照明效果和用户体验有着重要的影响。
我们采用色温计和色彩指数仪对样本进行了测试。
结果显示,80%的样本的色温在国家标准允许范围内,而90%的样本的色彩指数达到或超过了市场要求,可以提供较为真实的色彩还原效果。
3. 显色性和光束角度检测显色性和光束角度是LED灯具在特定应用场景中的重要考量因素。
我们采用光谱分析仪和角度测量仪对样本进行了测试。
结果表明,大部分样本的显色性满足市场要求,并且光束角度在国家标准允许范围内,适用于不同的照明场景。
4. 散热和寿命测试散热和寿命是衡量LED灯具可靠性的重要指标。
我们对样本进行了散热测试和寿命测试。
结果显示,80%的样本的散热表现良好,可以有效降低灯具温度,延长使用寿命。
寿命测试结果也表明,90%的样本的使用寿命超过了国家标准,具有较高的可靠性。
三、结论与建议通过对LED灯具的综合检测,我们得出以下结论:1. 大部分样本的光效和能效达到或超过了国家标准要求,具有较高的能源利用率和亮度输出。
2. 大部分样本的色温、色彩指数、显色性和光束角度满足市场和用户需求,提供较为真实的照明效果。
3. 大部分样本的散热表现良好,可以有效降低灯具温度,延长使用寿命。
4. 大部分样本的使用寿命超过了国家标准要求,具有较高的可靠性。
led灯检测报告最近,我对家中使用的LED灯进行了一次检测,并撰写了以下的检测报告。
一、测试目的:检测家中使用的LED灯的亮度、色温、能效和寿命等性能指标,以确定其性能是否符合标准要求。
二、测试设备和方法:1. 设备:亮度计、色温计、功率计、寿命测试仪。
2. 测试方法:分别测量LED灯的亮度、色温、能效和寿命,记录数据并进行分析。
三、测试结果分析:1. 亮度:通过对不同LED灯进行测试发现,LED灯的亮度在300至800流明之间,符合国家标准。
其中,客厅的LED灯亮度达到了800流明,非常亮,而卧室的LED灯亮度为500流明,适中舒适。
2. 色温:通过测量发现,LED灯的色温在2700K至6500K之间,符合国家标准。
客厅的LED灯色温为2700K,暖黄色,营造了舒适温馨的氛围;卧室的LED灯色温为4000K,自然白色,使人感到清新宜人。
3. 能效:通过功率计测试发现,LED灯的能效在80至100流明/瓦之间,符合国家标准。
其中,客厅的LED灯能效为85流明/瓦,非常节能高效;卧室的LED灯能效为90流明/瓦,更加节能。
4. 寿命:通过寿命测试仪进行长时间运行测试,发现LED灯的寿命在50000至80000小时之间,符合国家标准。
目前家中使用的LED灯的寿命都在50000小时以上,长期使用可靠耐用。
四、结论:经过测试,家中使用的LED灯的亮度、色温、能效和寿命等性能指标均符合国家标准要求。
LED灯具有较高的亮度和较低的功耗,同时具有较长的寿命,非常适合家庭使用。
此外,灯具的色温选择也能满足不同房间和不同需求的要求。
总体来说,LED灯是一种性能优异的照明产品。
五、改进建议:在使用LED灯时,建议合理调节亮度和色温,避免光照过强或过弱对眼睛造成伤害。
另外,定期清洁LED灯的灯罩和灯泡,保持灯具的清洁和光亮度。
六、参考资料:1. 国家标准GBxxx-xxxx《家庭LED灯性能要求》。
2. LED灯厂家提供的技术参数和说明书。
LED可靠性分析报告LED(Light Emitting Diode,发光二极管)是一种半导体发光器件,由于其低功耗、高亮度、灯具寿命长等优点,已广泛应用于照明、显示、通信等领域。
然而,与传统光源相比,LED的可靠性仍然存在一些问题,例如光衰、发光不稳定等。
本文将对LED的可靠性进行分析,并提出改进措施。
首先,LED的光衰是一个重要的可靠性问题。
光衰是指LED在使用一段时间后,亮度会逐渐下降。
这主要是由于LED发光材料的老化、发光膜的褪色以及温度等因素造成的。
LED在高温环境下工作,会加速光衰的过程。
因此,在设计LED照明系统时,需要合理降低LED的工作温度,采用散热措施,如散热器和风扇等,以延长LED的使用寿命。
其次,LED的发光不稳定性也是一个可靠性问题。
发光不稳定性主要是指LED在长时间使用后,亮度不均匀或闪烁。
这可能是由于LED芯片制造过程中的不均匀性导致的。
针对这个问题,可以采用光学补偿技术,通过调整LED的电流和电压等参数,使LED发光更加稳定。
此外,LED的寿命预测也是一个重要的可靠性指标。
寿命预测是指LED在标准使用条件下的寿命,一般以L70寿命来衡量,即当LED光通量下降到初始亮度的70%时,称为L70寿命。
为了准确预测LED的寿命,需要进行长时间的寿命测试,并分析测试数据。
通过寿命测试数据的分析,可以获取LED的寿命特征曲线,并对其寿命进行预测。
为了提高LED的可靠性,可以采取以下措施:1.优化LED的材料和工艺,提高LED的发光效率和稳定性。
2.设计合理的散热结构,降低LED的工作温度。
3.进行严格的寿命测试和性能验证,确保产品的质量和可靠性。
4.加强LED生产过程中的质量控制,提高LED的一致性和可靠性。
5.提供良好的使用环境和维护保养,延长LED的使用寿命。
综上所述,LED的可靠性是一个重要的问题,但通过优化设计、加强质量控制和提供良好的使用环境等措施,可以提高LED的可靠性,并延长LED的使用寿命。
一、摘要LED照明体积小、省电、环保、发光效率高、响应速度快、耐振动、寿命长,必将成为21世纪的新型照明光源。
LED照明光源的可靠性就是指LED在规定寿命时间内,满足光电及外观之功能要求。
产品可靠性决定了产品的关键质量,决定了LED品牌效应。
其中,LED白光产品用量最大,有的数个用在一个产品上(比如手机、MP4、LCD、NB、装饰照明灯等),这就要求颜色一致性要好。
LED颜色不一致,就是我们讲的有“色差”,导致背光产品色泽不均匀,顾客不满意,导致产品滞销。
故而白光产品色差是制约产品质量的又一关键要素。
以上二个关键指标,能否解决好,关系到公司的信誉、公司发展前景和在行业中的地位。
二、前言2.1产生白光LED的方法(1)使用蓝光磊晶片再经由Nd-YAG荧光体的转换来产生白光。
(2)使用蓝光磊晶片再经由RED、GREEN荧光体的转换来产生白光。
(3)使用R、G、B三种不同磊晶片同时点亮,利用三色光的混光來产生白光。
(4)UV光激发荧光体材料來转换成白光。
本公司采用第(1)种方法生产白光LED:采用发光峰值波长460nm蓝光LED基片安装在碗形反射腔中,在碗形反射腔中覆盖以钇铝石榴石(YAG)荧光粉的树脂薄层。
发出的蓝光激发黄色荧光粉,产生550nm左右的黄光,与另一部分蓝光混合,产生白光。
本文即以LED SMD白光产品为例,对产品信赖性及色差分析。
2.2 LED产品光学参数LED的光学参数中重要的光学参数是:发光强度、光通量、发光效率、光强分布、波长、色坐标。
(1)发光强度(Luminous intensity)点光源向观察方向微小立体角内发射的光通量除以该立体角元dΩ(符号:Iv;单位:cd)。
(2)光通量(Luminous flux)发光强度为Iv的光源在立体角元dΩ内的光通量为d φ=Iv·dΩ(符号:φv;单位:lm)。
(3)发光效率(Luminous efficiency)光通量与电功率之比。
LED可靠性分析报告一、引言随着科技的不断发展,LED(Light Emitting Diode,发光二极管)作为一种新型的照明光源,被广泛应用于室内照明、户外LED显示屏、汽车照明等领域。
然而,由于LED照明产品在使用过程中可能遇到的可靠性问题,如灯珠发光逐渐变暗、灯珠寿命缩短等问题,LED可靠性分析成为了必要的研究内容。
二、LED可靠性评估指标1.发光亮度衰减率发光亮度衰减率反映了LED灯珠在使用过程中发光效率的变化情况。
通过长时间的实验和监测,可以计算发光亮度在一定时间内的衰减率,评估LED灯珠的可靠性。
2.使用寿命使用寿命是LED灯珠能够正常工作的时间,在LED产品中,按照使用寿命可分为L70、L80、L90等指标,表示在该时间之后,LED灯珠的亮度降至初始亮度的70%、80%、90%等水平。
3.热设计LED灯珠在工作过程中会产生大量的热量,如果不能有效地散热,会导致LED灯珠温度过高,影响寿命和可靠性。
因此,合理的热设计是保证LED灯珠可靠性的重要因素之一三、LED可靠性分析方法1.加速寿命试验通过模拟实际使用环境中的一系列工作条件,如高温、高湿、高电流等,来加速LED灯珠寿命的衰减过程,以评估其可靠性。
2.寿命预测模型通过建立LED灯珠工作寿命与工作条件之间的关系模型,预测LED灯珠在特定工作条件下的使用寿命。
3.故障分析当LED灯珠出现故障时,通过对其进行分析,找出故障原因,从而改进设计和制造工艺,提高产品的可靠性。
四、LED可靠性改进措施1.热管理采用合理的热设计,包括散热器、热传导材料等,提高LED灯珠的散热效果,降低温度,延长使用寿命。
2.电路保护合理的电路保护设计,包括过流保护、过压保护等,能够减少电路损坏的风险,提高产品的可靠性。
3.优质材料采用高质量的LED芯片、封装材料等,能够提高产品的可靠性和稳定性。
4.严格的质量控制建立完善的质量控制体系,严格控制产品的制造工艺和质量,确保产品出厂前的可靠性测试。
LED光源的可靠性与寿命分析第一章:引言LED光源是一种高效能、长寿命、环保的新型光源,被广泛应用于各种照明领域。
与传统的光源相比,LED光源具有更低的能量消耗和更长的使用寿命,能够有效降低能源消耗和减少对环境的影响。
然而,光源的可靠性和寿命是使用LED光源时需要考虑的重要因素。
尽管LED光源具有高可靠性和长寿命,但其寿命和可靠性仍受到多种因素的影响,例如质量控制、使用环境、温度变化等。
因此,深入分析LED光源的可靠性和寿命对于开发出更可靠和稳定的LED光源技术具有重要意义。
本文将对LED光源的可靠性和寿命进行详细分析,包括常见的故障模式、寿命测试方法和寿命预测模型等方面。
第二章:LED光源的故障模式LED光源的故障模式主要包括亮度损失、颜色偏移、耐压降低等。
其中,亮度损失是最常见的故障模式。
亮度损失是由于LED光源的发光衰减或热衰减导致的,其主要原因是LED材料的劣化和温度变化。
LED材料中的诸如缺陷、材料不纯等质量问题都可能导致LED的早期损坏。
而温度变化也是影响LED光源寿命的重要因素,温度过高会导致LED发光效率下降,从而影响LED光源的寿命。
颜色偏移是LED光源中另一个常见的故障模式,其会导致LED发出的光线颜色与预期不一致。
颜色偏移的原因主要是LED材料的质量问题、温度的影响以及光坏境的变化等因素。
耐压降低是指在额定电流下,LED光源的电压会随着时间的推移而增加,甚至达到不能正常工作的电压级别。
其主要原因是结构、材料和工艺等因素的问题,但由于受制于LED光源的内部结构,造成耐压降低的原因比较复杂。
第三章:LED光源寿命测试LED光源寿命测试是评估LED光源可靠性的重要方法,可通过对光源进行长时间稳定运行来模拟实际环境中的使用情况,以评估其寿命。
常见的LED光源寿命测试方法主要包括逐步加速测试、连续运行测试、循环测试等。
逐步加速测试是通过增加环境温度来模拟LED光源在高温环境下的使用情况,以捕获LED光源可能出现的寿命问题。
LED照明灯具可靠性简介及其分析LED灯具所涉及的技术问题很多、很复杂,其中主要是系统可靠性问题,包含LED芯片、封装器件、驱动电源模块、散热和灯具的可靠性。
以下分别对这些问题进行分析:1.LED灯具可靠性相关内容介绍在分析LED灯具可靠性之前,先对LED可靠性有关的基本内容作些介绍,将对LED灯具可靠性的深入分析有所帮助。
(1)本质失效、从属失效LED器件失效一般分为二种:本质失效和从属失效。
本质失效指的是LED芯片引起的失效,又分为电漂移和离子热扩散失效。
从属失效一般由封装结构材料、工艺引起,即封装结构和用的环氧、硅胶、导电胶、荧光粉、焊接、引线、工艺、温度等因素引起的。
(2)十度法则某些电子器件在一定温度范围内,温度每升高10℃,其主要技术指标下降一半(或下降1/4)。
实践证明,LED器件热沉温度在50℃至80℃时,LED寿命值基本符合十度法则。
最近也有媒体报道:LED器件温度每上升2℃,其寿命下降10%,当温度从63℃上升至74℃时,平均寿命下降3/4。
因为器件封装工艺不同,完全可能出现这种现象。
(3)寿命的含义LED寿命是指在规定工作条件下,光输出功率或光通量衰减到初始值的70%的工作时间,同时色度变化保持在0.007内。
LED平均寿命的意义是LED产品失效前的工作时间的平均值,用MTTF来表示,它是电子器件最常用的可靠性参数。
可靠性试验内容包括可靠性筛选、环境试验、寿命试验(长期或短期)。
我们这里所讨论的只是寿命试验,其他项目暂不考虑。
(4)长期寿命试验为了确认LED灯具寿命是否达到3.5万小时,需要进行长期寿命试验,目前的做法基本上形成如下共识:因GaN基的LED器件开始的输出光功率不稳定,所以按美国ASSIST联盟规定,需要电老化1000小时后,测得的光功率或光通量为初始值。
之后加额定电流3000小时,测量光通量(或光功率)衰减要小于4%,再加电流3000小时,光通量衰减要小于8%,再通电4000小时,共1万小时,测得光通量衰减要小于14%,即光通量达到初始值的86%以上。
可靠性分析报告品质是设计出来而不是制造出来,广义的品质除了外观、不良率外、还需兼长期使用下的可靠性,因此,在开发新产品前之可靠性预估及开发的实验推断相互印证是很重要的,本篇即针对可靠性分析的一般术语,如何事前预估,事后实验推断以及如何做加速试验及寿命试验做个说明.1. 概论:(1) 何谓可靠性(Reliability)?可靠性系指某种零件或成品在规定条件下,且于指定时间内,能依要求发挥功能的概率,即时间t 时的可靠性R(t)=(例) 假设开始时有100件物品参与试验,500小时后剩80件,则500小时后的可靠性R(t=500)为80/100=0.8简单地说,可靠性可看为残存率.(2) 何谓瞬间故障率(Hazard Rate ,Failure Rate),时间t 时每小时之故障数瞬间故障率h (t )=时间t 时之残存数上例中,若500小时后剩80件,若当时每小时故障数为两件,则第500小时之瞬间故障为2/80=2.5%换句话说,瞬间故障率系指时间t 时,尚未发生故障的物件,其单位时间内发生故障之概率.时间t 时残存数 开始时试验总数(3)浴缸曲线(Bath Tub Curve)瞬间故障率h(t)h(t)=常数=耗竭期Period periodA.早期故障期:a.设计上的失误(线路稳定度Marginal design)b.零件上的失误(Component selection & reliability)c.制造上的失误(Burn-in testing)d.使用上失误。
一般产品之Burn-in 即要消除早期故障(Infant Mortality)使客户接到手时已经是恒定故障率h(t)=B、恒定故障率期:此时故障为random,为真正有效使用此段时期越长越好。
C、耗竭故障期;零件已开始耗竭,故障率急剧增加,此时维护重置成本为高。
(4)平均故障间隔时间(Mean Time Between Failure,MTBF)当故障率几乎为恒定时(若0.002/小时),此时进行10000小时约有0.002/小时*10000小时=20个故障,即平均500小时会发生一次故障,故MTBF 为500小时,为0.002/小时的倒数,即MTBF=1/λ.λ可看成频率(Frequency),MTBF即代表周期(Period)(5)、可靠性R(t)之数学表示根据实验及统计推行,要恒定故障期,R(t=)随着时间的增加而呈指数递减(Exponentially decreasing)当t=0时,因尚无任何故障,故R(t=0)=1t=∞)=0,以数学表示,R(t)-λt即R(t)=e其中λ即为恒定故障期之瞬间故障率t (6)、恒定故障期时MTBF与R(t)的关系,由前,R(t)=e-λtλ=1/MTBF故R(t)=e-t/MFBF当t=MTBF时,R(t)=e-MTBF/MFBF=e-1 ≒0.37即在恒定故障期时,试验至t=MTBF时,其可靠性(即残存比率)为37%,即约有63%故障.2新产品(MTBF Time Between Failure)之事前预估(1) 系统可靠性与组件可靠性之关系一般系统可靠性之计算时有下列假设:A 、 每个组件有独立之λi ,即甲组件故障不影响乙组件。
B 、 系统为这些组件串联,即某组件故障会造成系统之故障。
C 、 λ1为常数。
此时系统之可靠性为各个组件均不故障之乘积,即R (t )=R1(t )×R2(t )×R3(t )×Rn (t ) =e -λ1t ×e -λ2t × ×e -λ3te -λ1t =e -(λ1+λ2+λ3+ +λn )tn∴=λ1+λ2+λ3+ ++λn=∑ Ki λii=i例:当组件1之可靠性为0.9,组件2之可靠性为0.8,设系统为组件1,2的串联,则系统之可靠性为0.9×0.8=0.72(2) MIL-HDBK-217F Parts Count MethodParts Count Method 即利用上式λ=∑λi 之关系由组件之故障率λi 来预估系统之故障率λi 来预估系统故障率λ。
但因第一种零件λi 不一定只有一个,若有K1个,则第一种零件总故障为K1nλ1,亦即上式λ=∑λi 可扩展成λ=∑ Ki λi 举例如后,(原λ=∑Ki πqi=iπe ,为简化计,设π=1)一般而言,Parts Count Method 是在设计初期封MTBF 之概略预估,误差大:A.组件λ1也是预估,本身即有误差.B.非所有组件均为串联关系.当设计完成,应实际用寿命试验法实验作出MTBF 较可靠的预估,详如下节.[例]若某系统有29个组件,其故障率如下:组件型态数量(用量)Ki Ki(每个小时) 总故障率(每千小时)变压器 3 × 0.02% = 0.056%硅质二极体 6 × 0.01% = 0.04%可变电容 2 × 0.02% = 0.40%开关 6 ×0.02% = 0.12%电感器 6 ×0.05% = 0.30%电容 6 ×0.01% = 0.06%29 1.00%即λ=∑Kiλi=0.06+0.06+0.04+0.12+0.30+0.06=1.00即每1000小时有1%故障,故MTBF=100,000小时=1/λ,此时若想知道实验5,000小时的可靠性R(t)=e-λt=e-t/MTBF=e-5,000/100,000=e-0.05=0.95即5,000小时后约有95%残存Parts count Method 最重要的是λi必需准确,一般来说,Digital系统因用半导体组件较多,且这些半导体组件均为世界级大厂所作,其λi较易查得,亦最有把握,国内一般Analog组件,如电感,变压器等的厂商均无法提供故障率资料,即使有亦不一定稳定。
因此Parts Count Method最大困难不在计算,而在组件故障率λi的取得及可信程度,进而求得系统之λ及MTBF。
3.新产品MTBF(Mean Time Between Failure)之实验推断前提及用Parts Count Method只是要设计初期没有成品时对组件选择之概略预估,准确性有限.当设计完成有样品或试产完成时,最好用本节所述的实验法来推断产品之MTBF,以印证上节所估MTBF之准确性,此时再对客户宣布较为可靠.一般可靠性实验可分为:(1)固定试验时间(故障可置换或不可置换两种)(2)固定故障数.(3)逐次试验.由于一般实验均希望能够掌握试验时间发免拖延太久耽误时效,故以固定,试验时间法最常用且固故障俊置换常使条件改变而影响对结果,因此故障不可置换较常用。
兹以固定试验时间法(故障不可置换)为例说明如何用表一来推断MTBF。
(例1)取20个产品作1000小时固定时间试验(故障不可置换)假设于500小时出现一个故障,其余到1000小时均未故障,求信赖度95%时的MTBF。
[解]总试验时间=500+(1000×19)=19500查表一,信赖度95%且故障数r=1时,T.R=4.7439总试验时间19500故MTBF= = =4111小时T.R 4.7439表一GENERAL EXPONENTIAL NODELTESTRA TIOS FOR TIME-TERMINATED TESTSTOTAL TEST TIME (HOURS)TR= TOTAL TEST TIME(HOURS)MTBF (HOURS)* T.R(Test Ratio)=3代表Total test time 为MIBF 的3倍7(例2)假设客户要求某一产品之MTBF为信赖度80%时达到8760小时(365天24小时/每天=8760小时),兹拟以固定时间试验法(故障不置换)来实验,请问应该选多少产品?作多少小时试验?(解)假设预计本实验有零个故障,则信赖度80%时的T.R=1.6094,若MTBF 欲达8760小时,则总试验时间=MTBF×T.R=8760×1.6094=14098小时,可有下列实验组合:(1)欲在30天(720小时)内完成试验,至少须20个产品。
(2)欲在21天内(504小时)内完成试验,至少28个产品。
(3)欲在14天内(336小时)内完成试验,至少42个产品。
依此原则,可任选不同组合。
(例3)上例中,若以20个产品作72小时固定时间试验,(故障不置换),若实际在500小时有一个故障试推断MTBF。
(信赖度80%)。
(解)总试验时间=500+(720*19)=14,180小时查表一。
80%,r=1时T.R=2.9943 14,180MTBF= =4735小时,未达客户要求2.9943(例4)上例中,若试验中途有故障,最好延长试验时间,若一个故障,则至少延长T.R(r=1)/T.R(r=0)=2.9943/1.6094=1.86倍,即720小时延长至1339小时以上,若延长期间又有一个故障,则再延长T.R(r=2)/T.R(r=1)=4.2790/2.9943=1.43倍,即1339小时延长1914小时以上,延长较久,试验会较准。
4.缩短实验时间之温度加速试验(Accelerated Test)由于产品开发之时效性极为重要,而信赖性试验常须花费很长时间,为缩短试验时间早日推出产品,可提高密闭室环境温度以达到加速试验缩短时间之效果,本节即说明不同环境温度下如推断产品之MTBF。
(1)Arrhenius ModelArrhenius model 系温度加速试验最常用之公试:λ2 -(△H/K)(1/T2-1/T1)加速因数= =eλ2T1下的特性寿命= 在浴缸曲线之恒定故障时间(Constant failure rate period),特T2下的特性寿命性寿命为MTBF。
(2)ZT0EE19F00090解法求加速因子由于Arrhenius Model 为指数函数,计算不易,可以对数刻度之图表来画成直线,备用内插法来推测,说明如下:[例]若在200 ºC时,以上节方法得知MTBF=350小时且在150ºC时,以上节方法得知MTBF=1050小时,试以图解法预估50ºC时之MTBF。
(解)利用图一标出A(200 ºC,350小时)及B(150ºC,1050小时)两点,由A,B点连成一直线,由外插法得知50ºC时之特性寿命(在恒定故障时期即为MTBF)为80,000小时,故200ºC对50ºC之加速因子为80,000÷350=228倍,而150ºC对50ººC加速因子为80,000÷1050=76倍。