投影结构光测量
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结构光测量方法我折腾了好久结构光测量方法,总算找到点门道。
一开始,这玩意对我来说就像是一团乱麻,完全不知道从哪下手。
我首先得搞清楚啥是结构光。
打个比方,这就像是给一个物体穿上一层带特殊图案的衣服,然后通过观察这层衣服被物体扭曲后的样子,就能知道物体的形状啥的。
我开始就不懂这个原理呀,看那些理论概念就跟看天书似的。
我试过用一些简单的设备来做这个测量。
就拿个投影仪当结构光的发生器,然后拿个摄像头来拍被照射后的物体。
这第一步,就把我难住了。
那个投影仪投放的光线图案得是精心设计的,我最开始就随便找了个普通的图案投影过去。
我的天,得到的结果那真是一团糟,物体根本没办法准确测量。
后来我才知道得用那种有特定编码或者有规则形状的图案才行。
调摄像头又是一个大挑战。
我最开始总是对不准焦,拍出的照片特别模糊。
然后我就只能一遍又一遍调整摄像头的位置和参数,就像在黑暗中摸索一样。
一会儿这个参数调大了,物体变形了,一会儿那个参数调小了,根本看不见光的图案了。
这个过程我失败了好多回。
在分析采集到的图像方面,我又犯了错误。
我原本以为只要把图像中的光图案识别出来就完事儿了,哪知道还得考虑光的强度变化、反射率这些让人头疼的东西。
有时候光反射太多了,图像就过度曝光,好多信息就没了。
真的,这就像炒菜的时候盐放多了一样,这道菜就毁了。
还有测量距离的时候,我不确定自己的计算方法对不对。
我就参考了好多资料,就跟找不同的人打听路一样。
最后发现,要根据光图案的变形程度、光传播的原理等来准确计算。
我给想做这方面尝试的朋友提个建议,一定要把基本的理论搞清楚,哪怕它像难懂的绕口令一样。
还有,每一个小步骤都要仔细琢磨,不能想当然。
不然就像我开始的时候一样,浪费好多时间在错误的路上。
另外,多拿些简单的物体做练习,就像学骑自行车先在平地上练一样。
比如说先从测量正方体这种形状规规矩矩的物体入手,等熟悉了,再去测量那些复杂形状的东西。
我还认为尝试不同的设备组合也是个好办法。
测绘技术中如何进行三维视觉测量三维视觉测量作为测绘技术中的一个重要分支,用于获取三维空间中目标物体的几何形状、位置和姿态信息,具有广泛的应用领域。
本文将介绍三维视觉测量的原理、方法和应用,并讨论测绘技术中如何进行三维视觉测量。
一、三维视觉测量的原理三维视觉测量基于计算机视觉和图像处理技术,通过对多幅或多个视角的图像进行分析和处理,获取目标物体的三维信息。
其原理主要包括立体视觉几何、图像匹配和三维重建等。
立体视觉几何是三维视觉测量的基础,通过分析目标物体在多个视角下的图像,确定图像之间的对应关系,从而计算出目标物体的三维坐标。
图像匹配是指在多个视角的图像中找到对应的特征点或区域,将其通过几何变换关系进行匹配,得到目标物体在不同视角下的表面点云。
三维重建是基于图像匹配的结果,通过三维坐标的计算和数据处理技术,生成目标物体的三维模型。
二、三维视觉测量的方法三维视觉测量可以采用多种方法,包括立体匹配、结构光投影、激光扫描和摄像测量等。
立体匹配是最常用的三维视觉测量方法之一,通过对多个视角的图像进行匹配,获取目标物体的三维坐标。
该方法需要相机标定、特征提取和匹配算法等步骤,具有较高的测量精度和稳定性。
结构光投影是一种通过投影特殊图案或光栅来测量物体形状和表面细节的方法。
它利用结构光和相机的关系,通过图像处理和三维重建算法,得到目标物体的三维坐标和形状信息。
该方法适用于表面光滑的物体,具有测量速度快、适用范围广的优点。
激光扫描是一种通过激光束扫描物体表面得到三维坐标的方法。
它利用激光器发射激光束,通过对物体反射的激光进行检测和计算,获取物体表面的三维坐标。
激光扫描具有高精度、全自动化和非接触式等特点,适用于复杂形状的物体测量。
摄像测量是利用相机进行三维测量的一种方法,通过对物体的图像进行处理和分析,获取物体的三维坐标和形状信息。
它可以使用单目或多目相机,根据相机标定和图像处理算法,得到目标物体的三维模型。
摄像测量适用于大范围、复杂形状的物体测量,具有成本低、操作简便的优点。
结构光测量镜头透明物体的原理Structure light measurement is a non-contact, high-precision measurement technique that is widely used in industries such as manufacturing, aerospace, and medical imaging. 结构光测量是一种非接触、高精度的测量技术,广泛应用在制造业、航空航天和医学成像等行业。
It is commonly used to measure the shape, size, and surface qualityof objects, and it can also be used to measure the thickness and transparency of transparent objects. 它通常用于测量物体的形状、大小和表面质量,还可以用于测量透明物体的厚度和透明度。
When it comesto measuring transparent objects, such as glass or plastic, a specific approach must be taken to overcome the challenges posed by the transparency of the material. 当涉及测量玻璃或塑料等透明物体时,必须采取特定的方法来克服材料透明性带来的挑战。
One of the key principles of measuring transparent objects using structure light is to project a pattern of light onto the surface of the object and analyze the way the pattern is distorted as it passes through or interacts with the object. 通过结构光测量透明物体的一个关键原则是将光的图案投射到物体表面,分析图案在穿过或与物体相互作用时的畸变方式。
基于结构光概述结构光是一种重要的三维测量技术,用来生成三维模型和测量物体的形状和尺寸。
结构光技术使用一个光源和相机,当光线穿过特殊的投影器时,它们被发射到目标物体上,然后被相机捕捉。
从这些图像中,可以推导出物体的三维几何形状。
原理结构光的核心原理是三角测量。
三角测量利用三角形的性质测量物体的位置和形状。
对于结构光来说,光源、相机和物体之间形成了三角形。
由此,可以测量出光源、相机和物体之间的距离和角度,从而推断出物体的三维几何形状。
具体来说,结构光技术使用一个光源和一个电视投影仪。
光源通常是激光或 LED 灯。
电视投影仪可以使用液晶或 DLP 技术,来投射一个或多个灰度或色彩图案到物体上。
这些灰度或色彩图案由物体表面上的点反射、散射或折射组成。
相机的镜头聚焦于投影仪灯光的反射图案。
计算机会生成一个三维点云,来表示物体的形状和位置。
优点结构光技术具有很多优点。
首先,它是一种非常快速和适用于复杂形状的三维测量技术。
结构光测量可以十分快速地捕捉物体的三维几何信息。
其次,结构光技术具有很高的精度和稳定性。
该技术可用于高精度的测量和质量控制任务,同时还能够应对许多现实世界中的变化和干扰因素。
此外,结构光技术也是一种非接触式测量技术。
这种测量方法不会对物体造成损害,并且可以测量半透明物体、异质性物体和弯曲物体等不同形状的物体。
应用领域结构光技术在很多领域都有广泛的应用。
以下列举了一些常见的应用场景:1. 工业制造:结构光在工业制造过程中被广泛应用。
它可以用于形状测量、尺寸控制和质量检测。
结构光技术可以帮助制造商了解物体的几何形状和特征,以保证产品的一致性和质量。
2. 医疗诊断:结构光技术可以被用来测量人体的各种形状和尺寸,例如牙齿、骨骼和器官等。
它可以被用于创伤重建、脊柱矫正、污点分析等医疗应用。
3. 文化遗产保护:结构光技术可以用来保护文化遗产,例如古建筑、雕塑、壁画等。
它可以在不接触物体的情况下测量并记录其三维形状和细节,以便后续的保护和修复。
结构光三维测量原理
结构光三维测量是一种非接触式三维测量技术,其原理是利用一种由光源发出的光斑或光条,投射在待测物体上,通过对光斑或光条的形变进行测量,来获取待测物体的三维形状信息。
具体而言,结构光三维测量系统通常由三部分组成:光源、投影系统和相机。
光源可以是激光器、LED灯等,其作用是发出一束光线;投影系统可以是透镜、衍射光栅等,其作用是将光线投影成光斑或光条;相机则用来拍摄被投影的光斑或光条在待测物体上的形变图像。
通过对这些图像进行处理,如去噪、滤波、匹配等操作,可以得到待测物体的三维形状信息。
结构光三维测量技术具有非接触式、高精度、高效率等优点,广泛应用于机器人、测绘、制造等领域。
其主要应用包括三维形状重建、表面缺陷检测、变形分析等。
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结构光深度计算公式结构光深度计算是一种通过采集目标物体表面上的结构光图案,并利用这些图案在物体表面产生的形变信息来计算物体表面的深度信息的技术。
结构光深度计算广泛应用于计算机视觉、三维重建、工业测量等领域,是一种非常重要的测量技术。
在本文中,我们将介绍一种基于结构光投影和相位解析的深度计算方法,并给出其数学推导及实际应用。
1. 结构光投影原理结构光投影是一种通过投射特定模式的光束到目标物体表面上,利用目标物体表面对光束的反射或折射产生的结构变化信息来计算物体表面的深度信息的方法。
通常情况下,结构光投影采用光栅图案或条纹图案作为投影光源,通过对被测物体表面产生的结构变化信息进行分析,可以获得物体表面的三维坐标信息。
在结构光投影中,最常用的投影光源是激光器或LED光源,通过光学透镜或光栅片产生具有特定空间结构的光束,将光束投射到被测物体表面上。
被测物体表面对投影光束的反射或折射会产生结构光图案,这些图案可以被摄像机捕获并用于计算物体表面的深度信息。
2. 相位解析原理相位解析是一种通过对结构光图案进行频率域分析来获得目标物体表面的深度信息的方法。
结构光图案可以被看作是一种具有一定频率和相位的空间信号,通过对这些信号进行频率域分析,可以获得目标物体表面的深度信息。
在相位解析中,最常用的方法是采用傅里叶变换或小波变换对结构光图案进行频率域分析,从而获得目标物体表面的深度信息。
通常情况下,通过对结构光图案的相位信息进行解析,可以获得物体表面在光束方向上的深度信息,进而获得物体表面的三维坐标信息。
3. 结构光深度计算公式结构光深度计算公式是通过结构光投影和相位解析原理得出的用于计算目标物体表面深度信息的数学公式。
这个公式通常包括三个部分:结构光投影模型、相位解析模型和深度计算模型。
结构光投影模型描述了结构光图案在被测物体表面上的产生过程,通常采用几何光学或物理光学的方法来描述结构光图案的产生过程。
通过对结构光图案的产生过程进行建模和数学推导,可以获得结构光图案在被测物体表面上的空间分布信息。
结构光3d成像原理
结构光3d成像技术是一种利用光学三角测量原理进行测量和重建物体三维形态的方法。
它通过发送一束结构化光(如条纹、格子等)到被测物体表面,然后捕捉返回的光线信息,利用计算机对数据进行处理,最终生成物体的三维模型。
结构光3d成像原理基于光学三角测量原理,即利用视差原理计算物体表面上各个点的三维坐标。
在结构光3d成像系统中,首先需要将被测物体置于一个光照条件较好的环境里,并且保持相机和投影仪之间的几何关系不变。
然后,投影仪发出一束结构化光,在物体表面形成一个光栅。
相机拍摄物体表面上的光栅图案,将图像传输到计算机中进行处理和分析。
在处理过程中,需要进行相位解码和相位匹配,以计算出每一个像素的深度信息。
相位解码是指将光栅图案的相位信息转换为深度信息的过程,而相位匹配则是通过对比不同光栅图案之间的相位差异,计算出物体表面上每一个像素的深度值。
最终,通过对所有像素的深度值进行三维重建,生成物体的三维模型。
结构光3d成像技术具有高精度、高速度、无接触等优点,被广泛应用于工业制造、医学影像、文化遗产保护、虚拟现实等领域。
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结构光摄像头测深度的原理
结构光摄像头是一种用于测量物体深度的技术,它利用红外光和相机来获取物体表面的深度信息。
下面是结构光摄像头测深度的原理。
结构光摄像头通常由以下组件组成:
1. 光源:通常使用激光二极管或红外发光二极管发射红外光。
2. 投影系统:用于投射结构光模式(如光栅或条纹)至场景中。
3. 相机:用于捕获被投射的结构光模式后的图像。
4. 计算系统:用于处理并分析相机拍摄到的图像,提取深度信息。
结构光摄像头的工作原理如下:
1. 投射结构光:摄像头的光源发射红外光,通常是一种结构化光模式(如编码光栅或条纹)。
这个结构化光模式在被投射到物体表面时会形成一些变形或扭曲。
2. 感应光反射:被投射的结构光模式会在物体表面上反射或散射,并最终进入摄像头中。
3. 拍摄图像:相机捕获到反射或散射的结构光模式后的图像。
4. 提取深度信息:通过分析捕获到的图像,计算系统可以检测出结构光模式的变形或扭曲,然后根据已知的光源和相机参数,精确计算出每个像素点的深度值。
5. 生成深度图像:根据计算出的每个像素点的深度值,计算系统可以生成一个深度图像,其中每个像素点表示该点在场景中的深度。
结构光摄像头可以在小范围的场景中提供精确的深度测量,例如近距离的三维扫描、物体姿态跟踪和人脸识别等应用。
结构光摄像头的原理也可以用于其他深度感应技术,如飞行器的避障和虚拟现实中的手势识别。
基于数字光栅投影的结构光三维测量技术与系统研究一、本文概述随着计算机视觉和光电技术的快速发展,三维测量技术在许多领域,如工业制造、生物医学、文化遗产保护以及虚拟现实等,都展现出了巨大的应用潜力。
其中,基于数字光栅投影的结构光三维测量技术以其高精度、高效率、非接触性等优点,成为了研究的热点。
本文旨在深入探讨这种技术的原理、系统构成以及在实际应用中的优势和挑战,以期为相关领域的科研和工程实践提供理论支持和实践指导。
本文将详细介绍基于数字光栅投影的结构光三维测量技术的基本原理,包括数字光栅投影的原理、结构光的生成与编码、以及相机与投影仪的标定等。
文章将构建一个完整的结构光三维测量系统,包括硬件选择和配置、软件系统设计和实现等,并对系统的性能进行评估。
本文还将探讨该技术在不同应用场景下的适用性和限制,如动态物体的测量、复杂表面的处理等。
本文将总结基于数字光栅投影的结构光三维测量技术的发展趋势和前景,分析当前存在的技术瓶颈和挑战,并提出相应的解决方案。
通过本文的研究,期望能为结构光三维测量技术的进一步发展和应用提供有益的参考和启示。
二、结构光三维测量技术基础结构光三维测量技术是一种非接触式的三维重建方法,它利用结构光编码和解码的原理,通过对物体表面投射特定的光栅条纹,结合摄像机获取的图像信息,实现物体表面的三维形态重建。
结构光三维测量技术以其高精度、高效率、易操作等优点,在机器视觉、逆向工程、质量检测等领域得到了广泛的应用。
结构光三维测量技术的基本原理是将特定的光栅条纹投影到物体表面,这些条纹在物体表面形成特定的变形。
摄像机捕捉到变形后的条纹图像后,通过解码算法提取出条纹的变形信息,进而恢复出物体表面的三维形态。
其中,光栅条纹的生成和投影是结构光三维测量的关键步骤,常见的光栅条纹有正弦条纹、二值条纹等。
在结构光三维测量系统中,摄像机和投影仪是两个核心组件。
摄像机负责捕捉投影到物体表面的条纹图像,而投影仪则负责生成并投影光栅条纹。
三维测量原理三维测量是一种非常重要的测量方法,它可以在三个方向上获取物体的尺寸和形状信息。
在工业制造、建筑设计、医学影像等领域都有着广泛的应用。
三维测量的原理是基于光学、机械、电磁等技术,通过精密的仪器设备和复杂的算法来实现。
本文将介绍三维测量的基本原理和常见的技术方法。
首先,我们来看光学三维测量的原理。
光学三维测量是利用相机和投影仪等光学设备,通过测量物体表面的光照信息来获取其三维形状。
这种方法可以分为结构光投影和立体视觉两种。
结构光投影是通过投射编码的光条或光斑到物体表面,再通过相机捕捉被投影的光斑,通过计算得到物体表面的三维坐标。
而立体视觉则是利用多个相机同时观察物体,通过计算不同视角下的图像之间的关联性来获取三维信息。
光学三维测量具有非接触、高精度、高效率等优点,适用于对物体表面进行精确测量和形状重建。
其次,机械三维测量是利用机械设备来获取物体的三维信息。
常见的方法包括坐标测量机、激光测距仪、测绘仪等。
坐标测量机是一种精密的三维测量设备,可以通过机械臂的运动来实现对物体三维坐标的测量。
激光测距仪则是利用激光束对物体进行扫描,通过测量激光束的反射时间或相位来计算物体表面的三维坐标。
测绘仪则是利用全站仪或GPS等设备对地面进行测量,通过测量地面点的坐标来实现对物体形状的测量。
机械三维测量具有测量范围广、适用性强等优点,适用于对大型物体和复杂形状的测量。
最后,电磁三维测量是利用电磁波或磁场来获取物体的三维信息。
常见的方法包括激光雷达、GPS、地磁测量等。
激光雷达是利用激光束对物体进行扫描,通过测量激光束的反射时间或相位来计算物体表面的三维坐标。
GPS则是利用卫星信号来获取地面点的坐标,通过多个接收器的组合来实现对物体的三维测量。
地磁测量则是利用地磁场的变化来获取地面点的坐标,适用于室内环境和金属表面的测量。
电磁三维测量具有远距离测量、全天候测量等优点,适用于对地形地貌和建筑结构的测量。
综上所述,三维测量是一种重要的测量方法,它可以通过光学、机械、电磁等技术来获取物体的三维信息。
相位转换算法推导(A mapping algorithm)
已知条件
P0—投影到参考面光条间隔,mm;
(如何确定P0?)
O—相机光轴与参考平面的交点,在像素
坐标平面上O点的像素坐标对应记
录光条中最大亮度的感光单元,记为
u0。
参考平面基本与相机光轴垂直。
假设;为便于分析设O点处光强(即灰
度值)的相位角为0。
图1
操作顺序与测量记录
1.调整相机的摆放位置,使得像素坐标的一个方向与光条垂直,同时图像平面
与参考面尽量平行。
2.投影仪将等间隔分布的光条投射到参考平面上,产生明暗相间分布均匀的条
状图形,图形的亮度沿x方向服从正弦分布关系。
3.根据测量要求和光条在物体上的投影方向,在物体上选择并布置要测量采样
的位置(如C点,见图2),然后依据选定的采样位置,在相机的像素坐标面上找出与采样位置相对应的感光单元u c(即像素坐标[u i,v i]i=1, 2,…,M),最后将找出的像素坐标[u i,v i]保存为矩阵或表格的形式,以便测量时用。
4.将P0分成N(≥3)份,然后把光条投射到参考平面上,同时用CCD相机拍摄
光条的图像(记录像素坐标[u i,v i]上的灰度值,以便分析用),每拍一次图像后移动光栅,使参考面上的光条位移P0/N距离后,再拍摄光条图像,这样拍摄获得光条图像的序列照片I1,I2,….I N。
5.同样,对被测物体重复2和3步骤,获得投影到物体上的光条图像的序列照
片。
分析与数据处理
1.在第一幅图像上,在主点附近找一光条
图像,并检测该光条图像的灰度值,找
出最大灰度值所对应的像素坐标(即
CCD感光单元),将该像素坐标看着为
O点的像素坐标,记为u0。
2.由于相机相对参考平面的位置不动,所
以O点在各幅图像上的像素坐标均为
u0。
图2
3.参考图1和图2,确定C的位置。
由于光条图形的亮度沿x方向服从正弦分
布,所以C 点的亮度I c 可以表示为:
(,)(,)c o s (2c c I a x y b x y m πφ=++ (1)
这里,m=OC/P 0取整,02c φπ∠∠(即在相邻两条亮带之间的任意位置)。
4. 在实际中,OC 往往是未知的,现利用图像的像素信息确定m 。
见图2,首
先通过对亮带灰度值最大位置的检测,确定其像素坐标;然后检测出相邻两个亮带灰度值最大的像素坐标,而这两个像素坐标之差就是P x 。
由于图像平面与参考面基本平行,且投影仪距参考面较远,所以检测各光条得到的P x 值相差不大,为提高测量精度可以检测得到多个P x ,通过求平均提高P x 值的精度。
5. 检测距C 点最近光条的最大灰度值对应的像素坐标,如图2 所示。
利用O
点的像素坐标u 0,从检测的C 点像素坐标u c 开始,朝u 0方向进行整像素搜索,并利用已知的亮带最大灰度值(实际中,灰度值上下可能有变化),确定距u c 最近的亮带灰度值最大位置的像素坐标u c1,而10/c x m u u P =-,这样可以确定OC = m •P 0。
6. 分析确定(1)式中的c φ,由于本方法是利用c φ进行测量的,所以前面第3
步选定的M 各点,每个都需要确定其相位角φ。
现以图2中的C 点为例,介绍确定相位角φ的方法。
根据前面第4步,以N=4为例。
拍摄4幅图像在像素坐标u c 处得到4个灰度值I c1、I c2、I c3、I c4。
由于光栅的移动,这4个灰
度值是不一样的。
根据文献[1],相位角c φ可表示为:
11tan sin(2/)/cos(2/)N N
c ci ci i i I i N I i N φππ===∑∑ (2)
由(2)式可得到c φ,同理可得与C 点对应的被测物体上D 点的相位角D φ,见图1。
7. 确定图1所示的AC 。
根据文献[1]P3106介绍:The intensity observed at D is the
same as that which would have been observed at A on the reference plane ,而文献[2]直接指出:D A φφ=。
由前面的分析可知,相位角与点在参考面上的位置有关系:
0/2c c OC P m πφ=+, 0/2D D OA P
m πφ=+ 002()()D C D C AC OA OC P m m P πφφ=-=-+- (3)
8. 见图1,被测物体上D 点到参考面的距离,即物体高度:
0t a n B D A C θ= (4)
这里
tan 可由投影仪与相机间的基线距离及投影仪到参考面的距离确定0
(具体见文献[2]PP186(5)式)。
用(4)同样可以确定其余各点的高度。
文献:
[1]V. Srinivasan, H. C. Liu, and M. Halioua, Automated phase-measuring profilometry of 3-D
diffuse objects, APPLIED OPTICS, 15 September 1984 / Vol. 23, No. 18, pp.3105-3108.
[2]V. Srinivasan, H. C. Liu, and Maurice Halioua, Automated phase-measuring profilometry: a phase
mapping approach, APPLIED OPTICS, 15 January 1985 / Vol. 24, No. 2, pp.185-188.。