阴极发光分析技术
- 格式:doc
- 大小:277.50 KB
- 文档页数:6
阴极发光技术在宝石鉴定中的应用摘要:阴极发光(CL)技术属于无损鉴定的方式,被大量的应用于宝石矿物鉴定和研究领域。
从宝石学的角度来说,阴极发光技术的贡献巨大,它是宝石鉴定的重要方式之一,利用阴极发光技术可以准确的判断天然宝石或者合成宝石,同时还可以判断出优化处理宝石,在区分外观相似的宝石材料方面也非常便捷快速。
本文主要分析阴极发光技术在单晶宝石材料中的应用。
关键词:阴极发光;单晶宝石;鉴定;应用从目前国内外的发展形势分析,研究者通过阴极发光技术,在矿物研究方面取得了很大的进步,随着科技的进步,阴极发光技术大量的使用到多个领域内。
阴极发光技术已经成为目前宝石鉴别的重要方法之一,利用这项技术可以准确的掌握研究者所需要的信息,进一步揭示出宝石内部蕴藏的奥秘。
在宝石学中,阴极发光技术应用是非常广泛的,可以有效的区别天然单晶宝石与合成单晶宝石,还可以优化处理单晶宝石,所使用范围比较广,是一种重要的单晶宝石无损鉴定方式。
1阴极发光技术原理利用阴极射线管发出的电子束轰击到矿物的表面,因为电子束的能量较高,可以直接转化成为光辐射能,这就是阴极发光。
在阴极射线管发射的电子束轰击矿物晶体时,矿物晶体的晶格会出现畸变的情况,晶体内部形成电子空穴,局部也会发生变化,同时也会以激发态的形式存在。
这些能量处于亚稳定状态的激发中心,能捕获电子从而形成发光中心。
2钻石的阴极发光特征及其应用天然钻石与合成钻石其生长环境有着很大的不同,内部生长结构也会有明显差异,这就使得天然钻石与合成钻石的阴极发光特点很不相同,这就是我们区分天然钻石和合成钻石的主要方式。
从实际情况分析,两者的区别是如下两点:(1)发光性。
在阴极发光的作用之下,天然钻石以蓝色荧光的状态存在,颜色分布较为均匀,有少数会出现黄色或者蓝白荧光,由于没有生长区的影响,这些荧光形态会有明显的不同,并且以不规则的形式存在。
在阴极发光的影响之下,合成钻石会以不同颜色的光出现,因为生长区的影响,形态会是多种结合图形,并且分布以规律性存在。
2010年4月A pr il 2010岩 矿 测 试ROCK AND M I N ERA L ANALY SIS V o.l 29,N o .2153~160收稿日期:2009 07 05;修订日期:2009 08 27基金项目:国家科技支撑项目资助(2006BAB01A 01);中金集团公司项目、青藏专项资助;西藏自治区矿产资源潜力评价项目资助(1212010813025);成都理工大学矿物学岩石学矿床学国家重点(培育)学科建设项目资助作者简介:彭惠娟(1985-),女,甘肃兰州人,在读研究生,从事岩矿测试及矿床学方面的研究工作。
E m ai:l 346665401@qq .co m 。
通讯作者:汪雄武(1964-),男,湖北天门人,教授,从事花岗岩与相关矿产方面的研究工作。
E m ai:l 724731780@qq .co m 。
文章编号:02545357(2010)02015308石英阴极发光在火成岩研究中的应用彭惠娟1,汪雄武1*,唐菊兴2,王登红2,秦志鹏1,侯 林1,周 云1(1.成都理工大学,四川成都 610059;2.中国地质科学院矿产资源研究所,北京 100037)摘要:阴极发光是一种研究火成岩石英显微生长结构的有效技术方法。
文章以甲玛斑岩铜矿床中岩体样品分析为例,简要介绍了光学显微镜阴极发光(OM -CL)和扫描电镜阴极发光(SE M -CL)两种图片的特点,并综述了石英阴极发光在火成岩研究中的应用。
阴极发光所显示出的火成岩石英中的生长形式和蚀变结构反映了岩浆的结晶历史。
相对稳定的以蓝色阴极发光为主的斑晶区域主要与石英中T i 含量的变化有关,它反映了结晶作用的温度。
由于在岩浆演化过程中,与铝、锂、钾、锗、硼、铁、磷相比,钛更加相容,因此随着岩浆分异程度的加深,火成岩中铝/钛逐渐升高。
石英阴极发光不仅能显示岩浆早期及岩浆晚期的各种结构,如生长环带、重熔表面、溶蚀湾等,还反映了许多次生结构,如显微裂隙等。
锆石、独居石等常用测年矿物中常含有多种杂质元素和一些结构缺陷,因而通常具有较好的阴极发光性能。
由于在锆石等矿物的阴极发光图像上可以见到环带等其他方法不易见到的一些现象,当它与电子探针中的其他分析方法结合,并应用同位素和微区化学成分研究时,就能全面地揭示出在地质历史、结晶过程或重结晶过程中的温度改变、冷却速率、流体或熔融物析出的细节,以及溶解和重熔等现象,为我们了解和研究锆石的发生、发展史及其母岩的形成演化历史乃至大地构造单元岩浆活动、变质作用和构造演化等地质问题提供极为有用的丰富信息。
本文所介绍的电子探针下的阴极发光研究就是一种能完美实现这种结合的极好方法。
矿物阴极射线致发光的图像分析是电子探针中一项非常规的分析技术,目前在国内尚未引起足够的注意。
笔者曾在!"多年前进行过一些探索,最近又在新型的#$%&’’""(电子探针上配备了新一代的阴极射线致发光探测器附件,并已对许多具有阴极发光特性的矿物,如锆石、独居石、锡石、白钨矿、石英、方解石等这些具有重要研究意义的矿物进行了初步研究。
通过近年来的研究实践,认为在电子探针下对锆石等矿物进行阴极发光的研究具有以下一些特点)*+,在电子探针下研究阴极射线致发光不仅具有较高的分辨率,有可能从!+!-!的区域上进行观察和光谱测量,还能在理想的条件下,分析测量主要元素和低至+"&.级目的杂质元素的含量,以分析造成其发光的可能原因。
同时还可以把阴极射线致发光的图像观察与透射光或反射光图像观察、背散射电子图像等的观察相结合。
不仅有助于阴极射线致发光现象的解释和应用,还可以为晶体的发生和生长历史的研究提供更丰富的信息。
*!,由于阴极发光的差异取决于锆石等矿物中的一些痕量元素,而痕量元素的地球化学特点恰恰表现在对地质环境变化的灵敏性上,因此,换一句话来说,阴极发光图像可以灵敏地反映地质环境的变化。
通过阴极发光图像的分析研究,在多数情况下可以了解锆石的发生、发展史。
阴极发光地质学基础(资料参考)《阴极发光地质学基础》中国地质大学出版社宋志敏早在1859年,Crookes发明了阴极射线管,为矿物的阴极发光研究提供了基本装置。
一、阴极发光基本原理:这里涉及到两个定义:发光和阴极发光发光:当某些物质受到某种能量激发时,会从物体表面发射出光的辐射,光辐射频率大多在可见光范围,波长400-760nm,也有可能有紫外或近红外光辐射的发射,这种现象叫做发光。
阴极发光:指用带能量的电子束轰击某些物质表面时造成的发光现象。
由于带能量的电子束一般是由阴极发射出来,经过阳极电压加速而得到的,因而电子束轰击造成的发光,习惯上成为阴极发光。
为什么会产生阴极发光现象?当入射电子进入固体表面时,与固体原子的价电子相互作用,使价电子从基态跃迁到激发态,由于价电子在激发态不稳定,经过极短时间(一般小于10-8秒)即跃迁回基态,同时发射出一个光子,产生光的辐射,也称跃迁辐射。
光子能量等于激发态能量E2与基态能量E1之差,即hv=E2—E1式中h—普朗克常数,6.62x10-34J·sv—光子频率。
二、矿物受辐射发光的条件:首先要明确的是,并非所有种类的矿物受电子激发后都会辐射发光,有时甚至同一种矿物在不同条件下的发光也会不同。
矿物是否产生发光取决于下面的的一些因素:激活剂与猝灭剂、电子在激发态停留时间---能级寿命的长短。
激活剂与猝灭剂对于大多数矿物来说,只在其中存在某些微量的杂质原子或结构缺陷时,才有显著地发光现象,这些矿物的发光,实际上是由于杂质原子或结构缺陷造成的,而这些杂质原子和结构缺陷,为方便认识,在这里可理解为第一节中述及的“原子的价电子”。
激活剂原子中价电子从激发态跃迁回基态的过程中伴随着光的辐射,这些杂质原子或结构缺陷则称为激活剂,如方解石中的Mn2+使方解石发橙红或橙黄色光;长石中Fe2+使长石发绿色光,Ti4+使长石发天蓝色光,这些离子就是方解石和长石的激活剂。
发光分析技术在环境检测中的应用发光分析技术是一种基于发光原理的分析方法,它利用物质的特定发光性质,通过仪器设备将其转化为可测量的信号,从而实现物质定性、定量等各种分析目的。
近年来,随着环境污染日益加剧,发光分析技术在环境检测中的应用也越发重要。
一、发光分析技术的基本原理光谱分析是发光分析技术的基本原理之一,它是研究物质发生光谱现象及光谱信息的一种分析方法。
在分析过程中,物质在激发能量的作用下产生特定的发光现象,这些发射光线的波长和强度可以为仪器所测量,通过对光谱特性的分析,可以确定物质的组成成分、结构和性质等信息。
发光分析技术的应用范围非常广泛,包括环境检测、食品安全、病毒检测等诸多领域。
二、发光分析技术在环境检测中的应用1. 环境污染检测环境污染是人类面临的一个重大问题,而发光分析技术则可以通过光谱分析的方式,对环境中的有害物质进行快速、准确的检测。
例如,利用发光分析技术可以测定水中的水溶性有机污染物、重金属等无机离子等污染物的含量,以及大气中的污染气体等,这对环境保护和人类健康起着重要的作用。
2. 水质监测水质是影响社会发展和生态平衡的重要因素之一,因此对水质的检测也很重要。
发光分析技术可以针对不同的水质污染物进行检测,如利用荧光光谱技术测定水体中的有机污染物,利用原子荧光光谱技术测定水质中的金属元素等。
通过这些方法,可以更快速、准确地了解水质的污染状况,进而采取有效的治理措施。
3. 植物病虫害的检测发光分析技术还可以应用在植物病虫害的检测上。
例如,可以利用生物发光分析技术,将生物标记物与病原体等进行组合,通过检测发光信号来确定植物中病原体的含量。
这种方法具有高度的灵敏度和特异性,是一种非常有效的植物病害监测方法。
三、发光分析技术的发展前景随着社会的不断发展和科技水平的提高,发光分析技术将会在环境检测中发挥更大的作用。
其中,光电子器件、光触发器件等在技术上的进步,将更好地支持发光分析技术的应用。
固态阴极射线发光的探究陈大凤、曹雯、马艳(中国矿业大学理学院理学院信电学院)摘要:固态阴极射线发光(SSCL)是一种全新的激发方式,是发光的一个分支,文中揭示了固态阴极射线发光的本质,并证明了它的普适性,分析它的发光光谱及随驱动电压提高时的变化规律,证明固态阴极射线激发既可引起激子发光,又可引起扩展态发光——激子离化后产生的电子-空穴的直接复合。
本文着重分析了固态阴极射线发光的光谱特征、其中的物理现象及波形特点。
关键词:固态阴极射线发光,激子,扩展态,有机电致发光一引言现代信息社会使显示技术进入了一个全新的环境,电致发光显示被认为是下一代理想的平板显示技术之一,尤其是有机电致发光显示,但有机器件的寿命和效率一直是困扰其应用的棘手问题,因此还不能大批量地投入生产。
无机电致发光器件的蓝色发光一直达不到实用化的要求,限制了其在彩色显示方面的应用,如果不能突破这个瓶颈,无机薄膜电致发光器件在显示领域的应用将受到非常大的限制。
在研究有机和无机电致发光显示技术的同时,我们提出了固态阴极射线发光,并证明了碰撞离化和注入复合两种激发方式可以并存。
在固态阴极射线发光器件中,我们已经分别从有机聚合物、有机磷光材料、稀土配合物上发现了它们的固态阴极射线发光,这证明了固态阴极射线发光的普适性。
本文着重分析了固态阴极射线发光的光谱特征、瞬态特性、其中的物理现象、它的波形特点以及两个发光峰的衰减差异。
二固态阴极射线发光光谱当发光材料为有机聚合物MEH-PPV和C9-PPV时,可以探测到固态阴极射线发光。
其中580 nm的长波长发光是对应着MEH-PPV的激子复合发光,而405 nm 处的短波长发光对应于MEH-PPV的带带复合。
此外,还出现了一新的发射,其波长位于500 nm处。
当电子加速层为Si3N4时,得到相同的结果。
在相同频率和不同电压的交流激发下,MEH-PPV的发光随驱动电压的不同而变化,当驱动电压较低时,只出现了MEH-PPV在580nm处的激子发射,并且它的发光强度随着驱动电压的上升而增强。
阴极发光技术在地质学中的应用
阴极发光技术是一种快速、准确、高效的矿物分析方法,可以在地质学领域中广泛应用。
它可以用于岩石、矿物和土壤的成分分析,特别是对于微量元素的检测非常敏感。
该技术可以在地球化学研究中发挥重要作用,如地质储层的研究、矿床勘探、金属元素的分析和岩石地球化学演化的研究等。
此外,阴极发光技术还可以用于地球化学样品的分析和测量,如花岗岩、辉石、角闪石、绿帘石和磷灰石等。
总的来说,阴极发光技术在地质学中的应用是非常广泛的,可以为地质学家提供更准确的数据,进一步推动地质学的研究和发展。
- 1 -。
一、影响阴极发光的因素:(1)发不发光与激活剂和猝灭剂的含量有关。
猝灭剂为是阻止矿物发光的元素,如铁、钴、镍均为猝灭剂,含一定量猝灭剂矿物就不发光,如有的白云石。
激活剂是指能引起矿物发光的元素,如锰、钛及其他稀土元素。
(2)发什么颜色的光与含有何种激活剂或与同一激活剂的不同化合价有关。
如Ti4+长石发兰光,Fe3+的长石发红光,因微量元素不同而有不同的发光颜色。
又如Mn4+发红色光,而Mn2+发黄绿色或橙色光。
(3)发光强度与激活剂及猝灭剂的相对含量有关,激活剂所占比例愈大,发光强度愈大。
常见矿物的阴极发光特征:1.碳酸盐碳酸盐矿物发光颜色从黄色—暗红色。
通常,文石为黄色,方解石为黄—橙红色,白云石呈暗红色,铁白云石则不发光。
不同发光颜色与含不同原色有关,含Mn2+为橙红色,含Th2+为橙黄色,含有一定量Fe3+则发红色光。
根据电子探针分析,碳酸盐的主要激活剂为Mn2+,而猝灭剂为Fe2+。
2.长石长石的阴极发光颜色很多,其中最常见的为蓝色、红色及绿色。
通过阴极发光显微镜与电子探针的联合分析,看看出长石发光颜色与所含不同的激活剂有关。
长石最普遍的阴极发光颜色为蓝色,经测定,这类长石均含有少量Ti4+,而其他发光颜色的长石均无Ti4+显示,可见发蓝色光的长石与长石中含Ti4+有关。
发红色光的长石较少,从结果来看,他与e3+、Cr3+及Mn4+有关。
发绿色光长石少见。
含Mn2+的长石常发绿光。
在拉长石中,由于Ca2+被Mn2+取代,而发绿光。
3.石英石英的阴极发光现象有U.Zinkernagel作了系统的研究,他对不同岩石的石英都进行了阴极发光特性的研究,包括火成岩,接触变质岩、区域变质岩、沉积自生石英等,同时也对热液条件下人工培养的石英进行了定性的发光研究。
根据他的研究石英的阴极发光的主要特征为,所有石英的发光光谱表现出两个发射极大值:①波长为350—450nm,在蓝色范围内。
②波长为600—650nm,在红色范围内。
阴极射线发光分析方法及其在新材料研究中的应用傅竹西吴自勤摘要:阴极射线发光分析方法是研究材料的结构和能态的重要手段.近年来,这种分析方法的灵敏度和功能等都获得很大改善,特别是在扫描电镜中,将阴极射线发光、二次电子、背散射电子和X射线特征谱等结合起来形成的综合测量方法,成为研究材料结构和微区性质的有力工具.文章介绍阴极射线发光分析方法的基本原理及其在GaN,SiC,ZnO和量子线等新材料研究中的应用实例.关键词:阴极射线发光,分析方法,新材料CATHODOLUMINESCENCE ANALYSIS AND ITSAPPLICATIONS IN NEW MATERIALSFU Zhu-Xi(Structure Research Laboratory, Chinese Academy of Sciences;Departmentof Physics,University of Science and Technology of China Hefei 230026)WU Zi-Qin(Fundamental Physics Center, University of Science and Technology ofChina, Hefei 230026)Abstract:Cathodoluminescence(CL) is an important experimental method for analysing the structure, density of states and defects of crystals. The CL combined with secondary electrons, back-scattering electrons and X-ray spectra in scanning electron microscopy can reveal the spectral and spatial distribution of light emission centers. This is of great use in the characterization of the structure, density of states, defects and impurities of samples in micro zones. The fundamental principle of CL analysis and its applications in research of new materials, such as GaN, SiC, ZnO and quantum wires are reviewed.Key words:cathodoluminescence, analysis method, new materials▲1 引言材料的物理性质与它们的晶体结构、组分、杂质和缺陷的分布及能级状态等密切相关,尤其对某些半导体材料,结构特性的微区变化及杂质和缺陷(填隙和空位)的非均匀分布等都会极大地改变材料的功能,因此,建立精密的结构分析手段和微米尺度内结构和缺陷的测量方法是材料科学的重要研究内容之一.电子显微方法是研究材料微结构性质的重要手段[1],阴极射线发光(CL)就是其中一种极其有用的材料分析方法.早期的阴极射线发光测量受到灵敏度和单一功能的限制,只能用于分析发光强度较高的材料.随着测量技术的提高,CL分析方法有了长足的发展,同时它还与扫描电镜图像测量结合起来形成一种综合测量技术,成为分析材料微区性质的有力工具.CL技术不仅在以往的材料分析中发挥了重要作用,而且在GaN,SiC,ZnO以及量子阱和量子线等一系列新材料的结构和缺陷的研究中同样做出了很大的贡献.2 阴极射线发光分析原理和装置某些半导体或电介质在高能电子束激发下发光的现象称为阴极射线发光.根据电子束能量和样品种类的不同,高能电子束照射到样品上后可穿透几十nm到十几μm的深度,通过和晶格的碰撞使样品的原子离化,产生如图1所示的电子跃迁.高能电子束可以激发出导带电子和价带空穴,这些自由运动的带电粒子——载流子在运动过程中有可能被晶体中某些深能级俘获,形成无辐射跃迁;也有可能通过电子-空穴的复合产生发光跃迁(即CL),它不仅包含带边跃迁,还包括禁带中由空位、填隙杂质原子或其他缺陷所形成的附加能级之间的跃迁.因而,CL光谱可以反映产生辐射跃迁的能级结构及电子的跃迁过程和跃迁几率等,同时,高能电子束还能激发样品原子的内壳层电子,从而产生X射线特征谱.图1 阴极射线激发的电子跃迁与光致发光(PL)相比,高能电子碰撞离化的方式更容易激发出电子和空穴,某些看不到光致发光的材料可以产生阴极射线发光;由于电子的能量大于光子的能量(hν),所以CL能够揭示禁带宽度从6eV到0.6eV 范围内的能带结构,有利于研究绝缘介质等具有极宽禁带的材料;而电子束的聚焦本领远大于光束的聚焦本领,所以CL与PL相比,可以观测更小尺寸范围内材料的微区性质;另外,高能电子束激发的X射线特征谱可用来辨别材料的组分.随着测量技术的进展,低温和瞬态光谱测量方法被引入CL中,使CL分析方法具备了更强大的功能[2].观察CL需要特殊的真空系统和产生电子束的装置.而扫描电镜(SEM)具备CL装置的基本条件,只要增加一些附件,就可将背散射电子(BSE)、二次电子(SE)和X射线探测等多种功能与CL测量结合起来,同时进行样品的形貌、组分和光谱检测,得到发光中心的光谱分布和空间分布,并由此分析样品表面层中微区的结构、杂质和缺陷的组成及分布等信息,这种CL综合测量技术成为材料微结构分析的重要工具.图2是一种改进后的SEM装置示意图.图2 一种改进了的SEM装置示意图3 CL在研究新材料中的应用近年来,诸如GaN,SiC,ZnO,金刚石薄膜以及量子阱、量子线等一系列新材料相继发展起来,在这些材料的研究中,CL都发挥了重要作用.下面介绍几个应用实例.3.1 研究氮基化合物半导体的能带结构在化合物半导体材料的研究中,理论和实验都表明材料的禁带宽度与混晶比有关.我国曾有人通过测量CL光谱峰值的变化得出了Ga1-x AlxAs,GaAs1-xPx等材料的禁带宽度与混晶比的关系[3].近年来,Ⅲ-Ⅴ族氮基化合物半导体的研究引起人们广泛的关注,利用Al-Ga-N系列已制备出蓝色发光二极管和激光二极管.室温下Al1-x GaxN化合物半导体的禁带宽度随x值不同可取3.4—6.2eV范围内的不同值.有人测量了CL峰值波长与混晶比之间的关系(见图3),证明实验与理论能很好地相符.图3 不同混晶比下Alx Ga1-xN的CL光谱3.2 利用CL光谱判别SiC外延生长中的不同结晶形式用液相外延生长SiC薄膜时,除了基片上生长有一层SiC膜外,熔融的Si表面还生成一些黄色的针状晶体.分别测量它们的CL光谱后发现,外延膜的CL光谱峰值为430nm,正好对应6H-SiC的禁带宽度2.88eV;而黄色针状晶体的CL光谱峰值是550nm,对应的禁带宽度为2.25eV,表明其为3C-SiC,由此分辨出SiC液相外延中生成的两种不同结晶形式.3.3 测量掺氮金刚石薄膜中的载流子浓度不同杂质的载流子复合时在CL中产生不同的光谱峰,因此可通过测量CL峰值波长及不同峰之间强度比的变化来判断晶体中载流子的种类及掺杂浓度的变化[4].特别是在对掺氮金刚石薄膜的研究中,CL方法克服了金刚石发光弱、很难用PL光谱研究的缺陷.图4是用微波等离子体CVD方法制备的三种不同掺氮浓度的金刚石薄膜的CL光谱[5].实验中观察到三个光谱峰:晶格中的空位形成能量为1.67eV的窄峰,电子从施主能级到价带顶和从导带底到受主能级的跃迁分别产生2.8eV和2.3eV附近的两个光谱峰.可以看到,随着施主N浓度的提高,CL光谱中2.8eV 谱峰对2.3eV谱峰的强度之比相应提高.图4 不同掺氮浓度金刚石薄膜的CL光谱利用CL光谱的波长和发光强度来判断载流子浓度的方法与其他分析方法(例如X射线分析方法)相比,CL的空间分辨率要高得多.3.4 研究ZnO薄膜中发光中心的电子跃迁过程ZnO薄膜的紫外光发射是1997年首次报道的.由于它波长短,而且生长温度低于500℃,是一种很有发展前景的新型光发射材料.我们测量了用直流反应溅射方法在Si基片上淀积的ZnO薄膜的CL 光谱[6—8],其中峰值为392nm的紫峰对应于ZnO薄膜中的带边跃迁;而峰值波长522nm的绿峰则反映了由氧空位组成的施主和锌空位组成的受主之间的跃迁;蓝峰(波长约为435nm)判断为电子由导带底到受主和施主到价带顶的跃迁所产生的.深入研究发现,当改变激发电子束流的密度时,不同谱峰的强度分别产生如图5所示的不同变化.这一结果进一步证明了各个峰对应的电子跃迁过程.因为产生绿峰的施主和受主的浓度是由制备条件决定的,在高能电子激发下施主和受主很快被完全离化,所以施主和受主复合产生的发光很快趋于饱和;由于ZnO中存在室温激子,当导带电子和价带空穴的浓度随激发电子束流增加而不断增加时,形成激子的概率随之增加,使发光强度超线性增加,这正是紫峰强度随激发电子束流的变化规律,说明紫峰来源于导带和价带间激子的复合;蓝峰来源于施主、受主和能带中载流子的复合,因而呈现近线性增强.图5 ZnO薄膜中CL激发电子束流与发光峰强度的关系3.5 V型沟道GaAs基片上的量子线生长特性研究CL方法是研究半导体界面特性的重要方法[9],目前更被用来研究量子阱和量子线等材料的生长特性.Wugen Pan[10—12]等人在表面刻蚀成V型沟道的GaAs(100)基片上用MOCVD方法淀积AlGaAs/GaAs多层膜,由于沟道底、顶和侧面的薄膜淀积状况不同,从而在V型沟道底生长出量子线.他们观察了样品的低温(6K)CL光谱(图6)后,看到沟道不同部位外延层生长状况的明显差别,图6(a)中的二次电子图像清楚地显示出样品截面的形状,其余四图为沟道不同部位的CL图像,沟道斜侧面发出能量为1.984eV的光,沟道顶部的发光能量为1.953eV,侧面与顶面交界的边缘部位为1.893eV,而沟道底部为1.830eV,这一结果反映了Al含量在上述不同部位依次从高到低的排列.图6 V型沟道AlGaAs/GaAs量子线外延生长的CL特性3.6 热处理对MgO晶体中位错的影响利用SEM中CL+BSE综合测量技术,Nazarova等人研究了退火对MgO 晶体中缺陷的影响[13].他们用显微硬度计在MgO晶体上制造出方形锥状凹坑,凹坑由顶端很小的垂直挤压区和外围侧壁的位错带组成.通过CL+BSE测量不仅可以清楚地看到凹坑的形貌,并可同时确定样品凹坑中不同部位的CL发光.测量结果发现,样品在氢气中650K退火7min后的CL发光充满整个凹坑的区域,且外围位错带内的发光强度大于压痕顶端处的光强;当样品退火温度增加到1000K后,顶端压痕中的发光在很宽的光谱范围内被增强,而侧壁位错带内的CL淬灭,表明位错带消失.分析认为,这是由于650K接近MgO脆性-塑性转变温度,在此温度以上很容易形成二次滑移系统,不同的结构缺陷通过交滑移呈弥散分布而使晶体具有更大的塑性[14].3.7 光纤中的结晶性质利用SEM综合测量技术测量光纤芯线和包覆层中Si和Ge元素的特征X射线谱,结果表明,Ge在芯线和包覆层中的浓度基本相同,而400nm 的CL图像则显示出芯线的发光强度小于包覆层中的发光强度,这说明了氧化锗在芯线和包覆层中具有不同的结晶形态.该结果即将发表.4 结论阴极射线发光是材料分析的有力手段,除了常规方法以外,在扫描电镜中,将CL与BSE,SE和特征X射线等测量方法结合起来,形成一种综合测量技术,简化了对不同种类材料的观测、实验解释和分析,有利于对材料微区性质的研究.CL方法不仅可以研究材料的晶体结构和能态,也可以研究位错和缺陷等微区性质,以及由于热处理产生的力学、光学和发光特性的变化.CL方法不仅在以往的材料研究中发挥了重要的作用,而且在一系列新材料的研究中同样起到重要作用,并取得一系列有意义的结果.■基金项目:国家自然科学基金、安徽省自然科学基金资助项目作者单位:傅竹西(中国科学院结构分析开放实验室;中国科学技术大学物理系合肥230026)吴自勤(中国科学技术大学基础物理中心合肥230026)参考文献:[1]汤洪高.电子显微学新进展.合肥:中国科学技术大学出版社,1996[TANG Hong-Gao.Recent Progress of Electron-probe Microanalysis.Publishing House of the University of Science and Technology of China.1996(in Chinese)][2]李成基,李韫言.分析测试技术与仪器,1992,1:32—37[LI Cheng-Ji,LI Yun-Yan.Techniques and Instruments of Analysis and Measurement.1992,1:32-37(in Chinese)][3]李成基等.Ga1-x AlxAs和GaAs1-xPx的电子探针分析.第二届全国砷化镓会议文集.1977.215—218[LI Cheng-Ji et al.Analysis of Electron-probe for Ga1-xAl)As and GaAs1-xPx.Proceedings of the Second National Conference on GaAs.1977.215-218(in Chinese)[4]李成基等.金属材料研究,1976,4(7):505—510[LI Cheng-Ji et al.Research of Metal Materials.1976,4(7):505—510(in Chinese)][5]Yasushi Muranaka,Hisao Yamashita, Hiroshi Miyadera. Thin Solid Films,1991,199:299—311[6]FU Zhu-Xi, LIN Bi-Xia, LIAO Gui-Hong et al. J. Crystal Growth, 1998,193:316—321[7]FU Zhu-Xi, GUO Chang-Xin, LIN Bi-Xia et al. Chin. Phys. Lett.,1998,15:457—459[8]GUO Chang-Xin, FU Zhu-Xi, SHI Chao-Shu. Chin. Phys. Lett., 1999,16:146[9]Bimberg D et al.Vac.Sci.Technol.,1987,JB5:1191—1197 [10]PAN Wu-Gen, Hiroyuki Yaguchi, Kentaro Onabe et al. J. Crystal Growth,1994,145:702—706[11]PAN Wu-Gen, Hiroyuki Yaguchi, Kentaro Onabe et al. Appl. Phys. Lett., 1995,67:959—961[12]PAN Wu-Gen, Hiroyuki Yaguchi, Kentaro Onabe et al. J. Crystal Growth, 1996,158:205—209[13]Nazarova T A, Saparin G V, Obyden S K et al. Scanning, 1997,19:48—54[14]Nazarova T A, Nazarov M V. England, Philosophical Magazine A, 1996,74(5):1311—1318。
阴极发光分析技术本页仅作为文档封面,使用时可以删除This document is for reference only-rar21year.March阴极发光显微镜分析技术阴极发光显微镜技术是在普通显微镜技术基础上发展起来用于研究岩石矿物组分特征的一种快速简便的分析手段。
该方法在快速准确判别石英碎屑的成因和方解石胶结物的生长组构、鉴定自生长石和自生石英以及描述胶结过程等方面得到了广泛的应用。
通过对砂岩的阴极射线致发光的观察和研究,可以深人了解砂岩的原始孔隙度和渗透率,并且获得一系列有关蚀源区地质体的组成、产状、成因的信息。
(1) 原理: 电子束轰击到样品上,激发样品中发光物质产生荧光,又称阴极发光。
实验证明,阴极射线致发光现象多是由于矿物中含杂质元素或微量元素(激活剂),或者是矿物晶格内有结构缺陷引起的,这是矿物阴极射线致发光的两种主要解释。
矿物内的激活剂包括金属元素(Eu2十、Srn +、时十、IV +、Ea3十)以及过渡金属元素(mw十、Fe3+, c a 干、V3十、Tia+),与激活剂相对应能抑制矿物发光的物质叫碎灭剂,如Co干,Nl-2+,F e2+、Tie十等。
(2) 应用:自然界中已发现具有阴极射线致发光的矿物有200多种,其中常见矿物有锡石、蜡石、萤石、白钨矿、方解石、尖晶石、独居石、磷灰石、长石、石英、辉石、橄榄石、云母等。
目前,阴极发光显微镜技术已成为沉积学及石油地质学研究的一种常规手段,特别是对石英和方解石的发光特征已经进行了很多的研究,形成了一套系统的理论,在沉积成岩型矿床和石英脉型金矿床研究中得到了广泛地应用。
石英中的发光激发是由微量元素、结构中的缺陷,以及两者之间的相互作用造成的。
例如,蓝色发光被归因为A13+替代Si4+以及Tia+的含量有关。
石英的阴极致发光颜色与岩石的形成环境密切相关,如表1所示。
发蓝紫色光的石英,包括红紫、蓝紫和蓝色的石英与火山岩、深成岩以及快速冷却的接触变质岩的环境有关联。
《阴极发光地质学基础》中国地质大学出版社宋志敏早在1859年,Crookes发明了阴极射线管,为矿物的阴极发光研究提供了基本装置。
一、阴极发光基本原理:这里涉及到两个定义:发光和阴极发光发光:当某些物质受到某种能量激发时,会从物体表面发射出光的辐射,光辐射频率大多在可见光范围,波长400-760nm,也有可能有紫外或近红外光辐射的发射,这种现象叫做发光。
阴极发光:指用带能量的电子束轰击某些物质表面时造成的发光现象。
由于带能量的电子束一般是由阴极发射出来,经过阳极电压加速而得到的,因而电子束轰击造成的发光,习惯上成为阴极发光。
为什么会产生阴极发光现象?当入射电子进入固体表面时,与固体原子的价电子相互作用,使价电子从基态跃迁到激发态,由于价电子在激发态不稳定,经过极短时间(一般小于10-8秒)即跃迁回基态,同时发射出一个光子,产生光的辐射,也称跃迁辐射。
光子能量等于激发态能量E2与基态能量E1之差,即hv=E2—E1式中h—普朗克常数,6.62x10-34J·sv—光子频率。
二、矿物受辐射发光的条件:首先要明确的是,并非所有种类的矿物受电子激发后都会辐射发光,有时甚至同一种矿物在不同条件下的发光也会不同。
矿物是否产生发光取决于下面的的一些因素:激活剂与猝灭剂、电子在激发态停留时间---能级寿命的长短。
激活剂与猝灭剂对于大多数矿物来说,只在其中存在某些微量的杂质原子或结构缺陷时,才有显著地发光现象,这些矿物的发光,实际上是由于杂质原子或结构缺陷造成的,而这些杂质原子和结构缺陷,为方便认识,在这里可理解为第一节中述及的“原子的价电子”。
激活剂原子中价电子从激发态跃迁回基态的过程中伴随着光的辐射,这些杂质原子或结构缺陷则称为激活剂,如方解石中的Mn2+使方解石发橙红或橙黄色光;长石中Fe2+使长石发绿色光,Ti4+使长石发天蓝色光,这些离子就是方解石和长石的激活剂。
常见的激活剂元素与阴极发光颜色如下表1-1所示。
第七讲:阴极荧光分析Cathodoluminescence(CL)工作原理阴极荧光(CL)是由加速电子撞击材料表面所放出的光子(Photon)信号。
当加速电子撞击材料,将价带(valence band)中的电子激发到导带(conduction band) ,产生电子-空穴对(electron -hole),如果没有偏压存在,电子-空穴会发生复合,放出光子,光子能量等于能带间隙(band gap) 的能量。
通常用於研究半导体材料的结构特征。
A G局域化的能级A G A G 满带导带基态(G 能级由电子所占据,A是空的)激发过程(激发产生电子-空穴对,电子为A 能级陷住,空穴为G 能级捕获)激发态(电子从A 能级跳回基态G ,伴随有光的发射)入射电子发光价带Conduction band Valence bande lec tr ic alp u m p light Energygap一般半导体到绝缘体能带间隙约在之间,换算出的波长范围在左右,所产生的CL约在远红外、可见光到紫外光范围内,因此在SEM中,若加装光的侦测系统将材料所发出的CL加以收集和分析,即可对材料的特性进行了解,这是SEM中CL分析技术的主要原理。
数据处理类型•CL spectrum横坐标为波长(能量),纵坐标为强度的光谱图•CL image类似于二次电子或背散射电子,利用扫描线圈做逐行扫描,不同区域获得的CL强度不同,获得的电信号强弱不同,如此既获得CL图像。
分析装置的结构特点•由于SEM中产正的CL信号相对少,为增加收集效率,检测系统中设计了一个半椭圆形的反射镜,可将材料受激后在各方向产生的CL反射至准直透镜中产生近似平行的光,再由光纤传导至单色器(monochromator)中进行分光处理,然后再传至光电倍增管(photomultiplier tube, PMT)转换成电子脉冲放大信号,以产生全色、单色CL图像或者CL光谱。
阴极发光显微镜分析技术概述摘要:阴极发光显微镜技术是在普通显微镜技术基础上发展起来用于研究岩石矿物组分特征的一种快速简便的分析手段。
该方法在快速准确判别石英碎屑的成因和方解石胶结物的生长组构、鉴定自生长石和自生石英以及描述胶结过程等方面得到了广泛的应用。
通过对砂岩的阴极射线致发光的观察和研究,可以深人了解砂岩的原始孔隙度和渗透率,并且获得一系列有关蚀源区地质体的组成、产状、成因的信息。
关键词:测试分析;鉴定;电子束;1 简介阴极发光(CL)是指利用阴极射线轰击固体样品表面,使电能转化为光辐射能后产生的一种物体表面物理发光现象,全称为阴极射线致发光。
该技术起初主要是被来鉴定天然钻石和合成钻石。
随着阴极发光技术的发展,人们越来越意识到阴极发光技术的重要性,被广泛运用于各个领域。
在宝石鉴定方面,其有着较多的优势,如:鉴定成本低、无损测试、方便快捷等。
矿物的阴极发光光谱主要是由矿物的结构决定的,不同种类的矿物或形成原因不同的同种矿物其阴极发光特征不同,主要表现在发光颜色与强度方面。
利用阴极发光技术,我们还可以获得矿物生长环境与生长结构相关信息。
2 发展历程自1602年发现并观察到重晶石和煤的混合物经加热而发光的现象以来,至今已有几百年的历史,作为一项应用技术也大致经历了近百年的探索,而在地质学上应用发光技术基本上是40年前才开始的。
事实上以阴极射线激发、而使矿物发光的研究工作开始于19世纪80年代,并主要用来研究宝石,20世纪开始应用于考古学和其它矿物的研究。
只有当电子探针开始作为分析矿物的一种方法时,矿物发光分析和综合研究工作才得到了迅猛的发展。
19世纪60年代,已在地质学刊物上较深入地讨论发光研究结果,其中包括系统地研究方解石、白云石、硅灰石、石英和长石等矿物的发光性和矿物发光环带构造特征和形成机理;Sippel最早在1965年将阴极发光与偏光显微镜结合并观察碳酸盐岩发光特征,发现许多以往被忽略的现象,如亮晶方解石充填物的生长结构、与基质方解石光性特征完全一致的方解石细脉,最终完善了碳酸盐矿物的生长过程和胶结物特征的研究。
阴极发光在珠宝鉴定行业的应用(CLF-1阴极发光仪)一 阴极发光在翡翠鉴定中的应用阴极发光技术是通过阴极射线管发出的加速高能电子束轰击成分和晶体结构不同的样品, 使之发光, 以研究其成分、晶体形态和相互关系等特征的新技术方法。
宝石表面在电子束轰击下的发光现象称为阴极发光。
此方法可无损鉴定宝石戒面(裸的或镶嵌的) 和小型雕件的成分和结构。
对于一个翡翠饰品来讲, 目前手段多着重于通过研究其物理、化学性质来判断其品质、种类、真假。
其实翡翠的成分和结构是其品质的内涵, 也是鉴别真假以及A 货、B货、C货的根本,在阴极发光下翡翠的结构清晰可鉴。
翡翠成分的鉴定翡翠的成分主要是由辉石族矿物如硬玉和少量钠铬辉石、钠长石等组成的集合体。
翡翠的品质主要指颜色、透明度和净度,其中颜色是由成分决定的,硬玉的颜色取决于所含微量元素。
大量观察发现, 各种品质的翡翠虽矿物成分上基本是硬玉,但因硬玉与透辉石化学成分之间存在着过渡,成分中往往含有Mg, Ca, Fe, Cr, Mn以及K,使硬玉所呈现的颜色不同, 主要有祖母绿色、苹果绿色、豆绿色、油青色、白色及红色,在阴极显微镜下硬玉所发的光更有所不同。
硬玉含各种微量元素, 其发光色也因所含元素不同而不同,尤其受过渡元素Cr, M n发光激活剂和Fe发光淬灭剂含量的影响。
总体有以下规律:(1) 当含Mn高、不含Cr或含少量Cr 时,硬玉在阴极发光下发黄绿色—绿色光,并随Fe 相对含量的增多而黄色减少,绿色增加;(2) 当含Cr高、不含Mn或含少量Mn时,硬玉在阴极发光下发紫红色—紫色—紫蓝色光, 并随Fe相对含量的增多而蓝色增加;(3) 硬玉随Fe含量的增加,其阴极发光强度从亮—弱—暗,当Cr,Mn含量极少而含一定量的Fe时,硬玉发光会极暗,甚至肉眼不易辨认其颜色。
由此,可根据硬玉在阴极显微镜下的发光色判断出硬玉成分中微量元素的种类,从而判断其成色原因。
发亮红色光,为硬玉成分纯和含少量铬为主;发亮绿色光,为硬玉成分中含锰和少量铬为主;随硬玉中含铁的增多其发光强度减弱。
《阴极发光地质学基础》中国地质大学出版社宋志敏早在1859年,Crookes发明了阴极射线管,为矿物的阴极发光研究提供了基本装置。
一、阴极发光基本原理:这里涉及到两个定义:发光和阴极发光发光:当某些物质受到某种能量激发时,会从物体表面发射出光的辐射,光辐射频率大多在可见光范围,波长400-760nm,也有可能有紫外或近红外光辐射的发射,这种现象叫做发光。
阴极发光:指用带能量的电子束轰击某些物质表面时造成的发光现象。
由于带能量的电子束一般是由阴极发射出来,经过阳极电压加速而得到的,因而电子束轰击造成的发光,习惯上成为阴极发光。
为什么会产生阴极发光现象?当入射电子进入固体表面时,与固体原子的价电子相互作用,使价电子从基态跃迁到激发态,由于价电子在激发态不稳定,经过极短时间(一般小于10-8秒)即跃迁回基态,同时发射出一个光子,产生光的辐射,也称跃迁辐射。
光子能量等于激发态能量E2与基态能量E1之差,即hv=E2—E1式中h—普朗克常数,6.62x10-34J·sv—光子频率。
二、矿物受辐射发光的条件:首先要明确的是,并非所有种类的矿物受电子激发后都会辐射发光,有时甚至同一种矿物在不同条件下的发光也会不同。
矿物是否产生发光取决于下面的的一些因素:激活剂与猝灭剂、电子在激发态停留时间---能级寿命的长短。
激活剂与猝灭剂对于大多数矿物来说,只在其中存在某些微量的杂质原子或结构缺陷时,才有显著地发光现象,这些矿物的发光,实际上是由于杂质原子或结构缺陷造成的,而这些杂质原子和结构缺陷,为方便认识,在这里可理解为第一节中述及的“原子的价电子”。
激活剂原子中价电子从激发态跃迁回基态的过程中伴随着光的辐射,这些杂质原子或结构缺陷则称为激活剂,如方解石中的Mn2+使方解石发橙红或橙黄色光;长石中Fe2+使长石发绿色光,Ti4+使长石发天蓝色光,这些离子就是方解石和长石的激活剂。
常见的激活剂元素与阴极发光颜色如下表1-1所示。
阴极发光分析技术-标准化文件发布号:(9456-EUATWK-MWUB-WUNN-INNUL-DDQTY-KII
阴极发光显微镜分析技术
阴极发光显微镜技术是在普通显微镜技术基础上发展起来用于研究岩石矿物组分特征的一种快速简便的分析手段。
该方法在快速准确判别石英碎屑的成因和方解石胶结物的生长组构、鉴定自生长石和自生石英以及描述胶结过程等方面得到了广泛的应用。
通过对砂岩的阴极射线致发光的观察和研究,可以深人了解砂岩的原始孔隙度和渗透率,并且获得一系列有关蚀源区地质体的组成、产状、成因的信息。
(1) 原理: 电子束轰击到样品上,激发样品中发光物质产生荧光,又称阴极发光。
实验证明,阴极射线致发光现象多是由于矿物中含杂质元素或微量元素(激活剂),或者是矿物晶格内有结构缺陷引起的,这是矿物阴极射线致发光的两种主要解释。
矿物内的激活剂包括金属元素(Eu2十、Srn +、时十、IV +、Ea3十)以及过渡金属元素(mw十、Fe3+, c a 干、V3十、Tia+),与激活剂相对应能抑制矿物发光的物质叫碎灭剂,如Co干,Nl-2+,F e2+、Tie 十等。
(2) 应用:自然界中已发现具有阴极射线致发光的矿物有200多种,其中常见矿物有锡石、蜡石、萤石、白钨矿、方解石、尖晶石、独居石、磷灰石、长石、石英、辉石、橄榄石、云母等。
目前,阴极发光显微镜技术已成为沉积学及石油地质学研究的一种常规手段,特别是对石英和方解石的发光特征已经进行了很多的研究,形成了一套系统的理论,在沉积成岩型矿床和石英脉型金矿床研究中得到了广泛地应用。
石英中的发光激发是由微量元素、结构中的缺陷,以及两者之间的相互作用造成的。
例如,蓝色发光被归因为A13+替代Si4+以及Tia+的含量有关。
石英的阴极致发光颜色与岩石的形成环境密切相关,如表1所示。
发蓝紫色光的石英,包括红紫、蓝紫和蓝色的石英与火山岩、深成岩以及快速冷却的接触变质岩的环境有关联。
棕色发光,包括红棕、深棕和浅棕色的石英和冷却缓慢的低级和高级变质岩相联系的。
碎屑岩中的石英由陆源颗粒石英和胶结物石英(即自生的晶体和次生加大边)组成,通过阴极发光的观察是极易鉴定的,因为两者的阴极发光特性常有较大的差异。
因此,碎屑岩的胶结作用和孔隙率演化的研究通常大量地依靠阴极发光,而且砂岩中孔隙度降低的数量可以用阴极发光来定量。
普通的光学显微镜和扫描电镜技术对辩别不同形态的颗粒边界及某些情况下辩别颗粒和胶结物都无能为力,只有阴极发光能揭示出胶合的石英颗粒的碎屑形状,可观察到次生加大胶结、多期胶结、破裂愈合胶结、压溶嵌合式胶结等现象,对石英的次生加大级别的强弱、石英的溶蚀程度的强弱也极易作出判断。
碳酸盐类矿物方解石和白云石特别适合于用阴极发光来研究,因为这一类矿物都能发光。
由于碳酸盐矿物是砂岩中最常见的孔隙充填胶结物,它们一般会含有多个阶段的矿物生长世代,而且容易发生重结晶作用和蚀变作用。
阴极发光能比其他技术更快地、而且通常更成功地鉴定出成岩成矿作用事件的序列,具有不同的阴极发光颜色环带的方解石胶结物可以被用来指示成岩孔隙水物理化学条件随时间的变化,能使我们推断出成岩过程中矿物的替代。
此外,阴极发光能够“看穿”重结晶作用前的原岩结构,它是测定碳酸盐的蚀变历史和成矿序列的惟一切实可行的方法。
RELIOTRON 阴极发光质谱电子术技术
阴极发光辅助EDS能谱分析系统
EDS分析是一种基于冷阴极的阴极发光(CL)仪器,像RELIOTRON CL仪器,能作为EDS 分析应用的基础设备。
在冷阴极系统中,可以观测很多典型的材料,例如金属、矿物、玻璃、陶瓷和一些塑料等都进行研究。
冷阴极放电时在离子、电子、放射和辐射的一种复杂环境中。
在这种环境中,样本不会形成静电,因此,没必要在它们上面涂上一层导电物质。
另一优势在于,对多数无机样品(陶、玻璃、矿物),能同时观察它们的阴极发光特性。
与其他EDS电子束系统相比,在RELIOTRON中的电流更大,因而分析时间相对更少。
基本的分析功能跟其他EDS系统同样使用。
MICRODRILLING微钻头系统
(阴极发光辅助微型钻取系统)
微型钻是一项公认的技术,用于获得少量地质样本,进行同位素或其他分析。
当前技术水平能达到采样面积小到直径8微米。
最早的文献,作者Prezbindowski((1980)、Dettman和Lohmann((1995),描绘了一种数控的打磨设置,将样本加工成50微米深、20微米宽和4毫米长。
Wurster等人(1999)提供了计算机控制微型钻设置的资料。
在地质采样方面,大家的兴趣容易放到对(CL)技术的使用上。
但是, 由于CL系统需要一间真空室,因而不容易与微型钻附件相配合,所以在观察样本时,不可以对其进行钻孔。
通过CL观察,然后, 样品从CL观测平台传递到另一个立体显微镜,该显微镜配合在微型钻上。
操作员使用传送光或其它观测技术,尝试辨认出相同的面积,要实现从阴极发光显微镜到立体显微镜精确的移动是很难的。
Fouke和Rakovan(2001)描绘了一种可选方法,通过分层标识位置来获得样本的CL视频图像。
该样本之后经过一个长工作距离传递到一个立体显微镜,该显微镜是与微型钻孔装配在仪器的。
在立体显微镜上的第二个摄象机生成来自发射光的图像,可鉴别相同的位置标识。
立体显微镜图像和被(储存)的原始CL视频图像都被送入到一个视频混和器中,之后产生一个叠加的输出,显示在录像监视器上。
调节立体显微镜的位置和放大操作,直到两幅图像正好重合。
微型钻本身就是立体图象的一部分,因此,在CL图像上,很容易将钻准确定位在所需要的位置上。
例如,这可能是划分好的碳酸盐区域中的一个狭窄空间。
对样本进行钻加工,得到的粉末用一根真空吸管收集。
原始CL 图像以视频形式获得,副本则以传统的视频磁带形式保存,它还可以以数字形式获得,副本则以文件形式保存在计算机中。
钻取采用一台小的电手钻完成,脚踏板操作,安装在显微操纵器上可精确调节位置。
立体显微镜为钻头提供了大的空间,用户可以通过显微镜或图像屏幕观测。
样本用一根真空管收集。
真空管也安装在显微操纵器上,以便容易定位。
真空管尖头是可处理的,可减少环境污染。
真空管支架由不锈钢组成,易于移动,还便于清理。
实际上,样本收集在滤纸上,该滤纸已放于O型环形管紧密压缩。
钻孔的大小和数量取决于需求分析。
对稳定同位素C和O的分析,10微克可以以高质量满足同位素比率分光计的要求。
通过使用100微米直径钻头,钻入样本成分20微米,出现大约25至30个孔就可得到这个数量。
使用方形板,同样的100微米钻头,在600微米深孔中,将产生足够样品。
对于非常小的钻头,如直径8微米,钻入薄片20微米,得到的数量相对更大。
(这些评估是假定100%样品都是由吸管收集,显然不是保守评估)。
其它的类型的样本分析,例如ICP,将有不同样本要求,孔的数量也将相应改变。
我们可以为您的实验室里提供一套完整的系统,包括立体显微镜、CL仪器、EDS、MICRODRILLING微型钻取系统和视频组件,并且也与您一起设计这个系统,使您现有的部件发挥最大用途。
1.SAMPLE REMOVAL IN SELECTED AREAS FOR C, O, Mn, Sr ANALYSIS
Texas A and M micro drill on video monitor Drill and pipette and vice sample holder
此外还有多种适用于其它方面的取样系统
烃包裹体微观取样仪 Microsampling for Hydrocarbon inclusions
--------碳酸盐岩前处理新方法
主要功能:
服务对象取样对象
同位素(10mg)不同世代矿物
无机化学分析(50mg)不同期次矿物
烃包裹体组份不同期次烃包裹体
样品要求取样大小
岩石样细到显微下的10um±
薄片样粗到肉眼可见岩样的脉体
光片样
多功能微区取样仪 MICROMILL SAMPLING
多功能微区取样仪器通过在显微镜下观测,使用电动平台的精确移动来实现取样过程,收集样品使用真空吸附系统,放大倍数可选,根据具体使用要求选配不同类型的显微镜,体式、倒置、正置显微镜。
例如取岩石类样品可以使用体式显微镜、如果钻取透明类取样样品还可以使用正置显微镜,不透明样品取样可以使用倒置或体式显微镜。
程序控制自动XYZ三向平移载物台
简易微区取样器
主要用于岩石及矿物的打孔取样。