费氏法测定粉末的平均粒度
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费氏粒度测量方法1 前言费氏法是一种比较简便的粒度测量方法,它基于测量空气透过粉末堆积体的速度,依据kozeny-Carman 公式求出粉末的平均粒度。
所使用的仪器为费氏仪,由美国Fisher Scientific Co.〔1〕研制,并用公司的第一个字来命名。
该仪器结构简单,操作方便,价格低廉,不需要作任何计算,从读数板上可直接读出粒度值。
仪器的英文全名为Fisher Sub-sieve Sizer,在我国有不同的译法,有译成“费氏筛”,也有译成“费氏亚筛粒度仪”等等。
有些人因此对此名有误解,认为这是一种筛子。
其实,它与筛子没有任何关系,所指的亚筛(Sub-sieve)是表示该方法测定的粒度范围为亚筛级的粉末(通常小于50μm),即用普通机械筛分法不能筛分的粉末。
严格地讲,此仪器应翻译成“费歇尔亚筛级粉末粒度测定仪”。
我国标准〔2〕称此方法为“费氏法”,这里沿用了这一术语。
该方法是一种相对的测量方法,不能精确地测定出粉末的真实粒度,仅用来控制工艺过程和产品的质量。
该方法只能精确地测量空气通过粉末堆积体时的透过率,其值的大小取决于它的孔结构。
粉末堆积体的孔隙度、颗粒形状、粒度、粒度组成、粒度分布和压制方法等均影响孔的结构。
因此,该方法仅适用于化学成分相同和粒度组成相似的粉末。
对于化学成分相同而粒度组成不同的粉末,则会产生较大的测量误差。
有时化学成分相同而粒度组成不同的两种粉末会得到相同的费氏值,因为它们有相同的透过率。
因此,该方法所测量的粒度值不能和其它粒度测量结果进行比较。
2 原理费氏法属于稳流(层流)状态下的气体透过法,基于空气在恒定压力下先透过粉末堆积体,然后通过可调节的针形阀流向大气。
根据空气透过粉末堆积体时所产生的阻力和流量求出粉末的比表面积和平均粒度。
2.1 平均粒度的计算粉末的比表面积由Kozeny-Carman方程给出:(1)式中SW——粉末质量比表面积,cm2/g;ε——粉末堆积体的孔隙率;A——粉末堆积体横断面积,cm2;ΔP——压差,△P=ρ水g重(P-F)(ρ水:水的密度,=1g/cm3;g重:重力加速度,=980.665cm/s2);P——样品前空气的压力,cmH2O(1cmH2O≈102Pa,下同);F——样品后空气的压力,cmH2O;K——Kozeny因子;L——粉末堆积体厚度,cm;η——空气粘度,g.cm-1.s-1;Q——空气流量,Q=C′F(C为针形阀的流量系数,cm3.s-1.cmH2O-1),cm3/s;ρ——粉末的有效密度,g/cm3。
目粒度粉体颗粒大小称颗粒粒度。
由于颗粒形状很复杂,通常有筛分粒度、沉降粒度、等效体积粒度、等效表面积粒度等几种表示方法。
筛分粒度就是颗粒可以通过筛网的筛孔尺寸,以1英寸(25.4mm)宽度的筛网内的筛孔数表示,因而称之为“目数”。
粉体细度粒径单位换算对照表粒径(m)微米um纳米nm日式单位(目)10-4m100um100000nm180目10-5m10um10000nm1800目10-6m1um1000nm1.8万目10-7m0.1um100nm18万目10-8m0.01um10nm180万目10-9m0.001um1nm1800万目10-9m以下0.001um以下进入i1nm以下接近原子大1800万目以上1米(m)=100厘米(cm);1厘米(cm)=10m=10毫米(mm);1毫米(mm)=10m=1000微米(um);1微米(um)=10m=1000纳米(nm);1纳米=10m。
【病毒大小约100纳米】纳米(nm)=[10的-7至10的-9次方米]之间=细度大小折合日式单位换算约18万目~1800万目。
微米(um)=[10的-6次方米以下]=细度大小折合日式单位换算约1.8万目以下。
微米之极限细度是18000目。
趋纳米=微纳米=[10的-6次方米]至[10的-7次方米]之间=18000目~180000目之间。
320目320mesh目的英文单位是mesh目数,就是孔数,就是每平方英寸上的孔数目。
目数越大,孔径越小。
一般来说,目数×孔径(微米数)=15000。
比如,400目的筛网的孔径为38微米左右;500目的筛网的孔径是30微米左右。
由于存在开孔率的问题,也就是因为编织网时用的丝的粗细的不同,不同的国家的标准也不一样,目前存在美国标准、英国标准和日本标准三种,其中英国和美国的相近,日本的差别较大。
我国使用的是美国标准,也就是可用上面给出的公式计算。
美国泰勒标准筛的筛目尺寸对照表.可在下面网页看到详细资料.由此定义可以看出,目数的大小决定了筛网孔径的大小。
费氏粒度与平均粒度全文共四篇示例,供读者参考第一篇示例:费氏粒度与平均粒度是材料领域中重要的两个概念,用来描述材料的粒度大小及分布情况。
在材料科学和工程中,粒度的大小对材料的性能有着重要的影响,因此掌握费氏粒度与平均粒度有助于我们更好地理解材料的特性和性能。
费氏粒度,又称为晶粒大小,是指材料中晶粒的尺寸大小。
当材料处于固态状态时,原子或分子会排列成一个个的晶粒,晶粒的大小取决于材料的熔点、晶体结构和冷却速度等因素。
费氏粒度通常用来描述晶体结构的大小和分布情况,是材料在微观尺度上的一个重要特征。
平均粒度则是指材料中所有晶粒尺寸的平均值,它是用来描述整个材料的粒度分布情况。
平均粒度可以通过统计学方法计算得出,通常使用光学显微镜、电子显微镜或粒度分析仪等设备进行测量。
通过平均粒度的测量,我们可以了解材料中晶粒的平均大小以及其分布范围,从而进一步推断材料的性能和行为。
费氏粒度与平均粒度之间存在着密切的联系。
一方面,费氏粒度是整个材料中晶粒的一种表示,而平均粒度则是对所有晶粒尺寸的总体描述。
在材料的制备和加工过程中,通常会通过控制熔点、冷却速度、晶体结构等因素来调控晶粒的大小和分布,从而改变材料的性能。
费氏粒度与平均粒度的理解和控制对于材料的开发和设计至关重要。
在材料科学领域,研究人员经常通过改变原料、制备工艺和热处理条件等方式来调控材料的费氏粒度和平均粒度。
在金属材料的加工过程中,通过控制冷却速度和合金成分等因素,可以实现晶粒细化并提高材料的强度和韧性;在陶瓷材料的制备过程中,通过改变烧结温度和时间等条件,可以调节晶粒的大小和分布,影响材料的导热性和电性能等性质。
除了材料科学领域,费氏粒度与平均粒度的概念也在其他领域得到了广泛的应用。
在土壤学、颗粒物理学、化工工程等领域,研究人员也常常利用这些概念来研究和描述材料的微观结构和性能。
土壤的质地和透水性等性质可以通过土壤颗粒的费氏粒度和平均粒度来描述和推断。
目粒度粉体颗粒大小称颗粒粒度。
由于颗粒形状很复杂,通常有筛分粒度、沉降粒度、等效体积粒度、等效表面积粒度等几种表示方法。
筛分粒度就是颗粒可以通过筛网的筛孔尺寸,以1英寸(25.4mm)宽度的筛网内的筛孔数表示,因而称之为“目数”。
粉体细度粒径单位换算对照表粒径(m)微米um 纳米nm 日式单位(目)10-4m 100um 100000nm 180目10-5m 10um 10000nm 1800目10-6 m 1um 1000nm 1.8万目10-7m 0.1um 100nm 18万目10-8m 0.01um 10nm 180万目10-9m 0.001um 1nm 1800万目10-9m以下0.001um以下进入i1nm以下接近原子大1800万目以上1米(m)=100厘米(c m);1厘米(c m)=10 m =10毫米(mm);1毫米(mm)=10 m =1000微米(um);1微米(um)=10 m=1000纳米(nm);1纳米=10 m。
【病毒大小约100纳米】纳米(nm)=[10的-7至10的-9次方米]之间=细度大小折合日式单位换算约18万目~1800万目。
微米(um)=[10的-6次方米以下]=细度大小折合日式单位换算约1.8万目以下。
微米之极限细度是18000目。
趋纳米=微纳米=[10的-6次方米]至[10的-7次方米]之间=18000目~180000目之间。
320目320mesh 目的英文单位是meshM 筛子内径(μm)≈14832.4/筛子目数计量单位目粒度是指原料颗粒的尺寸,一般以颗粒的最大长度来表示。
网目是表示标准筛的筛孔尺寸的大小。
在泰勒标准筛中,所谓网目就是2.54厘米(1英寸)长度中的筛孔数目,并简称为目。
目数越大,表示颗粒越细。
类似于金相组织的放大倍数。
目数前加正负号则表示能否漏过该目数的网孔。
负数表示能漏过该目数的网孔,即颗粒尺寸小于网孔尺寸;而正数表示不能漏过该目数的网孔,即颗粒尺寸大于网孔尺寸。
目粒度粉体颗粒大小称颗粒粒度。
由于颗粒形状很复杂,通常有筛分粒度、沉降粒度、等效体积粒度、等效表面积粒度等几种表示方法。
筛分粒度就是颗粒可以通过筛网的筛孔尺寸,以1英寸(25.4mm)宽度的筛网内的筛孔数表示,因而称之为“目数”。
粉体细度粒径单位换算对照表粒径(m)微米um纳米nm日式单位(目)10-4m100um100000nm180目10-5m10um10000nm1800目10-6m1um1000nm1.8万目10-7m0.1um100nm18万目10-8m0.01um10nm180万目10-9m0.001um1nm1800万目10-9m以下0.001um以下进入i1nm以下接近原子大1800万目以上1米(m)=100厘米(cm);1厘米(cm)=10m=10毫米(mm);1毫米(mm)=10m=1000微米(um);1微米(um)=10m=1000纳米(nm);1纳米=10m。
【病毒大小约100纳米】纳米(nm)=[10的-7至10的-9次方米]之间=细度大小折合日式单位换算约18万目~1800万目。
微米(um)=[10的-6次方米以下]=细度大小折合日式单位换算约1.8万目以下。
微米之极限细度是18000目。
趋纳米=微纳米=[10的-6次方米]至[10的-7次方米]之间=18000目~180000目之间。
320目320mesh目的英文单位是mesh目数,就是孔数,就是每平方英寸上的孔数目。
目数越大,孔径越小。
一般来说,目数×孔径(微米数)=15000。
比如,400目的筛网的孔径为38微米左右;500目的筛网的孔径是30微米左右。
由于存在开孔率的问题,也就是因为编织网时用的丝的粗细的不同,不同的国家的标准也不一样,目前存在美国标准、英国标准和日本标准三种,其中英国和美国的相近,日本的差别较大。
我国使用的是美国标准,也就是可用上面给出的公式计算。
美国泰勒标准筛的筛目尺寸对照表.可在下面网页看到详细资料.由此定义可以看出,目数的大小决定了筛网孔径的大小。
金属及其化合物粉末费氏粒度的测定方法金属及其化合物粉末费氏粒度的测定方法1. 介绍金属及其化合物粉末的费氏粒度是一个重要的物理特性,对于材料的性能和应用具有重要影响。
本文将详细介绍几种常见的测定方法。
2. 方法一:莫耳积分法•利用费氏法则:耗用的金属或化合物质量与粉末的表面积成正比关系。
•测定粉末的表面积:通过测量粉末的氮吸附值计算出粉末的等价表面积。
•通过莫耳积分法可以算得金属或化合物的费氏粒度。
3. 方法二:电子显微镜法•利用扫描电子显微镜(SEM)观察粉末的形貌和大小。
•将粉末样品放置在SEM装置中,利用电子束与样品进行相互作用。
•SEM能够提供粉末颗粒的形貌和分布情况,从而判断费氏粒度的大小。
4. 方法三:层析法•利用层析法可以通过粉末的沉降速度来测定其费氏粒度。
•将粉末悬浮在溶液中,根据粉末的密度和粘度的不同,粉末颗粒在溶液中的沉降速度也不同。
•通过测量粉末样品在不同时间下的沉降高度,可以计算出费氏粒度。
5. 方法四:X射线衍射法•利用X射线衍射可以测定物质的晶体结构和晶格常数。
•将粉末样品置于X射线衍射仪器中,经过X射线的照射后,样品会产生衍射图谱。
•根据衍射图谱,可以通过经验公式计算出粉末的费氏粒度。
6. 方法五:激光粒度分析法•利用激光粒度仪器可以测量粉末样品中颗粒的大小和分布。
•激光粒度仪器通过激光光束照射样品,并测量散射光强度的变化。
•根据散射光强度的变化,可以计算出粉末的费氏粒度。
7. 总结本文介绍了金属及其化合物粉末费氏粒度的几种常见测定方法:莫耳积分法、电子显微镜法、层析法、X射线衍射法和激光粒度分析法。
每种方法都有其适用的情况,选择合适的方法可以有效评估粉末的费氏粒度。
在实际应用中,可以根据具体要求和设备条件选择适合的方法进行测定。
8. 方法一:莫耳积分法莫耳积分法是测定金属及其化合物粉末费氏粒度的一种常用方法。
该方法基于费氏法则,即耗用的金属或化合物质量与粉末的表面积成正比关系。
《还原钴粉》行业标准修订说明(征求意见稿)一、任务简介1. 任务来源根据工信厅科[2011]75号文件的任务安排,行业标准《还原钴粉》的修订由深圳市格林美高新技术股份有限公司承担。
2. 编制背景钴粉可用于硬质合金、功能材料、磁性材料、催化剂、电池行业等方面,目前国内外的需求量逐年增加。
随着硬质合金工业的发展,硬质合金用钴粉向着超细、纳米、球形等方向发展。
钴粉的纯度、杂质含量,以及形貌控制等方面都有了进一步的要求。
还原法制备钴粉作为国内主要的钴粉生产方法,具有工艺流程短,效率和产量高,钴粉粒度细,形貌控制容易在前驱体制备时控制等优点。
本次修订有色金属行业标准为YS/T 673-2008。
主要原因是YS/T 673-2008中C和O的含量需要修订,钴粉杂质含量要求,粒径等级已不适应钴粉行业发展的要求。
二、修订原则本标准修订原则:为指导和规范还原钴粉的生产和贸易,促进还原钴粉的发展利用,针对当前国内还原钴粉的生产情况,规定还原钴粉的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及订货单(或合同)内容等。
本标准坚持以生产实际的可操作性为前提,以满足其实践性、适应性、先进性等需要为原则。
三、编制及调研过程简介2011年5月,深圳市格林美高新技术股份有限公司接到《还原钴粉》的制定任务后,成立了标准编制工作组,确定了各成员的工作职能和任务,制定了工作计划和进度安排,填写了“推荐性行业标准项目任务书”,确定了制定原则。
编制小组收集、整理、对比分析了相关企业的专业技术资料,结合当前国内还原钴粉的生产工艺、技术水平和用户的需求,形成了标准的征求意见稿。
四、主要技术内容1、产品分类还原钴粉的产品分类沿用YS/T 673-2008中的分类方法,在产品粒度上增加一个等级,该等级是费氏粒度小于0.8微米范围的产品,是行业要求小粒径。
2、主要技术指标确定依据本标准规定的需测元素为Co、C、O、Ni、Cu、Fe、Ca、Mg、Pb、Zn、Cd、Mn、Na、Al、Si、S。
金属及其化合物粉末费氏粒度的测定方法以金属及其化合物粉末费氏粒度的测定方法为标题,本文将介绍金属及其化合物粉末费氏粒度的测定方法。
金属及其化合物粉末的费氏粒度是指粉末颗粒的大小分布情况。
费氏粒度的测定方法有多种,下面将介绍几种常用的方法。
一、显微镜法显微镜法是一种直接观察粉末颗粒的方法。
首先将粉末样品放在显微镜下观察,然后使用目镜测量粉末颗粒的直径。
通过多次观察和测量,可以得到粉末颗粒的平均直径。
需要注意的是,显微镜法只适用于颗粒较大的粉末,对于颗粒较小的粉末不适用。
二、激光粒度仪法激光粒度仪法是一种利用激光散射原理进行粒度测量的方法。
首先将粉末样品悬浮在液体介质中,然后将悬浮液放入激光粒度仪中进行测量。
激光粒度仪通过测量激光散射的角度和强度,可以计算得到粉末颗粒的大小和分布情况。
激光粒度仪法适用于颗粒大小范围比较广的粉末。
三、空气雾化法空气雾化法是一种利用气流将粉末样品雾化成颗粒,并通过测量颗粒在气流中的沉降速度来确定粒径的方法。
首先将粉末样品放入雾化器中,然后通过气流将粉末雾化成颗粒。
随后,测量颗粒在气流中的沉降速度,根据斯托克斯定律可以计算得到粉末颗粒的大小。
空气雾化法适用于颗粒较大且密度较大的粉末。
四、过筛法过筛法是一种利用筛网对粉末进行筛分的方法。
首先将粉末样品放入筛网上,然后通过机械振动使粉末颗粒逐渐通过筛网。
根据筛网孔径的大小,可以将不同大小的颗粒分离出来。
通过计算不同筛网上颗粒的质量比例,可以得到粉末颗粒的大小分布情况。
过筛法适用于颗粒较大的粉末。
以上是金属及其化合物粉末费氏粒度的几种常用测定方法。
根据不同的实际情况和要求,选择合适的方法进行测定。
在实际操作过程中,需要注意操作规范,避免污染样品和误差的产生。
通过粒度测定结果,可以了解到金属及其化合物粉末的颗粒大小分布情况,为进一步的研究和应用提供依据。
粒度颗粒分析及测量方法摘要:颗粒粒度的测定已成为现代测量学的一个重要分支。
文章介绍了筛分法、显微镜法、沉降分析法、电感应法等传统颗粒粒度测量技术的方法和原理,并着重介绍了光散射法、质谱法、基于布朗运动的粒度测量法等近年来发展起来的颗粒粒度测量新方法及应用,阐述了不同方法的选择要求,简要分析了粒度颗粒分析及测量方法在相关课题中的应用。
关键词:颗粒;粒度;测量目前,在现代化工业生产、国防建设和高科技领域中,颗粒材料,特别是超细粉体材料的地位越来越重要,并广泛应用于医药、化工、冶金、电子、机械、轻工、建筑及环保等行业。
颗粒材料的许多重要特性是由颗粒的平均粒度及粒度分布等参数所决定的,例如,粒度的分布影响白砂糖的晶体群质量;水泥粒度决定水泥的凝结时间;颜料粒度决定其着色能力;荧光粉粒度决定电视机、监视器等屏幕的显示亮度和清晰度;催化剂粒度也部分地决定其催化活性等。
此外,颗粒粒度对食品的味感、药物的效用、冶金粉末的烧结能力及炸药的爆炸强度等也有很大的影响。
因此,随着科学技术的发展,有关颗粒粒度测量技术受到人们的普遍重视,已经逐渐发展成为现代测量学中的一个重要分支。
1 颗粒粒度测量方法及原理1.1 筛分法(Sieving Analysis)颗粒粒度的测定方法中历史最长、最通行的是筛分法,它是借助人工或不同的机械振动装置,将颗粒样品通过一系列具有不同筛孔直径的标准筛(即筛系),分离成若干个粒级,再分别称重,然后求以质量分数表示的颗粒粒度分布。
按不同的标准有不同的筛系目前国际上,通行的筛系有美国TYLES筛系、美国ASTM筛系、国际标准化组织ISO筛系、日本JIS 筛系、英国BS 筛系等。
筛分法适于测量粒度为30μm以上的颗粒。
筛分法的优点在于其设备简单、操作简便、易于实行。
但是筛分法有一个很大的缺点,就是在筛分操作过程中,颗粒有可能破损或断裂,因此筛分特别不适合测定长形针状或片状颗粒的粒度。
同时必须注意到,非球形的颗粒通过筛子在一定程度上取决于颗粒的方向,造成测量误差。
各种粉体粒度分析方法优缺点对比及应用在现实社会中,诸如材料、能源、医药、冶金、化工、电子、机械、建筑及环保等很多领域都与材料的粒度分析息息相关。
由于材料的颗粒大小分布范围较广,颗粒可以从纳米级到毫米级,因此描述材料颗粒粒度大小的时候,可以按大小分为纳米颗粒、超微颗粒、微粒、细粒、粗粒等等。
可以依据这些颗粒的大小、种类来采纳不同的粒度分析方法。
近年来,随着纳米技术的飞速进展,纳米材料的颗粒粒度分布已经成为纳米材料讨论的紧要对象和紧要指标。
因此,随着科学技术的进展,有关于材料颗粒的粒度分析技术已经受到人们的重视,渐渐成为分析测量学中的一个紧要分支。
粒度分析的方法很多,据统计有上百种。
目前常用的有沉降法、筛分法、显微镜法、电阻法、激光光散射法、电镜法和X射线小角散射法等。
1沉降法(SedimentationSizeAnalysis)1.1沉降法的原理该法基于颗粒在悬浮体系时,颗粒本身重力(或所受离心力)、所受浮力和黏滞阻力三者平衡,依据黏滞阻力服从斯托克斯(Stocks)定律来实施测定,此时颗粒在悬浮体系中以恒定速度沉降,且沉降速度与粒度大小的平方成正比。
Stokes定律:为了加快细颗粒的沉降速度,缩短测量时间,现代沉降仪大都采纳离心沉降方式。
在离心沉降状态下,颗粒的沉降事度与粒度的关系如下:这就是Stokes定律在离心状态下的表达式。
由于离心转速都在数百转以上,离心加速度2r远宏大于重力加速度g,VcV,所以在粒径相同的条件下,离心沉降的测试时间将大大缩短。
沉降法在油漆和陶瓷行业是一个传统的测量方法,测量范围一般为44m以上。
1.2优点操作简便,仪器可连续运行,价格低,精准性和重复性较好,测试范围较大。
1.3缺点测量速度慢,平均测量时间要半个多小时,很难重复分析;必需精准明确的掌控以防止温度梯度和粘度变化;不能处理不同密度的混合物。
2筛分法(ScreeningAnalysis)2.1筛分法粒度分析该法是用筛子来检测物料粒度构成,是最简单的也是应用最早的粒度分析方法。
《金属及其化合物粉末费氏粒度的测定方法》意见征集在粉体加工生产过程中,粉体粒度大小、颗粒形貌和粒度分布直接影响生产工艺性能,粉体粒度检测也是控制产品生产指标和调整优化生产工艺的主要依据。
在众多检测方法中,费氏粒度测定是一种简单、快速测定粉末平均粒度及其比表面积的方法,广泛应用于粉末冶金、精细化工、硅酸盐工业、食品、制药、核工业、以及表面技术的各种粉末粒度和比表面积的测定。
费氏粒度测定法具有取样多、操作性强、检测速度快、分析效率高等优点,是国际上公认的测量粉末平均粒度的主要方法。
我国其实早在2023年就制订了相关标准,但为了适应国内工艺变化及国际标准的变化,与国际接轨,需要对标准进行修订。
近日,《金属及其化合物粉末费氏粒度测定方法》已经编修订完成,正面向社会征求意见。
为确保标准的科学性和适用性,起草组还引用了GB/T 3500《粉末冶金术语》、GB/T 37561《难熔金属及其化合物粉末在粒度测定之前的分散处理规则》等。
标准的内容包括有范围、规范性引用文件、术语、用途、仪器设备、仪器的校准、测量过程、结果报告、精密度和误差。
阅读《金属及其化合物粉末费氏粒度的测定方法》征求意见稿后可知,与GB/T 3249-2023相比,主要变化如下:将“备用滤纸”改为“快速滤纸”;增加“测试过程中,由于水吸附于压力计玻璃管中,水液面不能恢复至零点,属于正常现象,所以每次检查水位零点时,仪器必须空置15min以上,调完水位零点,须重新校准仪器”;补充检查压力计及稳压管的水位线具体内容等。
需要注意的是,费氏粒度测定仪在校准之前,应当检查粒度指示针横梁应与读数板基线平行、齿条上下移动时应与读数板基线垂直、试样管和多孔塞不得有磨损、压力计和调压阀应保持清洁、压实样的黄铜支承柱的位置要求适当、检查压力计及稳压管的水位线等。
本标准规定了金属及其化合物粉末费氏粒度的测定方法,并规范了操作方法,统一了评判标准,可操作性更强,能有效减少仪器之间的系统偏差,继而确保测试结果具有更好的稳定性与可比性。
目粒度粉体颗粒大小称颗粒粒度。
由于颗粒形状很复杂,通常有筛分粒度、沉降粒度、等效体积粒度、等效表面积粒度等几种表示方法。
筛分粒度就是颗粒可以通过筛网的筛孔尺寸,以1英寸()宽度的筛网内的筛孔数表示,因而称之为“目数”。
粉体细度粒径单位换算对照表粒径(m)微米um 纳米nm 日式单位(目)10-4m 100um 100000nm 180目10-5m 10um 10000nm 1800目10-6 m 1um 1000nm 万目10-7m 100nm 18万目{10-8m 10nm 180万目10-9m 1nm 1800万目10-9m以下以下进入i 1nm以下接近原子大1800万目以上1米(m)=100厘米(cm);1厘米(cm)=10 m =10毫米(mm);1毫米(mm)=10 m =1000微米(um);1微米(um)=10 m=1000纳米(nm);1纳米=10 m。
【病毒大小约100纳米】纳米(nm)=[10的-7至10的-9次方米]之间=细度大小折合日式单位换算约18万目~1800万目。
@微米(um)=[10的-6次方米以下]=细度大小折合日式单位换算约万目以下。
微米之极限细度是18000目。
趋纳米=微纳米=[10的-6次方米]至[10的-7次方米]之间=18000目~180000目之间。
320目320mesh 目的英文单位是meshM 筛子内径(μm)≈筛子目数计量单位目粒度是指原料颗粒的尺寸,一般以颗粒的最大长度来表示。
网目是表示标准筛的筛孔尺寸的大小。
在泰勒标准筛中,所谓网目就是厘米(1英寸)长度中的筛孔数目,并简称为目。
目数越大,表示颗粒越细。
类似于金相组织的放大倍数。
~目数前加正负号则表示能否漏过该目数的网孔。
负数表示能漏过该目数的网孔,即颗粒尺寸小于网孔尺寸;而正数表示不能漏过该目数的网孔,即颗粒尺寸大于网孔尺寸。
例如,颗粒为-100目~+200目,即表示这些颗粒目数,就是孔数,就是每平方英寸上的孔数目。
粉末粒度分析方法0背景介绍粉末粒度作为粉末性能一个最重要的方面,对粉末冶金材料性能及其制备有着密切的关系,粉末粒度的测定是粉末冶金生产中检验粉末质量以及调节和控制工艺过程的重要依据。
粉末颗粒形状的复杂性和粒度范围的扩大,特别是超细粉末的应用使得准确而方便的的定粒度变得很困难。
1粉末粒度与粒度分布1.1粒度和粒度组成粉末粒度也称颗粒粒度,指颗粒占据空间的尺度,通常用mm或um表示。
对于一个球形颗粒,粒度是单一的参数:直径D。
然而,随之颗粒形状的复杂,近使用一个参数是不能表示粉末颗粒的尺寸,需要的粒度参数也增加。
对于以个形状不规则的颗粒,粉末尺寸可以用投影高度H(任意)、最大长度M、水平宽度W、相等体积球的直径或具有相等表面积球的直径D来表达。
这些表示颗粒粒径的方法称为等效粒径。
表1为用不同等效粒径来表示某一不规则粉末颗粒的粒度。
由于组成粉末的无数颗粒一般粒径不同,故又用具有不同粒径的颗粒占全部粉末的百分含量表示粉末的粒度组成,又称粒度分布。
但是通常所说的粉末粒度包含粉末平均粒度的意义,也就是粉末的某种统计性平均粒径。
1.2粒度基准用长、宽、高三维尺寸的某种平均值来度量,称为几何学粒径。
由于测量颗粒的几何尺寸非常麻烦,计算几何学平均径也较繁琐,因此又有通过测定粉末的沉降速度、比表面积、光波衍射或散射等性质,而用当量或名义直径表示粒度的方法。
可以采用下面四种粒径基准。
1)几何学粒径d g:用显微镜按投影几何学原理测得的粒径称投影径。
2)当量粒径d c:利用沉降法、离心法或水力学方法(风筛法、水簸法)测得的粉末粒度,称为当量粒径。
当量粒径中有一种斯托克斯径,其物理意义是与被测粉末具有相同沉降速度且服从斯托克斯定律的同质球形粒子的直径。
由于粉末的实际沉降速度还受颗粒形状和表面状态的影响,故形状复杂、表面粗糙的粉末,其斯托克斯径总是比按体积计算的几何学名义径小。
3)比表面积粒径d sP:利用吸附法、透过法和润湿热法测定粉末的比表面,再换算成具有相同比表面值的均匀球形颗粒的直径,称为比表面积径,d sP=6S v。
柯恩达效应或附壁作用流体(水流或气流)有离开本来的流动方向,改为随著凸出的物体表面流动的倾向。
当流体与它流过的物体表面之间存在表面摩擦时,流体的流速会减慢。
只要物体表面的曲率不是太大,依据流体力学中的伯努利原理,流速的减缓会导致流体被吸附在物体表面上流动。
费氏粒度基本原理费氏粒度测试基本方法为稳流式空气透过法,即在空气流速和压力不变的条件下,测定比表面积和平均粒度。
透过法测定粒度由于取样较多,有代表性,使结果的重现性好。
对较规则的粉末,同显微镜测定的结果相符合。
空气透过法所反映的是粉末的外比表面,代表单颗粒或二次颗粒的粒度,如果与BET法(反应全比表面和一次颗粒的大小)联合使用,就能判断粉末的聚集程度和决定二次颗粒中一次颗粒的数量。
方法说明费氏法是一种相对的测量方法,不能精确地测定出粉末的真实粒度,仅用来控制工艺过程和产品的质量。
该方法只能精确地测量空气通过粉末堆积体时的透过率,其值的大小取决于它的孔结构。
粉末堆积体的孔隙度、颗粒形状、粒度、粒度组成、粒度分布和压制方法等均影响孔的结构。
因此,该方法仅适用于化学成分相同和粒度组成相似的粉末。
对于化学成分相同而粒度组成不同的粉末,则会产生较大的测量误差。
有时化学成分相同而粒度组成不同的两种粉末会得到相同的费氏值,因为它们有相同的透过率。
因此,该方法所测量的粒度值不能和其它粒度测量结果进行比较。
测试仪器费氏粒度的测试仪器为费歇尔微粉粒度分析仪(Fisher Sub-Sive Sizer,F.S.S.S),计算粒度的原理是根据古登(Gooden)和史密斯变换柯青-卡门方程后建立的公式,可参考《粉末冶金原理》黄培云主编(第二版)[1]。
费氏粒度分析仪由空气泵、稳压管、样品管、压力计、针形阀和粒度读数板等部件组成,见下图:1.空气泵2.过滤器3.调压阀4.稳压管5.干燥剂6.试样管7.多孔塞8.滤纸垫9.试样10.齿杆11.手轮12.U形管压力计13.粒度读数板14、15.针形阀16.换档阀当气泵开动后,空气流经过滤器进入带有水的竖立稳压管,然后流过干燥剂管,除去水分后流进样品管,最后通过针形阀流向大气。