下载文档原格式
X射线衍射原理及应用X射线衍射是一种利用X射线与晶体相互作用产生的衍射现象研究物质结构的方法。
它是在19世纪末和20世纪初逐渐发展起来的。
在这个过程中，麦克斯·冯·劳厄和威廉·康拉德·伦琴分别做出了重要贡献。
X射线衍射的原理是基于能量很高、波长很短的X射线通过物质时，与物质中的原子或晶体晶格相互作用，形成一些衍射现象。
这些衍射现象可以由晶体的结构参数推导出来，从而获得物质结构的信息。
1.X射线的产生：通过射线管向靶发射高速电子，产生了能量很高的X射线。
2. X射线的散射：经过Fermi–Dirac分布后，X射线通过物质时，与物质中的电子和原子核相互作用。
3.X射线的衍射：在特定的角度下，经过物质散射后的X射线互相干涉，形成衍射图样。
4.衍射图样的测量：通过衍射图样的测量，可以获得物质结构的信息，如晶格常数、晶胞参数、晶体结构等。
1.确定晶体结构：X射线衍射可以确定晶体结构的各种参数，如晶胞参数、晶格常数、原子位置等，从而帮助人们了解晶体的组成和结构。
2.分析材料成分：X射线衍射可以通过衍射图样的特征峰值，来分析物质的成分和组成。
3.研究晶体缺陷：X射线衍射可以研究晶体中的缺陷，如晶体的位错和断裂等。
通过衍射图样的变化，可以推断出晶体的缺陷类型和密度。
4.相变和晶体生长研究：X射线衍射可以研究物质的相变过程和晶体的生长机制。
通过衍射图样的变化，可以观察到相变的相应信号，并得到相变的温度和压力等参数。
5.X射线衍射也可以应用于地球科学领域，如矿石的开采、火山活动的研究等。
总之，X射线衍射是一种非常重要的物质结构研究方法，通过测量衍射图样，可以了解物质的组成和结构。
在材料科学、结晶学、地球科学等领域都有广泛的应用前景，对于人类的科学研究和工业生产都具有重要的意义。
晶体结构与X射线衍射晶体结构是固体物质中最有序的结构形式之一，它的研究对于理解物质的性质和行为具有重要意义。
而X射线衍射技术则是研究晶体结构的重要手段之一，通过X射线衍射技术可以揭示晶体的结构信息。
本文将介绍晶体结构的基本概念，以及X射线衍射技术在晶体结构研究中的应用。
晶体是由原子、离子或分子按照一定的规则排列而成的固体物质。
晶体结构的研究旨在揭示晶体中原子、离子或分子的排列方式，以及它们之间的相互作用。
晶体结构的研究可以帮助我们理解物质的性质，例如热导率、电导率、光学性质等，从而为材料科学和化学领域的发展提供重要参考。
晶体结构的基本单位是晶胞，晶胞是晶体中最小的具有完整结构信息的单位。
晶体结构可以分为离散晶体结构和连续晶体结构两种类型。
离散晶体结构是指晶体中原子、离子或分子的排列方式呈现间隙，如钠氯化物晶体；而连续晶体结构是指晶体中原子、离子或分子的排列方式呈现连续性，如金属晶体。
X射线衍射技术是一种通过X射线与晶体相互作用而获取晶体结构信息的方法。
X射线是一种波长极短、穿透力强的电磁波，它可以穿透晶体并与晶体中的原子、离子或分子发生相互作用。
当X射线照射到晶体上时，会发生衍射现象，根据衍射图样可以确定晶体的晶胞参数、晶体结构类型等信息。
X射线衍射技术在材料科学、化学、生物学等领域具有广泛的应用。
在材料科学中，X射线衍射技术可以用于分析材料的晶体结构，帮助研究人员设计新型材料；在化学领域，X射线衍射技术可以用于确定化合物的晶体结构，揭示化学键的性质；在生物学领域，X射线衍射技术可以用于研究生物大分子的结构，如蛋白质、DNA等。
总之，晶体结构与X射线衍射技术是现代科学研究中不可或缺的重要内容。
通过对晶体结构的研究，我们可以更深入地理解物质的性质和行为；而X射线衍射技术作为一种强大的工具，为科学家们揭示晶体结构提供了重要手段。
希望本文能够帮助读者更好地了解晶体结构与X射线衍射技术的基本概念和应用。
X射线在晶体衍射分析中的应用晶体衍射是一种广泛应用于材料科学、化学、物理学等领域的分析方法，它利用物质中的晶体结构与入射的X射线产生衍射现象，从而获取有关晶体结构信息的技术。
X射线在晶体衍射分析中的应用非常重要，可以帮助研究人员确定晶体的结构、研究材料的物理性质以及分析样品的组成等。
下面将详细介绍X射线在晶体衍射分析中的应用。
首先，X射线衍射可以用于确定晶体的结构。
晶体的结构是材料科学研究的基础，了解晶体的结构可以帮助我们理解晶体材料的性质和行为。
通过测量晶体衍射的强度和角度，可以推断出晶体的空间群、晶胞参数以及原子坐标等信息，从而得到晶体的结构模型。
这对于合成新型的晶体材料、研究材料的相变行为以及改善材料性能等具有重要意义。
其次，X射线衍射可以用于研究材料的物理性质。
晶体的结构与其物理性质之间存在密切的关系。
通过X射线衍射技术，可以研究晶格参数、晶胞参数以及原子的位置等与晶体性质相关的信息。
例如，研究材料的电子结构、磁性行为、光学性质等。
这对于设计新型材料、改善材料的性能以及探索新型物理现象等具有重要意义。
此外，X射线衍射也可以用于分析样品的组成。
许多材料的组成可以通过X射线衍射技术进行定量分析。
例如，在金属合金中，不同成分的原子会引起晶体衍射峰的位置和强度的变化。
通过测量这些衍射峰的强度和角度，可以准确地确定样品中不同元素的含量。
这对于合金设计、分析和质量控制具有重要意义。
最后，X射线衍射还可以用于实时研究材料的相变行为。
通过在不同温度和压力下进行X射线衍射实验，可以观察到材料结构的变化。
这有助于研究材料的相变机制、相变温度及其对应的热力学参数等。
这对于材料工程师和科学家来说是非常重要的，可以帮助他们设计新材料、优化工艺条件以及理解材料的性能与结构之间的关系。
总之，X射线在晶体衍射分析中有着广泛的应用。
它可以帮助人们确定晶体的结构、研究材料的物理性质、分析样品的组成以及实时研究材料的相变行为。
二维X射线衍射在晶体结构测定中应用研究进展摘要：X 射线衍射是目前晶体结构研究领域中的一种重要的技术和手段。
本文主要介绍了二维X射线衍射(2D-XRD)的有关概念，二维X射线衍射系统的工作原理、系统构件以及这一先进测量技术在晶体结构测定中的应用研究进展，期望为后续晶体结构的分析和研究提供参考。
关键词：二维X射线衍射；晶体结构；进展Abstract: X-ray diffraction is one of the important means in the field of crystal structure research . This article mainly introduced relevant concepts of two-dimensional (2D- XRD), 2D- XRD system working principle, device position and its application in crystal structure determination research to provide a reference for further analysis and research of the crystal structure.Key words: two-dimensional X-ray diffraction; Crystal structure; progress1.引言X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。
当对晶体进行X射线衍射分析时，晶体被X射线照射产生不同程度的衍射现象，晶型、分子成键方式、分子的构型、构象等决定该晶体产生特有的衍射图谱。
X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。
因此，X射线衍射分析法已晶体结构的研究中得到广泛应用[1]。
随着探测技术、点光束X 射线光学和计算机能力的进展以及二维探测器迅猛增加，二维X 射线衍射技术得以迅速发展。
x射线衍射技术的应用以X射线衍射技术的应用为标题,我们将探讨X射线衍射技术在不同领域的应用。
X射线衍射技术是一种利用X射线在物质中的相互作用进行分析和研究的方法。
该技术已经被广泛应用于材料科学、生物医学、地质学等领域，为我们的科学研究和工程实践提供了重要的支持和突破。
在材料科学领域，X射线衍射技术被用于材料的结构分析和晶体学研究。
通过研究材料的衍射图案，可以获得材料的晶体结构、晶格常数以及晶体中原子的排列方式等信息。
这些信息对于材料的性能和应用具有重要意义。
例如，在材料研发过程中，研究人员可以利用X射线衍射技术来确定新合成材料的晶体结构，从而指导进一步的材料设计和优化。
在生物医学领域，X射线衍射技术被广泛应用于蛋白质结构研究。
蛋白质是生物体中最重要的功能分子之一，其结构与功能密切相关。
通过X射线衍射技术，研究人员可以获得蛋白质的三维结构信息，进而揭示其功能机制。
这对于药物研发、疾病治疗等具有重要意义。
例如，通过研究蛋白质的结构，科学家们可以设计出更加高效的药物分子，提高药物的选择性和疗效。
在地质学领域，X射线衍射技术被广泛应用于矿物成分的分析和研究。
地球是由各种不同的矿物组成的，研究矿物的成分和结构对于地质学家来说是十分重要的。
通过X射线衍射技术，可以准确地确定矿物的成分和晶体结构，从而推断地质过程和环境的演化历史。
例如，在石油勘探中，研究人员可以利用X射线衍射技术来分析地下岩石中的矿物成分，从而判断油气的储集情况和潜在资源量。
除了上述领域，X射线衍射技术还被应用于材料缺陷分析、晶体生长研究、纳米材料表征等领域。
例如，在材料缺陷分析中，通过研究材料的X射线衍射图案，可以检测和定量分析材料中的晶体缺陷，如晶格畸变、晶界、位错等。
这对于材料性能的改进和缺陷修复具有重要意义。
在晶体生长研究中，X射线衍射技术可以用于监测晶体生长动态过程，了解晶体生长机制和控制晶体质量。
在纳米材料表征中，X射线衍射技术可以用于研究纳米材料的晶体结构和尺寸分布，揭示其特殊的物理和化学性质。
X射线衍射技术在材料分析测试中的应用摘要：X 射线衍射分析技术是一种十分有效的材料分析方法, 在众多领域的研究和生产中被广泛应用。
介绍了X 射线衍射的基本原理, 从物相鉴定、点阵参数测定、微观应力测定等几方面概述了X 射线衍射技术在材料分析中的应用进展。
1 X射线基本原理由于X 射线是波长在1000Å~0. 01Å之间的一种电磁辐射, 常用的X 射线波长约在2. 5Å~ 0. 5Å之间, 与晶体中的原子间距( 1Å )数量级相同, 因此可以用晶体作为X 射线的天然衍射光栅, 这就使得用X射线衍射进行晶体结构分析成为可能。
当X射线沿某方向入射某一晶体的时候, 晶体中每个原子的核外电子产生的相干波彼此发生干涉.当每两个相邻波源在某一方向的光程差(Δ)等于波长λ的整数倍时, 它们的波峰与波峰将互相叠加而得到最大限度的加强, 这种波的加强叫做衍射, 相应的方向叫做衍射方向, 在衍射方向前进的波叫做衍射波。
Δ= 0的衍射叫零级衍射, Δ = λ的衍射叫一级衍射, Δ = nλ的衍射叫n级衍射. n不同, 衍射方向也不同。
在晶体的点阵结构中, 具有周期性排列的原子或电子散射的次生X射线间相互干涉的结果, 决定了X射线在晶体中衍射的方向, 所以通过对衍射方向的测定, 可以得到晶体的点阵结构、晶胞大小和形状等信息。
晶体结构= 点阵+ 结构基元, 点阵又包括直线点阵, 平面点阵和空间点阵. 空间点阵可以看成是互不平行的三组直线点阵的组合, 也可以看作是由互相平行且间距相等的一系列平面点阵所组成. 劳厄和布拉格就是分别从这两个角度出发, 研究衍射方向与晶胞参数之间的关系。
伦琴发现X射线之后, 1912年德国物理学家劳厄首先根据X 射线的波长和晶体空间点阵的各共振体间距的量级, 理论预见到X 射线与晶体相遇会产生衍射现象, 并且他成功地验证了这一预见, 并由此推出了著名的劳厄定律。
X射线衍射晶体结构分析实验报告X射线衍射晶体结构分析实验预习报告摘要：本实验通过采用与X射线波长数量级接近的物质即晶体这个天然的光栅来作狭缝，从而研究X射线衍射。
本实验将了解到X射线的产生、特点和应用；理解X射线管产生连续X射线谱和特征X射线谱的基本原理；用三种个方法研究X 射线在NaCl单晶上的衍射，并通过测量X射线特征谱线的衍射角测定X射线的波长和晶体的晶格常数。
关键词：布拉格公式晶体结构波长衍射 X射线引言：1895年德国科学家伦琴（W.C.Röntgen）在用克鲁克斯管研究阴极射线时，发现了一种人眼不能看到，但可以使铂氰化钡屏发出荧光的射线，称为X射线。
X射线是一种波长很短(约为20～0.06埃)的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。
在用高能电子束轰击金属“靶”材产生X射线，它具有与靶中元素相对应的特定波长，称为特征（或标识）X射线。
如通常使用的靶材对应的X射线的波长大约为1.5406埃。
考虑到X射线的波长和晶体内部原子面间的距离相近，1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出一个重要的科学预见：晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即当一束 X射线通过晶体时将发生衍射，衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。
分析在照相底片上得到的衍射花样，便可确定晶体结构。
这一预见随即为实验所验证。
X射线衍射在金属学中的应用X射线衍射现象发现后，很快被用于研究金属和合金的晶体结构，出现了许多具有重大意义的结果。
如韦斯特格伦（A.Westgren）(1922年)证明α、β和δ铁都是立方结构，β-Fe并不是一种新相;而铁中的α─→γ转变实质上是由体心立方晶体转变为面心立方晶体，从而最终否定了β-Fe硬化理论。
随后,在用X射线测定众多金属和合金的晶体结构的同时，在相图测定以及在固态相变和范性形变研究等领域中均取得了丰硕的成果。
如对超点阵结构的发现，推动了对合金中有序无序转变的研究，对马氏体相变晶体学的测定，确定了马氏体和奥氏体的取向关系；对铝铜合金脱溶的研究等等。
X射线衍射分析的实验方法及其应用自1896年X射线被发现以来，可利用X 射线分辨的物质系统越来越复杂。
从简单物质系统到复杂的生物大分子，X射线已经为我们提供了很多关于物质静态结构的信息。
此外，在各种测量方法中，X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。
由于晶体存在的普遍性和晶体的特殊性能及其在计算机、航空航天、能源、生物工程等工业领域的广泛应用，人们对晶体的研究日益深入，使得X射线衍射分析成为研究晶体最方便、最重要的手段。
本文主要介绍X射线衍射的原理和应用。
1、 X射线衍射原理1912年劳埃等人根据理论预见，并用实验证实了X射线与晶体相遇时能发生衍射现象，证明了X射线具有电磁波的性质，成为X射线衍射学的第一个里程碑。
当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。
这就是X射线衍射的基本原理。
衍射线空间方位与晶体结构的关系可用布拉格方程表示：1.1 运动学衍射理论Darwin的理论称为X射线衍射运动学理论。
该理论把衍射现象作为三维Frannhofer衍射问题来处理，认为晶体的每个体积元的散射与其它体积元的散射无关，而且散射线通过晶体时不会再被散射。
虽然这样处理可以得出足够精确的衍射方向，也能得出衍射强度，但运动学理论的根本性假设并不完全合理。
因为散射线在晶体内一定会被再次散射，除了与原射线相结合外，散射线之间也能相互结合。
Darwin不久以后就认识到这点，并在他的理论中作出了多重散射修正。
1.2 动力学衍射理论Ewald的理论称为动力学理论。
该理论考虑到了晶体内所有波的相互作用，认为入射线与衍射线在晶体内相干地结合，而且能来回地交换能量。
两种理论对细小的晶体粉末得到的强度公式相同，而对大块完整的晶体，则必须采用动力学理论才能得出正确的结果。
X射线晶体学技术在生物大分子结构研究中的应用生物大分子结构研究一直是生物学领域中的一个重要课题。
而X射线晶体学技术是当今生物学界常用的一项技术手段，其在研究生物大分子结构中扮演着举足轻重的角色。
一、X射线晶体学技术X射线晶体学技术是一种利用X射线来观察物质分子结构的技术。
简单来说，就是将样品制成晶体，并使这些晶体能够在X射线的照射下产生衍射。
通过衍射图样来测定晶体中原子的位置，进而推算出分子的三维结构。
这项技术的发展离不开X射线的发现和衍射定理的提出。
1895年，德国物理学家伦琴发现了X射线，并在此基础上，他的学生朗茨通过X射线衍射实验发现，晶体中原子的堆积形成了特定的几何结构。
此后，不断有科学家改进了衍射实验的技术，如布拉格父子提出的布拉格衍射定理，成功解析了晶体中化合物的三维结构，并于1915年获得了诺贝尔物理学奖。
二、X射线晶体学技术广泛应用于生物大分子结构研究中。
因为生物大分子分子量通常较大，晶体结构较复杂，且组成复杂，使得其直接观察较为困难。
而X射线晶体学技术则可以将这些复杂的结构转换为几何结构，易于观察和理解。
比如，X射线晶体学技术可以用于解析蛋白质的三维结构。
蛋白质作为生命体内的重要分子，具有非常复杂的结构。
而通过X射线衍射的方法，可以定位出蛋白质中每个原子的位置，从而构建蛋白质的三维结构模型。
这对于深入了解蛋白质的结构和功能，从而进行蛋白质工程和药物研发具有重要价值。
除了蛋白质外，X射线晶体学技术还可以用于研究DNA和RNA等核酸分子的结构和功能。
通过衍射图谱的对比，可以不断推进我们对基因的认识和研究。
而通过解析各种生物大分子的三维结构，还可以探究生物分子间的相互作用，从而研究细胞活动的机制和生物体内化学反应的规律。
三、X射线晶体学技术的局限性尽管X射线晶体学技术在生物大分子结构研究中有着广泛的应用，但这项技术仍然存在着很多局限性。
比如，制备晶体的过程需要用到大量的纯化、结晶、对比和优化等技术，需要很高的实验技巧和经验。
二维X射线衍射在晶体结构测定中应用研究进展摘要：X 射线衍射是目前晶体结构研究领域中的一种重要的技术和手段。
本文主要介绍了二维 X 射线衍射(2D-XRD)的有关概念，二维 X 射线衍射系统的工作原理、系统构件以及这一先进测量技术在晶体结构测定中的应用研究进展，期望为后续晶体结构的分析和研究提供参考。
关键词：二维X射线衍射；晶体结构；进展Abstract: X-ray diffraction is one of the important means in the field of crystal structure research . This article mainly introduced relevant concepts oftwo-dimensional (2D- XRD), 2D- XRD system working principle,device composition and its application in crystal structure determination research to provide a reference for further analysis and research of the crystal structure.Key words: two-dimensional X-ray diffraction; Crystal structure; progress1.引言X 射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。
当对晶体进行X射线衍射分析时，晶体被 X 射线照射产生不同程度的衍射现象，晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该晶体产生特有的衍射图谱。
X 射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。
因此，X 射线衍射分析法已晶体结构的研究中得到广泛应用[1]。
随着探测技术、点光束 X 射线光学和计算机能力的进展以及二维探测器迅猛增加，二维 X 射线衍射技术得以迅速发展。
二维X射线衍射技术(2D-XRD)是一种新的技术，二维象比一维线形包含更多的信息，因此，在晶体结构测定中2D-XRD 中正得到越来越多的研究，有较好的应用前景。
2. 二维X射线衍射(2D-XRD)的概念及原理2.1 X射线衍射的基本原理X 射线同无线电波、可见光、紫外线等一样，本质上都属于电磁波，只是彼此之间占据不同的波长范围而已。
X 射线的波长较短，大约在10-8～10-10之间。
X 射线分析仪器上通常使用的X射线源是X射线管，这是一种装有阴阳极的真空封闭管，在管子两极间加上高电压，阴极就会发射出高速电子流撞击金属阳极靶，从而产生 X 射线。
当 X 射线照射到晶体物质上，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的 X 射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强 X 射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关，不同的晶体物质具有自己独特的衍射花样，这就是 X 射线衍射的基本原理[1]。
2.2 二维X射线衍射(2D-XRD)的定义在 X 射线衍射中，数据的采集和分析主要是基于点探测器或位敏探测器(PSD)所扫描到的衍射空间。
因此，传统 XRD 应用都是以传统的点探测器做一维射线收集，如物相鉴定、织构(取向)、残余应力、晶粒尺寸、点阵常数等。
二维面探测器的出现大大的推进了探测技术的发展。
二维衍射当然离不开二维探测器，然而仅仅使用二维探测器的衍射实验不一定就是二维衍射。
二维面探测技术并不是简单地沿袭了传统的一维衍射理论，它是一种建立在新方法上的新技术，不是简单使用二维探测器的衍射仪。
除了2D 探测器技术外，还包括 2D 象处理、2D 衍射花样的处理和解释。
因为它所采集的数据更加丰富，所以有必要提出一种新的概念来理解和诠释二维 X 射线衍射数据[2-3]。
贺宝平[4]对二维 X 射线衍射作如下定义：在X射线衍射实验中使用二维探测器，并对由二维探测器记录二维象，二维衍射花样的数据进行处理分析和解释的X射线衍射方法称为二维X射线衍射术。
2D-XRD 是进行微观结构分析的主要手段。
3．二维X射线衍射仪系统的主要构件当一束单色 X 射线照射在样品上的时候，除了发生吸收之外，还可观察到散射 X 射线的波长与入射 X 射线相同，称之为相干散射。
不同的原子和不同的原子排列周期性， X 射线的强度和空间分布就形成了一个特定的模式，而各种模式反映出来的各种不同的信息就用以研究材料的结构[5]。
一种典型的二维 X 射线衍射系统至少包括一个二维探测器、X 射线源、X 射线狭缝、样品台、样品调整与监控装置以及相应的计算机数据还原与分析软件，如图1所示。
图1 二维X射线衍射系统的五个主要组成部分4. 二维X射线衍射技术在晶体结构测定中的应用由上述 X 射线衍射原理可知，物质的 X 射线衍射花样与物质内部的晶体结构有关。
每种结晶物质都有其特定的结构参数，因此，通过分析待测试样的 X 射线衍射花样，不仅可以知道物质的化学成分，还能知道它们的存在状态，即能知道某元素是以单质存在或者以化合物、混合物及同素异构体存在。
目前，X 射线衍射技术已经广泛应用于晶体结构的分析与研究工作中。
根据二维 X 射线衍射试验可以进行结晶物质的定量分析、晶粒大小的测量和晶粒的取向分析等[6]。
下面对2D-XRD 在单晶和多晶结构分析中的应用研究进展分别进行介绍。
4.1 二维X射线衍射术在单晶样品结构测定中的应用按照二维X射线衍射术的定义，用连续X射线入射不动单晶体，并用二维平面探测器(一定大小照相底片)的劳厄法是经典的二维X射线衍射方法[7-8]，劳厄法又分背射劳厄法和透射劳厄法两种方法。
二维 X 射线衍射测定单晶样品时，用的X射线源为点光源或同步辐射光源，探测器为二维探测器（底片、CCD、IP），测定单晶体取向和定向切割。
利用同步辐射X射线白光束照射不动单晶的劳厄照相法已成为测定微小单晶、生物大分单晶结构的重要方法。
为了衰减较短波长的衍射斑点和覆盖强度的动力学区域，采用带有衰减膜(金属膜或其它)的底片盒，换言之，二维探测器是带有衰减器底片组件。
实验时，需在不同ψ角位置拍摄几组底片，每组有若干张，暴光时间为秒量级；用光密度自动扫描仪测量黑度(强度)，并记录磁盘上；调用计算机程序解决谐波斑点重叠及斑点的入射线的波长和强度差别，在获得每个斑点的角参数和强度数据以后便可进入解结构的程序，这使得一些微小单晶体结构测定成为可能，一些例子如下表一：表一 2D-XRD 测定试样的单晶结构实例方法试样晶体尺度（μm3）结果λ=0.90A0,区域探测器对二氮己环硅脂18×175×8 强度数据→结构催化剂4×125×8 强度数据→结构白光束对二氮己环硅脂12×4×125 能大致从底片测量强度数据催化剂4×125×8劳厄法有机金属化合物60×50×320 强度数据→结构近些年来，也已发展用（CCD）或成像板(IP)等二维探测器代替底片组件，并把有关数据传送给计算机，实现了数据处理的自动化，这就是单晶样品现代二维X射线衍射术。
许多同步辐射光源都建立了生物大分子晶体学光束线和实验站，并已推广到实验室X射线光源上，用于较大单晶体样品的结构测定[9-10]。
单晶样品二维X射线衍射发展趋势是：1)用CCD或成像板(IP)等二维探测器代替劳厄底片，把有劳厄花样的有关数据传送给计算机，实现指标化的计算机化和自动化；2)用CCD或成像板(IP)等二维探测器代替带有衰减器底片组件，把有几张劳厄花样的有关数据传送给计算机，实现了数据处理和解结构的自动化，并推广到同步辐射光源和一般X射线源上的微小(μm 量级)和小单晶(亚 mm 量级)样品的晶体结构测定。
4.2 二维X射线衍射术在多晶样品结构测定中的应用二维 X 射线衍射测定多晶样品时，用的 X 射线源为点光源，探测器为二维探测器，多晶样的二维衍射尚属新的实验技术，许多方面还不完善，尚需继续研究和开发，目前主要研究集中于物相的定性分析，应力应变测定及支构测定等方面。
4.2.1 使用2D-XRD进行物相定性分析物相分析的原理和方法已有专著[11]介绍，将未知待测样品的粉末衍射谱d、，通过检索/匹配与已知的PDF数据相比对而作出物相鉴定，那是假定粉末I/I1样品的晶粒度足够细(≤lμm)，晶粒取向在样品中分布是完全无序的，因此对一维衍射数据的测量和分析就足以进行物相分析。
但当这种多晶样品具有织构——晶粒取向的择优分布、大的晶粒尺寸和样品很少时，仅用一维衍射数据就难以进行物相分析，此时用二维衍射系统测量的衍射线形比用普通衍射仪收集的衍射线形有较好统计性，但获得较准确d值和相对强度还有困难，特别是大晶粒和/或织构的样品。
因此要在二维测量时需要作2D构架积分和振动。
4.2.2 用2D-XRD的织构测量对于织构测定，二维X射线衍射系统比一维衍射系统有许多优点，因为织构测定是基于极图角度(α，β)与沿衍射环的强度分布之间的基本关系。
二维探测器能同时测定几个衍射环，每一个衍射环表明一连续的极密度分布，这样，在根据极图来判断织构类型{hkl}<uvw>时，可用多个 hkl[12]。
而一维衍射系统，只能逐个测量每个衍射环，且对每个衍射环也是经过β扫描逐点测量的。
图2 是用1D-XRD和2D-XRD 衍射方程作极图测量之间的比较，用普通(一维)X射线衍射，一个极点(用衍射矢量H hkl表示)是在每样品角上测量的。
作为一个例子，用7个不同的ω角，仅测量7个极点(图右上方)，用二维X射线衍射，在每一个样品角上，测量大量的极点(图右下方)。
每次暴光所建的一维极点作图，对于相同的7个ω位置，测定的极点能在极图中画制出大的区域，因此，当用二维衍射系统作织构测量时，能使用小得多的扫描步长，以达到高分辨率的极图，数据收集时间也能戏剧性减少。
图二用1D和2DX射线衍射作极图测量之间的比较可见，因此，二维X射线衍（2D-XRD）能以高的分辨率和高的速度测定多晶的结构,获得较少的数据收集时间和较好的测量结果。
4.2.3 使用2D-XRD的应力测量应力测量依据的是应力张量和衍射圆锥畸变之间基本关系。
2D-XRD 的有利之处是衍射环上所有数据点都用于计算应力，这样用较少数据收集时间获得较好的测量结果。
理论上已经证明，普通一维的基本方程是二维基本方程的一个特殊情况。
在实验方法上，普通(一维)探测器能考虑为二维探测器的有限部分。
在使用的数据上，一维衍射的缺点仅用衍射环的一小部分于应力计算，而二维衍射使用衍射环的全部于应力计算。
