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USB2.0-HOST/SYSTEM测试方案参考资料：1．USB Spec2.02．Intel ICH4 USB Electrical Test Method( APAC Lab Workshop Q1/2002 ) 3．USBIF Full and Low Speed Compliance Test Procedure Rev.1.0rc2 4．USBIF High-speed Electrical Test Toolkit Setup Instruction Rev.1.01 5．USBIF Host High-speed Electrical Test Procedure Rev.1.0 6．Tektronix USB2.0 Compliance Test Fixture7．Tektronix USB Measurements Package说明：1.本测试方案适用于USB2.0 HOST/SYSTEM级测试，包括主板；2.进行USB测试，所使用的连接电缆线规格：信号线：28 AWG；电源线：22或24AWG；本测试全部采用此种规格电缆线测试。
目录：一、信号质量测试1.高速信号质量测试2.全速信号质量测试3.低速信号质量测试二、Drop、Droop测试1.Drop测试2.Droop测试三、TDR测试一、信号质量测试1．高速信号质量测试1.1目的验证高速传输时，信号的质量；1.2标准通过高速传输眼图测试；1.3器材示波器：Tek 7404（加载软件：Tek USB2.0 Test Package）；差分探头：Tek P7330×1个；夹具：Tek USB2.0 Test Fixture（SQIDD板）；测试软件：USBHSET.EXE (从USBIF网站下载、升级) ；USB电缆线：1米×1根；1.4步骤(1)连接如下，差分探头与夹具暂不连接：(2)设置夹具上开关S6在Init位置，通电；(3)被测设备(Host Under Test)预安装要求：•安装Win2000操作系统；•安装芯片组、ICH4驱动程序；•安装测试软件USBHSET.EXE；(4)设置示波器：•按示波器面板按键“default setup”，将示波器置于出厂设置；•进入菜单File---Run Application，运行程序USB2.0 Test Package；•选择“High Speed”，选中“Eye Diagram”；在“Device ID”中输入被测设备的编号（系统自动生成的报告将以此命名）；点击“Config”，选择tier1，Down Stream，Near End，设置差分探头所在的通道；•点击图标，示波器进行自动设置，进入等待触发状态；(5)设置被测设备：•进入Win2000，运行USBHSET.EXE，选中“HostController/System”，点击“Test”，进入测试界面；•点击“Enumerate Bus”，程序将列举所连接的高速USB设备；•选中设备，由下拉菜单设置Port Control为“TEST PACKET”；•将差分探头的正、负极与夹具上D+、D-相对应连接；•点击“EXECUTE”，程序将控制USB EHCI控制器，产生高速时测试包；(6)示波器采样到准确信号后，点击“OK”，完成信号测试，检查测试结果；(7)进入TDSUSB2 USB2.0 Test Package菜单Utilities，选择“Plug－FestSpecific”格式（此为通用的USB报告形式）和所希望的路径，点击“Generate”，系统将自动生成报告；(8)依次将被测设备的不同USB端口通过1米电缆线与夹具相连，测量每一个端口的信号；1.5说明1．：测试项通过测试；：测试项不能通过测试；：测试结果在限定的条件（waiver limits）内通过。
USB2.0-HOST/SYSTEM测试方案参考资料：1．USB Spec2.02．Intel ICH4 USB Electrical Test Method( APAC Lab Workshop Q1/2002 )3．USBIF Full and Low Speed Compliance Test Procedure Rev.1.0rc24．USBIF High-speed Electrical Test Toolkit Setup Instruction Rev.1.015．USBIF Host High-speed Electrical Test Procedure Rev.1.06．Tektronix USB2.0 Compliance Test Fixture7．Tektronix USB Measurements Package说明：1.本测试方案适用于USB2.0 HOST/SYSTEM级测试，包括主板；2.进行USB测试，所使用的连接电缆线规格：信号线：28 AWG；电源线：22或24AWG；本测试全部采用此种规格电缆线测试。
目录：一、信号质量测试1.高速信号质量测试2.全速信号质量测试3.低速信号质量测试二、D rop、Droop测试1.Drop测试2.Droop测试三、T DR测试一、信号质量测试1．高速信号质量测试1.1目的验证高速传输时，信号的质量；1.2标准通过高速传输眼图测试；1.3器材示波器：Tek 7404（加载软件：Tek USB2.0 Test Package）；差分探头：Tek P7330×1个；夹具：Tek USB2.0 Test Fixture（SQIDD板）；测试软件：USBHSET.EXE (从USBIF网站下载、升级) ；USB电缆线：1米×1根；1.4步骤(1)连接如下，差分探头与夹具暂不连接：(2)设置夹具上开关S6在Init位置，通电；(3)被测设备(Host Under Test)预安装要求：安装Win2000操作系统；安装芯片组、ICH4驱动程序；安装测试软件USBHSET.EXE；(4)设置示波器：按示波器面板按键“default setup”，将示波器置于出厂设置；进入菜单File---Run Application，运行程序USB2.0 Test Package；选择“High Speed”，选中“Eye Diagram”；在“Device ID”中输入被测设备的编号（系统自动生成的报告将以此命名）；点击“Config”，选择tier1，Down Stream，Near End，设置差分探头所在的通道；点击图标，示波器进行自动设置，进入等待触发状态；(5)设置被测设备：进入Win2000，运行USBHSET.EXE，选中“HostController/System”，点击“Test”，进入测试界面；点击“Enumerate Bus”，程序将列举所连接的高速USB 设备；选中设备，由下拉菜单设置Port Control为“TEST PACKET”；将差分探头的正、负极与夹具上D+、D-相对应连接；点击“EXECUTE”，程序将控制USB EHCI控制器，产生高速时测试包；(6)示波器采样到准确信号后，点击“OK”，完成信号测试，检查测试结果；(7)进入TDSUSB2 USB2.0 Test Package菜单Utilities，选择“Plug－Fest Specific”格式（此为通用的USB报告形式）和所希望的路径，点击“Generate”，系统将自动生成报告；(8)依次将被测设备的不同USB端口通过1米电缆线与夹具相连，测量每一个端口的信号；1.5说明1．：测试项通过测试；：测试项不能通过测试；：测试结果在限定的条件（waiver limits）内通过。
USB2.0的供电标准如下：
1.供电电压范围为4.4V到5.25V。
2.更大供电电流为500mA。
USB设备可以分为自供电和总线供电两种设备类型。
其中，自供电USB设备不需要使用USB主机或集线器的电源，自身有电源供应；总线供电指USB设备的电源来自USB电缆中VBUS线。
如果是总线供电设备，USB规范按照设备工作时汲取的电流大小将USB设备分为低功耗设备和高功耗设备。
在USB2.0规范中规定，低功耗设备任何情况下不得汲取超过100mA的电流；高功耗设备在正确配置之前不得汲取超过100mA的电流，如果已经配置，任何情况下不得汲取超过500mA的电流。
如果设备进入挂起状态，在任何情况下低功耗设备不得使用超过500µA的电流，高功耗设备不得使用超过2.5mA的电流。
每个USB2.0设备需要在自己的配置描述符中声明其对VBUS上电流的要求，由USB主机来进行统一管理。
USB2.0-HOST/SYSTEM测试方案参考资料：1．USB Spec2.02．Intel ICH4 USB Electrical Test Method( APAC Lab Workshop Q1/2002 ) 3．USBIF Full and Low Speed Compliance Test Procedure Rev.1.0rc2 4．USBIF High-speed Electrical Test Toolkit Setup Instruction Rev.1.01 5．USBIF Host High-speed Electrical Test Procedure Rev.1.0 6．Tektronix USB2.0 Compliance Test Fixture7．Tektronix USB Measurements Package说明：1.本测试方案适用于USB2.0 HOST/SYSTEM级测试，包括主板；2.进行USB测试，所使用的连接电缆线规格：信号线：28 AWG；电源线：22或24AWG；本测试全部采用此种规格电缆线测试。
目录：一、信号质量测试1.高速信号质量测试2.全速信号质量测试3.低速信号质量测试二、Drop、Droop测试1.Drop测试2.Droop测试三、TDR测试一、信号质量测试1．高速信号质量测试1.1目的验证高速传输时，信号的质量；1.2标准通过高速传输眼图测试；1.3器材示波器：Tek 7404（加载软件：Tek USB2.0 Test Package）；差分探头：Tek P7330×1个；夹具：Tek USB2.0 Test Fixture（SQIDD板）；测试软件：USBHSET.EXE (从USBIF网站下载、升级) ；USB电缆线：1米×1根；1.4步骤(1)连接如下，差分探头与夹具暂不连接：(2)设置夹具上开关S6在Init位置，通电；(3)被测设备(Host Under Test)预安装要求：∙安装Win2000操作系统；∙安装芯片组、ICH4驱动程序；∙安装测试软件USBHSET.EXE；(4)设置示波器：∙按示波器面板按键“default setup”，将示波器置于出厂设置；∙进入菜单File---Run Application，运行程序USB2.0 Test Package；∙选择“High Speed”，选中“Eye Diagram”；在“Device ID”中输入被测设备的编号（系统自动生成的报告将以此命名）；点击“Config”，选择tier1，Down Stream，Near End，设置差分探头所在的通道；∙点击图标，示波器进行自动设置，进入等待触发状态；(5)设置被测设备：∙进入Win2000，运行USBHSET.EXE，选中“HostController/System”，点击“Test”，进入测试界面；∙点击“Enumerate Bus”，程序将列举所连接的高速USB设备；∙选中设备，由下拉菜单设置Port Control为“TEST PACKET”；∙将差分探头的正、负极与夹具上D+、D-相对应连接；∙点击“EXECUTE”，程序将控制USB EHCI控制器，产生高速时测试包；(6)示波器采样到准确信号后，点击“OK”，完成信号测试，检查测试结果；(7)进入TDSUSB2 USB2.0 Test Package菜单Utilities，选择“Plug－FestSpecific”格式（此为通用的USB报告形式）和所希望的路径，点击“Generate”，系统将自动生成报告；(8)依次将被测设备的不同USB端口通过1米电缆线与夹具相连，测量每一个端口的信号；1.5说明1．：测试项通过测试；：测试项不能通过测试；：测试结果在限定的条件（waiver limits）内通过。
USB2.0-HOST/SYSTEM测试方案参考资料：1．USB Spec2.02．Intel ICH4 USB Electrical Test Method( APAC Lab Workshop Q1/2002 ) 3．USBIF Full and Low Speed Compliance Test Procedure Rev.1.0rc2 4．USBIF High-speed Electrical Test Toolkit Setup Instruction Rev.1.01 5．USBIF Host High-speed Electrical Test Procedure Rev.1.0 6．Tektronix USB2.0 Compliance Test Fixture7．Tektronix USB Measurements Package说明：1.本测试方案适用于USB2.0 HOST/SYSTEM级测试，包括主板；2.进行USB测试，所使用的连接电缆线规格：信号线：28 AWG；电源线：22或24AWG；本测试全部采用此种规格电缆线测试。
目录：一、信号质量测试1.高速信号质量测试2.全速信号质量测试3.低速信号质量测试二、Drop、Droop测试1.Drop测试2.Droop测试三、TDR测试一、信号质量测试1．高速信号质量测试1.1目的验证高速传输时，信号的质量；1.2标准通过高速传输眼图测试；1.3器材示波器：Tek 7404（加载软件：Tek USB2.0 Test Package）；差分探头：Tek P7330×1个；夹具：Tek USB2.0 Test Fixture（SQIDD板）；测试软件：USBHSET.EXE (从USBIF网站下载、升级) ；USB电缆线：1米×1根；1.4步骤(1)连接如下，差分探头与夹具暂不连接：(2)设置夹具上开关S6在Init位置，通电；(3)被测设备(Host Under Test)预安装要求：•安装Win2000操作系统；•安装芯片组、ICH4驱动程序；•安装测试软件USBHSET.EXE；(4)设置示波器：•按示波器面板按键“default setup”，将示波器置于出厂设置；•进入菜单File---Run Application，运行程序USB2.0 Test Package；•选择“High Speed”，选中“Eye Diagram”；在“Device ID”中输入被测设备的编号（系统自动生成的报告将以此命名）；点击“Config”，选择tier1，Down Stream，Near End，设置差分探头所在的通道；•点击图标，示波器进行自动设置，进入等待触发状态；(5)设置被测设备：•进入Win2000，运行USBHSET.EXE，选中“HostController/System”，点击“Test”，进入测试界面；•点击“Enumerate Bus”，程序将列举所连接的高速USB设备；•选中设备，由下拉菜单设置Port Control为“TEST PACKET”；•将差分探头的正、负极与夹具上D+、D-相对应连接；•点击“EXECUTE”，程序将控制USB EHCI控制器，产生高速时测试包；(6)示波器采样到准确信号后，点击“OK”，完成信号测试，检查测试结果；(7)进入TDSUSB2 USB2.0 Test Package菜单Utilities，选择“Plug－FestSpecific”格式（此为通用的USB报告形式）和所希望的路径，点击“Generate”，系统将自动生成报告；(8)依次将被测设备的不同USB端口通过1米电缆线与夹具相连，测量每一个端口的信号；1.5说明1．：测试项通过测试；：测试项不能通过测试；：测试结果在限定的条件（waiver limits）内通过。
USB2.0线束标准主要包括以下几个方面：
1. 电缆结构和材料：USB
2.0电缆应使用高质量的绝缘材料，以确保良好的电气性能和耐用性。
电缆结构应包括电源线、信号线、地线等，且信号线应使用双绞线，以减少电磁干扰。
2. 电缆长度和插头插座：USB2.0电缆的长度应符合标准规定，以确保设备之间的连接稳定可靠。
电缆的插头和插座也应符合标准规定，通常USB2.0接口可以分为三种插头形式的组合：标准可插拔线缆（一端为A型插座，另一端为B型插座）、高速/全速不可分离电缆（一端为A型插座，另一端由厂商根据实际高速/全速USB产品指定）以及低速电缆不可分离电缆（一端为A型插座，另一端由厂商根据实际低速USB产品指定）。
3. 电源线和信号线设计：USB2.0接口提供5V电压和最大500mA电流。
电源线可以布置在靠近电源层的信号层上，但不应与USB差分线布置在同一层上，线宽应在30mil以上，以减少对差分信号线的干扰。
USB差分信号线和其他信号线在走线的时候不应与保护地层出现交叠。
4. 电源转换和保护：当USB从控制芯片工作在总线供电模式时，需要3.3V～5V的电源转换芯片，电源转换芯片的输出端应尽量靠近USB芯片的电压输入端，并且电源转换芯片的输入和输出端都应加大容量电容并联小容量电容进行滤波。
此外，保护地和信号地之间的间距不应小于25mil，以减少两个地之间的边缘耦合作用。
USB2.0-H OST/S YSTE测试方案参考资料：1． USB Spec2.02． Intel ICH4 USB Electrical Test Method( APAC Lab Workshop Q1/2002 ) 3． USBIF Full and Low Speed Compliance Test Procedure Rev.1.0rc24． USBIF High-speed Electrical Test Toolkit Setup Instruction Rev.1.01 5． USBIF Host High-speed Electrical Test Procedure Rev.1.06． Tektronix USB2.0 Compliance Test Fixture7． Tektronix USB Measurements Package说明：1. 本测试方案适用于 USB2.0 HOST/SYSTEM^测试，包括主板；2. 进行USB测试，所使用的连接电缆线规格：信号线：28 AWG 电源线：22或24AWG 本测试全部采用此种规格电缆线测试。
目录：一、信号质量测试1. 高速信号质量测试2. 全速信号质量测试3. 低速信号质量测试二、Drop 、Droop 测试1. Drop 测试2. Droop 测试三、TDR测试、信号质量测试1. 高速信号质量测试1.1目的验证高速传输时，信号的质量；1.2标准通过高速传输眼图测试；1.3器材示波器：Tek 7404 (加载软件：Tek USB2.0 Test Package ); 差分探头：Tek P7330x 1个；夹具：Tek USB2.0 Test Fixture (SQIDD板);测试软件：USBHSET.EXE 从 USBIF网站下载、升级);USB电缆线：1米X 1根；1.4步骤(1)连接如下，差分探头与夹具暂不连接：⑵设置夹具上开关S6在In it位置，通电；⑶被测设备(Host Under Test) 预安装要求：*安装Win2000操作系统；*安装芯片组、ICH4驱动程序；*安装测试软件 USBHSET.EXE(4) 设置示波器：*按示波器面板按键"default setup ”，将示波器置于出厂设置；*进入菜单 File---Run Application ，运行程序 USB2.0 Test Package;*选择"High Speed ”，选中"Eye Diagram ”；在"Device ID ” 中输入被测设备的编号(系统自动生成的报告将以此命名)；点击“ Config ”, 选择tier1 , Down Stream , Near End，设置差分探头所在的通道；*点击图标負，示波器进行自动设置，进入等待触发状态；(5) 设置被测设备：/PASS・« 进入 Win2000,运行 USBHSET.EXE 选中“ HostController/System ”, 点击“ Test ”，进入测试界面；•点击“ Enumerate Bus ”，程序将列举所连接的高速 USB 设备；- 选中设备，由下拉菜单设置 Port Control 为“ TEST PACKE T; •将差分探头的正、负极与夹具上 D+、D-相对应连接；«点击“ EXECUT T 程序将控制 USBEHCI 控制器，产生高速时测试包；(6) 示波器采样到准确信号后，点击“OK',完成信号测试，检查测试结果；(7) 进入 TDSUSB2 USB2.0 Test Package 菜单 Utilities ，选择“ Plug — FestSpecific ”格式(此为通用的USB 报告形式)和所希望的路径，点击“ Gen erate ”,系统将自动生成报告；(8) 依次将被测设备的不同 USB 端口通过1米电缆线与夹具相连，测量每一个端口的信号;1.5说明 :测试项通过测试； :测试项不能通过测试；测试结果在限定的条件(waiver limits )内通过。
USB 2.0 规范USB体系简介USB是一种支持热插拔的高速串行传输总线，它使用差分信号来传输数据，最高速度可达480Mb/S。
USB支持“总线供电”和“自供电”两种供电模式。
在总线供电模式下，设备最多可以获得500mA的电流。
USB2.0 被设计成为向下兼容的模式，当有全速（USB 1.1）或者低速（USB 1.0）设备连接到高速（USB 2.0）主机时，主机可以通过分离传输来支持它们。
一条USB总线上，可达到的最高传输速度等级由该总线上最慢的“设备”决定，该设备包括主机、HUB以及USB功能设备。
USB体系包括“主机”、“设备”以及“物理连接”三个部分。
其中主机是一个提供USB 接口及接口管理能力的硬件、软件及固件的复合体，可以是PC，也可以是OTG设备。
一个USB系统中仅有一个USB主机；设备包括USB功能设备和USB HUB，最多支持127个设备；物理连接即指的是USB的传输线。
在USB 2.0系统中，要求使用屏蔽的双绞线。
一个USB HOST最多可以同时支持128个地址，地址0作为默认地址，只在设备枚举期间临时使用，而不能被分配给任何一个设备，因此一个USB HOST最多可以同时支持127个地址，如果一个设备只占用一个地址，那么可最多支持127个USB设备。
在实际的USB体系中，如果要连接127个USB 设备，必须要使用USB HUB，而USB HUB也是需要占用地址的，所以实际可支持的USB功能设备的数量将小于127。
USB体系采用分层的星型拓扑来连接所有USB设备，如下图所示：以HOST-ROOT HUB为起点，最多支持7层（Tier），也就是说任何一个USB系统中最多可以允许5个USB HUB级联。
一个复合设备（Compound Device）将同时占据两层或更多的层。
ROOT HUB是一个特殊的USB HUB，它集成在主机控制器里，不占用地址。
ROOT HUB不但实现了普通USB HUB的功能，还包括其他一些功能，具体在增强型主机控制器的规范中有详细的介绍。
PRODUCT SPECIFICATION SPEC.NO. SPEC-USB 2.0Approved Date 02-26-2001 Name PRODUCT SPECIFICATION Amended Date 05-29-2003TYPEPLUG&RECEPTACLE Page 1 Sum To 8 PagesA&BTitle USB2.0１．SCOPEThis specification covers performance, methods and quality requirements forUniversal Serial Bus (USB) plug and receptacle connectors. These connectorsare cable mounted plug and printed circuit board mounted receptacle connectors.2. REQUIREMENTS2.1 Design and ConstructionProduct shall be of the design , construction and physical dimensions specifiedThe in applicable product drawing.2.2 Materials and PlatingThey are specified on applicable product drawing.2.3 RatingsA.Voltage: 30 VAC (rms)B.Current: 1.5A per contact, not to exceed 30℃ temperature riseC.Operating temperature: -20℃ to +85℃D.Storage temperature: -25℃ to +85℃E.Nominal Temperature Rating: +20℃2.4 Test Requirements and Procedures SummaryD Amended 05-29-2003Check Director Tab C Amended 10-17-2001A Approved 02-26-2001陈永飞Description DateItem ChangePRODUCT SPECIFICATIONSPEC.NO. SPEC-USB 2.0Approved Date 02-26-2001 NamePRODUCT SPECIFICATIONAmended Date05-29-2003Title USB2.0 A&B TYPE PLUG&RECEPTACLE Page 2 Sum To 8 PagesNote:Shall meet visual requirements ,show no physical damage ,and shall meet requiremFigure 1 (conn.)Test DescriptionRequirement ProcedureLow level contact resistance for Lower and Middle stack 30mΩ maximum initial EIA 364-23 Subject mated contacts assembled in housing to 20 mV maximum open circuit at 100 mA maximum. See figure ALow level contact resistance for Upper stack 50mΩ maximum initial EIA 364-23 Subject mated contacts assembled in housing to 20 mV maximum open circuit at 100 mA maximum. See figure AInsulation resistance 1000 MΩ minimum EIA 364 – 21 Test voltage 500±50V/DC between adjacent contacts of mated and unmated connector assemblies.Dielectric withstanding Voltage No flashover&sparkover&excess leakage&breakdownEIA 364 – 20 Test voltage 500V/AC between adjacent contacts of mated and unmated connector assemblies.Vibration , random No discontinuities of 1u s orLonger duration.See Note.EIA 364 – 28A-83 Condition V Test Letter A. Subject mated connectors to 5.35 G's rms. 15 minutes in each of three mutually perpendicular planes ,See Figure B.Physical shock No discontinuities of 1u s or Longer duration.See Note. EIA 364 – 27 Condition H. Subject mated connectors to 30 Gs half-sine shock' pulses of 11 ms duration. three shocks in each direction applied along three mutually perpendicular planes ,18 total shocks ,See Figure C first test setup.Durability Contact Resistance:10 mΩ maximum change from initial value. EIA 364 – 09. 1500cycles insertion/extraction at a maximum rate of 200cycles per hour, then see note. Solderability USB contact solder tails shall pass95% coverage after one hour steam aging as specified in category 2.EIA364--52Cable pull-out Applied a load of 40 Newtons for one minute.EIA364-38 Test condition APRODUCT SPECIFICATION SPEC.NO. SPEC-USB 2.0Approved Date 02-26-2001 Name PRODUCT SPECIFICATION Amended Date 05-29-2003 Title USB2.0A&BTYPEPLUG&RECEPTACLE Page 3 Sum To 8 Pages Test Description Requirement ProcedureMating force 35 Newtons maximumEIA 364 – 13 Measure forcenecessary to mate connector Assembliesat maximum rate of 12.5 mm/min.Unmating force 10 Newtons minimumEIA 364 – 13 Measure forcenecessary to unmate connectorassemblies at maximum rate of 12.5mm/min.Thermal shock Contact Resistance:10 mΩ maximumchange from initial value.EIA 364 –32 Test Condition I.10Cycles –55℃ and +85℃,The USBconnectors under test must be mated.Critical Dimension 8 total measurement within tolerance.EIA 364-18Humidity Life Contact Resistance:10 mΩ maximumchange from initial value. The USB connectors under test must betested in accordance with EIA 364 – 31Condition A. method Ш. 168 Hours minimum (seven complete cycles).Temperature life Contact Resistance:10 mΩ maximumchange from initial value. See NoteEIA 364 – 17A-87 Condition 2 MethodA. Subject mated connectors totemperature Life at 85℃ for 250 hoursMixed Flowing Gas See NoteEIA 364-65-92 Class II, Exposures(1)U nmated for 1 day(2)M ated for 10 dayFlammability Require its thermoplastic resin vendorto supply a detailed C of C with eachresin shipment. The C of C shallclearly show the resin’s UL listingnumber, lot number, date code, etc.UL 94 v-0Note:Shall meet visual requirements ,show no physical damage ,and shall meet requirement.Figure 1 (conn.)PRODUCT SPECIFICATION SPEC.NO. SPEC-USB 2.0Approved Date 02-26-2001 Name PRODUCT SPECIFICATION Amended Date 05-29-2003 Title USB2.0A&BTYPEPLUG&RECEPTACLE Page 4 Sum To 8 Pages Test Description Requirement ProcedureContact capacitance 2 pF maximum unmated percontact.EIA 364 –30The object of this test is to detail a standardmethod to determine the capacitance betweenconductive elements of a USB connector.Contact current rating 1.5A at 250vAC minimumwhen measured at an ambienttemperature of 25℃, withpower applied to the contacts,the temperature change shallnot exceed +30 at any point inthe USB connector under test.EIA 364 – 70—method BThe object of this test procedure is to detail astandard method to assess the currentcarrying capacity of mated USB connectorcontacts.Differential impedance 90±15%Ω(76.5~~103.5Ω)Connect the Time Domain Reflectometer(TDR). TDR is setup the differential mode.Common mode impedance 30±30%Ω(21~~39Ω)Connect the Time Domain Reflectometer(TDR). TDR is setup the differential mode.Propagation Delay 26ns(maximum for full speed cable)Connect the Time Domain Reflectometer(TDR). TDR is setup the differential mode.Propagation delay skew 100ps/cable(maximum for full speed cable)Connect the Time Domain Reflectometer (TDR). TDR is setup the differential mode.Signal pair attenuation (Maximum) 0.064 MHz 0.08 dB/Cable1. Connect the Network Analyzer output port(port1) to the input connector on theattenuation test fixture(note).2. Connect the series “A” plug of the cable obe tested to the test fixture, leaving theother end open-circuited.3.Calibrate the network analyzer andfixture using the appropriate calibrationstandards over the desired frequencyrange.0.256 MHz 0.11 dB/Cable0.512 MHz 0.13 dB/Cable0.772 MHz 0.15 dB/Cable1.000 MHz 0.20 dB/Cable4.000 MHz 0.39 dB/Cable8.000 MHz 0.57 dB/Cable12.00 MHz 0.67 dB/Cable24.00 MHz 0.95 dB/Cable48.00 MHz 1.35 dB/Cable96.00 MHz 1.90 dB/Cable200.00 MHz 3.2 dB/Cable400.00 MHz 5.8 dB/CableNote: Shall meet visual requirements ,show no physical damage ,and shall meet requirementFigure 1 (conn.)PRODUCT SPECIFICATION SPEC.NO. SPEC-USB 2.0Approved Date 02-26-2001 Name PRODUCT SPECIFICATION Amended Date 05-29-2003 Title USB2.0A&BTYPEPLUG&RECEPTACLE Page 5 Sum To 8 Pages 2.5 Product qualification test sequence:Test ExaminationTest Group (a)1 2 3 4 5 6 8Test Sequence (b)Examination 1,10 1,6 1,6 1,9 1,3 1,6 1,3 Low level contactresistance3,7 2,5 2,5Capacitance 2Critical Dimension 2 Insulation resistance 3,7DWV 4,8Vibration 5Physical shock 6Durabillity 4 3 3Mating and unmatingforce2,8Thermal shock 5Humidity 6Temperature life 4Cable pull-out 9Mixed Flowing Gas 4Solderability 2Impedance 2Attenuation 3 Propagation delay 4Skew 5Number of samplesPlug 8pcs 8pcs 8pcs 8pcs 5pcs 5pcs 8pcs socket 8pcs 8pcs 8pcs 8pcs 5pcs 5pcs8pcs3. Sample Selection:Samples shall be prepared in accordance with applicable manufacturers instructions and shall be selected at random form current productions.PRODUCT SPECIFICATIONSPEC.NO. SPEC-USB 2.0Approved Date 02-26-2001 Name PRODUCTSPECIFICATION Amended Date05-29-2003TitleUSB2.0 A&B TYPE PLUG&RECEPTACLEPage 8 Sum To 8 Pages1.0 USB connector termination data:provide the standardized contact terminating assignments by number and electricalvalue for series “A” and series “B” connectors.1.1 USB connector termination assignment:Contact numberSignal nameTypical wiring Assignment1 Vbus Red2 D- White3 D+ Green4 GND Black shell Shield Drain Wire。
