实用CPK计算图表
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編號:注意:公式說明Instrum ent 代碼Code DC 順序圖紙位置單位順序CMM (Order)Drawing No.(unit)(Order)CpCplCpuCpkOMM 1E4mm 1#VALUE!#VALUE!黑體字Within Spec HG 2mm 2MIC 1mm 3黑體字Within Spec HG 2mm 4MIC 5mm 5綠體字Too LowPG6mm 6Note:LC7mm7 1. 單邊規格沒8899101012345678910111213141516171819202122232425262728293031323334351234567891011121314151617181920212223242526272829303132333435123456789備註:Prep 0.20Parts Name(名稱)張建軍 2017/4/12陳小鳳 2014/4/12Customer(客戶)Sample stage(階段)Sample size (樣本大小)EVT DVT PVT2.600Cpk Result:大於1.33:藍字,小於1.33:紅字Std Dev MeanUSL 上規格28-Mar-170.15Approved by Sample no.(樣品編號)Time(時間)14:45Part No (料號)Nominal Dim.LSL 下規格標稱值chen xiaofeng2.4002.750Version(版本)Tol. Min. (-)負公差Tol. Max. (+)正公差CMM Cpk ReportCMM AMin Measured by(量測員)Instrument Date(日期)066EWD-1066EWD-1名稱Name2. 單邊規格利用Cpl 或Cpu求得Cpk值。
例如:有LSL,用Cpl求得Cpk值;有USL,用Cpu求得Cpk值CMM CMM CMMCMM CMM Others (其他):Max 量測設備30PCSReviewed by 王健 2017/4/12量測結果(Order)順序Component order (零件次序)Cpk.calculate Cpu to use you USL,have only you if Cpk; calculate to Cpl use you LSL, have only you if :example for Cpk, calculate Cpu to or Cpl use ion specificat side Single 2.n.calculatio Cp no has ion specificat side Single 1.:),(3)(3)(6LSL)-(USL p Note Cpu Cpl Min Cpk X USL Cpu LSL X Cpl C =-=-==σσσFM3MB0152A。
工序能力指数Cpk计算表1234567891011121314151617181964109154199计算表1#2#Cp 1.09918634CpCpU0.719800509CpUCpL-0.719800509CpLCpk0.719800509CPKT 6.6Tε 1.139ε标准正态累积分0.999512354标准正态累积分CP的P值0.0975292%CP的P值标准正态累积分0.984590485标准正态累积分CPU的P值 1.5409515%CPU的P值标准正态累积分0.015409515标准正态累积分CPL的P值98.4590485%CPL的P值CPK的P值 1.5414103%CPK的P值判断上公差是否FALSE判断上公差是否为空判断下公差是否FALSE判断下公差是否为空结果0.719800509结果P显示结果 1.5414103%P显示结果Cpk Cpk>1.67过程能力非常充分,为>1.67过程能>1.33过程能力充分,当不是>1.33过程能>1过程能力尚可,必须用控>1过程能力>0.67过程能力不充分,分析>0.67过程能过程能力不足,一般应停止继过程能力不足1.67≥ 1.67≥1.33≥ 1.33≥1≥1≥0.67>0.67>1≥Cpk>0.67过程能力不充分0.67>Cp过程频次3#4#0.666666667Cp0Cp0.0721687840.666666667CpU-0.96225045CpU 2.838638824-0.666666667CpL0.962250449CpL-2.694301260.666666667CPK-0.96225045CPK-2.694301260.2T0T0.050ε 1.666666667ε0.9583333330.977249868标准正态累积分0.5标准正态累积分0.5857034624.5500264%CP的P值###########CP的P值82.8593075%0.977249868标准正态累积分0.001946209标准正态累积分12.2750132%CPU的P值99.8053791%CPU的P值0.0000000%0.022750132标准正态累积分0.998053791标准正态累积分3.16213E-1697.7249868%CPL的P值0.1946209%CPL的P值###########4.5500264%CPK的P值###########CPK的P值###########FALSE判断上公差是否为空TRUE判断上公差是否为空FALSEFALSE判断下公差是否为空FALSE判断下公差是否为空TRUE0.666666667结果0.962250449结果 2.8386388244.5500264%P显示结果0.1946209%P显示结果0.0000000%CpL CpU>1.67过程能力非常充分,为提高产品质量,对过程能力非常充分,为>1.67过程能力非常充分,>1.33过程能力充分,当不是关键或主要项目时>1.33过程能力充分,当不过程能力充分,当不是>1过程能力尚可,必须用>1过程能力尚可,必须用控制图或其它方法对程能力尚可,必须用控>0.67过程能力不充分,分析分散程度大的原因>0.67过程能力不充分,分过程能力不充分,分析过程能力不足,一般应停止继续加工,找出原因力不足,一般应停止继过程能力不足,一般应停止1.67≥ 1.67≥1.33≥ 1.33≥1≥1≥0.67>0.67>CpU>1.67过程能力非常充分,为提高产品质量Cp过程能力不足,一般1≥CpL>0.67过程能力不充高产品质量,对关键或主要项目可缩小公差范围;或为提高效率、降低成本而放宽波动幅度,降低设备精度等级;或键或主要项目时,放宽流动幅度;降低对原材料的要求;简化质量检验,采用抽样检验或减少检验频次或其它方法对过程进行控制和监督,以便及时发现异常波动;对产品按正常规定进行检验散程度大的原因,制订措施加以改进,在不影响产品质量的情况下,放宽公差范围,加强质量检验,进行全数检验或加工,找出原因,改进工艺,提高Cp值,否则全检,挑出不合格品提高产品质量,对关键或主要项目可缩小公差范围;或为提高效率、降低成本而放宽波动幅度,降低设备精度等级降低设备精度等级;或将精度要求特别高的零件调至该工序进行加工等检验,进行全数检验或增加检验频次度,降低设备精度等级;或将精度要求特别高的零件调至该工序进行加工等。
性能系数û=x性能参数 X-MR图X-R图CPK计算方法:δ=R/d 2X-R图δ= s /c 4 X-s 图Cpk=( 1 - k ) * Cp 或 MIN(CPU,CPL)长期过程的能力指数,通常定义CPU或CPL中最小值制程准确度,反映的是位置关系(集中趋势)(均值-标准偏差控制图)能力指数下限能力指数上限制程精密度,反映的是散布关系(离散趋(均值-极差控制图)(中位数-极差控制(单值-移动极差控制图)Pp: 1.09Pp: 1.09PpU: 1.51PpU: 1.51性能参数û=xPpL:0.67PpL:0.67PpK:0.67PpK:0.67性能指数UCL LCL 平均值XCL UCL LCL 极差RCL 7.4823 5.5897 6.6 6.5360 3.46860.00001 1.64007.4823 5.5897 6.4 6.5360 3.46860.00004 1.64007.4823 5.58977 6.5360 3.46860.00002 1.64007.4823 5.5897 6.4 6.5360 3.46860.00003 1.64007.4823 5.5897 6.6 6.5360 3.46860.00001 1.64007.4823 5.58977 6.5360 3.46860.00002 1.64007.4823 5.5897 6.4 6.5360 3.46860.00001 1.64007.4823 5.5897 6.6 6.5360 3.46860.00002 1.64007.4823 5.5897 6.2 6.5360 3.46860.00002 1.64007.4823 5.5897 5.8 6.5360 3.46860.00003 1.64007.4823 5.5897 6.8 6.5360 3.46860.00001 1.64007.4823 5.5897 6.2 6.5360 3.46860.00001 1.64007.4823 5.5897 6.4 6.5360 3.46860.00001 1.64007.4823 5.5897 6.2 6.5360 3.46860.00001 1.64007.4823 5.5897 6.2 6.5360 3.46860.00001 1.64007.4823 5.5897 6.6 6.5360 3.46860.00001 1.64007.4823 5.5897 6.6 6.5360 3.46860.00001 1.64007.4823 5.58976 6.5360 3.46860.00000 1.64007.4823 5.58977 6.5360 3.46860.00002 1.64007.4823 5.5897 6.6 6.5360 3.46860.00001 1.64007.4823 5.5897 6.8 6.5360 3.46860.00002 1.64007.4823 5.5897 6.6 6.5360 3.46860.00001 1.64007.4823 5.58977 6.5360 3.46860.00003 1.64007.4823 5.5897 6.8 6.5360 3.46860.00002 1.64007.48235.58976.66.53603.46860.000021.6400Ppk=( 1 - k ) * Pp 或 MIN(PPU,PPL),不稳定过程,短期过程表现,通常定义PPU或PPL中最小值详细:第一步:选定“控制上限、控制下限、选定L7:O32,“插入”--“折线图”--“数据点折线图”--“完成”。
CPK计算表格 - Excel简介CPK(Capability Process Index)是一种用于评估过程稳定性和能力的统计指标,广泛应用于制造业中。
CPK可以帮助我们判断过程是否在规格范围内,以及过程能否产生可接受的结果。
在Excel中,我们可以使用公式和函数来计算CPK值,以便对过程进行分析和改进。
本文档将介绍如何使用Excel创建CPK计算表格,并说明相应的计算过程。
准备数据首先,我们需要准备包含测量数据的Excel表格。
数据应该包括样本的测量值以及相应的规格上限和下限。
一个简单的示例数据如下:样本编号测量值规格上限规格下限1 4.0 6.0 2.02 5.0 6.0 2.03 4.5 6.0 2.04 5.5 6.0 2.05 4.2 6.0 2.0…………请注意,对于每个样本,我们需要输入测量值、规格上限和规格下限。
CPK计算公式CPK的计算基于样本的平均值和标准偏差。
具体而言,CPK可以通过以下公式来计算:CPK = min((平均值 - 规格下限) / (3 * 标准偏差), (规格上限 - 平均值) / (3 * 标准偏差))创建CPK计算表格在Excel中,我们可以使用一系列的函数和公式来计算CPK值。
下面是一个示例的CPK计算表格的创建过程。
1.首先,在Excel中创建一个新的工作表,并将测量数据放在适当的单元格中。
2.在表格中,创建以下列标题:样本编号、测量值、规格上限、规格下限、平均值、标准偏差和CPK。
3.在平均值一列中,使用以下公式计算每个样本的平均值:=AVERAGE(B2:D2)(假设B2:D2对应第一行的测量值)。
4.在标准偏差一列中,使用以下公式计算每个样本的标准偏差:=STDEV(B2:D2)。
5.在CPK一列中,使用以下公式计算每个样本的CPK值:=MIN(($E2-$G2)/(3*$F2), ($H2-$E2)/(3*$F2))(其中,E、G和H分别对应平均值、规格下限和规格上限所在的列)。
CPK表格标准模板1. 简介CPK(Capability Process Index)是一种用于度量过程稳定性和能力的统计方法,它结合了过程的中心位置、离散程度和工程要求,通过计算CP和CPK指数来评估过程的能力。
CPK表格是一种用于记录和分析CPK指数的工具,它可以帮助我们了解过程是否满足质量控制要求,并提供改进过程稳定性和能力的指导。
本文将提供一个CPK表格的标准模板,帮助读者在实际应用中更方便地记录和分析CPK指数,以支持质量管理和过程改进。
2. CPK表格标准模板序号特性/参数规格要求测量数据1测量数据2 …测量数据n平均值标准差Cp Cpk1 特性1 上限值测量值测量值…测量值平均值标准差Cp值Cpk值2 特性2 下限值测量值测量值…测量值平均值标准差Cp值Cpk值3 特性3 ……………平均值标准差Cp值Cpk值……………………………3. 表格说明3.1 表头表格的第一行为表头,包含以下列名:•序号:记录每个特性/参数的序号,用于标识各个特性/参数。
•特性/参数:描述每个特性/参数的名称或标识符。
•规格要求:记录每个特性/参数的规格要求,可以是上限值、下限值,或者其他详细说明。
•测量数据1、测量数据2、…、测量数据n:用于记录测量数据的列,根据实际情况添加或删除。
3.2 数据行从第二行开始为数据行,每行对应一个特性/参数的测量数据。
其中包含以下列:•特性/参数:与表头对应的特性/参数名称。
•规格要求:与表头对应的特性/参数规格要求。
•测量数据1、测量数据2、…、测量数据n:记录特性/参数的具体测量数据。
•平均值:计算每个特性/参数的测量数据的平均值。
•标准差:计算每个特性/参数的测量数据的标准差。
•Cp:根据公式计算每个特性/参数的Cp指数,用于评估过程的能力。
具体计算公式为:Cp = (规格上限值 - 规格下限值) / (6 * 标准差)。
•Cpk:根据公式计算每个特性/参数的Cpk指数,用于评估过程的能力。