XRD实验物相定性分析上课讲义
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XRD实验物相定性分析解析X射线衍射(XRD)是一种非常常用的实验技术,用于物相的定性和定量分析。
通过观察材料中X射线的衍射图案,我们可以确定材料的晶体结构、晶体定向和晶格参数等信息。
本文将详细介绍XRD实验物相定性分析的原理和解析过程。
nλ = 2dsinθ其中,n是衍射阶次,λ是入射X射线的波长,d是晶格间距,θ是入射角。
通过测量衍射角θ和计算晶格间距d,我们可以确定材料的晶体结构。
在进行XRD实验时,我们首先需要准备待测物样品,通常是一块固体材料。
然后,我们将样品放置在X射线束下,以使X射线通过样品,发生衍射。
衍射的X射线通过样品后,会被X射线探测器测量,产生衍射谱图。
在解读衍射谱图时,我们需要关注以下两个关键参数:衍射角(2θ)和衍射强度(I)。
衍射角是X射线的入射角度,是由仪器测量得到的,而衍射强度则表示材料中的晶体结构和取向。
通常,衍射强度与晶体的晶格性质、晶体结构以及晶体定向有关。
通过比对样品的衍射谱图与数据库中的标准衍射谱图,我们可以确定材料的物相。
数据库中包含了各种材料的XRD衍射谱图,包括金属、陶瓷、无机晶体等。
对于未知物相的样品,我们可以通过计算其衍射角和衍射强度与数据库中的标准进行比对,从而找到与其相匹配的物相。
此外,我们还可以通过拟合样品的衍射谱图,计算出材料的晶格参数。
常用的拟合方法有布拉格法、勒貌法和整形法等。
这些方法利用了衍射角和衍射强度的信息,通过数学模型计算出最适合样品的晶格参数。
需要注意的是,XRD实验在物相定性分析上具有一定的局限性。
例如,对于非晶态或粘土等无定形材料,XRD无法提供明确的物相信息。
此外,XRD实验还无法确定材料中不同晶体相的相对含量,只能进行物相定性分析。
综上所述,XRD实验是一种常用的物相定性分析技术。
通过观察样品的衍射谱图,并与数据库中的标准进行比对,我们可以确定材料的物相。
此外,通过拟合样品的衍射谱图,我们还可以计算材料的晶格参数。
第七章:固体X射线衍射7.1基础知识7.1.1 晶体结构和Bravais晶体晶体中的原子是周期性排列的。
为了描述这种高度的有序结构,总可以选取适当的结构单元,整个晶体结构可以看成是由结构单元在空间中的周期性重复排列而成,相互间既无空隙有无交叠。
这种结构单元称为基元。
基元可以是一个原子,分子或原子团。
为了描述晶体结构的几何规律,可以把基元用一个几何点表示。
这些点的无限集合形成空间点阵,可以看成是空间格子,称为晶格。
显然,这些点在空间是周期性排列的,并且与晶体的周期性相同。
这种由基元代表点在空间周期性排列所形成的晶格成为Bravais晶格。
这样,晶体的结构就是将基元放在Bravais晶格中每一个格点上构成的。
图1-1为NaCl晶体的晶胞,如果将一个Na离子和一个Cl离子看成一个基元,其Bravais晶格变成如图1-2所示的结构,称为面心立方结构。
图1-1 NaCl晶体的晶胞结构图1-2 NaCl的Bravais晶格的晶胞结构,Na, ClBravais晶格的格点都是周期性排列的,所有格点可以用数学公式来统一表示。
如图1-3所示,以任一格点为原点,沿三个不共面的方向连接最近邻的格点作为基矢a1、a2、a3,矢量的长度为该方向的格点周期。
则任一格点的位置矢量R都可以表示为:图1-3,Bravais晶格R=n1a1+n2a2+n3a3(1-1) 其中n1, n2, n3为整数根据点群的旋转对称操作,所有Bravais晶格可分为7大类,称作7大晶系:三斜晶系,单斜晶系,正交晶系,四方晶系,三方晶系,六方晶系和立方晶系。
立方的对称性最高。
反映每一晶系对称性特点的晶胞形状也不相同,每个晶系按其晶胞在面心或体心是否有格点又可分为几种不同的形式。
这样,7个晶系共有14种类型的Bravais晶胞,如图1-4所示。
图1-4,十四种Bravais晶格(1)简单三斜,(2)简单单斜,(3)底心单斜,(4)简单正交,(5)底心正交,(6)体心正交,(7)面心正交,(8)简单四方,(9)体心四方,(10)六方,(11)三方,(12)简单立方,(13)体心立方,(14)面心立方。
XRD定性物相分析培训X射线衍射(X-ray diffraction, XRD)是一种常用的材料分析技术,用于对物质的结构和组成进行定性和定量分析。
XRD分析的原理基于X射线与晶体中的原子相互作用而产生衍射现象,通过测量X射线的衍射图案,可以确定物质的晶体结构和晶格参数,从而推断物相的性质和组成。
1.样品制备:首先要将待测样品制备成粉末状,以便于X射线的穿透和散射。
通常可以通过机械研磨、球磨等方法将样品研磨成细粉,或者使用溶液法将样品溶解后沉淀成粉末。
2.X射线测量:将样品粉末放置在X射线仪器的样品台上,通过调整仪器参数和选择适当的入射角度,照射样品并记录散射的X射线。
一般来说,常用的入射角度为2θ,可以在一定角度范围内连续测量,形成X射线衍射图谱。
3.数据分析:获得X射线衍射图谱后,需要对数据进行分析和解释。
首先要识别出图谱中的各个衍射峰,衍射峰的位置和强度与样品中的晶体结构和晶格参数相关。
可以通过与已知物相的对比,进行峰位和峰形的匹配,以确定样品中存在的物相。
4.物相确定:在与已知物相的对比过程中,如果样品的衍射峰与已知物相的衍射峰一致,并且符合晶体学的规律,可以定性确定样品中存在的物相。
此外,还可以使用X射线衍射数据库,比如国际中心衍射数据,进行更准确的物相确定。
5.数据验证:为了验证物相的结果,可以通过其他技术进行进一步的分析,比如扫描电子显微镜(SEM)、能谱分析(EDS)等。
这些技术可以提供样品的显微结构和元素成分信息,与XRD分析结果进行比较和验证。
需要注意的是,XRD定性物相分析是基于样品的晶体结构和晶格参数进行推断,对非晶态材料和无定型材料的分析有一定的局限性。
此外,XRD分析还需要考虑样品制备的质量和仪器的校准等因素,以确保分析结果的准确性和可靠性。
XRD实验物相定性分析一、实验目的1、学习了解X射线衍射仪的结构和工作原理。
2、掌握X射线衍射物相定性分析的原理和实验方法。
3、掌握X射线分析软件Jade5.0和图形分析软件OriginPro的基本操作。
二、实验仪器D8 Advance型X射线衍射仪组成:主要由X射线发生器、测角仪、辐射探测器、记录单元及附件(高温、低温、织构测定、应力测量、试样旋转等)等部分组成。
核心部件:测角仪(1)测角仪C-计数管;S1、S2-梭拉缝;D-样品;E-支架;K、L-狭缝光栏;F-接受光栏;G-测角仪圆;H-样品台;O-测角仪中心轴;S-X射线源;M-刻度盘;图1. 测角仪结构原理图图2. 测角仪的光路图X射线源S是由X 射线管靶面上的线状焦斑产生的线状光源。
线状光源首先通过梭拉缝S1,在高度方向上的发散受到限制。
随后通过狭缝光栅K,使入射X射线在宽度方向上的发散也受限制。
经过S1和K后,X射线将以一定的高度和宽度照射在样品表面,样品中满足布拉格衍射条件的某组晶面将发生衍射。
衍射线通过狭缝光栏L、S2和接受光栏F后,以线性进入计数管C,记录X射线的光子数,获得晶面衍射的相对强度,计数管与样品同时转动,且计数管的转动角速度为样品的两倍,这样可以保证入射线与衍射线始终保持2θ夹角,从而使计数管收集到的衍射线是那些与样品表面平行的晶面所产生的。
θ角从低到高,计数管从低到高逐一记录各衍射线的光子数,转化为电信号,记录下X射线的相对强度,从而形成 2—I的关系曲线,即X射线衍射花样。
相对(2)X射线发生器图3. X射线产生装置X 射线管实际上就是一只在高压下工作的真空二极管,它有两个电极:一个是用于发射电子的灯丝,作为阴极,另一个是用于接受电子轰击的靶材,作为阳极,它们被密封在高真空的玻璃或陶瓷外壳内。
X射线管提供电部分至少包含有一个使灯丝加热的低压电源和一个给两极施加高电压的高压发生器。
当钨丝通过足够的电流使其发生电子云,且有足够的电压(千伏等级)加在阳极和阴极间、使得电子云被拉往阳极。
XRD实验物相定性分析一、实验目的1、学习了解X射线衍射仪的结构和工作原理。
2、掌握X射线衍射物相定性分析的原理和实验方法。
3、掌握X射线分析软件Jade5.0和图形分析软件OriginPro的基本操作组成:主要由X 射线发生器、测角 仪、辐射探测器、记录单元及附件(高 温、低温、织构测定、应力测量、试样 旋转等)等部分组成。
核心部件:测角仪C-计数管;S1、S2-梭拉缝;D-样品;E-支架;K 、L-狭缝光栏;F-接受光栏;G-测角仪圆;H-样品台; O-测角仪中心轴;S-X 射线源;M-刻度盘;图1.测角仪结构原理图图2.测角仪的光路图X 射线源S 是由X 射线管靶面上的线状焦斑产生的线状光源。
线状光源首、实验仪器D8 Advanee 型X 射线衍射仪(1)测角仪先通过梭拉缝S1,在高度方向上的发散受到限制。
随后通过狭缝光栅K,使入射X射线在宽度方向上的发散也受限制。
经过S1和K后,X射线将以一定的高度和宽度照射在样品表面,样品中满足布拉格衍射条件的某组晶面将发生衍射。
衍射线通过狭缝光栏L、S2和接受光栏F后,以线性进入计数管C,记录X射线的光子数,获得晶面衍射的相对强度,计数管与样品同时转动,且计数管的转动角速度为样品的两倍,这样可以保证入射线与衍射线始终保持2B夹角,从而使计数管收集到的衍射线是那些与样品表面平行的晶面所产生的。
9角从低到高,计数管从低到高逐一记录各衍射线的光子数,转化为电信号,记录下X射线的相对强度,从而形成I相对一的关系曲线,即X射线衍射花样。
(2) X射线发生器X射线管实际上就是一只在高压下工作的真空二极管,它有两个电极:一个是用于发射电子的灯丝,作为阴极,另一个是用于接受电子轰击的靶材,作为阳极,它们被密封在高真空的玻璃或陶瓷外壳内。
X射线管提供电部分至少包含有一个使灯丝加热的低压电源和一个给两极施加高电压的高压发生器。
当钨丝通过足够的电流使其发生电子云,且有足够的电压(千伏等级)加在阳极和阴极间、使得电子云被拉往阳极。
XRD实验物相定性分析一、实验目的1、学习了解X射线衍射仪的结构和工作原理。
2、掌握X射线衍射物相定性分析的原理和实验方法。
3、掌握X射线分析软件Jade5.0和图形分析软件OriginPro的基本操作组成:主要由X 射线发生器、测角 仪、辐射探测器、记录单元及附件(高 温、低温、织构测定、应力测量、试样 旋转等)等部分组成。
核心部件:测角仪C-计数管;S1、S2-梭拉缝;D-样品;E-支架;K 、L-狭缝光栏;F-接受光栏;G-测角仪圆;H-样品台; O-测角仪中心轴;S-X 射线源;M-刻度盘;图1.测角仪结构原理图图2.测角仪的光路图X 射线源S 是由X 射线管靶面上的线状焦斑产生的线状光源。
线状光源首、实验仪器D8 Advanee 型X 射线衍射仪(1)测角仪先通过梭拉缝S1,在高度方向上的发散受到限制。
随后通过狭缝光栅K,使入射X射线在宽度方向上的发散也受限制。
经过S1和K后,X射线将以一定的高度和宽度照射在样品表面,样品中满足布拉格衍射条件的某组晶面将发生衍射。
衍射线通过狭缝光栏L、S2和接受光栏F后,以线性进入计数管C,记录X射线的光子数,获得晶面衍射的相对强度,计数管与样品同时转动,且计数管的转动角速度为样品的两倍,这样可以保证入射线与衍射线始终保持2B夹角,从而使计数管收集到的衍射线是那些与样品表面平行的晶面所产生的。
9角从低到高,计数管从低到高逐一记录各衍射线的光子数,转化为电信号,记录下X射线的相对强度,从而形成I相对一的关系曲线,即X射线衍射花样。
(2) X射线发生器X射线管实际上就是一只在高压下工作的真空二极管,它有两个电极:一个是用于发射电子的灯丝,作为阴极,另一个是用于接受电子轰击的靶材,作为阳极,它们被密封在高真空的玻璃或陶瓷外壳内。
X射线管提供电部分至少包含有一个使灯丝加热的低压电源和一个给两极施加高电压的高压发生器。
当钨丝通过足够的电流使其发生电子云,且有足够的电压(千伏等级)加在阳极和阴极间、使得电子云被拉往阳极。
此时电子以高能高速的状态撞击钨靶,高速电子到达靶面,运动突然收到阻止,其动能的一小部分便转化为辐射能,以X射线的形式放出。
产生的X射线通过铍窗口射出。
改变灯丝电流的大小可以改变灯丝的温度和电子的发射量,从而改变管电流和X射线强度的大小。
改变X光管激发电位或选用不同的靶材可以改变入射X 射线的能量或在不同能量处的强度。
(3)计数器图4.正比计数管的结构及其基本电路计数器由计数管及其附属电路组成,如图3所示。
其基本原理:X衍射线- 进入金属筒内-惰性气体电离一产生的电子在电场作用下向阳极加速运动一高速运动的电子又使气体电离—连锁反应即雪崩现象—出现一个可测电流—电路转换-计数器有一个电压脉冲输出。
电压脉冲峰值与X光子的强度成正比,反映衍射线的相对强度。
三、物相分析基本原理晶体结构可以用三维点阵来表示。
每个点阵点代表晶体中的一个基本单元,如离子、原子或分子等。
空间点阵可以从各个方向予以划分,而成为许多组平行的平面点阵。
因此,晶体可以看成是由一系列具有相同晶面指数的平面按一定的距离分布而形成的。
各种晶体具有不同的基本单元、晶胞大小、对称性。
因此,每一种晶体都必然存在着一系列特定的d值,可以用于表征不同的晶体。
X射线入射晶体时,作用于束缚较紧的电子,电子发生晶格振动,向空间辐射与入射波频率相同的电磁波(散射波),该电子成了新的辐射源,所有的电子的散射波均可看成是由原子中心发出的,这样每个电子就成了发生源,它们向空间发射与入射波频率相同的散射波,由于这些散射波的频率相同,在空间将发生干涉,在某些固定方向得到增强或者减弱甚至消失,产生衍射现象,形成了波的干涉图案,即衍射花样。
图5. X-射线的布拉格衍射示意图衍射X射线满足布拉格方程:2d s i存=n1式中:用X射线的波长;B是衍射角;d是结晶面间隔;n是整数。
实验中通过已知波长的X射线来测量样品的衍射角。
根据已知的X射线波长2和测量出的衍射角9,通过布拉格方程计算出晶面间距d oX射线衍射花样反映了晶体中的晶胞大小、点阵类型、原子种类、原子数目和原子排列等规律。
每种物相均有自己特定的结构参数,因而表现出不同的衍射特征,即衍射线的数目、峰位和强度。
即使该物相存在于混合物中,也不会改变其衍射花样。
尽管物相种类繁多,却没有两种衍射花样特征完全相同的物相,这类似于人的指纹,没有两个人的指纹完全相同。
因此,将被测物质的X射线衍射谱线对应的d值及计数器测出的X射线相对强度I相对与已知物相特有的X射线衍射d值及I相对进行对比借以确定被测物质的物相组成。
物相定性分析所使用的已知物象的衍射数据(d值以及I相对值等等),均已编辑成卡片出版,即PDF 卡片。
如果d和I相对可以很好的对应,可以认为卡片所代表的物相为待测的物相。
四、五、实验步骤(1)、把氧化铝粉末在玻璃试样架槽中制成试样,并且用玻璃片将氧化铝粉末压结实,原则是少量多次,且要压出一个平面。
(2)(2)、将制好的试样水平放置在衍射仪中。
在衍射仪工作过程中,会有大量X 射线放出,对人体造成损害。
所以一定要关上衍射仪的铅玻璃门。
(4)(3)、在电脑上选择实验参数:扫描角度范围为20° 至80°扫描速度为0.1s/step, 电压为40kV,电流为40mA(4)、设备开始工作,并在软件界面上实时显示得到的衍射峰。
(5)、用OriginPro得到图像,用Jade软件分析和处理数据。
五、数据处理物相检索也就是“物相定性分析”。
它的基本原理是基于以下三条原则:(1) 任何一种物相都有其特征的衍射谱;(2)任何两种物相的衍射谱不可能完全相同;(3)多相样品的衍射峰是各物相的机械叠加。
因此,通过实验测量或理论计算,建立一个“已知物相的卡片库”,将所测样品的图谱与PDF卡片库中的“标准卡片” 一一对照,就能检索出样品中的全部物相。
物相检索的步骤包括:(1)给出检索条件:包括检索子库(有机还是无机、矿物还是金属等等)、样品中可能存在的元素等;(2)计算机按照给定的检索条件进行检索,将最可能存在的前100种物相列出一个表;(3)从列表中检定出一定存在的物相。
一般来说,判断一个相是否存在有三个条件:(1)标准卡片中的峰位与测量峰的峰位是否匹配,换句话说,一般情况下标准卡片中出现的峰的位置,样品谱中必须有相应的峰与之对应,即使三条强线对应得非常好,但有另一条较强线位置明显没有出现衍射峰,也不能确定存在该相,但是,当样品存在明显的择优取向时除外,此时需要另外考虑择优取向问题;(2)标准卡片的峰强比与样品峰的峰强比要大致相同,但一般情况下,对于金属块状样品,由于择优取向存在,导致峰强比不一致,因此,峰强比仅可作参考;(3)检索出来的物相包含的元素在样品中必须存在,如果检索出一个FeO相,但样品中根本不可能存在Fe元素,则即使其它条件完全吻合,也不能确定样品中存在该相,此时可考虑样品中存在与FeO晶体结构大体相同的某相。
当然,如果不能确定样品会不会受Fe污染,就得去做元素分析。
具体步骤如下:(1)、打开Jade5.0软件,首先建立PDF卡片索引打开测量图谱,如下图所示:上图显示了化学式、FOM 值、PDF-#、RIR 等当鼠标左击到一个矿物时,在显示栏会显示蓝色的线,选择与 X 衍射图谱拟合最好的矿物,然后 在矿物名称前面勾选。
(2)、扣背底,在元素周期表中选择可能的化学元素-EHCIOM -r□匚 DILndLfTIAizail~l CnLndun ElliftkrTWfiiJTi 0虻已□亡曲5血1力『耶“□ AkrniiiLffi Oxide□ ALnwum O-*dde□ Aluwum Oxid? □ CcandUnI iAkrwium 04dft II Abmiflum | 3 'AKjnww0^t-Al£O^An.^BCiaCl2O3 17 +匚 17 C C31003& 朋•歸 sawsEra昌□ am 0 020 0 020AG03 Afl2O3 AC03 AI2D3 ASD3 ACO3 AGO3 AGO3A12O3c?ccccccc93-20a :fli 92-10 82-14fi7 82-1399 81-2267 31-2266 311657 90-073& d-1碍0 0 0 0 0 II 0777777777-10Q00 ao«20 oaoo ■aoeo■OIHO -0 040 0D1D0 ODGO ODQO■ =VlHQ511.O1.00血皿,ofl.(H血R»3c 11671 R-3c|167| R-3e :|1&7| R-3c 11671 R-3c|167| R-3c |167| R ③ |167| R 缶 |167|i 7E1 12^30 13. Ml gmz.rel霭-S盘芻4.761 4758 4758 4755 4.7W 47M 4 760 4?60 4 75912995 12392 129E 12991 12902 12902 12995 12996 1299030014J]75560 75559 75479 73725 73724 730716 闘591 6364SPDF CSD顼 Surch r .-latch DisplHyl ] Sublrfes-1<3 ^Earch: CarrosMn. Deleted Cards-. JC'SD MvnerBls, JC'SC ^fftterras, tncrg^niics. mdi-min. Minerfi-ls QadBo]*1釧・l£l 简酬钿各I 菸圈丽om 灯・1曰1矗匠匣匡1¥匠刨也血回1眾III4 753 4 760 H-3c|167| R 亠阿 - 凹耳20.036 85194 7372573724斓別63G49LJ CcxLndum □ Coandum 0jiJijjTiFium Ci«i 血 □ Caindum.. ssn I JAhnwmOMde □ Akjninum 0 嗣 e OAkjirartum Onde LI&Mundym□ Jdumiium Onde nAkitnrpufflO»ade QAkjfnWh QWM 才 □AJurnrrum Onde■-: 4DH^ Soiled cnFoLK^I-M ..匚 henii: dFoimdlaI FDM I j| □ FDF -fl I H I I E ltd/1 I 1% 2TMI RIH I Space GixupZ □SlachiciTeljy吟[Read FliEE-Escenl D-tf-sP 0 S MK I ■- Mvfcch Dis-p J , [ | Subfile to Search 匚orresior\. [Meted Cantab [CSC Minerals,. 1CSD Pattenn^. InwgainluL.Minerals-Jj->de6|@ Currtnl Cheni^5tr>-1 Filter]^MchdeElesedti I faniTKi'n Elemenh I P D -I H E Al117 r L 2 42 2 13 6 E J D f i "D D D O O 0^^3□J 7 K 575 5 55555tLJ?匚 c c匚c c E 666- 6 66666666芻7£1旳759739專754M甥s创冋llll lr-lFM囚^■I J I 韵塑]looffloo jJ 創吕五驱叵叵11"医釧岛闽回庄闻型亘T 录创丽~ £【AE03Ani.99M0203 AJ2DH AE201 AQD3 AI2DJA03SAGD3 ACM AE20^ AG03 AED3匚 99HM3E C 6&O893 C 睡逝 C 皤迪C 82-10 匚 B2-146? t EC-lMC 81-2267 E B1-22SE C ffl-1667 c 帥ora 匚 T&-24275 1 a a 0 i o o a i o 00.000 ao^o QQ3Qa an 0.020 aim •0.020 ■0.0*0 -QO4U aooo 0.020D.0CK 1 1-\Rstn 田 I B-3t[i67|R 先口丹I R-3tn6?l B-3c(i67| R-3t[1S7| R-3t |167| B-3t(167| R-3t [IE7| Rfc[16y|R-3c(1S7| Rlc 11671c 35137JJJ140755® 755&9 J *n~ iRntFI 治 H*-1 2U31J90S | 6279S | I-992SH [2 i«w] CwnaMei ID- [POT 画'| LDE-OFF在Search\Match 窗口中,拖动可以进行全选,鼠标左键改变颜色,选中后,先全部变为红色,改变所选元素的颜色,限定元素种类:红色一排除,绿色一包括, 灰色一可能,通常做法是把可能的元素变成灰色。