1.目的：
通过使用X-R统计技术，发现本公司关键工序生产过程的潜在趋势，以达到早期预防或及时予以改善的目的。
2.范围：
2.1适用于关键过程中关键特性的稳态过程及能力分析。
2.2适用于客户特别指定的产品特性。
3.责任和权限：
3.1品质部负责初期过程能力统计。
3.2 技术部组织品质部、生产车间分析初期阶段过程能力不足的原因,制订
对策并执行。
3.3 生产车间执行量产后的数据采集。
3.4 品质负责量产后的统计分析并对失控情况制定对策。
4. 用语定义：
SPC：指统计过程控制。
Cpk：稳定过程的能力指数。它是一项有关过程的指数，计算时需同时考虑过程的趋势以及该趋势接近于规格界限的程度。
Ppk：过程性能指数，表示某特定过程总变异的指标。
PPM：质量水准，即每百万个零件不合格数。指一种根据实际的缺陷材料来反映过程能力的一种方法。
USL：规格公差上限。
LSL：规格公差下限。
5.作业内容：
5.1统计过程管理确定
5.1.1 新产品开发过程中，技术部应组织开发人员对产品关键特性进行分
析，确定生产的关键过程和关键过程控制点，并明确关键控制点SPC
控制的数据采集频率和数量等。
5.1.2品质部组织落实关键工序的SPC控制管理，SPC项目确定原则：
5.1.2.1 优先考虑生产过程的输入参数，如时间、压力等。其次才考虑
生产过程输出的产品特性，如关键工序加工后的产品尺寸。
5.1.2.2 为计量型制程特殊特性或产品特性。
5.2 统计过程控制SPC运用
5.2.1 新产品开发过程的试产阶段将使用SPC研究试产过程的稳定状态和
初始过程处于受控状态，且能维持过程能力Cpk/Ppk；
5.2.2 新产品转入量产后，将使用SPC对量产过程进行持续监控，以确定
量产过程处于受控状态，且能维持过程能力Cpk /Ppk。
5.3 试产阶段SPC运用
5.3.1 试产时，品质部根据产品关键特性控制要求，对所研究特性进行数
据采集，采集数据一般为125个（25组）。
5.3.2 品质部将所收集的过程或产品特性数据绘制成X-R控制图，并判定
其是否在稳定状态（稳态计算Cpk），由于试产过程本身可能存在人、
机、料、法、环的特殊原因，故试产过程是否稳定只是作为参考。
5.3.3 品质部对所采集数据进行初始过程性能指数Ppk计算：
Ppk=Min((USL- X)/3σ, (X-LSL)/3σ)
σ=
()
1
2
-
-∑
N
X
xi
5.3.4 当Ppk≥1.67表示试产过程能力可接受，否则不满足能力要求，需
要研究试产过程，并提高能力，否则需要将控制措施修订为100%
检验。
5.4 量产SPC运用
5.4.1 量产X-R项目确定：对试产项目的X-R进行持续应用和研究。
5.4.2 X-R控制图运用步骤如下：
1)收集数据，同5.3.1；
2)记录原始数据，建立X-R控制图；
3)计算每个子组的均值（Xbar）和组距(R)；
4)将均值（Xbar）和组距(R)填入控制图；
5)计算过程平均值(X)和组距平均值(R)
6)计算平均值和组距的管理界限：
CL R=R， UCL R= D4*R， LCL R= D3*R；
CL X=X, UCL X= X+A2*R, LCL X= X-A2*R
7)
8)典型的异常过程判定：
-- 任何超控制限的点；
-- 连续7点出现在中心线之上或之下；
-- 连续7点上升或下降；
-- 连续3点中有2点出现同一侧的B区以外；
-- 连续5点中有4点落在同一侧的C区以外；
-- 连续8点落在中心线的两侧，但无一点在C区中；
-- 连续14点中相邻点上下交替；
-- 连续15点在C区中心线上下；
-- 其他明显的非随机图形，如2/3的描点落在控制限的1/2
中间区域、描点成规则形状。
5.4.3 过程异常检讨：对存在过程异常的子组进行异常原因分析，在明
确异常原因的前提下删除超出管理界限的子组，并重新计算过程
平均值和组距平均值，直到全部点都落在控制界限。
5.4.4 受控或重组受控后，计算其过程能力指数Cpk：
Cpk=Min((USL- X)/3S, (X-LSL)/3S)
S=R/d2 d2为统计常数，见下表：
5.4.5 当Cpk≥1.33时，将受控状态下的CL R、UCL R、LCL R及CL X、UCL X、
LCL X作为后续生产控制的预防控制限。预防控制限可根据生产情
况每半年或1年进行更新。
5.4.6 量产后，生产人员自行采集数据并描述X-R图，当作业过程中的
材料、作业方法等发生变更以及设备、模具经过维修时，生产人
员应将此情况记录在作业现场的X-R控制图上。
5.4.7 当过程不受控时，生产人员应将情况反馈给检验员，由检验报品
质主管确认，确认出现异常时由品质部组织生产、技术进行分析
和改进。
5.4.8 对现场X-R控制图数据收集完成后，生产车间将控制图上交品质
部计算过程受控下的能力指数Cpk,当Cpk<1.33时，应采取措施
提高过程能力。改进方法有：
1) 调整过程加工之分布中心,减少偏移量。
2) 提高过程作业水平,减少分散程度。
5.4.9如果X-R控制图显示过程能力过高(Cpk /Ppk 3)时,公司可在取
得客户正式同意后,修改控制计划中的管制措施，如放宽检验频
率和加工精度等。
6. 相关记录
6.1 X-R控制图