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现代分析方法2015(2)-结构基础

材料现代分析方法课程教学大纲

《材料现代分析方法》复试考试大纲 课程名称:材料现代分析方法 Ⅰ、考试总体要求 掌握X射线衍射分析(XRD)、电子显微分析(SEM、TEM)、红外光谱分析(IR)及热分析(DTA、DSC和TG)等分析方法的设备构造、工作原理、表征技术和应用。要求能够正确选用现代分析技术开展材料组成、结构与性能关系的科学研究能力。 Ⅱ、考试的内容及比例 1、X射线衍射分析(30-40%) (1) 掌握X射线物理学基础、X射线衍射理论、X射线衍射方法; (2) 理解定性、定量分析原理,PDF卡片的组成; (3) 掌握物相的定性、定量分析方法; (4) 了解XRD的典型应用。 2、扫描电镜(20-30%) (1) 了解采用的分析信号,电镜结构、成像原理及用途; (2) 掌握试样制备方法,图像的解释; (3) 掌握电子探针的原理、结构、用途及性能比较,谱图分析方法。 3、透射电镜(15-25%) (1) 了解电子与物质作用信号,透射电镜结构及成像原理; (2) 掌握薄膜及复型试样制备方法; (3) 掌握选区电子衍射及衍射花样的分析。 4、热分析技术(10-15%) 掌握差热分析、差示扫描量热分析和热重分析的基本原理和应用。 5、光谱分析(5-10%) (1) 掌握光谱分析的原理、特征和应用; (2) 了解有机化合物基团的特征吸收频率; (3) 熟悉红外光谱的解析方法。 6、其它现代分析方法(0-5%)

Ⅲ、考试方式 1、考试方法:笔试,闭卷,满分100分。 2、考试时间:120分钟。 Ⅴ、参考书: 1.材料科学研究与测试方法,第二版,朱和国,东南大学出版社,2013 2.材料现代分析方法,左演声,北京工业大学出版社,2000

现代材料分析方法试题及答案

1《现代材料分析方法》期末试卷 一、单项选择题(每题 2 分,共 10 分) 1.成分和价键分析手段包括【 b 】 (a)WDS、能谱仪(EDS)和 XRD (b)WDS、EDS 和 XPS (c)TEM、WDS 和 XPS (d)XRD、FTIR 和 Raman 2.分子结构分析手段包括【 a 】 (a)拉曼光谱(Raman)、核磁共振(NMR)和傅立叶变换红外光谱(FTIR)(b) NMR、FTIR 和 WDS (c)SEM、TEM 和 STEM(扫描透射电镜)(d) XRD、FTIR 和 Raman 3.表面形貌分析的手段包括【 d 】 (a)X 射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM) (b) SEM 和透射电镜(TEM) (c) 波谱仪(WDS)和 X 射线光电子谱仪(XPS) (d) 扫描隧道显微镜(STM)和 SEM 4.透射电镜的两种主要功能:【 b 】 (a)表面形貌和晶体结构(b)内部组织和晶体结构 (c)表面形貌和成分价键(d)内部组织和成分价键 5.下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括:【 c 】 (a)–C-H、–OH 和–NH2 (b) –C-H、和–NH2, (c) –C-H、和-C=C- (d) –C-H、和 CO 二、判断题(正确的打√,错误的打×,每题 2 分,共 10 分) 1.透射电镜图像的衬度与样品成分无关。(×)2.扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。(√)3.透镜的数值孔径与折射率有关。(√)4.放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。(×)5.在样品台转动的工作模式下,X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角 速度的二倍。(√) 三、简答题(每题 5 分,共 25 分) 1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关?为什么? 和所用的信号种类和束斑尺寸有关,因为不同信号的扩展效应不同,例如二次电子产生的区域比背散射电子小。束斑尺寸越小,产生信号的区域也小,分辨率就高。 2.原子力显微镜的利用的是哪两种力,又是如何探测形貌的? 范德华力和毛细力。

2020年度全国勘察设计一级注册结构工程师专业考试必备书籍目录清单

一级注册结构工程师专业考试必备清单整理: 2020年度全国一级注册结构工程师专业考试 所使用的规范、标准、规程 1.《建筑结构可靠性设计统一标准》GB50068-2018 2.《建筑结构荷载规范》GB50009-2012 3.《建筑工程抗震设防分类标准》GB50223-2008 4.《建筑抗震设计规范》GB50011-2010〈2016年版) 5.《建筑地基基础设计规范》GB50007-2011 6.《建筑桩基技术规范》JGJ94-2008 7.《建筑边坡工程技术规范》GB50330-2013 8.《建筑地基处理技术规范》JGJ79-2012 9.《建筑地基基础工程施工质量验收标准》GB50202-2018 10.《既有建筑地基基础加固技术规范》JGJ123-2012 11.《混凝土结构设计规范》GB50010-2010(2015年版) 12.《混凝土结构工程施工质量验收规范》GB50204-2015 13.《混凝土异形柱结构技术规程》JGJ149-2017 14.《混凝土结构加国设计规范》GB50367-2013 15.《组合结构设计规范》JGJ138-2016 16.《钢结构设计标准》GB50017-2017 17.《门式刚架轻型房屋钢结构技术规范》GB51022-2015 18.《冷弯薄壁型钢结构技术规范》GB50018-2002

19.《高层民用建筑钢结构技术规程》JGJ99-2015 20.《空间网格结构技术规程》JGJ7-2010 21.《钢结构焊接规范》GB50661-2011 22.《钢结构高强度螺栓连接技术规程》JGJ82-2011 23.《钢结构工程施工质量验收规范》GB50205-2001 24.《砌体结构设计规范》GB50003-2011 25.《砌体结构工程施工质量验收规范》GB50203-2011 26.《木结构设计标准》GB50005-2017 27.《烟先设计规范》GB50051-2013 28.《高层建筑混凝土结构技术规程》JGJ3-2010 29.《建筑设计防火规范》GB50016-2014〈2018年版) 30.《公路桥涵设计通用规范》JTG D60-2015 31.《城市桥梁设计规范》CJJ11-2011(2019年版) 32.《城市桥梁抗震设计规范》CJJ166-2011 33.《公路钢筋混凝土及预应力混凝土桥涵设计规范》JTG3362-2018 34.《公路桥梁抗震设计细则》JTGVT B02-01-2008 35.《城市人行天桥与人行地道技术规范》CJJ69-95〈2003年局部修订版)

材料现代分析方法北京工业大学

材料现代分析方法北京工业大学 篇一:13103105-材料现代分析方法 《材料现代分析方法》课程教学大纲 一、课程基本信息 课程编号:13103105 课程类别:专业核心课程 适应专业:材料物理 总学时:54学时 总学分:3 课程简介: 本课程介绍材料微观形貌、结构及成分的分析与表面分析技术主要方法及基本技术,简单介绍光谱分析方法。包括晶体X射线衍射、电子显微分析、X射线光电子谱仪、原子光谱、分子光谱等分析方法及基本技术。 授课教材:《材料分析测试方法》,黄新民解挺编,国防工业出版社,20XX年。 参考书目: [1]《现代物理测试技术》,梁志德、王福编,冶金工业出版社,20XX 年。 [2]《X射线衍射分析原理与应用》,刘粤惠、刘平安编,化学工业出

版社,20XX年。 [3]《X射线衍射技术及设备》,丘利、胡玉和编,冶金工业出版社,20XX年。 [4]《材料现代分析方法》,左演声、陈文哲、梁伟编,北京工业大学出版社,20XX年。 [5]《材料分析测试技术》,周玉、武高辉编,哈尔滨工业大学出版社,2000年。 [6]《材料结构表征及应用》,吴刚编,化学工业出版社,20XX年。 [7]《材料结构分析基础》,余鲲编,科学出版社,20XX年。 二、课程教育目标 通过学习,了解X射线衍射仪及电子显微镜的结构,掌握X-射线衍射及电子显微镜的基本原理和操作方法,了解试样制备的基本要求及方法,了解材料成分的分析与表面分析技术的主要方法及基本技术,了解光谱分析方法,能够利用上述相关仪器进行材料的物相组成、显微结构、表面分析研究。学会运用以上技术的基本方法,对材料进行测试、计算和分析,得到有关微观组织结构、形貌及成分等方面的信息。 三、教学内容与要求 第一章X射线的物理基础 教学重点:X射线的产生及其与物质作用原理 教学难点:X射线的吸收和衰减、激发限 教学时数:2学时

常用的数理统计及数据处理方法

常用的数理统计及数据处理方法 水泥厂生产中的质量控制和分析都是以数据为基础的技术活动。如果没有数据的定量分析,就无法形成明确的质量概念。因此,必须通过对大量数据的整理和分析,才能发现事物的规律性和生产中存在的问题,进而作出正确的判断并提出解决的方法。 第一节数理统计的有关概念 一、个体、母体与子样 在统计分析中,构成研究对象的每一个最基本的单位称为个体。 研究对象的所有个体的集合即全部个体称为母体或总体,它可以无限大,也可以是有限的,如一道工序或一批产品、半成品、成品,可根据需要加以选择。 进行统计分析,通常是从母体中随机地选择一部分样品,称为子样(又称样本)。用它来代表母体进行观察、研究、检验、分析,取得数据后加以整理,得出结论。取样只要是随机和足够的数量,则所得结论能近似地反映母体的客观实际。抽取样本的过程被称作抽样;依据对样本的检测或观察结果去推断总体状况,就是所谓的统计推断,也叫判断。 例如,我们可将一个编号水泥看成是母体,每一包水泥看成是个体,通过随机取样(连续取样或从20个以上不同部位取样),所取出的12kg检验样品可称为子样,通过检验分析,即可判断该编号水泥(母体)的质量状况。 二、数据、计量值与计数值 1,数据 通过测试或调查母体所得的数字或符号记录,称为数据。在水泥生产中,无任对原材料、半成品、成品的检验,还是水泥的出厂销售,都要遇到很多报表和数据,特别是评定水泥质量好坏时,更要拿出检验数据来说明,所以可用与质量有关的数据来反映产品质量的特征。 根据数据本身的特征、测试对象和数据来源的不同,质量检验数据可分为计量值和计算值两类。 2,计量值 凡具有连续性或可以利用各种计量分析一起、量具测出的数据。如长度、质量、温度、化学成分、强度等,多属于计量值数据。计量值也可以是整数,也可以是小数,具有连续性。

《材料现代分析方法》练习与答案修改

一、选择题 1.用来进行晶体结构分析的X 射线学分支是( B ) A.X 射线透射学; B.X 射线衍射学; C.X 射线光谱学; 2. M 层电子回迁到K 层后,多余的能量放出的特征X 射线称( B ) A. K α; B. K β; C. K γ; D. L α。 三、填空题 1. 当X 射线管电压超过临界电压就可以产生 连续 X 射线和 特征 X 射线。 2. X 射线与物质相互作用可以产生 俄歇电子 、 透射X 射线 、 散射X 射线 、 荧光X 射线 、 光电子 、 热 、 、 。 3. X 射线的本质既是 波长极短的电磁波 也是 光子束 ,具有 波粒二象 性 性。 5. 短波长的X 射线称 ,常用于 ;长波长的X 射线称 ,常用于 。 一、选择题 1.有一倒易矢量为*+*+*=*c b a g 22,与它对应的正空间晶面是( )。 A. (210); B. (220); C. (221); D. (110);。 2.有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm ,用铁靶K α(λK α=0.194nm )照射该晶体能 产生( )衍射线。 A. 三条; B .四条; C. 五条;D. 六条。 3.一束X 射线照射到晶体上能否产生衍射取决于( )。 A .是否满足布拉格条件; B .是否衍射强度I ≠0; C .A+B ; D .晶体形状。 4.面心立方晶体(111)晶面族的多重性因素是( )。 A .4; B .8; C .6; D .12。 二、填空题 1. 倒易矢量的方向是对应正空间晶面的 ;倒易矢量的长度等于对应 。 2. 只要倒易阵点落在厄瓦尔德球面上,就表示该 满足 条件,能产生 。 3. 影响衍射强度的因素除结构因素、晶体形状外还 有 , , , 。 4. 考虑所有因素后的衍射强度公式为 ,对于粉末 多晶的相对强度为 。 5. 结构振幅用 表示,结构因素用 表示,结构因素=0时没有衍射我们称 或 。对于有序固溶体,原本消光的地方会出现 。 三、选择题 1.最常用的X 射线衍射方法是( )。 A. 劳厄法; B. 粉末多法; C. 周转晶体法; D. 德拜法。 2.德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是( )。 A. 正装法; B. 反装法; C. 偏装法; D. A+B 。 3.德拜法中对试样的要求除了无应力外,粉末粒度应为( )。 A. <325目; B. >250目; C. 在250-325目之间; D. 任意大小。 4.测角仪中,探测器的转速与试样的转速关系是( )。 A. 保持同步1﹕1 ; B. 2﹕1 ; C. 1﹕2 ; D. 1﹕0 。 5.衍射仪法中的试样形状是( )。

现代材料分析方法试题及答案

1. X射线衍射的几何条件是d、θ、λ必须满足什么公式?写出数学表达式,并说明d、θ、λ的意义。(5分)答:. X射线衍射的几何条件是d、θ、λ必须满足布拉格公式。(1分)其数学表达式:2dsinθ=λ(1分)其中d是晶体的晶面间距。(1分)θ是布拉格角,即入射线与晶面间的交角。(1分)λ是入射X 射线的波长。(1分) 4. 二次电子是怎样产生的?其主要特点有哪些?二次电子像主要反映试样的什么特征?用什么衬度解释?该衬度的形成主要取决于什么因素?(6分) 答:二次电子是单电子激发过程中被入射电子轰击出的试样原子核外电子。(1分) 二次电子的主要特征如下: (1)二次电子的能量小于50eV,主要反映试样表面10nm层内的状态,成像分辨率高。(1分) (2)二次电子发射系数δ与入射束的能量有关,在入射束能量大于一定值后,随着入射束能量的增加,二次电子的发射系数减小。(1分) (3)二次电子发射系数δ和试样表面倾角θ有关:δ(θ)=δ0/cosθ(1分) (4)二次电子在试样上方的角分布,在电子束垂直试样表面入射时,服从余弦定律。(1分) 二此电子像主要反映试样表面的形貌特征,用形貌衬度来解释,形貌衬度的形成主要取决于试样表面相对于入射电子束的倾角。(1分) 2. 布拉格角和衍射角: 布拉格角:入射线与晶面间的交角,(1.5 分) 衍射角:入射线与衍射线的交角。(1.5 分) 3. 静电透镜和磁透镜: 静电透镜:产生旋转对称等电位面的电极装置即为静电透镜,(1.5 分) 磁透镜:产生旋转对称磁场的线圈装置称为磁透镜。(1.5 分) 4. 原子核对电子的弹性散射和非弹性散射: 弹性散射:电子散射后只改变方向而不损失能量,(1.5 分) 非弹性散射:电子散射后既改变方向也损失能量。(1.5 分) 二、填空(每空1 分,共20 分) 1. X 射线衍射方法有劳厄法、转晶法、粉晶法和衍射仪法。 2.扫描仪的工作方式有连续扫描和步进扫描两种。 3. 在X 射线衍射物相分析中,粉末衍射卡组是由粉末衍射标准联合 委员会编制,称为JCPDS 卡片,又称为PDF 卡片。 4. 电磁透镜的像差有球差、色差、轴上像散和畸变。 5.透射电子显微镜的结构分为光学成像系统、真空系统和电气系统。 1. X射线管中,焦点形状可分为点焦点和线焦点,适合于衍射仪工作的是线焦点。 2. 在X 射线物象分析中,定性分析用的卡片是由粉末衍射标准联合委员会编制,称为JCPDS 卡片,又称为PDF(或ASTM) 卡片。 3. X射线衍射方法有劳厄法、转晶法、粉晶法和衍射仪法。 4. 电磁透镜的像差有球差、色差、轴上像散和畸变。 5. 电子探针是一种显微分析和成分分析相结合的微区分析。 二、选择题(多选、每题4 分) 1. X射线是( A D ) A. 电磁波; B. 声波; C. 超声波; D. 波长为0.01~1000?。 2. 方程2dSinθ=λ叫( A D ) A. 布拉格方程; B. 劳厄方程; C. 其中θ称为衍射角; D. θ称为布拉格角。

现代汉语语法的五种分析方法

现代汉语语法的五种分析方法

现代汉语语法的五种分析方法 很有用,请好好学习之。 北语之声论坛专业精华转贴 现代汉语语法的五种分析方法是语法学基础里 很重要的一个内容,老师上课也会讲到,我在这 里把最简略的内容写在下面,希望能对本科生的专业课学习有所帮助 详细阐释中心词分析法、层次分析、变换分析法、语义特征分析法和语义指向分析的具体内涵:一. 中心词分析法: 分析要点: 1.分析的对象是单句; 2.认为句子又六大成分组成——主语、谓语(或述语)、宾语、补足语、形容词附加语(即定语)和副词性附加语(即状语和补语)。 这六种成分分为三个级别:主语、谓语(或述语)是主要成分,宾语、补足语是连 带成分,形容词附加语和副词性附加语是附加成分; 3.作为句子成分的只能是词; 4.分析时,先找出全句的中心词作为主语和谓

语,让其他成分分别依附于它们; 5.分析步骤是,先分清句子的主要成分,再决定有无连带成分,最后指出附加成分。 标记: 一般用║来分隔主语部分和谓语部分,用══标注主语,用——标注谓语,用~~~~~~标注宾语,用()标注定语,用[ ]标注状语,用< >标注补语。 作用: 因其清晰明了得显示了句子的主干,可以一下子把握住一个句子的脉络,适合于中小学语文教学,对于推动汉语教学语法的发展作出了很大贡献。 还可以分化一些歧义句式。比如:我们五个人一组。 (1)我们║五个人一组。(2)我们五个人║一组。 总结:中心词分析法可以分化一些由于某些词或词组在句子中可以做不同的句子成分而造成的歧义关系。 局限性: 1.在一个层面上分析句子,

层次性不强; 2.对于一些否定句和带有修饰成分的句子,往往难以划分; 如:我们不走。≠我们走。 封建思想必须清除。≠思想清除。 3. 一些由于句子的层次关系 不同而造成的歧义句子无法分析; 如:照片放大了一点儿。咬死了猎人的狗。 二. 层次分析: 含义: 在分析一个句子或句法结构时,将句法构造的层次性考虑进来,并按其构造层次逐层进行分析,在分析时,指出每一层面的直接组成成分,这种分析就叫层次分析。 朱德熙先生认为,层次分析不能简单地将其看作是一种分析方法,而是应当看做一种分析原则,是必须遵守的。(可以说说为什么) 层次分析实际包含两部分内容:一是切分,一是定性。切分,是解决一个结构的直接组成成分到底是哪些;而定性,是解决切分所得的直接组成成分之间在句法上是什么关系。

材料现代分析方法试题9(参考答案)

材料现代分析方法试题9(参考答案) 一、基本概念题(共10题,每题5分) 1.为什么特征X射线的产生存在一个临界激发电压?X射线管的工作电压与其靶材的临界激发电压有什么关系?为什么? 答:要使内层电子受激发,必须给予施加大于或等于其结合能的能量,才能使其脱离 轨道,从而产生特征X射线,而要施加的最低能量,就存在一个临界激发电压。X射线 管的工作电压一般是其靶材的临界激发电压的3-5倍,这时特征X射线对连续X射线比 例最大,背底较低。 2.布拉格方程2dsinθ=λ中的d、θ、λ分别表示什么?布拉格方程式有何用途?答:d HKL表示HKL晶面的面网间距,θ角表示掠过角或布拉格角,即入射X射线或衍射线与面网间的夹角,λ表示入射X射线的波长。该公式有二个方面用途: (1)已知晶体的d值。通过测量θ,求特征X射线的λ,并通过λ判断产生特征X射线的元素。这主要应用于X射线荧光光谱仪和电子探针中。(2)已知入射X射线的波 长,通过测量θ,求晶面间距。并通过晶面间距,测定晶体结构或进行物相分析。3.多重性因子的物理意义是什么?某立方晶系晶体,其{100}的多重性因子是多少?如该晶体转变为四方晶系,这个晶面族的多重性因子会发生什么变化? 答:多重性因子的物理意义是等同晶面个数对衍射强度的影响因数叫作多重性因子。某立方晶系晶体,其{100}的多重性因子是6?如该晶体转变为四方晶系多重性因子是4;这个晶面族的多重性因子会随对称性不同而改变。 4.什么是丝织构,它的极图有何特点? 答:丝织构是一种晶粒取向轴对称分布的织构,存在于拉、轧或挤压成形的丝、棒材 及各种表面镀层中。其特点是多晶体中各种晶粒的某晶向[uvw]与丝轴或镀层表面法线 平行。 丝织构的极图呈轴对称分布 5.电磁透镜的像差是怎样产生的? 如何来消除和减少像差? 答:电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。 球差即球面像差,是磁透镜中心区和边沿区对电子的折射能力不同引起的,其中离

2016《材料现代分析测试方法》复习题

《近代材料测试方法》复习题 1.材料微观结构和成分分析可以分为哪几个层次?分别可以用什么方法分析? 答:化学成分分析、晶体结构分析和显微结构分析 化学成分分析——常规方法(平均成分):湿化学法、光谱分析法 ——先进方法(种类、浓度、价态、分布):X射线荧光光谱、电子探针、 光电子能谱、俄歇电子能谱 晶体结构分析:X射线衍射、电子衍射 显微结构分析:光学显微镜、透射电子显微镜、扫面电子显微镜、扫面隧道显微镜、原子力显微镜、场离子显微镜 2.X射线与物质相互作用有哪些现象和规律?利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作,有哪些实际应用? 答:除贯穿部分的光束外,射线能量损失在与物质作用过程之中,基本上可以归为两大类:一部分可能变成次级或更高次的X射线,即所谓荧光X射线,同时,激发出光电子或俄歇电子。另一部分消耗在X射线的散射之中,包括相干散射和非相干散射。此外,它还能变成热量逸出。 (1)现象/现象:散射X射线(想干、非相干)、荧光X射线、透射X射线、俄歇效 应、光电子、热能 (2)①光电效应:当入射X射线光子能量等于某一阈值,可击出原子内层电子,产生光电效应。 应用:光电效应产生光电子,是X射线光电子能谱分析的技术基础。光电效应 使原子产生空位后的退激发过程产生俄歇电子或X射线荧光辐射是 X射线激发俄歇能谱分析和X射线荧光分析方法的技术基础。 ②二次特征辐射(X射线荧光辐射):当高能X射线光子击出被照射物质原子的 内层电子后,较外层电子填其空位而产生了次生特征X射线(称二次特征辐射)。 应用:X射线被物质散射时,产生两种现象:相干散射和非相干散射。相干散射 是X射线衍射分析方法的基础。 3.电子与物质相互作用有哪些现象和规律?利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作,有哪些实际应用? 答:当电子束入射到固体样品时,入射电子和样品物质将发生强烈的相互作用,发生弹性散 射和非弹性散射。伴随着散射过程,相互作用的区域中将产生多种与样品性质有关的物理信 息。 (1)现象/规律:二次电子、背散射电子、吸收电子、透射电子、俄歇电子、特征X射 线 (2)获得不同的显微图像或有关试样化学成分和电子结构的谱学信息

现代材料分析方法试题含有答案

《现代材料分析方法》期末试卷 1 一、单项选择题(每题 2 分,共 10 分) 1.成分和价键分析手段包括【 b 】 (a)WDS、能谱仪(EDS)和 XRD (b)WDS、EDS 和 XPS (c)TEM、WDS 和 XPS (d)XRD、FTIR 和 Raman 2.分子结构分析手段包括【 a 】 (a)拉曼光谱(Raman)、核磁共振(NMR)和傅立叶变换红外光谱(FTIR)(b) NMR、FTIR 和 WDS (c)SEM、TEM 和 STEM(扫描透射电镜)(d) XRD、FTIR 和 Raman 3.表面形貌分析的手段包括【 d 】 (a)X 射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM) (b) SEM 和透射电镜(TEM) (c) 波谱仪(WDS)和 X 射线光电子谱仪(XPS) (d) 扫描隧道显微镜(STM)和 SEM 4.透射电镜的两种主要功能:【 b 】 (a)表面形貌和晶体结构(b)内部组织和晶体结构 (c)表面形貌和成分价键(d)内部组织和成分价键 5.下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括:【 c 】 (a)–C-H、–OH 和–NH2 (b) –C-H、和–NH2, (c) –C-H、和-C=C- (d) –C-H、和 CO 二、判断题(正确的打√,错误的打×,每题 2 分,共 10 分) 1.透射电镜图像的衬度与样品成分无关。(×) 2.扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。(√)3.透镜的数值孔径与折射率有关。(√)4.放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。(×)5.在样品台转动的工作模式下,X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角 速度的二倍。(√) 三、简答题(每题 5 分,共 25 分) 1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关?为什么? 和所用的信号种类和束斑尺寸有关,因为不同信号的扩展效应不同,例如二次电子产生的区域比背散射电子小。束斑尺寸越小,产生信号的区域也小,分辨率就高。 2.原子力显微镜的利用的是哪两种力,又是如何探测形貌的? 范德华力和毛细力。 以上两种力可以作用在探针上,致使悬臂偏转,当针尖在样品上方扫描时,探测器可实时地检测悬臂的状态,并将其对应的表面形貌像显示纪录下来。 3.在核磁共振谱图中出现多重峰的原因是什么? 多重峰的出现是由于分子中相邻氢核自旋互相偶合造成的。在外磁场中,氢核有两种取向,与外磁场同向的起增强外场的作用,与外磁场反向的起减弱外场的作用。根据自选偶合的组合不同,核磁共振谱图中出现多重峰的数目也有不同,满足“n+1”规律 4.什么是化学位移,在哪些分析手段中利用了化学位移?

2017全国一级注册结构工程师专业考试

2017年度全国一级注册结构工程师专业考试 所使用的规范、标准、规程 1.《建筑结构可靠度设计统一标准》GB 50068-2001 2.《建筑结构荷载规范》GB 50009-2012 3.《建筑工程抗震设防分类标准》GB 50223-2008 4.《建筑抗震设计规范》GB 50011-2010(2016年版)5.《建筑地基基础设计规范》GB 50007-2011 6.《建筑桩基技术规范》JGJ 94-2008 7.《建筑边坡工程技术规范》GB 50330-2013 8.《建筑地基处理技术规范》JGJ 79-2012 9.《建筑地基基础工程施工质量验收规范》GB 50202-2002 10.《既有建筑地基基础加固技术规范》JGJ 123-2012 11.《混凝土结构设计规范》GB 50010-2010(2015年版)12.《混凝土结构工程施工质量验收规范》GB 50204-2015 13.《混凝土异形柱结构技术规程》JGJ 149-2006 14.《组合结构设计规范》JGJ 138-2016 15.《钢结构设计规范》GB 50017-2003 16.《冷弯薄壁型钢结构技术规范》GB 50018-2002 17.《高层民用建筑钢结构技术规程》JGJ 99-2015 18.《空间网格结构技术规程》JGJ 7-2010 19.《钢结构焊接规范》GB 50661-2011 20.《钢结构高强度螺栓连接技术规程》JGJ 82-2011

21.《钢结构工程施工质量验收规范》GB 50205-2001 22.《砌体结构设计规范》GB 50003-2011 23.《砌体结构工程施工质量验收规范》GB 50203-2011 24.《木结构设计规范》GB 50005-2003(2005年版) 25.《木结构工程施工质量验收规范》GB 50206-2012 26.《烟囱设计规范》GB 50051-2013 27.《高层建筑混凝土结构技术规程》JGJ 3-2010 28.《建筑设计防火规范》GB 50016-2014 29.《公路桥涵设计通用规范》JTG D60-2015 30.《城市桥梁设计规范》CJJ 11-2011 31.《城市桥梁抗震设计规范》CJJ 166-2011 32 《公路钢筋混凝土及预应力混凝土桥涵设计规范》JTG D62-2004 33.《公路桥梁抗震设计细则》JTG/T B02-01-2008 34.《城市人行天桥与人行地道技术规范》CJJ 69-95(含1998年局部修订)

材料现代分析方法试题 6

材料现代分析方法试题 一、基本概念题(共10题,每题5分) 1.什么是光电效应?光电效应在材料分析中有哪些用途? 2.当波长为λ的X射线在晶体上发生衍射时,相邻两个(hkl)晶面衍射线的 波程差是多少?相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少? 3.测角仪在采集衍射图时,如果试样表面转到与入射线成30 0角,则计数管 与入射线所成角度为多少?能产生衍射的晶面,与试样的自由表面是何种几何关 系? 4.宏观应力对X射线衍射花样的影响是什么?衍射仪法测定宏观应力的方法 有哪些? 5.薄膜样品的基本要求是什么? 具体工艺过程如何? 双喷减薄与离子减薄 各适用于制备什么样品? 6.图说明衍衬成像原理,并说明什么是明场像、暗场像和中心暗场像。 7.说明透射电子显微镜成像系统的主要构成、安装位置、特点及其作用。 8.何为晶带定理和零层倒易截面? 说明同一晶带中各晶面及其倒易矢量与 晶带轴之间的关系。 9.含苯环的红外谱图中,吸收峰可能出现在哪4个波数范围? 10.陶瓷纳米/微米颗粒的红外光谱的分析样品该如何制,为什么? 二、综合及分析题(共5题,每题10分) 1.请说明多相混合物物相定性分析的原理与方法? 2.对于晶粒直径分别为100,75,50,25nm的粉末衍射图形,请计算由于晶粒细化引起的衍射线条宽化幅度B(设θ=450,λ=0.15nm)。对于晶粒直径为25nm的粉末,试计算θ=100、450、800时的B 值。 3.二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处? 4.何为波谱仪和能谱仪?说明其工作的三种基本方式及其典型应用,并比较波谱仪和能谱仪的优缺点。要分析钢中碳化物成分和基体中碳含量,应选用哪种电子探针仪? 为什么? 5.分别指出谱图中标记的各吸收峰所对应的基团? 材料现代分析方法试题(参考答案) 一、基本概念题(共10题,每题5分) 1.什么是光电效应?光电效应在材料分析中有哪些用途? 答:光电效应是指:当用X射线轰击物质时,若X射线的能量大于物质原子 对其内层电子的束缚力时,入射X射线光子的能量就会被吸收,从而导致其内层 电子被激发,产生光电子。材料分析中应用光电效应原理研制了光电子能谱仪和 荧光光谱仪,对材料物质的元素组成等进行分析。 2.什么叫干涉面?当波长为λ的X射线在晶体上发生衍射时,相邻两个(hkl) 晶面衍射线的波程差是多少?相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少? 答:晶面间距为d’/n、干涉指数为nh、nk、nl的假想晶面称为干涉面。当波 长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射,相邻两个(hkl)晶面的波程差是nλ, 相邻两个(HKL)晶面的波程差是λ。

建设部关于注册结构工程师执业资格制度暂行规定

建设部关于注册结构工程师执业资格制度暂行规定

【发布单位】建设部 【发布文号】建设字第222号 【发布日期】1997-09-01 【生效日期】1997-09-01 【失效日期】 【所属类别】国家法律法规 【文件来源】中国法院网 建设部关于注册结构工程师执业资格制度暂行规定 (1997年9月1日建设字第222号文发布) 第一章总则 第一条 为了加强对结构工程设计人员的管理,提高工程设计质量与水平,保障公众生命和财产安全,维护社会公共利益,根据执业资格制度的有关规定,制定本规定。 第二条注册结构工程师资格制度纳入专业技术人员执业资格制度,由国家确认批准。 第三条 本规定所称注册结构工程师,是指取得中华人民共和国注册结构工程师执业资格证书和注册证书,从事房屋结构、桥梁结构及塔架结构等工程设计及相关业务的专业技术人员。 注册结构工程师分为一级注册结构工程师和二级注册结构工程师。 第四条 建设部、人事部和省、自治区、直辖市人民政府建设行政主管部门、人事行政主管部门依照本规定对注册结构工程师的考试、注册和执业实施指导、监督和管理。 第五条 全国注册结构工程师管理委员会由建设部、人事部和国务院有关部门的代表及工程设计专家组成。 省、自治区、直辖市可成立相应的注册结构工程师管理委员会。

各级注册结构工程师管理委员会可依照本规定及建设部、人事部有关规定,负责或参照注册结构工程师的考试和注册等具体工作。 第二章考试与注册 第六条 注册结构工程师考试实行全国统一大纲、统一命题、统一组织的办法,原则上每年举行一次。 第七条 建设部负责组织有关专家拟定考试大纲、组织命题,编写培训教材、组织考前培训等工作;人事部负责组织有关专家审定考试大纲和试题,会同有关部门组织考试并负责考务等工作。 第八条 一级注册结构工程师资格考试由基础考试和专业考试两部分组成。经过基础考试的人员,从事结构工程设计或相关业务满规定年限,方可申请参加专业考试。 一级注册结构工程师考试具体办法由建设部、人事部另行制定。 第九条 注册结构工程师资格考试合格者,由省、自治区、直辖市人事(职改)部门颁发人事部统一印制、加盖建设部和人事部印章的中华人民共和国注册结构工程师执业资格证书。 第十条 取得注册结构工程师执业资格证书者,要从事结构工程设计业务的,须申请注册。 第十一条有下列情形之一的,不予注册: (一)不具备完全民事行为能力的。 (二)因受刑事处罚,自处罚完毕之日起至申请注册之日止不满5年的。 (三)因在结构工程设计或相关业务中犯有错误受到行政处罚或者撤职以上行政处分,自处罚、处分决定之日起申请注册之日止满2年的。 (四)受吊销注册结构工程师注册证书处罚,自处罚决定之日起至申请注册之日止不满5年的。 (五)建设部和国务院有关部门规定不予注册的其它情形的。 第十二条 全国注册结构工程师管理委员会和省、自治区、直辖市注册结构工程师管理委员会依照本规

材料现代分析方法知识点

材料现代分析方法知识点 1.什么是特征X射线? 当管压增至与阳极靶材对应的特定值U k时,在连续谱的某些特定波长位置上出现一系列陡峭的尖峰。该尖峰对应的波长λ与靶材的原子序数Z存在着严格的对应关系,尖峰可作为靶材的标志或特征,故称尖峰为特征峰或特征谱。 2.什么是电子探针的点分析、线分析、面分析? ①点分析:将电子束作用于样品上的某一点,波谱仪分析时改变分光晶体和探测器的位置,收集分析点的特征X射线,由特征X射线的波长判定分析点所含的元素;采用能谱仪工作时,几分钟内可获得分析点的全部元素所对应的特征X射线的谱线,从而确定该点所含有的元素及其相对含量。②线分析:将探针中的谱仪固定于某一位置,该位置对应于某一元素特征X射线的波长或能量,然后移动电子束,在样品表面沿着设定的直线扫描,便可获得该种元素在设定直线上的浓度分布曲线。改变谱仪位置则可获得另一种元素的浓度分布曲线。③面分析:将谱仪固定于某一元素特征X射线信号(波长或能量)位置上,通过扫描线圈使电子束在样品表面进行光栅扫描(面扫描),用检测到的特征X射线信号调制成荧光屏上的亮度,就可获得该元素在扫描面内的浓度分布图像。 3. XRD对样品有何要求? 粉末样品应干燥,粒度一般要求约10~80μm,应过200目筛子(约0.08mm),且避免颗粒不均匀。块状样品应将其处理成与窗孔大小一致,可扫描宽度宜大于5mm,小于30mm,至少保证一面平整。 4.电子探针分析原理? 电子探针是一中利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器。其结构与扫描电竞基本相同,所不同的只是电子探针检测的是特征X射线,而不是二次电子或背散射电子。 5.结构因子的计算?P68 (1)简单点阵:简单点阵的晶胞仅有一个原子,坐标为(0,0,0),即X=Y=Z=0,设原子的散射因子为f,则(公式3-69) (2)底心点阵:底心点阵的晶胞有两个原子,坐标分别为(0,0,0),(1/2,1/2,0)各原子的散射因子为f,则(公式3-70) (3)体心点阵:体心点阵的晶胞有两个原子,坐标分别为(0,0,0),(1/2,1/2,1/2)各原子的散射因子为f,则(公式3-71) (4)面心点阵:面心点阵的晶胞有4个原子,坐标分别为(0,0,0),(1/2,1/2,0),(1/2,0,1/2),(0,1/2,1/2)各原子的散射因子为f,则(公式3-72) 6.X射线衍射与电子衍射的关系(比较)?P150 (1)电子波的波长短,远远小于X射线,同等衍射条件下,它的衍射半角很小,衍射束集中在前方额,而x射线的衍射半角可接近90度。 (2)电子衍射反射球半径大 (3)电子衍射散射强度高,物质对电子的散射比对x射线散射强约1000000倍 (4) 电子衍射不仅可以进行微区结构分析,还可以进行形貌观察,而x射线衍射却无法进行形貌分析 (5)薄晶样品的倒易点阵为沿厚度方向的倒易杆,大大增加了反射球与倒易杆相截的机会,即使偏离布拉格方

常用数理统计方法的正确使用问答

常用数理统计方法的正确使用问答 作者:张利田,卜庆杰,杨桂华,刘秀兰 在科学研究中,经常会涉及到对随机变量大小、离散及分布特征描述以及对2个或多个随机变量之间关系比较的问题。而对随机变量及随机变量之间的关系进行定量描述的数学工具就是数理统计。能否正确使用各种数理统计方法关系到能否得出客观和可信的结论。 1 统计软件的选择 在进行统计分析时,尽管作者可以自行编写计算程序,但在统计软件很普及的今天,这样做是毫无必要的。因此,出于对工作效率以及对算法的可靠性、通用性和可比性的考虑,多数科技期刊都要求作者采用专门的数理统计软件进行统计分析。我们在处理稿件时经常发现的问题是,作者未使用专门的数理统计软件,而采用Excel这样的电子表格软件进行统计分析。由于电子表格软件提供的统计分析功能十分有限,很难满足实际需要,除非比较简单的分析,我们不主张作者采用这样的软件。目前,国际上已开发出的专门用于统计分析的商业软件很多,比较著名有SPSS(Statistical Package for Social Sciences)、SAS(Statistical Analysis System)、BMDP和STATISTICA等。其中,SPSS是专门为社会科学领域的研究者设计的(但是,此软件在自然科学领域也得到广泛应用);BMDP是专门为生物学和医学领域研究者编制的统计软件。目前,国际学术界有一条不成文的约定:凡是用SPSS和SAS软件进行统计分析所获得的结果,在国际学术交流中不必说明具体算法。由此可见,SPSS和SAS 软件已被各领域研究者普遍认可。我们建议《环境科学学报》的作者们在进行统计分析时尽量使用这2个专门的统计软件。目前,有关这2个软件的使用教程在书店中可很容易地买到。 2 均值的计算 在处理实验数据或采样数据时,经常会遇到对相同采样或相同实验条件下同一随机变量的多个不同取值进行统计处理的问题。此时,多数作者会不假思索地直接给出算术平均值和标准差。显然,这种做法是不严谨的。在数理统计学中,作为描述随机变量总体大小特征的统计量有算术平均值、几何平均值和中位数等。何时用算术平均值?何时用几何平均值?以及何时用中位数?这不能由研究者根据主观意愿随意确定,而要根据随机变量的分布特征确定。反映随机变量总体大小特征的统计量是数学期望,而在随机变量的分布服从正态分布时,其总体的数学期望就是其算术平均值。此时,可用样本的算术平均值描述随机变量的大小特征。如果所研究的随机变量不服从正态分布,则算术平均值不能准确反映该变量的大小特征。在这种情况下,可通过假设检验来判断随机变量是否服从对数正态分布。如果服从对数正态分布,则可用几何平均值描述该随机变量总体的大小。此时,就可以计算变量的几何平均值。如果随机变量既不服从正态分布也不服从对数正态分布,则按现有的数理统计学知识,尚无合适的统计量描述该变量的大小特征。退而求其次,此时可用中位数来描述变量的大小特征。

广东省2015年注册土木工程师:结构力学与结构设计考试题

广东省2015年注册土木工程师:结构力学与结构设计考试 题 一、单项选择题(共25题,每题2分,每题的备选项中,只有 1 个事最符合题意) 1、实行监理的建设工程,建设单位应委托具有相应资质等级的工程监理单位进行监理,也可委托具有工程监理相应资质等级并与被监理工程施工单位没有隶属关系或其他利害关系的该工程的__进行监理。 A.施工承包单位 B.设计单位 C.质量监督部门 D.质量检测部门 2、对季节性冻土与多年冻土季节融化层采取原状土样或扰动土样的间隔应为__。A.1.5m B.1.0m C.0.5m D.2.0m 3、对粉煤灰地基进行检测时,下列()项目需用水准仪进行检测。 A.压实系数 B.粉煤灰粒径 C.含水量 D.铺筑厚度 4、当地表面水平方向存在高电阻率屏蔽层时,按《铁路工程地质勘察规范》(TB 10012—2001),采用以下()种物探方法最适宜。 A.电测深法 B.交流电磁法 C.高密度电剖面法 D.电剖面法 5、A.(A) 风化形成的堆积土,c=0,ψ=35° B.(B) 饱和软黏土,cu=25kPa,ψu=0° C.(C) 自重湿陷性黄土 D.(D) 由稍低于最优含水量的黏质粉土碾压修建的填方土坡 6、国家规定的建设工程勘察是指__。 A.建设场地的工程地质、地下水调查 B.建设场地地基的岩土工程勘察 C.建设场地的踏勘、钻探及提交勘察报告 D.根据建设工程的要求,查明、分析、评价建设场地的地质地理环境特征和岩土工程条件,编制建设工程勘察文件的活动 7、基坑支护结构正常使用极限状态,表现为支护结构的变形__。 A.已经影响地下室侧墙施工及周边环境的正常使用 B.已经使周边环境破坏

怎样运用数理分析股票的几点思路

怎样运用数理分析股票的几点思路 大家在这段时间对股票的分析提出了一些看法和思路。能否再深入下去?我们提几条思路,供大家讨论时作作参考。 我们偏向于运用数理的方法来分析股票,如同四柱类的分析法。 四柱类的分析法有个优点,就是可以反复分析推敲,而六爻梅花类的分析则须一气呵成,不能再推敲,又不能重复起卦分析,因为前一卦是否正确,不能用后一卦来检验;如此检验,会使分析陷入无穷后退的死循环。 所谓运用数理分析,我们指的自然是易学中的数理,如河图、洛书之数。不过,如果要运用易学数理,我们还有几个工作要做。 第一,股票数据是如何形成的? 第二,怎样寻求易学数理与股票数据的联系?

先分析第一个问题。我们都知道,股票数据是不停地上下 振荡的图形,而造成这种上下振荡的根本原因,则在于股 票有一个内在的、潜在的范畴数存在。我们不妨举例说明:有一组无限大的自然数系列,或大家已经熟知的费波那契 级数,很显然,这种数据如果画成坐标图,它们只是一条 直线或曲线。但是,如果我们给予它们一个区间范畴,比如,我们以“300”这个数作为最大极值数,简单地说,上 述自然数或极数的最大数不准超过300,如果超过300则除 以300取其余数(大家学过易学,梅花起卦就是除8取余),这些余数自然而然就会形成上下振荡的坐标图。 大家可能会问,股票为什么会有一个范畴数在内呢?道理 很简单,因为任何具体事务都有其从生到死的过程,而一 个上市公司有其发展的极限,这就是一个范畴,体现在股 票上就是一种范畴数。世间具体的事物莫不如此。 明白这层道理,我们是不是可以径直去寻找那个潜在的范 畴数呢?不行的!那个范畴数虽然一直存在于“某个地方”,但却不能找到。原因在于,不同的股票数据,因其为同类,所以产生数据的方法(即算法公式)是相同的,而它们的 区别则来自于范畴数的不同。我们千万不要以为范畴数是 一个常规的、固定的数,它可以是一组数、一个数、一个

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