ZnO纳米棒阵列的亲疏水性能研究*
宫丽红＊＊，王殿荣，高军
【摘要】【摘要】通过水热法以Zn(CH3 COO)2、次六甲基四胺(HMT)和NH3·H2 O作为原材料，以Zn片作为锌源，通过改变原材料的用量比、反应时间、反应温度等不同生长参数获得不同形貌的ZnO纳米结构，并着重研究了其亲疏水性能.结果表明，合成的ZnO纳米棒阵列具有良好的疏水性能，可应用到自清洁的微米级或纳米级器件中来代替薄膜.
【期刊名称】哈尔滨师范大学自然科学学报
【年(卷),期】2012(028)005
【总页数】4
【关键词】【关键词】ZnO纳米棒阵列;亲疏水性能;水热法;合成
0 引言
近些年，一维纳米结构尤其是一维半导体纳米结构，由于其独特的物理化学性质而被广泛的关注.它们独特的物理化学性质是由材料的形貌、尺寸和维度大小所决定的［1－3］.合成ZnO纳米棒阵列的方法有很多，如热蒸发气相沉积、金属有机化学气相沉积(MOCVD)、脉冲激光沉积(PLD)［4］和水热合成法［5］等等.在这些方法中，水热法由于其操作简单，价格低廉，在反应过程中比较容易控制反应参数，且合成的产物重复性好，质量高而备受青睐.
固体表面的亲疏水性通过接触角仪测试固体与液体表面的接触角而得到.液体在固体材料表面上的接触角，是衡量固体材料亲疏水性能的一个重要的参数.通过接触角的测量可以获得材料表面固－液、固－气界面相互作用的许多信息［6］.目前普遍认可的接触角的定义是过三相接触点，向l－g界面做切线，l－g界面