EMI测试标准
一、简介
目前，涉及到EMI测试的相关标准，主要为：欧规（EN55022），美规（FCC）
相关名词：
非故意辐射（Unintentional）：产品产生不想要的电磁波辐射，造成干扰；如：电脑，LCD Monitor,DVD,电视，投影机等；
故意辐射（intentional）：使用无线电波进行通信；
FCC只测试EMI:
RE(辐射干扰)：测试频率范围30MHZ~1GHZ;
CE(电源干扰)：测试频率范围 150KHZ~30MHZ;
主要的EMI测试参考标准：
欧盟：EN55022(EMI参考测试标准)；EN55024(EMS参考测试标准)；
美国：FCC Part 15B(EMI参考测试标准)；
台湾：CNS 13438 (EMI参考测试标准)
Country Standard
United States FCC Part 15
Canada ICES 003
Australia AS/NZS:CISPR22 / AS 3548
Japan VCCI - V series
New Zealand Ministry of Commerce - CISPR 22
EN 55022 / EN 55024(传导&辐射测试)
IEC / CISPR 22
CISPR 11
CISPR 13
CISPR 20
Europe
EN 61000-6-3
EN 61000-6-4
EN 60601-1-2
EN 61000-3-2（电源谐波测试）
EN 61000-3-3（电源变动测试）
EN 61326-1
Taipei - Taiwan BSMI (CNS13489 / CNS 13438)
二、测试
EMI 测试定义：测试待测物EUT产生的辐射干扰强度，分为RE测试和CE测试两种。1）、RE测试：量测EUT产生的辐射干扰,其测试频率范围：30MHZ~1GHZ。
测试方法：参考相关测试标准EN55022或者其他测试标准；
测试距离及场合：10米量测，在开放式场合；
测试方式：量测EUT产生的电磁波辐射（30MHZ~1GHZ）.
2)、CE测试：量测EUT产生的传导辐射干扰，其测试频率范围：150K~30MHZ.
测试方法：参考相关测试标准EN55022或者其他测试标准；
测试方式1：量测电磁波杂讯出现在EUT的DA和AC电影端（150K~30MHZ）；
测试方式2：量测电信端口端出现的辐射干扰值（150K~30MHZ）.
说明：由于RE测试是采用开放式的测试场合，易受空中的广播FM(88MHZ~108MHZ),手机（900MHZ）杂讯的干扰；
三、测试要求
通过测试EUT，检测其辐射干扰数值
1）、FCC测试要求：
B
A CLASS
测试频率 CLASS
Frequency (MHz)Limit (dBuV)Limit (dBuV)
Q.P.Ave.Q.P.Ave.
0.15-0.5796666-5656-46
0.5-5.073605646
5.0-3073606050
Frequency (MHz)Limit (dBuV/m)Limit (dBuV/m) 30-2304030
230-10004737
說明：
1. 輻射測試距離為10m
2. Class A為產品在商業與工業區域使用
3. Class B為產品在住宅及家庭區域使用
2）、EN55022测试要求:
a).传导干扰测试标准
b)共模干扰测试标准：
c)辐射干扰测试标准：
LED照明EMI测试应用及相关测试标准 随着科学技术的发展，越来越多的数字化，高速化的电气和电子设备在社 会各个领域广泛使用，在推动社会发展的同时，伴随着电气和电子设备应用而 产生的电磁干扰也给社会带来了电磁污染问题。而电磁污染与水污染，空气污 染被称为当今社会的三大污染源。 随着电磁干扰问题的日益突出，国际无线电干扰特别委员会(CISPR)相应出 台了CISPR -16，CISPR-15，欧洲标准委员会出台了EN55015 和EN55022 等标准。这些措施和标准旨在规范点电子产品的电磁干扰限制和其它规范，以减 少电磁干扰带来的社会问题。 电磁干扰EMI(ElectromagneTIc Interference)，有传导干扰和辐射干扰两种。传导干扰是指通过导电介质把一个电网络上的信号耦合(干扰)到另一个电网络。 辐射干扰是指干扰源通过空间把其信号耦合(干扰)到另一个电网络。在高速 PCB 及系统设计中，高频信号线、集成电路的引脚、各类接插件等都可能成为 具有天线特性的辐射干扰源，能发射电磁波并影响其他系统或本系统内其他子 系统的正常工作。 众所周知，EMC 的测试目标是电子电器设备，而照明设备作为其中重要的一块，自然也有相应的约束。如美国的FCC 认证，欧盟的CE 认证等都对LED 照明设备提出了相关的测试项目。当谈论到电磁干扰时，一般来讲有两种干扰源;一种是传导干扰，主要是电子设备产生的干扰信号通过导电介质或公共电源 线互相产生干扰，LED 灯具的FCC 认证传导干扰扫瞄测试频率从0.15MHz 开 始至30MHz 结束，CE 认证中的传导干扰扫瞄测试频率从9KHz 开始至30MHz 结束。 另外一种干扰是辐射干扰，主要是指电子设备产生的干扰信号通过空间耦合
解读EMI测试的应用及相关测试标准 随着科学技术的发展，越来越多的数字化、高速化的电气和电子设备在社会各个领域广泛使用，在推动社会发展的同时，伴随着电气和电子设备应用而产生的电磁干扰也给社会带来了电磁污染问题。而电磁污染与水污染，空气污染被称为当今社会的三大污染源。随着电磁干扰问题的日益突出，国际电工技术委员会(IEC)相应出台了IEC61000-4-4，IEC61000-4-5，IEC61000-4-11，CISPR-16，CISPR-15等。这些措施和标准旨在规范点电子产品的电磁干扰限制和其它规范，以减少电磁干扰带来的社会问题。 众所周知，EMC测试的目标是电子电器设备，而照明设备作为其中重要的一块，自然也有相应的约束。如美国的FCC认证，欧盟的CE认证等都对LED照明设备提出了相关的测试项目。当谈论到电磁干扰时，一般来将有两种干扰源;一种是传导干扰(EMS)，主要是电子设备产生的干扰信号通过导电介质或公共电源线互相产生干扰，LED灯具的FCC认证传导干扰扫瞄测试频率从0.15MHz开始至30MHz结束，CE认证中的传导干扰扫瞄测试频率从9KHz开始至30MHz结束。另外一种干扰是辐射干扰(EMI)，主要是指电子设备产生的干扰信号通过空间耦合把干扰信号传给另一个电网络或电子设备，LED灯具的FCC认证空间辐射干扰扫瞄测试频率从30MHz开始至1GHz结束，CE认证中的空间辐射干扰扫瞄测试频率从30KHz开始至300MHz结束。 对于EMI测试，国际无线电干扰特别委员会(CISPR)出台了CISPR-16 无线电干扰及抗干扰测量器具规范，而对于照明行业，国际无线电干扰特别委员会还提出了CISPR-15 电子照明及相关设备无线电干扰特性限制及测量方法，并且各国也根据本国情况出台了各类的EMI 照明检测规范，如欧盟出来的EN55015-2007，中国出台的GB17743-1999等。对于欧盟国家来说，EN55015标准(引用CISPR-15)适用于灯具频率超过100Hz传统照明设备，如白炽灯，荧光灯，自整流节能灯等。通常此类设备频率不超过30MHz，相应的辐射干扰限值表1。但是对于新兴的LED照明行业，通常频率都超过30MHz,在CE认证中明确提出扫描频率是从30MHz到300MHz. 表1： （本文由EMC测试实验室德普华检测编辑整理发布，仅供参考阅读）
用频谱分析仪作ＥＭＩ测试和诊断 频谱分析仪是电磁干扰（ＥＭＩ）的测试、诊断和故障检修中用途最广的一种工具。本篇文章将重点突出频谱分析仪在ＥＭＩ应用的广阔范围内作为诊断测试仪器的多用性。 对于一个ＥＭＣ工程师来说，频谱分析仪最重要的用途之一是测试商用和军用电磁发射，其他用途包括对以下内容的评估： 材料的屏蔽效能， 仪器机箱的屏蔽效能， 较大的试验室或测试室的屏蔽效能， 电源线滤波器的衰减特性。 此外频谱分析仪在从事场地勘测中也很有用。 概述 频谱分析仪对于一个电磁兼容（ＥＭＣ）工程师来说就象一位数字电路设计工程师手中的逻辑分析仪一样重要。频谱分析仪的宽频率范围、带宽可选性和宽范围扫描ＣＲＴ显示使得它在几乎每一个ＥＭＣ测试应用中都可大显身手。 辐射发射测量 频谱分析仪是测试设备辐射发射必不可少的工具，它与适当的接口相连就可用于ＥＭＩ自动测量。比如说，一台频谱分析仪与一台计算机相连，就可以在对应的频率范围内把发射数据制成图和／或表。虽然ＥＭＩ测量接收机也可用于自动测试系统，但在故障的诊断和检修阶段频谱分析仪则显得更优越。大多数情况下被测设备在第一次测试时都不能满足人们的期望值，因此，诊断电磁干扰源并指出辐射发射区域就显得很迫切。在ＥＭＩ辐射发射测试的故障检修方面，有时可能想要设置足够宽的频率范围以使得辐射发射要的频谱范围以外的频谱也包括在内。用频谱分析仪，ＥＭＣ工程师就可以观察到比用一台典型的ＥＭＩ测试接收机可观察到的更宽的频谱范围。另一种常用技术是观察特殊宽带天线频率范围。包括所有校正因子在内的频谱图也同时被显示在频谱分析仪的ＣＲＴ上，显示的幅值单位与分析仪上的单位相一致，通常是dBm。这样，测试人员可在ＣＲＴ上监测发射电平，一旦超过限值，就会被立刻发现。这在故障检修中极其有用。这种特性使得人们在屏蔽被测产品的同时观察频谱仪的屏蔽并可立刻获得反馈信息。在快速进行滤波、屏蔽和接地操作时同样可做以上尝试。频谱分析仪的最大保持波形存储以及双重跟踪特性也可用于观察操作前后的ＥＭＩ电平的变化。 许多频谱分析仪是便携式的，可以方便地移入测试室内以对被测产品进行连续观察。测试人员可以用电场或磁场探头探测被测设备泄漏区域。通常这些区域包括如，箱体接缝，ＣＲＴ前面板、接口线缆、键盘线缆、键盘、电源线和箱体开口部位等，探头也可深入被测设备的箱体内进行探测。为了确切指出最大辐射区域，要求探头灵敏度不要太高，通常，一段小线头与一同轴线缆一
第13页：测试方法之EMI防辐射检测 2008年09月03日11:13
将待测的机箱摆放在中央的木质桌子上
开机系统运行检测开始 ■如何来认读EMI测试报告 这是一份EMI测试报道，我们之后的产品介绍部分也都将以测试报告来呈现，因此为了便于读者认读报告数据，我们先来进行一下解释说明。这样一份EMI的检测报告，如图上所注有五个必须要认清的部分：
报告中五大看点 A：此处箭头所指是IEEE国际电子工程协会立法规定的EMI标准线，也就是说如若检测出超出此线，就视为EMI超标。 B：此处标红的线要低于IEEE国际标准，属于富士康华南检测室基于IEC 标准下进行更严格的标记。关于EMI测试标准，我国仅有政府直属机关才有检测资格，而我们此次的华南检测室是基于国际IEC标准，为更加直观的介绍标准的划分，我们特以下图来进行说明。 C：此处标明的单词VERTICAL，是指天线处于垂直状态时的测试数据，EMI 测试过程中，天线会分别处于水平和垂直两种状态下进行测试，我们的测试报告也分为两个部分，此处“VERTICAL”为垂直测试数据，“HORIZONTAL”则为水平
测试数据。 D：此处标明的“OverLimit”数据，是我们针对各产品进行衡量比较的，也就是说如果OverLimit这一列的数据有超出标准线的，就视为不合格。换句话说，我们应该看到如果OverLimit呈负值，而且越小，其EMI成绩则越出色。 E：在30-1000MHz范围内，系统基本运行稳定，取此频率段的数据为结果，而每款机箱都会提供10组测试成绩，以OverLimit最大值来衡量各机箱EMI之间的差异。
EMI辐射测试整改和方法总结 一.文章写得不错，值得推荐，这本书《EMC电磁兼容设计与测试案例分析》(第2版)也不错可以看看，呵呵 关于电磁干扰的对策，许多刚接触的工程师往往面临一个问题，虽然看了不少对策的书籍，但是却不知要用书中的那些方法来解决产品的EMI问题。这是一个很实际的问题，看别人修改似乎没什么困难，对策加了噪声便能适当的降低，而自己修改时下了一大堆对策，找了一大堆的问题点，却总不能有效地降低噪声。 事实上，这往往也是EMI修改最耗时间的地方，笔者把一些基本的判断方法做详细的介绍，以提供刚入门或正面临EMI困扰问题的读者参考，整理了一些原则与判断技巧，希望能够对读者有帮助。 二. 水平、垂直判断技巧 EMI的测试接收天线分为水平与垂直二个极化，亦即要分别测试记录此二个天线方向的最大读值，噪声必须要在天线为水平及垂直测量时皆能符合规格，测量天线要测量量水平及垂直二个方向，除了要记录到噪声最大时的读值外，也能显示出噪声的特性，由这个特性的显示，我们可初步判断造成EMI问题的重点，对于细部的诊断是很有帮助的，通常这个方法是很容易为修改对策人员所忽略。在本期的分析中，笔者要介绍几种EMI的判图技巧，也就是如何从静态的频谱分析仪所得到的
噪声频谱图做初步 的分析，另外也会介绍一般对策修改人员最常用的 一些动态分析技巧。 许多工程师常常花了许多时间与精神，却感觉无法掌握到重点， 可能就是缺乏基本分析的技巧，在噪声的判断上有一些混淆，如果能 够掌握一些分析方法，可以节省不少对策的时间。这里所提的一些方 法，一直被不少资深的EMI工程师视为秘诀，因为其中往往是累积了 多年的心得与经验才体悟出来的方法，而这些方法通常都是非常有效 的。 实例一水平与垂直读值的差异 图1 接收天线为水平极化方向图2 接收天线为垂直极化方向说明：
EMI測試的基本觀念 前言 隨著電子產品數位化的普及，各國也紛紛對電磁干擾的問題加以重視，在可以預見的未來，大部份的電子產品，在銷售到市場之前，都會被要求符合相關的EMI測試規格，而在EMI測試上的許多名詞與方法，一直缺少詳盡的說明與解釋。本文即針對在EMI測試上常會遇到的一些問題，提供讀者作一參考 一?EMI要求測試的精確度為何？ 關於測試上的精確度，一般而言自然是要求達到精確，例如一顆石頭用不同的秤來秤，其結果是不會相差太大的，但是在EMI上的測試卻不同於一般的量測，往往同一個樣品在甲測試場地和乙測試場地所測得的結果值會有很大的差異，甚而在甲測試場地所測得的值可以符合限制值的要求，但乙測試場地所測得的值卻無法符合要求。 關於這個問題，相信許多接觸過EMI測試的工程師都有這種經驗，因此便有某個實驗室較鬆或較嚴的說法產生，要清楚的說明這個問題，便需要了解EMI 要求測試的精確度為何？ 由於大多數人一直沿用一般的測試觀念來看待EMI的測試，故而產生了許多誤解與人云亦云的說法。嚴格地來說，在EMI測試的要求上並沒有精確度的觀念，也就是EMI測試是無法要求每一個雜訊頻率點的讀值非常精確，那麼EMI測試的基本要求是什麼呢？ 這一點在早期的MP4中有很清楚的說明，輻射和AC電源傳導測量必須在一能確保有效的(valid)、可重覆的(repeatable)測試結果的環境下測量，事實上，這兩點是EMI測試上所要求的精確性。 所謂有效的是指所測得的雜訊確實是由待測物(Equipment Under Test)中所輻射出來的，而非外界或其它儀器所產生的。例如在開放測試場地(Open Site)測試輻射與傳導雜訊，因為外界的雜訊非常多，像FM電台、TV電台、火腿族或附近正在使用的一些電子產品，這些會與待測物的雜訊同時出現在頻譜分析儀(Spectrum Analyzer)上，若沒有仔細的判斷，可能會將外界雜訊誤認為是待測物產生的雜訊，那麼便失去了有效性的要求，而且也無甚意義。 所以通常有經驗的EMI測試工程師會事先在屏蔽室(Shielded Room)或電波無反射室(Anechoic Chamber)內，將待測物的雜訊輻射頻率點找出，以避免產生錯誤，或將待測物的電源關掉，若此時雜訊仍然存在，則表示是外界所產生。若雜訊消失而再開電源雜訊又產生，則可確定該點之雜訊是待測物所產生，如果沒有經過這些方法的檢驗，則測試的結果可能是不正確的。
31条必看的EMI测试设计经验 在电子电路设计中，EMC和EMI是开发者永远需要面对的问题。电路效率再高，不能满足EMC的要求也是无济于事，因此如何通过EMC和EMI的测试成为了开发者关心的话题，本文将为大家介绍在EMI和EMC中应该注意的那些问题，感兴趣的朋友快来看一看吧。 1、把噪音电路节点的PCB铜箔面积最大限度地减小；如开关管的漏极、集电极，初次级绕组的节点等。 2、使输入和输出端远离噪音元件，如变压器线包，变压器磁芯，开关管的散热片，等等。 3、使噪音元件（如未遮蔽的变压器线包，未遮蔽的变压器磁芯，和开关管，等等）远离外壳边缘，因为在正常操作下外壳边缘很可能靠近外面的接地线。 4、如果变压器没有使用电场屏蔽，要保持屏蔽体和散热片远离变压器。 5、尽量减小以下电流环的面积：次级（输出）整流器，初级开关功率器件，栅极（基极）驱动线路，辅助整流器。 6、不要将门极（基极）的驱动返馈环路和初级开关电路或辅助整流电路混在一起。 7、调整优化阻尼电阻值，使它在开关的死区时间里不产生振铃响声。 8、防止EMI滤波电感饱和。 9、使拐弯节点和次级电路的元件远离初级电路的屏蔽体或者开关管的散热片。 10、保持初级电路的摆动的节点和元件本体远离屏蔽或者散热片。 11、使高频输入的EMI滤波器靠近输入电缆或者连接器端。 12、保持高频输出的EMI滤波器靠近输出电线端子。 13、使EMI滤波器对面的PCB板的铜箔和元件本体之间保持一定距离。 14、在辅助线圈的整流器的线路上放一些电阻。 15、在磁棒线圈上并联阻尼电阻。 16、在输出RF滤波器两端并联阻尼电阻。 17、在PCB设计时允许放1nF/500V陶瓷电容器或者还可以是一串电阻，跨接在变压器的初级的静端和辅助绕组之间。 18、保持EMI滤波器远离功率变压器；尤其是避免定位在绕包的端部。 19、在PCB面积足够的情况下，可在PCB上留下放屏蔽绕组用的脚位和放RC阻尼器的位置，RC阻尼器可跨接在屏蔽绕组两端。 20、空间允许的话在开关功率场效应管的漏极和门极之间放一个小径向引线电容器（米勒电
EMI测试报告解释 我们知道其实计算机对人有辐射危害的同时，外接的信号干扰也会对计算机内部硬件有一定的危害。笔者就曾经亲身经历过，手机放在了机箱旁边，由于进来一条短信而造成系统死机……确实很郁闷。因此在本次横评中引入EMI防辐射检测就显得尤为重要了。 封闭暗室 待测机箱摆放
如何来认读EMI测试报告 这是一份EMI测试报道，我们之后的产品介绍部分也都将以测试报告来呈现，因此为了便于读者认读报告数据，我们先来进行一下解释说明。这样一份EMI的检测报告，如图上所注有五个必须要认清的部分：
报告中五大看点 A:此处箭头所指是IEEE国际电子工程协会立法规定的EMI标准线，也就是说如若检测出超出此线，就视为EMI超标。 B：此处标红的线要低于IEEE国际标准，属于富士康华南检测室基于IEC标准下进行更严格的标记。关于EMI测试标准，我国仅有政府直属机关才有检测资格，而我们此次的华南检测室是基于国际IEC标准，为更加直观的介绍标准的划分，我们特以下图来进行说明。 C：此处标明的单词VERTICAL，是指天线处于垂直状态时的测试数据，EMI测试过程中，天线会分别处于水平和垂直两种状态下进行测试，我们的测试报告也分为两个部分，此处“VERTICAL”为垂直测试数据，“HORIZONTAL”则为水平测试数据。 D：此处标明的“OverLimit”数据，是我们针对各产品进行衡量比较的，也就是说如果OverLimit 这一列的数据有超出标准线的，就视为不合格。换句话说，我们应该看到如果OverLimit呈负值，而且越小，其EMI成绩则越出色。 E：在30-1000MHz范围内，系统基本运行稳定，取此频率段的数据为结果，而每款机箱都会提供10组测试成绩，以OverLimit最大值来衡量各机箱EMI之间的差异。
E M I 測詴的基本問題 前言 隨著電子產品數位化的普及，各國也紛紛對電磁干擾的問題加以重視，在可以預見的未來，大部份的電子產品，在銷售到市場之前，都會被要求符合相關的EMI測詴規格，而在EMI測詴上的許多名詞與方法，一直缺少詳盡的說明與解釋。本文即針對在EMI測詴上常會遇到的一些問題，提供讀者作一參考。 一?EMI要求測詴的精確度為何？ 關於測詴上的精確度，一般而言自然是要求達到精確，例如一顆石頭用不同的秤來秤，其結果是不會相差太大的，但是在EMI上的測詴卻不同於一般的量測，往往同一個樣品在甲測詴場地和乙測詴場地所測得的結果值會有很大的差異，甚而在甲測詴場地所測得的值可以符合限制值的要求，但乙測詴場地所測得的值卻無法符合要求。關於這個問題，相信許多接觸過EMI測詴的工程師都有這種經驗，因此便有某個實驗室較鬆或較嚴的說法產生，要清楚的說明這個問題，便需要了解EMI要求測詴的精確度為何？由於大多數人一直沿用一般的測詴觀念來看待EMI 的測詴，故而產生了許多誤解與人云亦云的說法。嚴格地來說，在EMI測詴的要求上並沒有精確度的觀念，也就是EMI測詴是無法要求每一個雜訊頻率點的讀值非常精確，那麼EMI測詴的基本要求是什麼呢？這一點在早期的MP4中有很清楚的說明，輻射和AC電源傳導測量必須在一能確保有效的(valid)、可重覆的(repeatable)測詴結果的環境下測量，事實上，這兩點是EMI 測詴上所要求的精確性。 所謂有效的是指所測得的雜訊確實是由待測物(Equipment Under Test)中所輻射出來的，而非外界或其它儀器所產生的。例如在開放測詴場地(Open Site)測詴輻射與傳導雜訊，因為外界的雜訊非常多，像FM電台、TV電台、火腿族或附近正在使用的一些電子產品，這些會與待測物的雜訊同時出現在頻譜分析儀(Spectrum Analyzer)上，若沒有仔細的判，可能會將外界雜訊誤認為是待測物產生的雜訊，那麼便失去了有效性的要求，而且也無甚意義，所以通常有經驗的EMI 測詴工程師會事先在屏蔽室(Shielded Room)或電波無反射室(Anechoic Chamber)內，將待測物的雜訊輻射頻率點找出，以避免產生錯誤，或將待測物的電源關掉，若此時雜訊仍然存在，則表示是外界所產生。若雜訊消失而再開電源雜訊又產生，則可確定該點之雜訊是待測物所產生，如果沒有經過這些方法的檢驗，則測詴的結果可能是不正確的。
Test Report for 1000BaseT Time: 15:13:35 Device ID : Device Description : Device Pair ID : Port ID : Application Version : 3.1.4 Build 8
IEEE Std 802.3ab, Sec 40.6.1.2.3: 1000Base-T Differential output template point A Spec Range: Fit the template IEEE Std 802.3ab, Sec 40.6.1.2.3: 1000Base-T Differential output template point B Spec Range: Fit the template
IEEE Std 802.3ab, Sec 40.6.1.2.3: 1000Base-T Differential output template point C IEEE Std 802.3ab, Sec 40.6.1.2.3: 1000Base-T Differential output template point D
IEEE Std 802.3ab, Sec 40.6.1.2.3: 1000Base-T Differential output template point F Spec Range: Fit the template IEEE Std 802.3ab, Sec 40.6.1.2.3: 1000Base-T Differential output template point H
EMI干扰测试项目的基本配置及价格 简介 EMI干扰测试项目的基本配置的主要设备为;测试仪器和屏蔽室及暗室 其中测试仪器为我公司生产的其它由我们的合作公司供应也可由客户自行采购１：传导干扰测试：ZN3950C型频率范围（9KHz—30MHz）灯具传导测试范围，开关电源常用测试范围（150KHz—30MHz）此项测试 不需要特殊环境，（只要在一般的研发工作室即可进行测 试），所测试的数据和检测机构的数据误差，在2dB左右．标 准规定：标准的（ＥＭＣ）试验室之间的误差在２dB。 基本配置:第一种:主机术条件： 1. 频率范围：9kHz～30MHz； 2. 频率最小步进：10Hz(9kHz～150kHz) 1kHz(150kHz～30MHz) 3. 电压测量范围：0dBμV～120dBμV 4. 检波方式：峰值检波、准峰值检波、平均值检波 5. 各检波测量时长范围：100ms～3000ms 6. 峰值检波器参数：峰值保持时间100ms-3s 7. 准峰值检波器参数： 充电时间：45ms(9kHz～150kHz) 1ms(150kHz～30MHz) 放电时间：500ms(9kHz～150kHz) 160ms(150kHz～30MHz) 8. 表头机械时间常数：160ms±80ms 9. 过载系数：＞24dB (9kHz～150kHz) ＞30dB (150kHz～30MHz) 10. 直放过载：＞25dB 11. 测量误差：±1.5dB 12. 中频带宽：9kHz±1kHz(6dB) 200Hz±10Hz(6dB) 13. 中频抑制：＞40dB 14. 中频镜频抑制：＞40dB 15. 跟踪源电平：97dBμV±2dBμV
EMI测试的应用及相关的测试标准 一则中消协发布的公告关于电脑辐射骚扰超标不合格，容易影响到电 网内设备最后到导致电脑死机。其主要原因是电脑电源端子辐射骚扰超出了国 家标准规定的限值，而这种骚扰可能干扰其它电子设备正常工作，特别是高 灵敏度电子设备。随着科学技术的发展，越来越多的数字化，高速化的电气和 电子设备在社会各个领域广泛使用，在推动社会发展的同时，伴随着电气和电 子设备应用而产生的电磁干扰也给社会带来了电磁污染问题。而电磁污染与水 污染，空气污染被称为当今社会的三大污染源。随着电磁干扰问题的日益突出，国际无线电干扰特别委员会（CISPR）相应出台了CISPR -16，CISPR- 15，欧洲标准委员会出台了EN55015 和EN55022 等标准。这些措施和标准旨 在规范点电子产品的电磁干扰限制和其它规范，以减少电磁干扰带来的社会问题。电磁干扰EMI（Electromagnetic Interference），有传导干扰和辐射干扰两种。传导干扰是指通过导电介质把一个电网络上的信号耦合（干扰）到另一 个电网络。辐射干扰是指干扰源通过空间把其信号耦合（干扰）到另一个电网络。在高速PCB 及系统设计中，高频信号线、集成电路的引脚、各类接插件等都可能成为具有天线特性的辐射干扰源，能发射电磁波并影响其他系统或本系 统内其他子系统的正常工作。众所周知，EMC 的测试目标是电子电器设备，而 照明设备作为其中重要的一块，自然也有相应的约束。如美国的FCC 认证，欧盟的CE 认证等都对LED 照明设备提出了相关的测试项目。当谈论到电磁干扰时，一般来讲有两种干扰源；一种是传导干扰，主要是电子设备产生的干扰信 号通过导电介质或公共电源线互相产生干扰，LED 灯具的FCC 认证传导干扰 扫瞄测试频率从0.15MHz 开始至30MHz 结束，CE 认证中的传导干扰扫瞄测试频率从9KHz 开始至30MHz 结束。另外一种干扰是辐射干扰，主要是指电
開闊試驗場 開闊場地是標准的測試場地﹐也是最重要的電磁兼容測試場地﹒接收天線所接收的信號絕大部分來自于空間直射波和地面反射波在接受點的疊加﹐因而場地是否理想對測試結果有著至關重要的影響﹒ １﹒開闊試驗場的构造特征 A:開闊試驗場地是帄坦﹑空曠﹑電導率均勻良好無任何反射物的橢圓形試驗場地﹒ B:長軸是兩焦點距离的2倍﹐短軸是間距的約0.732倍﹒ C:發射天線与EUT分別置于橢圓的兩焦點上﹒ D: Open Site 一般選建在電磁環境干淨﹐本底電帄的地方 E:應設有轉台及天線升降杆﹐便于全方位的輻射及天線升降測試﹒F﹕避雷系統与地線系統應是隔開的﹒ 2﹒Open Site 的歸一化場地衰減﹒ 用歸一化場地衰減(Normalized Site Attenuation)來評定金屬接地帄板試驗場地的質量. NSA定義﹕AN =L/(F R*F T)2 L=P T/P R
F R—接收天線系數﹔F T—發射天線系數﹔L—場地衰減; P T—發射天線端口輸入功率﹔P R—接收天線端口輸出功率. 場地衰減不僅与場地本身特性（材料﹑帄坦性﹑結构﹑布置）和收﹑發天線的几何位置(距离﹑高度)有關﹐還与收﹑發天線本身的特性有關﹔而NSA只与場地特性和測試几何位置有關﹐与收﹑發天線本身特性無關﹒ 3﹒開闊試驗場歸一化衰減的測試 開闊試驗場地建成后﹐必須進行歸一化場地衰減測試﹐并在以后的長期使用過程中﹐要進行定期檢測﹒ (1)測試目的﹕确定含設備在內的場地高頻特性的使用性﹒ (2)測試方法﹕ A﹕离散法﹕使用調諧偶极子天線﹐針對所需頻率調整其長度進行測量的方法﹒ B﹕掃描頻率法﹕用寬帶天線進行掃頻測量﹒ 接收天線安裝在一個可在一定高度范圍內升降的天線杆上﹒它距反射天線為﹕3m﹑10m和30m﹐并用電纜連接到頻譜儀或測量接收机上﹒使其极化方向与發射天線相同﹒發射源為合成信號發生器﹒ NSA的測量值A N按下式計算﹕
https://www.doczj.com/doc/dd4652336.html,/ EMI电磁干扰基础知识 - 关于EMI的总结 - 电磁干扰 - EMI的类型以及它们如何影响电子设备。 EMC / EMI包括： EMC基础知识EMI干扰基础EMC标准CISPR11 CISPR16 CISPR22 FCC 47第15部分EMC设计技术EMC一致性测试 有许多形式的电磁干扰，EMI会影响电路并阻止它们以预期的方式工作。这种EMI或射频干扰，有时被称为RFI可以以多种方式产生，尽管在理想的世界中它不应该存在。 EMI-电磁干扰可能来自许多来源，无论是人造的还是自然的。它还可以具有各种特性，这取决于其来源和引起干扰的机构的性质。 通过给予它的干扰的名称，EMI是信号接收器处的不需要的信号，并且通常寻求降低干扰水平的方法。 EMI的类型- 电磁干扰 EMI - 电磁干扰可以通过多种方式和多种来源产生。不同类型的EMI可以以多种方式分类。对EMI类型进行分类的一种方法是创建它的方式：
https://www.doczj.com/doc/dd4652336.html,/ ?人造EMI：这种类型的EMI通常来自其他电子电路，尽管某些EMI可能是由于大电流的切换等引起的。 ?自然发生的EMI：这种类型的EMI可能来自许多来源- 宇宙噪声以及闪电和其他大气类型的噪声都有所贡献。 另一种对EMI类型进行分类的方法是持续时间： ?连续干扰：这种类型的EMI通常来自诸如发射连续信号的电路之类的源。然而，连续的背景噪声可以以多种方式产生，无论是人造的还是自然发生的。 ?脉冲噪声：同样，这种类型的EMI可能是人为的或自然发生的。雷电，ESD和开关系统都会产生脉冲噪声，这是EMI的一种形式。 还可以通过其带宽对不同类型的EMI进行分类。 ?窄带：通常这种形式的EMI可能是单载波源- 可能由某种形式的振荡器产生。 另一种形式的窄带EMI是由诸如Wi-Fi路由器的移动电话之类的发射机中的互调和其他形式的失真引起的寄生信号。这些杂散信号将出现在频谱中的不同点，并可能对无线电频谱的另一个用户造成干扰。因此，这些杂散信号必须保持在严格的限度内。 ?宽带：可以体验到许多形式的宽带噪声。它可能来自各种各样的来源。人造宽带干扰可能来自弧焊机等不断产生火花的来源。当太阳出现在卫星后面并且噪声可以掩盖所需的卫星信号时，它可以从太阳中体验到自然发生的宽带噪声- 它可能导致卫星电视系统的太阳光。幸运的是，这些剧集只持续了几分钟。 EMI耦合机制
技术文件 技术文件名称：EMI测试基本知识介绍 技术文件编号： 版本：V1.0 文件质量等级： 共17 页 (包括封面) 拟制 审核 会签 标准化 批准 深圳市中兴通讯股份有限公司
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目录 1EMI干扰 (5) 1.1EMI分类 (5) 1.2差模和共模干扰 (5) 2测量系统的架构 (7) 2.1EMI测量系统 (7) 2.2EMS测量系统 (7) 3测试仪器 (7) 3.1EMI测试接收机EMI Test Receiver (7) 3.2阻抗稳定网络ISN (8) 3.3耦合-去耦网络CDN（Couple and Decouple networks） (9) 3.4干扰分离器的方法原理 (10) 4可靠性室EMI测试 (14) 4.1相关测试设备介绍 (14) 4.2传导骚扰测试框图 (16) 4.3传导抗扰度试验 (17) 5参考文献 (17)
摘要： 主要介绍EMI相关的基本概念、测试系统的组成、测试仪器的基本原理、可靠性室相关的测试仪器和测试方法。 关键词： EMI Electromagnetic Interference ISN Impedance Stabilization Network CDN Couple and Decouple networks AMN Artificial Mains Network DM Differential mode CM Common mode
EMI测试基本知识介绍 1EMI干扰 1.1EMI分类 根据传导模式的不同EMI主要分为：辐射性骚扰(Radiated Emission）和传导性骚扰（Conducted Emission）。 辐射性EMI通过设备外壳的缝隙、开孔或其他缺口泄漏直接由空间传播，无须任何传输介质；主要为电路通电后，由于电磁感应效应所产生的电磁辐射发射所形成的电磁干扰，集中表现在频率的高端；一般用屏蔽（Shielding）、接地（Grounding）等方式解决。对辐射传导EMI解决方式归纳为以下几种：在干扰源加LC滤波回路；在I/O端加上去耦电容到地；用屏蔽隔离（Shielding）的方式把电磁波围覆在屏蔽罩内；尽量将PCB的地面积扩张；产品内部尽量少使用排线或实体线；产品内部的实体线尽量做成绞线以抑制杂讯幅射，同时在排线的I/O端加上去耦电容；在差模信号线的始端或末端加上共模滤波器（Common Mode Filter）；遵循一定的模拟和数字电路布线原则。 传导性EMI（conducted）是指部分的电磁（射频）能量通过外部缆线（cable）、电源线、I/O互连介面，形成传导波（propagation wave）被传送出去，经过电源线传输干扰的，对共电源的设备产生干扰，导致设备功能异常，集中表现在频率的低端；对于传导性EMI的抑制，首先、需要对电子元件产生的传导性EMI作有效的测量，再依据结果选择适当的元件值设计滤波器来加以防治。 根据EMI干扰的形成可以分为：差模DM（Differential mode）和共模CM（Common mode）。差模也称作对称模式（symmetric mode）或正常模式（normal mode）；而共模也称作不对称模式（asymmetric mode）或接地泄漏模式（ground leakage mode）。共模骚扰包括共地阻抗的共模干扰（Common-Mode Coupling）和电磁场对导线的共模干扰（Field to cable/trace Common-Mode Coupling），前者是因杂扰产生源与被干扰电路间共用同一接地电阻所产生的共模干扰，解决方法可由实行地的切割来避免共地干扰问题；后者则为高电磁能量所形成的电磁场对设备间之配线所造成的干扰，可由屏蔽隔离（Shielding）的方法来处理场对线的干扰问题。而差模干扰，常见的是导线对导线的差模干扰（Cable to Cable Differential-Mode Coupling），干扰途径为某一导线内的干扰信号感染到其他导线而馈入被干扰电路，属于近场干扰的一种，可通过加宽线与线之间的距离来处理此类干扰问题。 1.2差模和共模干扰 图1差模和共模干扰
EMI测试项包括：RE（辐射，发射） CE(传导干扰） Harmonic（谐波） Flickor EMS测试项包括：ESD （静电） EFT（瞬态脉冲干扰） DIP(电压跌落） CS（传导抗干扰） RS（辐射抗干扰） Surge（浪涌，雷击） PMS(工频磁场搞扰度） 电路设计及EMC器件选择 在新设计及开发项目的开始，正确选择有源与无源器件及完善的电路设计技术，将有利于以最低的成本获得EMC认证，减少产品因屏蔽和滤波所带来的额外的成本、体积和重量。这些技术也可以提高数字信号的完整性及模拟信号信噪比，可以减少重复使用硬件及软件至少一次，这也将有助于新产品达到其功能技术要求，尽早投入市场。这些EMC技术应视为公司竟争优势的一部分，有助于使企业获得最大的商业利益。 1.1数字器件与EMC电路设计 1.1.1器件的选择 大部分数字IC生产商都至少能生产某一系列辐射较低的器件，同时也能生产几种抗ESD的I/O芯片，有些厂商供应EMC性能良好的VLSI（有些EMC微处理器比普通产品的辐射低40dB）；大多数数字电路采用方波信号同步，这将产生高次谐波分量，如图1示。时钟速率越高，边沿越陡，频率和谐波的发射能力也越高。因此，在满足产品技术指标的前提下，尽量选择低速时钟。在HC能用时绝不要使用AC，CMOS4000能行就不要用HC。要选择集成度高并有EMC特性的集成电路，比如： * 电源及地的引脚较近 * 多个电源及地线引脚 * 输出电压波动性小 * 可控开关速率 * 与传输线匹配的I/O电路 * 差动信号传输 * 地线反射较低 * 对ESD及其他干扰现象的抗扰性 * 输入电容小 * 输出级驱动能力不超过实际应用的要求 * 电源瞬态电流低（有时也称穿透电流） 这些参数的最大、最小值应由其生产商一一指明。由不同厂家生产的具有相同型号及指标的器件可能有显著不同的EMC特性，这一点对于确保陆续生产的产品具有稳定的电磁兼容符合性是很重要的。 高技术集成电路的生产商可以提供详尽的EMC设计说明，比如Intel的奔腾MMX芯片就是这样。设计人员要了解这些并严格按要求去做。详尽的EMC设计建议表明：生产商关心的是用户的真正需求，这在选择器件时是必须考虑的因素。在早期设计阶段，如果IC的EMC特性不清楚，可以通过一简单功能电路（至少时钟电路要工作）进行各种EMC测试，同时要尽量在高速数据传输状态完成操作。发射测试可方便地在一标准测试台上进行，将近场磁场探头连接到频谱分析仪
EMI测试标准 一、简介 目前，涉及到EMI测试的相关标准，主要为：欧规（EN55022），美规（FCC） 相关名词： 非故意辐射（Unintentional）：产品产生不想要的电磁波辐射，造成干扰；如：电脑，LCD Monitor,DVD,电视，投影机等； 故意辐射（intentional）：使用无线电波进行通信； FCC只测试EMI: RE(辐射干扰)：测试频率范围30MHZ~1GHZ; CE(电源干扰)：测试频率范围 150KHZ~30MHZ; 主要的EMI测试参考标准： 欧盟：EN55022(EMI参考测试标准)；EN55024(EMS参考测试标准)； 美国：FCC Part 15B(EMI参考测试标准)； 台湾：CNS 13438 (EMI参考测试标准) Country Standard United States FCC Part 15 Canada ICES 003 Australia AS/NZS:CISPR22 / AS 3548 Japan VCCI - V series New Zealand Ministry of Commerce - CISPR 22 EN 55022 / EN 55024(传导&辐射测试) IEC / CISPR 22 CISPR 11 CISPR 13 CISPR 20 Europe EN 61000-6-3 EN 61000-6-4 EN 60601-1-2 EN 61000-3-2（电源谐波测试） EN 61000-3-3（电源变动测试） EN 61326-1 Taipei - Taiwan BSMI (CNS13489 / CNS 13438) 二、测试 EMI 测试定义：测试待测物EUT产生的辐射干扰强度，分为RE测试和CE测试两种。1）、RE测试：量测EUT产生的辐射干扰,其测试频率范围：30MHZ~1GHZ。 测试方法：参考相关测试标准EN55022或者其他测试标准； 测试距离及场合：10米量测，在开放式场合； 测试方式：量测EUT产生的电磁波辐射（30MHZ~1GHZ）. 2)、CE测试：量测EUT产生的传导辐射干扰，其测试频率范围：150K~30MHZ. 测试方法：参考相关测试标准EN55022或者其他测试标准；
用频谱分析仪作ＥＭＩ测试和诊断 摘要 频谱分析仪是电磁干扰（ＥＭＩ）的测试、诊断和故障检修中用途最广的一种工具。本篇文章将重点突出频谱分析仪在ＥＭＩ应用的广阔范围内作为诊断测试仪器的多用性。 对于一个ＥＭＣ工程师来说，频谱分析仪最重要的用途之一是测试商用和军用电磁发射，其他用途包括对以下内容的评估： 材料的屏蔽效能， 仪器机箱的屏蔽效能， 较大的试验室或测试室的屏蔽效能， 电源线滤波器的衰减特性。 此外频谱分析仪在从事场地勘测中也很有用。 概述 频谱分析仪对于一个电磁兼容（ＥＭＣ）工程师来说就象一位数字电路设计工程师手中的逻辑分析仪一样重要。频谱分析仪的宽频率范围、带宽可选性和宽范围扫描ＣＲＴ显示使得它在几乎每一个ＥＭＣ测试应用中都可大显身手。 辐射发射测量 频谱分析仪是测试设备辐射发射必不可少的工具，它与适当的接口相连就可用于军用和／或商用ＥＭＩ自动测量。比如说，一台频谱分析仪与一台计算机（如ＩＢＭＰＣ）相连，就可以在对应的频率范围内把发射数据制成图和／或表。虽然ＥＭＩ测量接收机也可用于自动测试系统，但在故障的诊断和检修阶段频谱分析仪则显得更优越。据我的经验，大多数情况下被测设备在第一次测试时都不能满足人们的期望值，因此，诊断电磁干扰源并指出辐射发射区域就显得很迫切。在ＥＭＩ辐射发射测试的故障检修方面，有时可能想要设置足够宽的频率范围以使得辐射发射要的频谱范围以外的频谱也包括在内。用频谱分析仪，ＥＭＣ工程师就可以观察到比用一台典型的ＥＭＩ测试接收机可观察到的更宽的频谱范围。另一种常用技术是观察特殊宽带天线频率范围。包括所有校正因子在内的频谱图也同时被显示在频谱分析仪的ＣＲＴ上，显示的幅值单位与分析仪上的单位相一致，通常是dBm。这样，测试人员可在ＣＲＴ上监测发射电平，一旦超过限值，就会被立刻发现。这在故障检修中极其有用。这种特性使得人们在屏蔽被测产品的同时观察频谱仪的屏蔽并可立刻获得反馈信息。在快速进行滤波、屏蔽和接地操作时同样可做以上尝试。频谱分析仪的最大保持波形存储以及双重跟踪特性也可用于观察操作前后的ＥＭＩ电平的变化。 许多频谱分析仪是便携式的，可以方便地移入测试室内以对被测产品进行连续观察。测试人员可以用电场或磁场探头探测被测设备泄漏区域。通常这些区域包括如，箱体接缝，ＣＲＴ前面板、接口线缆、键盘线缆、键盘、电源线和箱体开口部位等，探头也可深入被测设备的箱体内进行探测。为了确切指出最大辐射区域，要求探头灵敏度不要太高，通常，一段小线头与一同轴线缆一起放入ＢＮＣ管式连接器内就够用了。此外，应注意在探头探测过程中频谱分析仪上所显示的近场测试值可能会较大，但这不一定就是远场辐射的主要原因。（例如将探头放在振荡部件的上方，频谱仪上将显示大量的振荡频率谐波。）但如果电路经过屏蔽、滤波并且／或其导线很短，这将不成问题。对于一个产品，我们所关注的包括以下几个方面：导线是否较长，带状线缆是否未经屏蔽、是否存在接地回路、视频电路是否未经屏蔽、导线在输出端是否未经滤波或导线是否靠近箱体接缝。 诊断出问题区域后，就可以进行修补措施：通常是综合运用屏蔽、滤波、接地和搭接。 频谱分析仪的另一个重要的诊断用途是确定发射的特性。例如一个信号根据它被确定为宽带或窄带的不同而选用不同的限值。确定宽窄带的方法有好几种，其中有： 改变带宽法 通过改变频谱分析仪分辨带宽，信号的幅值可能也可能不发生变化。一个真正的窄带或连续波信号的幅值将不发生变化。由持续时间为零、幅值无限大的脉冲产生的纯宽带发射，将产生量值为２０log （ＢＷ１／ＢＷ２）的变化。然而在确定发射是宽