实验三基本门电路的逻辑功能测试
一、实验目的
1、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。
2、熟悉扩展板与主电路板的连接与使用。
3、了解测试的方法与测试的原理。
二、实验原理
实验中用到的基本门电路的符号为：
在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示其逻辑功能。
三、实验设备与器件
1、数字逻辑电路实验箱。
2、数字逻辑电路实验箱扩展板。
3、双踪示波器，数字万用表。
4、相应74LS系列、CC4000系列或74HC系列芯片若干。
四、实验内容
1.测试TTL门电路的逻辑功能：
a）测试74LS08（与门）的逻辑功能。
b）测试74LS32（或门）的逻辑功能。
c）测试74LS04（非门）的逻辑功能。
d）测试74LS00（与非门）的逻辑功能。
e）测试74LS02（或非门）的逻辑功能。
f）测试74LS86（异或门）的逻辑功能。
2.测试CMOS门电路的逻辑功能：
a）测试CC4081(74HC08)（与门）的逻辑功能。
b）测试CC4071(74HC32)（或门）的逻辑功能。
c）测试CC4069(74HC04)（非门）的逻辑功能。
d）测试CC4011(74HC00)（与非门）的逻辑功能。
e）测试CC4001(74HC02)（或非门）的逻辑功能。
f) 测试CC4030(74HC86)（异或门）的逻辑功能。
五、实验步骤
1、将数字逻辑电路实验箱扩展板固定到主电路板上。
2、在扩展板上插上要测试的芯片，注意管脚数数与扩展板上所标数对应。芯片首先要
接电源和地线（在主电路板上留有相应的插孔）。
3、按照芯片的管脚分布图接线（注意高低电平的输入和高低电平的显示）。
4、芯片的管脚分配见附录。
六、实验报告要求
1.画好各门电路的真值表表格，将实验结果填写到表中。
2.根据实验结果，写出各逻辑门的逻辑表达式，并判断逻辑门的好坏。