【实验名称】 光纤连接器的回波损耗测试
在使用光通信中的光器件时，我们非常关心器件的性能，因为它可能是产生问题的一个主要环节。器件的性能通常用一系列参数，如插入损耗，回波损耗，隔离度，偏振度，耦合比等指标来描述。有很多情况下，由于种种原因可能我们需要知道一个器件的实际性能，这就要求我们不但要熟悉各器件的参数指标，同时还要掌握一些测试器件参数的方法。插入损耗和回波损耗等是描述器件性能的基本参数，本实验主要介绍无源光器件回波损耗的测试原理和测试方法。
【实验目的】
1. 了解回波损耗的概念及其在光通信系统中的意义；
2. 掌握回波损耗的测试原理和测试方法；
3. 掌握光纤熔接技术和常用测试仪器的使用方法，培养动手能力和实验技能。
【实验原理】
1.回波损耗的概念
回波损耗源于电缆链路中由于阻抗不匹配而产生反射的概念。这种阻抗不匹配主要发生在有连接器的地方,也可能发生于各种缆线的特性阻抗发生变化的地方。在光通信中光传输的的光纤链路上，经常需要进行光纤与光纤，光纤与器件，器件与仪器等进行连接。在连接过程中，光纤端面，器件的光学表面等对其内传输地光不可避免地产生反射。这种回波一方面造成了传输光功率的耗损，另一方面也会对一些器件的工作产生干扰，例如反射回波能造成激光器输出功率的抖动和频率的变化，有时甚至是破坏。但在另外一些情况下，反射回波却可以加以利用。在光通信中，已对回波损耗进行了详细规定（请参看标准G.957）。
设和分别表示入射和回波反射功率，单位可以是瓦()或者毫瓦(mw )；定义回波反射光功率与入射光功率之比为回波损耗，即
I P r P w l R I
r l P P R = （1） （1）式中得到的是除法计算的比值，对于多个器件存在时，需要计算乘积，在光通信中很不方便。若将以分贝表示（单位为）时，上述的乘积运算就化为加减运算，故 l R dB I
r l P P R log 10?= （2） 注意：若、采用dBw 或单位时，应采用下式计算才是正确的
r P I P dBm l R r I l P P R ?= （3）
【实验内容】?
1. 待测器件的输入功率与回波功率测量
由回波损耗定义可知，对于光纤链路中的任意器件而言，要测量其回波损耗，就需l R
? 为方便计算，本实验所测功率的单位全部采用
dBm
要首先测量其输入端的光功率和反射回波的光功率，再通过公式计算得到。
I P r P 图1给出了测量待测器件输入功率的实验装置。由稳定光源发出的光经光跳线从2×2耦合器的1口进入，为避免4端口的反射回波，将插头4浸入匹配液中.由耦合器3端口经光跳线从插头3接入光功率计。显然，功率计所测量到的光功率即是待测器件的输入功率。
I P I
P
图1. 测量待测器件输入功率的实验装置
I P 为了测量待测器件的回波功率，在测试系统中就必须具有导出回波功率功能的器件，例如，光耦合器或光环形器。由于光耦合器价格比较便宜，适用于实验测试，故本实验采用2×2光耦合器作为回波功率导出器件。
本实验测量转换器的回波损耗，实验测试装置如图2所示。可以看出，所要测量的转换器回波损耗实际上就是插头3和插头5之间的反射回波功率。透过转换器的光经跳线后，由插头6输出到匹配液中加以吸收。
r
P
图2. 测量待测器件的反射回波功率与的实验装置
r P 2P 为了导出回波功率，在测量的过程中引入了光耦合器3端口到2端口的插入损耗，所谓插入损耗是指线路中由于某器件的加入，而引起的线路传输功率的衰减。若插入器件的输入和输出功率分别为和，插入损耗为。则当采用瓦或单位时，；而当采用dBw 或单位时，r P 32l I in P out P l I mw (in out l P P I /log 10?=)dBm out in l P P I ?=。因此在以光耦合器为导出器件的测试系统中，所要测试的回波功率为
＝+ （4）
r P 2P 32l I
实际上是指以反射回波作为耦合器输入功率时，除了由端口2输出功率以外的所有耗损的光功率，它包括了端口3到端口1的回馈功率和耦合器消耗功率。所以在测量回波损耗之前，必须首先测量。
32l I r P 32l I 观察上式可以发现，若事先测定出光耦合器端口3的输入功率，再测定出端口2的输出功率，就能得到耦合器的
in P out P 32l I 【实验步骤】
1. 测试光耦合器的端口3到端口2插损
32l I a. 按图3连接光路，打开光源，待光源工作稳定之后，测量三次光源功率（每次松开裸纤连接器，重新连接后再测试），取平均后作为耦合器的输入功率；
in
P
图3.标定耦合器输入功率
in P b.按图4连接光路，打开光源，测量三次（每次松开裸纤连接器，重新连接后再测试）耦合器端口2的输出功率，取平均后作为耦合器的输出功率，根据＝计算出光耦合器端口3到端口2的插入损耗；
out P 32l I out in P P
?
图4.测定耦合器输出功率
out P 2. 测试待测器件的输入功率
I P a.按图1先进行耦合器各端口尾纤和插头之间的焊接来搭建实验;
b. 打开光源，仔细检查各连接器是否正常，测量三次，并取平均；
I P 3. 测试光耦合器的输出功率
2P a.按图2将待测器件接入光路中，即插头3通过一个标准转换器与插头5相连，再将插头6置入匹配液中（想一想，为什么？），打开稳定光源，重复测量三次，并取平均。
2P 4. 计算转换器的回波损耗
l R 由式（3），注意到＝+，故转换器的回波损耗按下式计算。
r P 2P 32l I l R 322l I I P P ??=【实验仪器和器材】
光纤熔接机、稳定光源、2×2光耦合器、光功率计、转换器、裸光纤连接器、光跳线
【思考与问答题】
1． 查看相关标准并搞清楚什么是插入损耗和回波损耗？
2． 请自己设计一套改进测试回波损耗的系统。
3． 在测试过程中，应该注意哪些问题？
4． 分析测量系统的测试精度，如何更准确地测量插入损耗？。
5． 本实验系统的测试方法主要借鉴了什么原理？
【实验报告要求】
实验报告要写清楚实验目的、实验原理、实验步骤、实验数据处理
光纤连接器端面检测技术 1. 前言 随着网络应用的扩大和网络情报流量的急速增加，公共网及局域网对网络带宽的要求越来越高。带宽网络也就应运而生。具有代表性的带宽网络有使用电话线的 ADSL(Asymmetric Digital Subscriber Line), 使用有线电视线路的CATV(CAble TeleVvision), 使用无线发射与接收的无线网络，还有使用光纤的光纤通信网络。 作为现代通讯讯号的传播介质，光纤通信具有其独特的优点。其传送速度比一般ADSL方式及CATV方式至少快一个数量级。并且不受高压线及电视,收音机的电磁波的影响，保密性强。此外，光纤所用的材料是地球上大量存在的硅, 所以不会有资源枯竭的问题。自从光纤通信正式进入电信网络以来，它已经成为现代化通信网的主要支柱之一。近年来，随着光同步数字系列(SDH)、掺铒光纤放大器(EDFA)、密集波分复用(DWDM等技术的商业化，光纤通信系统的传输容量不断扩大，光纤传输的带宽潜力和技术优越性不断得到挖掘和发挥。与此同时，由于互联网的迅速普及，世界各国纷纷把光纤接入网的发展作为战略性的国策加以重视。基 于波长多重(DWDM的光通讯大容量化,光纤家家通FTTH (Fiber To The Home)计划也在急速的展开。 光通信需要大量的光纤连接器，用于远程电话通讯装置间的连接，程控电话交换机, 中继器,以及同一电讯局内的通讯装置间的连接等。由于对光纤通信网络的经济性和高性能的要求，高信頼性，小型化，低成本的光纤连接器就显得非常重要。 由于光纤是一种直径仅有数微米能传送光信号的纤芯和将光束缚在纤芯内的覆盖层构成的高纯度石英玻璃拉制而成的玻璃丝线，为了提高光纤连接及光信号传输的效率，必需控制光纤连接器的几何参数以减少光纤连接的插入损耗和回损(或称为反射減衰量) 。例如，对于插入损耗，一般要求在0.05dB 以下。对于回损，通常研磨
标准实用 本科实验报告 课程名称：软件测试技术 实验项目：软件测试技术试验实验地点：实验楼211 专业班级：软件工程学号： 学生：戴超 指导教师：兰方鹏 2015年10月7 日
理工大学学生实验报告 学院名称计算机与软件学院专业班级软件工程实验成绩学生戴超学号实验日期2015.10. 课程名称软件测试实验题目实验一白盒测试方法 一、实验目的和要求 （1）熟练掌握白盒测试方法中的逻辑覆盖和路径覆盖方法。 （2）通过实验掌握逻辑覆盖测试的测试用例设计，掌握程序流图的绘制。 （3)运用所学理论，完成实验研究的基本训练过程。 二、实验容和原理 测试以下程序段 void dowork(int x,int y,int z) { （1）int k=0,j=0; （2）if((x>0)&&(z<10)) （3）{ （4）k=x*y-1; （5）j=sqrt(k); （6）} （7）if((x==4)||(y>5)) （8）j=x*y+10; （9）j=j%3; （10）} 三、主要仪器设备 四、操作方法与实验步骤 说明：程序段中每行开头的数字（1-10）是对每条语句的编号。
A 画出程序的控制流图（用题中给出的语句编号表示）。 B 分别用语句覆盖、判定覆盖、条件覆盖、判定/条件覆盖、条件组合覆盖和路径覆盖方法设计测试用例，并写出每个测试用例的执行路径（用题中给出的语句编号表示）。 C 编写完整的C 程序（含输入和输出），使用你所设计的测试用例运行上述程序段。完整填写相应的测试用例表（语句覆盖测试用例表、判定覆盖测试用例表、条件覆盖测试用例表、判定/条件覆盖测试用例表、条件组合覆盖测试用例表、路径覆盖测试用例表、基本路径测试用例表） 流程图为： 开始 开始 k=0,j=0 (x>0)&&(z<1) k=x*y-1 j=sqrt(k) (x==4)||(y>5) j=x*y+10 j=j%3 结束 1 2 5 7 8 9
《软件测试技术》实验指导书 吴鸿韬
河北工业大学计算机科学与软件学院 2016年9月 目录
第一章实验要求 (1) 第二章白盒测试实践 (3) 第三章黑盒测试实践 (6) 第四章自动化单元测试实践 (7) 第五章自动化功能测试实践 (35) 第六章自动化性能测试实践 (56) 附录1实验报告封皮参考模版 (71) 附录2小组实验报告封皮参考模版 (72) 附录3软件测试计划参考模版 (73) 附录4 测试用例参考模版 (77) 附录5单元测试检查表参考模版 (81) 附录6测试报告参考模版 (82) 附录7软件测试分析报告参考模版 (87)
第一章实验要求 一、实验意义和目的 软件测试是软件工程专业的一门重要的专业课，本课程教学目的是通过实际的测试实验，使学生系统地理解软件测试的基本概念和基本理论，掌握软件测试和软件测试过程的基本方法和基本工具，熟练掌握软件测试的流程、会设计测试用例、书写测试报告，为学生将来从事实际软件测试工作和进一步深入研究打下坚实的理论基础和实践基础。 本实验指导书共设计了2个设计型、3个验证型实验和一个综合型实验，如表1所示。设计型实验包括白盒测试实践和黑盒测试实践，验证型实验包括自动化单元测试实践、自动化功能测试和自动化性能测试实践，主要目标是注重培养学生软件测试的实际动手能力，增强软件工程项目的质量管理意识。通过实践教学，使学生掌握软件测试的方法和技术，并能运用测试工具软件进行自动化测试。综合型实验以《软件设计与编程实践》课程相关实验题目为原型、在开发过程中进行测试设计与分析，实现软件开发过程中的测试管理，完成应用软件的测试工作，提高软件测试技能，进一步培养综合分析问题和解决问题的能力。 表1 实验内容安排 实验内容学时实验性质实验要求 实验一白盒测试实践 4 设计必做 实验二黑盒测试实践 4 设计必做 实验三自动化单元测试实践 4 验证必做 实验四自动化功能测试实践 4 验证必做 实验五自动化性能测试实践 4 验证必做 实验六、综合测试实践课外综合选做 二、实验环境 NUnit、JUnit、LoadRunner、Quick Test Professional、VC6.0、Visual
桂林航天工业学院 课程设计报告 课程名称：软件测试 专业：软件技术 学号：201102520xxx 姓名： 指导教师：
实验一黑盒测试 一．实验目的 （1）能熟练应用黑盒测试技术进行测试用例设计； （2）对测试用例进行优化设计； 二．实验内容 1．三角形问题的边界值分析测试用例 在三角形问题描述中，除了要求边长是整数外，没有给出其它的限制条件。在此，我们将三角形每边边长的取范围值设值为[1, 100] 。在三角形问题中，有四种可能的输出：等边三角形、等腰三角形、一般三角形和非三角形。利用这些信息能够确定下列输出（值域）等价类。 R1 = {
1.三角形问题程序。 #include
实验一：软件测试方法 一:实验题目 采用白盒测试技术和黑盒测试技术对给出的案例进行测试 二：试验目的 本次实验的目的是采用软件测试中的白盒测试技术和黑盒测试技术对给出的案例进行测试用例设计。从而巩固所学的软件测试知识，对软件测试有更深层的理解。 三：实验设备 个人PC机（装有数据库和集成开发环境软件） 四：实验内容 1）：为以下流程图所示的程序段设计一组测，分别满足语句覆盖、判定覆盖、条件覆盖、判定/条件覆盖、组合覆盖和路径覆盖。并在各题下面写出测试用例、覆盖路径及结果等。 2）：画出下列代码相应的程序流程图，并采用基本路径测试方法为以下程序段设计测试用例（需列出具体实验步骤）。 void Do (int X,int A,int B) { 1 if ( (A>1)&&(B==0) ) 2 X = X/A; 3 if ( (A==2)||(X>1) ) 4 X = X+1;
5 } 采用基本路经测试方法测试用例，并写出具体步骤 3）：在某网站申请免费信箱时，要求用户必须输入用户名、密码及确认密码，对每一项输入条件的要求如下： 用户名：要求为4位以上，16位以下，使用英文字母、数字、“-”、“_”，并且首字符必须为字母或数字； 密码：要求为6～16位之间，只能使用英文字母、数字以及“-”、“_”，并且区分大小写。测试以上用例。 用所学的语言进行编码，然后进行等价类测试，当用户名和密码正确输入时提示注册成功；当错误输入时，显示不同的错误提示 通过分析测试用例以及最后得到的测试用例表分析所测程序的正确性，最后总结自己在这次试验中的收获并写出自己在这次试验中的心得体会。 五：实验步骤 1） （1）用语句覆盖方法进行测试 语句覆盖的基本思想是设计若干测试用例，运行被测程序，使程序中每个可执行语句至少被执行一次。由流程图可知该程序有四条不同的路径： P1：A-B-D P2：A-B-E P3：A-C-F P4：A-C-G 由于p1p2p4包含了所有可执行的语句，按照语句覆盖的测试用力设计原则，设计测试用例 无法检测出逻辑错误 （2）用判定覆盖方法进行测试 判定覆盖的基本思想是设计若干测试用例，运行被测程序，使得程序每个判断的取真和取假分支至少各执行一次，即判断条件真假均被满足。 条件覆盖测试用例 （3）用条件覆盖进行测试 条件覆盖的基本思想是设计若干测试用例，执行被测程序后要使每个判断中每个条件的可能取值至少满足一次。对于第一个判定条件A，可以分割如下： ?条件x>8：取真时为T1，取假时为F1；
在电线电缆2003-2中<对称数字通信电缆结构回波损耗影响因素分析>中提到:当高频信号在电缆及通信设备中传输时，遇到波阻抗不均匀点时，就会对信号形成反射，这种反射不但导致信号的传输损耗增大，并且会使传输信号畸变，对传输性能影响很大。这种由信号反射引起的衰减被称为回波损耗。那么这样理解回波损耗应该是衰减的一部分,那为什么标准中规定回波损耗要大于某个值呢,而且我们努力的都是如何提高回波损耗. 所以我想问回波损耗的定义和性质到底是什么?是理解为反射波引起的损耗,还是反射波的损耗呢?似乎怎么理解的都有,希望大家积极讨论,理清概念. 回波损耗（RETURN LOSS） 回波损耗是电缆链路由于阻抗不匹配所产生的反射，是一对线自身的反射。不匹配主要发生在连接器的地方，但也可能发生于电缆中特性阻抗发生变化的地方，所以施工的质量是减少回波损耗的关键。回波损耗将引入信号的波动，返回的信号将被双工的千兆网误认为是收到的信号而产生混乱。 对于通讯信号分为有用和有害信号,对于有用信号,是衰减得越少越好,比如测试中常见的衰减参数,那是数值越小越好. 但是对于有害信号,比如回波,串音,就需要衰减得越大越好.
如果结构和阻抗稳定合理,则回波会很小,即使有也由于线缆阻抗在长度上比较平滑,不容易叠加而很快被衰减.所以好的线,对回波的衰减大. 比较好理解的是串音,比如NEXT,全称是:近端串音衰减(或近端串音损耗),这个数值也是越大越好. 它是这样测试的:用网络分析仪测量,一个输入信号加在主干扰线对上,同时在近端的被干扰线对输出端测量串音信号. 测得值当然是越小越好,越小就说明串音被线缆结构(比如屏蔽)衰减得越多. 对于NEXT,有人说是近端串音,口头说说可以,但是容易造成误解,因为串音当然是越小越好,怎么要求测量数值越大约好呢,其实后面少了两个字:衰减. 串音衰减定义：用以表示能量从主串回路串入被串回路时的衰减程度。即串音的衰减. 可以理解为串音这种干扰信号的衰减程度,也就是串音衰减越大串音衰减的越多.但回波损耗的定义为由信号反射引起的衰减被称为回波损耗。也就是回波造成的损耗.他们的名词结构是不一致的,这个我也考虑过.从定义到标准中的解释,都可以说回波损耗是一种干扰和衰减,可为什么还要增大这个参数的数值呢? 当高频信号在电缆及通信设备中传输时，遇到波阻抗不均匀点时，就会对信号形成反射，这种反射不但导致信号的传输损耗增大，并且会使传输信号畸变，对传输性能影响很大。这种由信号反射引起的衰减被称为回波损耗。 我也来说说我对回路损失的理解吧!
光纤连接和检测 光缆的连接： 方法主要有永久性连接、应急连接、活动连接。 1.永久性光纤连接（又叫热熔）： 这种连接是用放电的方法将连根光纤的连接点熔化并连接在一起。一般用在长途接续、永久或半永久固定连接。其主要特点是连接衰减在所有的连接方法中最低，典型值为0.01~0.03dB/点。但连接时，需要专用设备（熔接机）和专业人员进行操作，而且连接点也需要专用容器保护起来。 2.应急连接（又叫）冷熔： 应急连接主要是用机械和化学的方法，将两根光纤固定并粘接在一起。这种方法的主要特点是连接迅速可靠，连接典型衰减为0.1~0.3dB/点。但连接点长期使用会不稳定，衰减也会大幅度增加，所以只能短时间内应急用。 3.活动连接： 活动连接是利用各种光纤连接器件（插头和插座），将站点与站点或站点与光缆连接起来的一种方法。这种方法灵活、简单、方便、可靠，多用在建筑物内的计算机网络布线中。其典型衰减为1dB/接头。 光纤检测： 光纤检测的主要目的是保证系统连接的质量，减少故障因素以及故障时找出光纤的故障点。检测方法很多，主要分为人工简易测量和精密仪器测量。 1.人工简易测量： 这种方法一般用于快速检测光纤的通断和施工时用来分辨所做的光纤。它是用一个简易光源从光纤的一端打入可见光，从另一端观察哪一根发光来实现。这种方法虽然简便，但它不能定量测量光纤的衰减和光纤的断点。 2.精密仪器测量： 使用光功率计或光时域反射图示仪（OTDR）对光纤进行定量测量，可测出光纤的衰减和接头的衰减，甚至可测出光纤的断点位置。这种测量可用来定量分析光纤网络出现故障的原因和对光纤网络产品进行评价。 光纤的应用及系统设计
南昌大学软件学院 实验报告 实验名称 LoadRunner的使用 实验地点 实验日期 指导教师 学生班级 学生姓名 学生学号 提交日期 LoadRunner简介： LoadRunner 是一种适用于各种体系架构的自动负载测试工具，它能预测系统行为并优化系统性能。LoadRunner 的测试对象是整个企业的系统，它通过模拟实际用户的操作行为和实行实时性能监测，来帮助您更快的查找和发现问题。此外，LoadRunner 能支持广范的协议和技术，为您的特殊环境提供特殊的解决方案。LoadRunner是目前应用最为广泛的性能测试工具之一。 一、实验目的
1. 熟练LoadRunner的工具组成和工具原理。 2. 熟练使用LoadRunner进行Web系统测试和压力负载测试。 3. 掌握LoadRunner测试流程。 二、实验设备 PC机：清华同方电脑 操作系统：windows 7 实用工具：WPS Office，LoadRunner8.0工具，IE9 三、实验内容 （1）、熟悉LoadRunner的工具组成和工具原理 1.LoadRunner工具组成 虚拟用户脚本生成器：捕获最终用户业务流程和创建自动性能测试脚本，即我们在以后说的产生测试脚本； 压力产生器：通过运行虚拟用户产生实际的负载； 用户代理：协调不同负载机上虚拟用户，产生步调一致的虚拟用户；压力调度：根据用户对场景的设置，设置不同脚本的虚拟用户数量；监视系统：监控主要的性能计数器； 压力结果分析工具：本身不能代替分析人员，但是可以辅助测试结果的分析。 2.LoadRunner工具原理 代理（Proxy）是客户端和服务器端之间的中介人，LoadRunner 就是通过代理方式截获客户端和服务器之间交互的数据流。 ①虚拟用户脚本生成器通过代理方式接收客户端发送的数据包，
光纤连接器的插入损耗 深圳市光波通信有限公司 罗群标 张磊 徐晓林 光纤连接器作为光通信系统中最基本也是最重要的光纤无源器件，其市场需求量越来越大。近年来随着光纤宽带接入系统的发展，光纤链路中光纤连接器(包括其它有源及无源器件上使用的连接头)的使用越来越多，这对光纤连接器的插入损耗的测试准确性提出了越来越高的要求。本文将就影响光纤连接器插入损耗的原因以及如何确保插入损耗测试的准确性及可靠性等问题作以简单的论述。 一． 有关概念 1． 光纤连接器插入损耗（IL ）的定义： IL=0 1lg 10P P ? (dB) 其中P1为输出光功率，P0为输入光功率。插入损耗单位为dB 。 2. 光纤连接器插入损耗的测试方法 光纤连接器的插入损耗的测试方法一般有三种：基准法、替代法、标准跳线比对法。 由于在大批量的生产过程中，要求插入损耗的测试必须快速、准确且无破坏性。因此现在的生产厂家大都采用第三种方法，即标准跳线比对法。其测试原理图如下： 4 1 2 3 标准适配器 光功率计 稳定光源 标准测试跳线 被测跳线 当单模光纤尾纤小于50M 、多模光纤尾纤小于10M 时，尾纤自身的损耗可以忽略不计，此时测得的数据即为3端相对于标准连接器的插入损耗，并将此数据提供给客户。当单模光纤尾纤大于50M 、多模光纤尾纤大于10M 时，应在测出的损耗值中减去光纤自身的损耗值。 3. 重复性 重复性是指同一对插头，在同一只适配器中多次插拔之后，其插入损耗的变化范 围。单位用dB 表示。重复性一般应小于0.1dB. 4. 互换性 由于光纤连接器的插入损耗是用标准跳线比对法测出的，其值是一个相对值。所 以在任意对接时，实际的插入损耗值很可能会大于用标准跳线比对法测出的值，而且不同的连接头、不同的适配器，其影响程度也会有所不同。因此就有了互换性这一指标要求。连接头互换性是指不同插头之间，或者不同适配器任意转换后，其插入损耗的变化范围。其一般应小于0.2dB 。如光波公司向客户承诺插入损耗小于0.3dB,互换性小于0.2dB ，则任意对接其插入损耗应小于0.5dB 。 二． 光纤连接器插入损耗的主要因素 1． 光纤结构参数（纤芯直径不同、数值孔径不同、折射率分布不同及其它原因等）的
回波损耗作为评价电缆阻抗均匀性的指标，一直在电缆行业内广泛应用，然而很多国内电缆出口企业在与国外厂商接触中，发现国外客户更多地提出用结构回波损耗而非回波损耗来衡量电缆的好坏，如美国、澳大利亚等国。那么回波损耗和结构回波损耗有什么区别呢? 根据美国标准结ANSI/SCTE 03 2003及ASTM D 4566，结构回波损耗SRL的定义为： SRL ＝结构回波损耗，dB； Z in＝输入阻抗（复数），Ω Z avg＝平均阻抗（复数），Ω 根据标准： R i=电缆各个频率点下输入阻抗的实部； X i=电缆各个频率点下输入阻抗的虚部； R avg=电缆所有测试点实部的平均值； X avg=电缆所有测试点虚部的平均值。 根据IEC 61196或GB/T 17737标准，回波损耗RL的定义为： RL ＝回波损耗，dB， Z T＝终端接标称阻抗时的输入端阻抗（复数），Ω Z L＝校准负载。 回波损耗可以由网络分析仪直接测试得到，而结构回波损耗则需要用矢量网络分析仪测量电缆的输入阻抗，测得的数据经电脑计算后才能得到，因此结构回波损耗测量过程需要运用计算机程控技术来实现。 根据结构回波损耗的定义，我检验中心运用计算机程控技术组建了结构回波损耗测量系统。下面是同一根电缆的回波损耗和结构回波损耗的测量结果图，图中回波损耗的最差值为 21.92dB,而结构回波损耗的最差值为24.11dB，两最差值出现在同一频点。
SRL测试图 RL测试图 由定义可以看出：回波损耗反映的是电缆的输入阻抗与测量系统阻抗之间的偏差，它既体现了电缆的结构不均匀性又反映出电缆阻抗与测量系统阻抗的偏差（或匹配程度）；而结构回波损耗只反映电缆的输入阻抗与电缆自身阻抗平均值的偏差，所以，结构回波损耗反映的只是电缆本身结构的不均匀性。虽然回波损耗和结构回波损耗两种指标都能反映电缆质量的好坏，但结构回波损耗只反映电缆结构的不均匀，而与电缆阻抗偏离系统阻抗无关。除非电缆特性阻抗的平均值非常接近与系统阻抗，否则结构回波损耗总是比回波损耗较好些。
光纤检测教程 光纤连接器在网络中非常常见，它使我们能够上路、下路、移动和改变网络。然而不可否认的是，光纤连接器端面的污染是网络故障中断的一个主要成因。这就是为什么我们总是强调光纤连接器端面的清洁工作十分有必要的原因。对连接器插针端面的检查可以找出光纤连接器上的灰尘或划痕，也可以在终端接续过程中检测出连接器端面的研磨类型。光纤检测在光纤终端接续中扮演着非常重要的角色。我们建议，养成一个在光纤连接之前先进行检测的良好习惯，这样就可以确保连接器在对接之前光纤端面是干净清洁的。本教程中，我们将向您介绍光纤检测。 关于光纤连接器和端面污染 众所周知，光纤连接器是光纤网络中最重要的部件，但同时也是最脆弱、最多问题点的部件。在介绍光纤检测前，有必要先向您介绍光纤连接器和端面污染的一些知识。 光纤连接器安装在一根光纤的终端，能够比熔接接续实现更快速的连接和断接。连接器以机械的方式耦合和对接光纤纤芯，使光线能够从中通过。一个好的连接器由于光纤反射或纤芯偏移所造成的光损耗可以说是微乎其微。目前，光纤连接器有100多种，包括单芯和多芯连接器都已推向市场用于各种各样的用途。 要实现高效的光纤连接，有3个基本的方面非常关键：完美的纤芯对接、物理接触和干净的连接器端面。今天的连接器设计和生产技术已战胜了大多数摆在“纤芯对接”和“物理接触”面前的挑战，而这最后的一项挑战就是如何保护干净的连接器端面。由此，污染就成了光纤网络
首先要解决的一个问题。如图1所示，光纤或连接器端面应没有任何污染或瑕疵。常见的污染和瑕疵类型包括灰尘、油污、凹坑和碎屑，以及划痕（图2）。连接器端面的检查是确定终端接续是否合格最好的一种方法，同时也是诊断问题（如：连接器上的灰尘或划痕）最好的一种方法。除此之外，还有很多不同的污染源，如：检测设备、防尘帽、隔板、人群和环境等，来自这些污染源的灰尘和其他颗粒物都能够污染光纤和连接器的端面。光纤连接器和检测设备上的端口频繁对接，这也是造成污染的高发事件。设备一旦受到污染，那么网络连接器和端口之间就会发生交叉污染。因此，在检测网络连接器以前，检查和清洁设备的检测端口和导线将能防止交叉污染。 图1 图2 光纤检测 我们建议在对接连接器前进行光纤检查。如图3所示，我们必须检查和确保端面是干净的。若端面不干净，那么必须要进行清洁。光纤检查和清洁是两个能够带来极大好处的简易步骤。关于光纤清洁的文章有很多，接下来我们将主要介绍连接器的光纤检查工作。
本科实验报告 课程名称：软件测试技术 实验项目：软件测试技术试验实验地点：实验楼211 专业班级：软件工程学号： 学生姓名：戴超 指导教师：兰方鹏 2015年10月7 日
太原理工大学学生实验报告
一、实验目的和要求 （1）熟练掌握白盒测试方法中的逻辑覆盖和路径覆盖方法。 （2）通过实验掌握逻辑覆盖测试的测试用例设计，掌握程序流图的绘制。 （3)运用所学理论，完成实验研究的基本训练过程。 二、实验内容和原理 测试以下程序段 void dowork(int x,int y,int z) { （1）int k=0,j=0; （2）if((x>0)&&(z<10)) （3）{ （4）k=x*y-1; （5）j=sqrt(k); （6）} （7）if((x==4)||(y>5)) （8）j=x*y+10; （9）j=j%3; （10）} 三、主要仪器设备
一、实验目的和要求 （1）熟练掌握黑盒测试方法中的等价类测试方法和边界值测试方法。 （2）通过实验掌握如何应用黑盒测试用例。 （3）运用所学理论，完成实验研究的基本训练过程。 二、实验内容和原理 （1）用你熟悉的语言编写一个判断三角形问题的程序。 要求：读入代表三角形边长的三个整数，判断它们能否组成三角形。如果能够，则输出三角形是等边、等腰或者一般三角形的识别信息；如果不能构成三角形，则输出相应提示信息。 （2）使用等价类方法和边界值方法设计测试用例。 三、主要仪器设备 四、操作方法与实验步骤 （1）先用等价类和边界值方法设计测试用例，然后用百合法进行检验和补充。 （2）判断三角形问题的程序流程图和程序流图如图1和图2所示。用你熟悉的语言编写源程序。 （3）使用等价类方法设计测试用例，并填写表2 和表3。
《软件测试技术》 实验报告 河北工业大学计算机科学与软件学院 2017年9月
软件说明 电话号码问题 某城市电话号码由三部分组成。它们的名称和内容分别是：地区码：空白或三位数字； 前缀：非'0'或'1'的三位数字； 后缀：4位数字。 流程图 源代码 import java.awt.*; import java.awt.event.*; public class PhoneNumber extends Frame implements ActionListener{ /** * */ private static final long serialVersionUID = 1L;
private final String[] st = {"Name","Local","Prefix","Suffix"}; static int c_person=0; TextField t_name,t_local,t_prefix,t_suffix; RecordDialog d_record; MessageDialog d_message; person a[]=new person[100]; public PhoneNumber() { super("电话号码"); this.setSize(250,250); this.setLocation(300,240); Panel panel1 = new Panel(new GridLayout(4, 1)); for (int i = 0; i < st.length; i++) panel1.add(new Label(st[i],0)); Panel panel2 = new Panel(new GridLayout(4, 1)); t_name =new TextField("",20); t_local =new TextField(""); t_prefix=new TextField(""); t_suffix=new TextField(""); panel2.add(t_name); panel2.add(t_local); panel2.add(t_prefix); panel2.add(t_suffix); Panel panel3 = new Panel(new FlowLayout()); Button b_save = new Button("Save"); Button b_record= new Button("Record"); panel3.add(b_save); panel3.add(b_record); this.setLayout(new BorderLayout()); this.add("West", panel1); this.add("East", panel2); this.add("South", panel3); addWindowListener(new WindowCloser()); b_save.addActionListener(this); b_record.addActionListener(this); d_record=new RecordDialog(this); d_message=new MessageDialog(this); this.setVisible(true);
RL 的测试和计算 1、 RL 定义： in out P P IL lg 10-= in ref P P RL lg 10-= * 此处我们对所有的IL 和RL 定义为正值 2、 测试设备： A ：Agilent 81680A TLS B ：Agilent 81623A PM （PowerMeter ） C ：50/50（3dB ） Coupler 3、 测试方法和步骤： A ??? ? ??-=in in p P dB lg 100 B ：测试系统的RL ：RLs ，搭建如图2所示的光路： 因为我们在步骤A 中做归零的时候已经将P in 作为基准功率，所以 ??? ? ??-=-in s ref s P P RL lg 10（式1） C ：测试器件的RL ：RL d ，搭建如图3所示的光路：
() ()()31lg 10lg 10lg 10?→?-+--+--+----??? ? ??--=??? ????????? ??-????? ??--=???? ??-=IL P p P P P P P P P P P RL in s ref d s ref in s ref d s ref s ref d s ref d ref in d ref d 根据式1，可以得出： 10 10 s RL in s ref P P --?= 设定：??? ? ??-=+-+in d s ref d s p p RL lg 10，推出： ()10 10 d s RL in P d s ref p +- ?=+- 将以上式3和式4带入式2，得到： ()311010311010311010lg 101010lg 10lg 10?→?--?→?--?→?-+--??? ? ??--=-????? ? ??????? ????? ? ?--=-??? ? ??--=++IL IL P P IL P p P RL s d s s d s RL RL in RL RL in in s ref d s ref d 令d s s RL RL x +-=，推出：x RL RL s d s -=+，将其带入式5，有： 3110103110 103110 1011010lg 101010lg 101010lg 10?→? -?→?---?→?---???? ? ????? ??--=-???? ? ?--=-???? ? ?--=+IL IL IL RL x RL RL x RL RL RL d s s s s d s 3110311010 110lg 10110lg 1010lg 10?→??→?--???? ??--=-???? ??--? ?? ? ??-=IL RL IL x s x RL s 综上，我们得出： 3110110lg 10?→?-??? ? ??--=IL RL RL x s d 试算如下： 设dB RL dB RL d s s 58,62==+，推出dB x 45862=-=，带入式6，得出： 31311042.60110lg 1062?→??→?-=-??? ? ??--=IL IL RL d （式2） （式3） （式4） （式5） （式6）
1 光器件的回损测量 引言：随着宽带接入如 LTE, FTTX 的应用越来越多，骨干光纤通信带宽越来越大，光纤本身的和光 纤系统中的无源光器件都变得越来越复杂，光纤系统中无源器件的反射对更高速率的通信系统性 能的影响越发显著，人们对光纤无源器件回波损耗指标测试的关注度在持续上升。 光纤无源器件的回损测试方案自光纤通信系统开始就有了，早期的典型测试仪表如：JDSU 公 司的 RX Meter, Agilent 公司的 816xx 系列。这些测试仪表的共同特点是：测试方法采用标准的连 续光方法，即 IEC 建议的 OCWR(Optical Continuous Wave Reflectometer)法，测量时通常需要用缠 绕光纤的方法消除额外反射，测量回损的范围在 70dB 以下。随着光纤通信技术的进步，测试仪 表也在发展，使用 OCWR 方法的测试仪技术非常成熟，随着竞争产品的越来越多，这两种仪表都 早已停止生产。 使用 OCWR 方法测量回损存在许多限制，如：测试步骤多，需要过程复杂的系统校“零”， 不能一次连接进行插损/回损的测试，不能区分瑞利散射和菲涅尔反射回损，只适用于≤55dB 的 回损测量等[1]。 另一方面，由于这些限制，在很多应用场合下不适合或者无法使用 OCWR 法进行测量，如： 无法弯曲也不允许破坏接头的光缆接头盒，特种光缆，MPO 接头等。 图 1：无法弯曲的光纤接头 为了解决这些问题，我们需 要采用其他的回损测量方法，如 OTDR 法。为了比较 OCWR 和 OTDR 两种测量方法，让我们首先回顾一下回损测试的原理以及 IEC61300‐3‐6 对回损测试方法的描 述。 1. 原理和测量方法 1.1 回损的来源 按照 IEC61300‐3‐6 的定义，回损是指在器件输入端、光纤接头或者定义的某一段光路上反射 光功率[mW]与入射光功率[mW]的比值。
沈阳理工大学职业技术学院 《软件测试技术》 综合实验报告 题目：对《图书出借管理系统》 _ 软件的测试用例设计 系别：信息工程系 专业：软件技术 班级学号： 学生姓名： 成绩： 指导教师： 2011年 1月 1日
目录 引言 (2) 1 系统分析 (3) 1.1 开发目的 (3) 1.2 需求分析 (3) 1.3 可行性分析 (4) 1.3.1 技术可行性分析 (4) 1.3.2 系统操作可行性分析 (4) 1.4 开发工具 (5) 1.4.1 SQL Server简介 (5) 1.4.2 Visual https://www.doczj.com/doc/9e9395050.html, 2005 (5) 1.5 开发及运行环境 (6) 2 系统设计........................................................ V I 2.1 设计目标及系统总体功能结构................................ V I 2.2 系统功能模块设计......................................... V II 2.2.1 登陆模块............................................ V II 2.2.2 图书出借管理模块.................................... V II 2.3 系统流程图............................................... V II 3 数据库设计..................................................... V II 3.1 概念结构设计............................................ V III 3.2 数据库详细设计.......................................... V III 3.2.1 创建数据库......................................... V III 3.2.2 连接数据库........................................... I X 3.2.3 创建数据表........................................... I X 4 系统详细设计与实现............................................... X 4.1 主程序窗体设计............................................. X 4.2 系统登陆界面设计.......................................... X I 5 系统测试...................................................... X III 5.1 测试环境................................................ X III 5.2 测试用例设计与执行记录................................... X IV 5.2.1 登陆模块............................................ X IV 5.2.2 图书出借管理模块.................................... X IV 5.3 测试可行性分析............................................ X V 结论............................................................. X XII 体会............................................................ X XIII
T3/E3/STS-1 LIU的回波损耗测量 本应用笔记讲述如何测量Dallas Semiconductor公司的线路接口单元(LIU)和单芯片收发器(包括DS3150、 DS315x、DS325x、DS3170、DS317x和DS318x)的回波损耗。本文还对回波损耗的定义、要求、测量以及改进方法进行了论述。 回波损耗定义 当高速信号到达传输线路的终端时，如果传输线路没有很好地端接，部分信号能量将会向发送器反射。该反射信号与原始信号混合，这将导致原始信号失真，使LIU接收器很难正确恢复时钟和数据。 回波损耗是原始信号与反射信号的功率比(用dB表示)。因此，回波损耗表示的是反射信号的相对大小，同时也反映了传输线路终端的匹配度或者说失配度。如果在给定频率下测得LIU卡的回波损耗为20dB，则表明在该频率下反射信号比原始信号功率小20dB。 回波损耗要求 对于E3、ITU G.703和ETS 300-686，规定的输入回波损耗如表1所列，输出回波损耗如表2所列。 表1. 输入端最小回波损耗 表2. 输出端最小回波损耗 Dallas Semiconductor的LIU回波损耗测量 ETS 300-686规范中的A.2.5和A.2.6细则描述了测量E3回波损耗的测试设备和程序。图1所示的测试装置用于测量输入回波损耗，并验证其是否符合表1所列出的要求。输出回波损耗的测量装置与之相似，只是测量装置被连接到了发送器的输出而非接收器输入。 图1装置中，回波损耗电桥采用的是Wide Band Engineering公司的A57TLSTD。两个50/75阻抗转换器(Wide Band Engineering的A65L)用来连接75电桥与50信号发生器和50频谱分析仪端口。图1中桥右侧的75
光线连接器制造实习工作报告 班级：光电09303 姓名：胡飞 学号：09012003 指导教师：刘孟华 日期：2011/4/5
一、工作任务 1)熟悉光纤活动连接器的基本结构及其组装工艺 2)学会端面研磨技术与质量检验 3)自己动手制作出合格的FC、SC型活动连接器 二、主要工艺流程及设备 工艺流程： Ⅰ组装阶段物料准备→下线/绕线（线圈直径不能小于6cm）→穿散件→剥纤→注胶→穿纤与固化（约30分钟）→切纤→压接（二次卡紧）→去胶与自检 Ⅱ研磨阶段装夹→粗磨→细磨→精磨→抛光 Ⅲ检验阶段端面检查与分析→指标测试（插入损耗、回波损耗） 主要设备： 高温固化炉、压接机、端面研磨机、端面检查机 插回损测试仪 三、制作的产品质量分析 合格的连接器应该是各个零部件按正确的顺序紧密牢固连接。插芯端面中心的光纤上及光纤附近没有划痕、麻点、气泡和色斑，通光后出现亮点。插入损耗IL≤0.30dB，RL≥60dB。
现象分析：自己的端面在进行端面检测时能观察到显微图像上方为颜色略与圆面不一的线条。这是由于研磨片或研磨液不均匀造成的端面缺陷。插入损耗测试为0.1dB，回拨损耗为63dB。 四、工作中的职业表现 ?能严格按照工作时间准时上下班。 ?能认真听取老师和师傅的安排，并按要求完成任务。 ?能和小组成员积极有效的配合，讨论。 ?面对不足与失误，找出问题，深刻反省。 五、掌握了的技能 ●对光纤连接器分类和组成有了基本的认识 ●掌握了制造光纤连接器的主要工艺流程并能自己动手制作 出合格的光纤活动连接器 ●能准确分析制作过程中出现的常见问题 ●能检测光纤连接器的好坏并能测其重要指标参数 六、工作中的得失及感悟 ?要严格按照各项规定进行操作，不能随心所欲，投机取巧 ?遇到问题冷静处理，认真分析，及时解决 ?工作中要和团队成员协调配合，服从安排
广东*融学院实验报告 课程名称：软件测试 」、实验目的及要求 1、理解测试用例的重要性。 2、熟练掌握等价类划分、边界值方法、决策表和因果图法设计测试用例。 二、实验环境及相关情况（包含使用软件、实验设备、主要仪器及材料等） 1. 使用软件：装有QTP功能测试软件 2 .实验设备：装有Windows的联网的个人计算机 三、实验内容及步骤（包含简要的实验步骤流程） 1、实验题目：登陆框测试 在各种输入条件下，测试程序的登录对话框功能。 用户名和密码的规格说明书如下：（密码规则同用户名规则。） 用户名长度为6至10位（含6位和10 位）; 用户名由字符（a-z、A-Z）和数字（0-9）组成； 不能为空、空格和特殊字符。 要求：按照规格说明书，分别用等价类划分和边界值方法设计测试用例。 步骤：（1）分析规格说明书，确定输入条件、输出条件的有效等价类、无效等价类以及各个边界条件；（2）第二步：填表格并编号；（3）第三步：设计测试用例；（4）第四步：执行测试用例。 2、员工薪制冋题。 （1）年薪制员工：严重过失，扣年终风险金的4%，过失，扣年终风险金的2%。 （2）非年薪制员工：严重过失，扣月薪资的8%，过失，扣月薪资的4%。 步骤：（1）分析程序的规格说明，列出原因和结果；（2）找出原因与结果的因果关系、原因与原因之间的约束关系，画出因果图；（3）将因果图转化成决策表；（4）根据决策表，设计测试用例的输入数据和预期输出。
四、实验结果（包括程序或图表、结论陈述、数据记录及分析等，可附页） 等价类划分方法： 五、实验总结（包括心得体会、问题回答及实验改进意见，可附页） 通过本次实验，我理解了测试用例的重要性。熟练掌握了等价类划分、边界值方法、决策表和因果图法设计测试用例。 六、教师评语 1、完成所有规定的实验内容，实验步骤正确，结果正确； 2、完成绝大部分规定的实验内容，实验步骤正确，结果正确； 3、完成大部分规定的实验内容，实验步骤正确，结果正确； 4、基本完成规定的实验内容，实验步骤基本正确，所完成的结果基本正确； 5、未能很好地完成规定的实验内容或实验步骤不正确或结果不正确。 评定等级： 签名: