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MS2000激光粒度分析仪基本测量

MS2000激光粒度分析仪基本测量
MS2000激光粒度分析仪基本测量

MS2000激光粒度分析仪基本测量一,认识仪器

小容量样湿法进样器(自动(左),手动(右))

仪器验证标准样品(玻璃珠)

二,常见问题

自动对光失败

对光失败是因为检测器检测信号超出仪器允许阈值导致,可能原因有三:

1,镜片脏了,有样品颗粒残留或划痕,或者镜片装得过紧过松,镜片不平很;(清洁镜片,更换新镜片,或者重新装好镜片可以解决问题)

2,水循环(或空气循环-干法)不稳定,水中有气泡,杂质或者水温不稳定(与室温有差异)或者样品池进出水位置颠倒(下入上出)导致激光束不能正常聚焦;(清除杂质,脱气并延长水循环时间,确保正确的出入水位置,待循环稳定后故障会自行消失)

3,激光光路问题,光源输出质量差,激光器受震动光束输出偏转。(极少出现,需要工程师现场解决)

结果变化

常见原因是被测量样品或测试条件发生变化导致的(操作人员对仪器操作熟练程度不同,选用的样品没有正常取样或者没有正常分散,测试方法并不适合某具体样品等等),也有可能是仪器本身问题。

用户处理的最简单步骤就是在指定条件下,测量标准物质,例如QAS3002(适合大容量湿法进样器,自动干法进样器),根据结果判断仪器是否真的存在问题。注意若不是按照标准样品指定测量方法进行测试,即使仪器状态良好,测量结果仍可能不合格。

失去通信

常见原因是仪器受到周围电磁干扰导致,通常重启仪器,软件可以解决问题。若问题还在,请检查电缆连接和计算机控制端口设置(在MS2000软件中,选择Tools---Options---Instrument Port设置合适的端口)

最坏情况是仪器内部电源或接口板故障。

干法真空错误

干法进样器的真空检测器没有检测到负压,软件判断吸尘器工作不正常而采取的保护措施。常见原因是吸尘器吸力不够,可能是吸尘器垃圾袋需要清理,或者吸尘器与样品池连接有泄露。另一个常见原因是样品池真空检测管与进样器真空检测端口间的连接管路漏气,不密封。

测量电子背景失败

常见原因是仪器内部漏光导致检测器信号饱和(电子背景是在没有激光输入情况下测量暗背景的信号输出),确保仪器盖板装配正常,无外界光源干扰。其他情况可能内部激光挡板马达,或者控制电路板故障(需要工程师处理)。

激光器,激光能量监视器或者存储参考值故障

常见原因是激光器老化,工作不稳定,需要更换激光器解决。该问题出现时仪器不会立即无法使用,通常重启仪器还能工作,能继续使用一段时间(一月左右)。参考值故障可以联系马尔文公司电话解决,需要提供仪器校准数据盘(*.cal)

激光衍射法存在哪些标准

国际标准:ISO13320-1:1999Particle Size Analysis –Laser Diffraction Methods

国内标准:GB T 19077.1-2008粒度分析激光衍射法

马尔文技术支持:400-820-6902,support.china@https://www.doczj.com/doc/9b3432625.html,

MS2000激光粒度分析仪基本测量

标准操作程序测量(SOP)和手动测量(Manual)

1,SOP

SOP(标准操作程序测量)是用户定义程序,SOP运行时能自动按已定义的操作步骤进行测量,SOP方便不同熟练程度的操作人员获得相对一致的测量过程。

SOP运行时能自动按照已定义的测量参数,按步骤进行,提示操作人员执行各种程序(如添加样品)。SOP 完全控制测量附件(手动控制附件除外),自动调整(如泵速和超声波功率),对于初学者或者作常规同类样品测量时,SOP值得推荐。

建立SOP也很容易,悬着Configure-New SOP。软件会通过一个SOP Wizard向导询问一系列的测量设置参数,如样品的光学性质?分散介质?泵速?超声?怎样计算和分析结果等。

2,Manual

手动测量需要操作人员按步骤设置各种测量条件,操作人员需要对仪器使用比较熟悉,灵活性相对较大。手动测量通常被用作“一次性”测量,或者在设定SOP标准程序前,用手动测量“感觉”样品,便于选择适合该样品的测量参数。

测量前准备

1,样品准备

样品必须能够准确反映待测物质,确保使用的样品是具有代表性的,若样品储存在容器中,测量前样品应充分混合,确保大小颗粒都被取样。液体样品需要选择合适的泵速确保样品充分混合,防止大颗粒沉入容器底部而没有被测量;干法测量结束后不要在样品盘上有残留样品,尽量保证所有样品颗粒都被测量。2,光学系统的洁净度

激光散射测量是一种高分辨的光学检测手段,样品池检测窗是测量区域的主要组成部件,窗口的灰尘和污染物质会散射激光,杂质散射光会随分散样品的散射光一起被测量,从而影响测量的精度。

通过观测测量背景就能判断系统的光学洁净程度是否达标。

2.1新仪器的背景测量窗口(湿法)如图1所示:

图1背景测量显示(湿法)

若符合下述条件,我们认为仪器光学部分是洁净的:1,阴影部分沿X轴递减,柱状条变化趋势是逐渐降低。

2,第一条柱状条高度不超过100。

3,激光强度在70%以上。

2.2仪器的背景测量窗口(干法)如图2所示:

图2背景测量显示(干法)

可以看见柱状图的变化趋势是依次递减的,通常第一条柱状条(最大高度柱状条)高度不超过150。

2.3较差的测量背景如图3所示

图3样品窗有污染的背景测量显示

在柱状图显示中可以看到在30-40检测器之间存在一个信号峰,这通常意味着存在污染物附着在样品池窗口上。

2.4若背景柱状图波动过大(背景不够稳定),通常意味着分散介质中存在气泡或者杂质微粒。

要获得成功的测量,首先必须保证一个稳定的测量背景。

图4背景柱状图正常但波动过大也不适合测量

仪器准备

在测量前应确保正确的连接仪器与样品池,注意湿法进样液体是从样品池下端流入,再从样品池上端流回进样器。

另外在开始正常测量前仪器需要一段预热时间,确保仪器工作稳定。

基本测量

一个完整测量过程包括电子背景测量,光学背景测量和对光,加入样品,开始粒径测量,完成测量。进入测量过程后,软件界面的左下方会有对话框指示测量的进程。

测量背景:颗粒区的测量数据,由于受到设备电子背景噪音,测试光路中镜面灰尘,以及分散介质中的杂质颗粒影响会有一定的偏差。通过“测量背景”能纯化粒径测量,上述的背景信息和数据会从样品测量数据中减去以得到精确的数据。

选择测量参数:按下Option,出现Measure Option窗口,其中Material一栏提示操作人员指定测量样品的光学参数,分散介质,数据分析模型;Measurement显示栏确定样品和背景测量时间。最佳测量时间由样品颗粒大小形状及分布范围和使用的分散附件决定,若样品分布是单模的,其基本粒度特征使用较少的测量时间就可获得,反之较宽粒度分布的物质需要较长的测量时间。

测量样品的光学参数包括样品的折射率RI,吸收率Absorption,一般常见物质的光学参数软件中有记录,可以直接选用;若是新的物质,软件库中没有记录,则需要操作人员自行添加样品光学参数。注意对于MS2000一般应用来说,吸收率是按10的倍数变化,只有1为有效数字。在光学显微镜下透明的物质,其吸收率为0,全黑的物质吸收率为1,其他则为0.001,0.01,0.1。注意肉眼认为不透光的可能还是0.01的吸光度,判定依据是在光学显微镜下查看是否透光,如下图所示。

加入样品:在背景测量结束后,出现加入样品提示。如图5所示,左方遮光度Obscuration指示栏直观地表示测量样品的数量,遮光度会随着样品数量的增加而逐渐增高。在未加入样品前,右方的测量数据柱状图应该是随机变化,而且柱状数据条的高度一般不超过5。

开始测量:当遮光度达到测量要求,停止添加样品后保持稳定(一般意味着样品颗粒没有发生溶解或凝聚,样品颗粒正常稳定分散),同时测量数据窗口显示稳定的,足够强度的柱状数据分布,如图6所示,可以按下“Start”键开始测量。

图5添加样品窗口显示

图6测量窗口

查看结果

一旦测量完成,测量信息被软件收集和分析,将以多种形式显示。每种显示数据的方式又称为报告,测量窗口中所有的报告均显示相同的测量数据。所有的测量和分析数据都存在“Record”中,Record存放在测

量文件里(*.mea)。一个测量文件包含一个或多个记录,一条记录包含了单个测量的所有信息,包括原始测量数据和计算粒度分布的参数。可以选择File-Open打开测量文件。

测量基本流程:

开始手动测量

测量电子背景

仪器对光过程

仪器对光失败图片(出现手动对光窗口)

手动对光的基本操作是:(不要拘泥于显示的X,Y具体数值是否为零)

1,先设置较大步进32或16;

2,水平方向调整。点击左右箭头,确保蓝色的光强信号条在最左侧(0号检测器)附近最大。调整过程中可以观察左右调整的趋势,让光强信号条向最左侧靠拢;

3,水平方向调整到最佳位置后,垂直方向调整。点击上下箭头,确保蓝色的光强信号条在最左侧(0号检测器)附近最大。调整过程中可以观察左右调整的趋势,让光强信号条向最左侧靠拢;

4,然后依次减少步进为8,4,2。重复进行2,3步骤。即在水平,垂直方向对光调整,确保0号检测器处信号强度最高,并且信号强度呈递减趋势;

5,在调整过程中观测激光强度,确保强度最高(一般在70%以上,视不同分散介质,激光强度可能有所变化)

对光完成,通常背景如图

加入样品后

等待遮光度稳定(通常30秒),其数值变化不大时再开始测量。

样品制备:

影响激光粒度分析仪测试效果的几点关键因素

影响激光粒度分析仪测试效果的几点关键因素 济南微纳颗粒仪器股份有限公司李文涛 影响激光粒度分析仪器测试效果的因素有很多,本文讨论以下几点三点关键因素:光路对中,仪器校准,样品分散。 一光路对中 对中是指激光束的焦点通过光电探测阵列的圆心,激光粒度仪在测试前首先要保证激光束的焦点通过光电探测阵列的圆心,并且在测试过程中不偏移,才能得到正确的结果。 目前粒度仪采用的都是两维对中系统,一般采用步进电机通过轴套来带动移动尺来提供动力,步进电机和轴套、轴套和移动尺之间都是通过顶丝连接,导致三个器件的中心不在一条直线上,且移动尺正转和反转的之间的空转间隙较大,导致对中系统不稳定,不能快速而准确地完成对中,现有对中系统都没有限位系统,如果光路本身出现问题,对中系统就会出现误判断,一直朝着一个方向运动损坏机械传动组件。 针对现有技术的不足,微纳公司提供一种设计合理、结构简单紧凑、使用方便的三维自动对中系统。 为了提高对中系统的精准度,减小空转长度,采用带丝杠的步进电机作为动力部件。 为了提高对中系统的稳定性,采用消隙的滑轨作为机械传动组件的核心部件。 为提高对中速度和防止出现误操作,采用光电传感器与限位片结合的方式来限位。 新型的三维自动对中系统与现有技术相比,具有如下优越的特点: 1、实现了三维自动对中。 2、设计合理、结构简单紧凑。方便实用,可用于各型号激光粒度分析仪。

3、采用自带丝杠的步进电机和消隙滑轨结合的方式能够稳定、快速、准确地实现三维对中需求。 4、采用光电传感器与限位片结合的方式来限位,能够防止因光路问题引起的传动系统损坏。二仪器校准 此处要谈到了仪器校准不单单是对仪器采用国家标准物质进行仪器准确度的校正,仪器校准应包括以下几方面的内容: 1、仪器光学基准 只有在保证仪器光学系统工作正常的情况下,仪器的校准才有意义。光学窗口是激光粒度分析仪器重要的组成部分,因此测试前应保证光学窗口内外表面光洁,无划痕,清洁,无缺损。光学基准谱平滑依次过渡,无明显突起或凹陷。 2、外界条件对仪器的影响 外界条件主要包括环境的湿度,温度和电源电压的波动对仪器测试结果的影响。 3、仪器测量重复性 将仪器预热到规定时间,采用一种国家标准物质进行多次测试,一般测试样品6-10次,记录每次D50,计算测量平均值,标准偏差和相对标准偏差。 4、仪器测量相对误差 与仪器重复性测量不同的是,仪器相对误差的测试要采用至少三种样品以上的国家标准物质进行测试,每种样品独立测量3次并分别求其平均值,获得多个粒度测量的平均值,分别计算仪器测量平均值与粒度表标准物质标准值间的相对误差。 5、仪器分辨力 仪器分辨力的判断是采用测试两种样品混合测试的方法,两种粒度标准物质的移取量要根据其质量浓度而定,确保混合后的样品中标准物质的质量浓度比为1:2,将样品混合均匀后

激光粒度仪讲解

激光粒度仪测定粒度分布组成 一、试验目的 本实验目的是测定粒子尺寸及粒度大小分布,通过试验了解激光粒度仪的工作原理及组成,学习激光粒度仪的使用及操作;掌握分布曲线所显示的粒度大小及分布情况。颗粒及颗粒行为是无机非金属材科研究的基础。因此,颗粒的表征和颗粒的测试具有同样的重要性。粉体的粒度是颗粒在空间范围所占大小的线性 尺度。粒度越小,粒度的微细程度越大。颗粒群是指含有许多颗粒的粉体或分散体系中的分散相。若颗粒进度都相等或近似相等,称为单进度或单分散的体系或颗粒群。实际颗粒所含颗粒的粒度大都有一个分散范围,常称为多进度的、多谱的或多分散的体系或颗粒群。粒度分布是表征多分散体系中颗粒大小不均一程度的。粒度分布范围越窄,其分布的分散程度就越小,集中度也就越高。 粒度分布测量中分为频率分布和累积分布。累积分布横坐标表示各粒级的粒度;纵坐标表示在某Df以下的颗粒所占总颗粒的个数或质量百分数。通过粒度 分布曲线分析所显示的粒度大小和粒度大小分布,了解材料的研磨情况,推断出材料粒度不同其性能不同。同时可以反映出材料性能不同与材料颗粒粒径的大小 有关系。 二、试验仪器 RISE—2008型激光粒度分析仪,1000ml烧杯二只,试样若干种类 三、试验原理 根据光学衍射和散射的原理,从激光器发出的激光束经显微物镜聚集,针孔滤波和准直后,变成直径约10mm的平行光束,该光束照射到待测的颗粒上,就 发生了散射,散射光经傅立叶透镜后,照射到光电探测器上的任一点都对应于某一确定的散射角,光电探测器阵列由一系列同心环带组成,每个环带是一个独立的探测器,能将投射到上面的散射光线形地转换成电压,然后送给数据采集卡, 该卡将电信号放大,再进行AID转化后送入计算机。Rise-2008型激光粒度仪依据全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质, 根据激光照射在颗粒上产生的散射光能量反演出颗粒群的粒度大小和粒度分布 规律。

当前世界流行的粒度测试仪——Particle Metrix粒度分析仪

粒度分析仪在工业生产中非常重要,近些年,粒度分析仪迅速发展出现了多种粒度分析仪。目前全世界流行的粒度测试仪器应该是激光粒度分析仪了。 激光粒度分析仪仪是利用粒子的布朗运动,根据光的散射原理测量粉颗粒大小的,是一种比较通用的粒度仪。其特点是测量的动态范围宽、测量速度快、操作方便,尤其适合测量粒度分布范围宽的粉体和液体雾滴。 在挑选粒度分析仪的时候,大家一般都会考虑德国的Particle Metrix(简称PMX),Particle Metrix(简称PMX)是一家专业研发和制造表征胶体特征和生命科学研究的仪器公司。PMX公司拥有两条专业的产品线,针对不同的应用提供不同的专业仪器。在生命科学研究领域,PMX 公司的ZetaView产品采用了激光光源照射纳米颗粒悬浮液,利用全黑背景可以观察到单个纳米颗粒的布朗运动和电泳现象,能够实现单个纳米颗粒的跟踪,粒度测量,Zeta电位测量,浓度测量等。下面是德国Particle Metrix(简称PMX)的一款产品,我们来了解一下。 (纳米颗粒跟踪仪Zetaview) Zetaview的特点 - 全自动和无源稳定性 自动校准程序会持续工作,即便是样品池被取出后。防震动设计提高了视频图像的稳定性。通过扫描多个子体积并进行平均,就可以得到可靠的统计结果。有3种测量模式可供选择:粒径,zeta电位和浓度。样品池通道集成在一个插入式的盒子中,盒子可提供温度控制以及同管理单元的耦合。

测量范围 测量范围依赖于样品和仪器。对于金样品,颗粒跟踪技术的检测下限为10nm;相应的,如果样品的散射能力较弱,则检测下限会变得更大。假如样品稳定,不会沉淀或漂浮,zeta电位测量的粒径上限为50微米,对于粒径测量为3微米。 准确度和精度 Zeta电位:准确度5mv,精度4mv,重现性5mv; 粒度测试(对于100纳米的标准乳胶颗粒):准确度6nm,精度4nm,重现性4nm; 浓度测试(100纳米的颗粒,浓度10Mio粒子/ml):准确度0.8 Mio/ml,精度0.5Mio/ml,重现性1Mio/ml; 激光粒度仪集成了激光技术、现代光电技术、电子技术、精密机械和计算机技术,具有测量速度快、动态范围大、操作简便、重复性好等优点, 如果您的工厂需要这样的仪器,请及时与上海大昌洋行(DKSH)联系。DKSH是一家著名的国际贸易集团,总部位于瑞士的苏黎世。这家公司在上个世纪就与中国进行贸易了。如今已经有100多年的历史了。业务范围涉及机器、仪器、消费品、纺织品、化工原料等诸多领域。 大昌洋行的产品种类特别丰富,大昌洋行科学仪器部专业提供分析仪器及设备,独家代理众多欧美先进仪器,产品范围包括:颗粒,物理,化学,生化,通用实验室的各类分析仪器以及流程仪表设备,在中国的石化,化工,制药,食品,饮料,农业科技等诸多领域拥有大量用户,具有良好的市场声誉。近些年,市场不断扩大,大昌洋行在中国设有多个销售,旨在为客户提供全方位的产品和服务。

干湿两用激光粒度分析仪

济南润之科技有限公司产品目录 湿法激光粒度分析仪 (2) 一、仪器简介: (2) 二、仪器型号 (2) 1、Rise-2002型湿法激光粒度分析仪 (2) 2、Rise-2006型湿法激光粒度分析仪 (2) 3、Rise-2008型湿法激光粒度分析仪 (2) 三、应用范围: (2) 干法激光粒度分析仪 (3) 一、仪器简介: (3) 二、仪器型号: (3) 1、Rise-2012型干法激光粒度分析仪 (3) 2、Rise-2016型干法激光粒度分析仪 (3) 3、Rise-2018型干法激光粒度分析仪 (4) 三、应用范围: (4) 干湿两用激光粒度分析仪 (4) 一、仪器简介: (4) 二、仪器型号 (4) 1、Rise-2022型干湿两用激光粒度分析仪 (4) 2、Rise-2026型干湿两用激光粒度分析仪 (5) 3、Rise-2028型干湿两用激光粒度分析仪 (5) 三、应用范围: (5) 颗粒图像分析仪 (5) 一、仪器简介: (5) 二、仪器型号: (6) 1、Rise-3002型颗粒图像分析仪 (6) 2、Rise-3012型动态颗粒图像分析仪 (6) 三、应用范围: (7) 粉尘分散度测试仪 (7) Rise-3022型粉尘分散度测试仪 (7) 一、仪器简介: (7) 二、技术参数: (7) 三、应用范围: (7) 全自动比表面积及孔隙度分析仪 (8) 一、仪器简介: (8) 二、仪器型号: (8) 1、Rise-1001全自动比表面积及孔隙度分析仪 (8) 2、Rise-1010全自动比表面积及孔隙度分析仪 (8) 3、Rise-1020全自动比表面积及孔隙度分析仪 (9) 4、Rise-1030全自动比表面积及孔隙度分析仪 (9) 三、应用范围: (9)

马尔文激光粒度仪(MS2000)操作规程-干湿法

马尔文MS2000操作规程 一.开机顺序:先开仪器主机和湿法或干法进样器,再开电脑,仪器需要预热15到30分钟。 关机顺序:先关电脑软件,再关湿法或干法进样器和仪器主机。 二.湿法测量程序: a)手指轻轻按键控制面板第一个显示中间的on/off键盘,让水循环起来。 b)在桌面上双击Mastersizer2000操作软件,进入操作软件,输入操作者姓 名,然后鼠标左键点击确定。 c)在文件那里点击打开,打开已有的文件或新建一个文件,确保记录存放 在你所需要的文件名下。 d)单击“测量”菜单中的“手动”按钮,进入测量窗口。 e)然后点击“对光”,对光好后,如果背景状态正常,就不需要换水了(如 果是第一次打开软件的话,对光按键是隐藏在测量背景下面的,只要点 击“开始”键,仪器就会对光接着测量背景的)。 f)然后进入“选项”菜单,选择合适的光学参数,在“物质”那里选择好 催化剂,或者新鲜催化剂,再进入“文档”菜单,输入样品名称,然后 “确定”退出。 g)然后单击“开始”按钮,系统开始测量背景,当背景测量完成以后并提 示“加入样品”后,开始加入样品到遮光度10%,到控制的遮光度范围 内,然后单击“开始”或按“测量样品”仪器会进行测量样品。每测量 一次,结果会按记录编号和时间存在已经指定的文件里。 h)测量结束后,抬起烧杯上方盖子到两个黑线中间,附近会自动把样品池 的水排除,然后换新鲜的水并清洗两到三次(以背景正常为准)。三.干法测量步骤:干法测量可用SOP(标准操作规程)来进行测量。 1.把样品放入干法进样器的样品盘中 2.点击测量窗口中的“启用SOP” 3.选择已经设置好的SOP 4.根据仪器运行SOP提示输入样品的编号

欧美克LS-POP激光粒度分析仪作业指导书

1. 目的: 为了规范对激光粒度分析仪的操作使用,从而确保产品粒度检验结果的正确性、真实性、可靠性,特制定本文件。 2. 内容: 2.1 工作原理 利用颗粒对光的散射现象,根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。 2.2 技术指标 测试范围:0.2~500μm 进样方式:湿法,循环进样器和静态样品池 重复性误差:<3% 测试时间:1-2分钟 独立探测单元数:32 光源种类:氦-氖激光 功率:2.0 mW 波长:0.6328 μm 2.3工作环境 2.3.1 仪器应安装在洁净、少尘、无烟、带空调的环境中。仪器的组件中含有激光管、光学镜头、针孔和测量窗口等。这些光学部件如果受到灰尘、油脂、石油产品或其他有害物质的侵蚀,将会造成光洁度下降、腐蚀、堵塞、功率下降等损害。 2.3.2 室温要稳定,没有明显的气流,没有直射阳光,否则会引起激光功率不稳,光束准直欠佳和外界杂散光的干扰,从而造成测量的重复性下降。 2.3.3 ,仪器的工作环境要求温度在5-35℃之间,空气湿度不可高于85% ,否则光学镜头表面可能会结露,致使光线不能聚焦,时间长了还会使镜头发霉。 2.3.4 地面不能有明显的震动,否则会导致光路系统偏移,引起测量结果异常。 2.3.5 电源电压220V,50/60HZ,有三头插座且接地线良好。 2.3.6严禁将零线和地线合接。 2.3.7本仪器的接地线不可与其他地线专用。 2.4 输出项目 粒度分布表、粒度分布曲线、平均粒径、中位径、比表面积等。

2.5 相关名词解释 2.5.1 粒径:又称颗粒尺寸,用以表征颗粒的大小。除了球形颗粒这一特例外,粒径并不是真实的物理尺寸,而是会随测量原理变化的等效尺寸。在激光散射法技术中,粒径是指与待测颗粒有相同的化学性质并有最相近的光散射特性的球形颗粒(组合)的直径(分布)。 2.5.2 粒度分布:是指一个粉体样品中各种粒径的颗粒所占的比例。因为任何一个粉体样品都是由大小不同的颗粒组成的,所以用粒度分布才能确切地描述其粗细情况。 2.5.3 悬浮介质:测量粒度时需要把样品分散在液体或气体中。这里的液体或气体就称为悬浮介质。合适的悬浮介质应该是既能让样品在其中分散,又不让样品在其中分解或发生化学反应的。 2.5.4 光能分布:即散射光的能量分布,就是照射到粒度仪各光电探测器上的散射光的能量。背景光能代表被光路上的尘埃粒子或各光学镜面的疵点散射的光能分布;而样品颗粒的散射光能是被待测样品的颗粒散射的光能,其分布与样品颗粒的粒度相对应,但不等于粒度分布。 2.5.5 遮光比:指测量用的照明光束被测量的样品颗粒阻挡的部分与照明光的比值。颗粒在测量介质中的浓度越高,则遮光比越大。 2.5.6 平均粒径:是指样品中所有颗粒的粒径的平均值,可以根据粒度分布计算而得。 2.5.7粒度分布宽度:用以表征样品粒径的均匀程度。粒度分布宽,表示样品颗粒的粗细不均匀;反之,则表示均匀。 2.6 准备阶段 2.6.1系统开机 打开电源开关 测量单元(预热半小时后进行下面步骤) 循环进样器 打印机 显示器 计算机主机 2.6.2 测量单元预热 2.6.2.1如关机超过半小时再重新开机,必须预热半小时。 2.6.2.2打开测量单元电源,半小时后,激光率才能稳定。如果环境温度较低,等待时间还要延长。 2.6.2.3判断激光功率是否达到稳定的依据是,背景光能分布的零环高度是否稳定。正常

马尔文激光粒度仪简介

laParticle size analysis-Laser diffraction methods (ISO-13320-1) Introduction Laser diffraction methods are nowadays widely used for particle sizing in many different applications. The success of the technique is based on the tact that it can be applied to various kinds of particulate systems, is fast and can be automated and that a variety of commercial instruments is available. Nevertheless, the proper use of the instrument and the interpretation of the results require the necessary caution. Therefore, there is a need for establishing an international standard for particle size analysis by laser diffraction methods. Its purpose is to provide a methodology for adequate quality control in particle size analysis. Historically, the laser diffraction technique started by taking only scattering at small angles into consideration and, thus, has been known by the following names: -fraunhofer diffraction; -(near-) forward light scattering; -low-angle laser light scattering (LALLS). However, the technique has been broadened to include light scattering in a wider angular range and application of the Mie theory in addition to approximating theories such as Fraunhofer and anomalous diffraction. The laser diffraction technique is based on the phenomenon that particles scatter light in all directions with an intensity pattern that is dependent on particle size. All present instruments assume a spherical shape for the particle. Figure 1 illustrates the characteristics of single particle scattering patterns: alternation of high and low intensities, with patterns that extend for smaller particles to wider angles than for larger particles[2-7,10,15 in the bibliography]. Within certain limits the scattering pattern of an ensemble of particles is identical to the sum of the individual scattering patterns of all particles present. By using an optical model to compute scattering for unit volumes of particles in selected size classes and a mathematical deconvolution procedure, a volumetric particle size distribution is calculated, the scattering pattern of which fits best with the measured pattern (see also annex A).

激光粒度仪实验报告

实验一LS230/VSM+激光粒度仪测定果汁饮料粒度 1实验目的 了解激光粒度仪的基本操作; 了解激光粒度仪测定的基本原理。 2实验原理 激光粒度分析仪的原理是基于激光的散射或衍射,颗粒的大小可直接通过散射角的大小表现出来,小颗粒对激光的散射角大,大颗粒对激光的散射角小,通过对颗粒角向散射光强的测量(不同颗粒散射的叠加),再运用矩阵反演分解角向散射光强即可获得样品的粒度分布。 激光粒度仪原理图如图1所示,来自固体激光器的一束窄光束经扩充系统扩充后,平行地照射在样品池中的被测颗粒群上,由颗粒群产生的衍射光或散射光经会聚透镜会聚后,利用光电探测器进行信号的光电转换,并通过信号放大、A/D 变换、数据采集送到计算机中,通过预先编制的优化程序,即可快速求出颗粒群的尺寸分布。 3实验试剂与仪器 实验样品:果汁饮料。 实验仪器:LS230/VSM+激光粒度仪。 4实验步骤 按照粒度仪、计算机、打印机的顺序将电源打开,并使样品台里充满蒸馏水,开泵,仪器预热10分钟。

进入LS230的操作程序,建立连接,再进行相应的参数设置: 启动Run-run cycle(运行信息) (1)选择measure offset(测量补偿),Alignment(光路校正),measure background(测量空白),loading(加样浓度),Start 1 run(开始测量(2)输入样品的基本信息,并将分析时间设为60秒,点击start(开始)。 如需要测量小于μm以下的颗粒,选择Include PIDS,并将分析时间改 为90秒后,点击start(开始) (3)泵速的设定根据样品的大小来定,一般设在50,颗粒越大,泵速越高,反之亦然。 在测量补偿,光路校正,测量空白的工作通过后,根据软件的提示,加入样品控制好浓度,Obscuration应稳定在8-12%:假如选择了PIDS,则要把PIDS稳定在40-50%,待软件出现ok提示后,点击Done(完成)。 分析结束后,排液,并加水清洗样品台,准备下一次分析。 作平行试验,保存好结果,根据要求打印报告。 退出程序,关电源,样品台里加满水,防止残余颗粒附着在镜片上。 5实验结果与讨论 实验结果 由实验结果显示: 平均粒径:μm

粒度分析的基本原理

粒度分析的基本原理 (作者:Malvern 仪器有限公司Alan Rawle 博士,翻译:焉志东,整理:董青云) 什么叫颗粒? 颗粒其实就是微小的物体,是组成粉体的能独立存在的基本单元。这个问题似乎很简单,但是要真正了解各种粒度测试技术所得出的测试结果,明确颗粒的定义又是十分重要的。各种颗粒的复杂形状使得粒度分析比原本想象的要复杂得多。 (见图1略) 粒度测试复杂的原因 比如,我们用一把直尺量一个火柴盒的尺寸,你可以回答说这个火柴盒的尺寸是20×10×5mm 。但你不能说这个火柴盒是20mm 或10mm 或5mm ,因为这些只是它大小尺寸的一部分。可见,用单一的数值去描述一个三维的火柴盒的大小是不可能的。同样,对于一粒砂子或其它颗粒,由于其形状极其复杂,要描述他们的大小就更为困难了。比如对一个质保经理来说,想用一个数值来描述产品颗粒的大小及其变化情况,那么他就需要了解粉体经过一个处理过程后平均粒度是增大了还是减小了,了解这些有助于正确进行粒度测试工作。那么,怎样仅用一个数值描述一个三维颗粒的大小?这是粒度测试所面临的基本问题。 等效球体 只有一种形状的颗粒可以用一个数值来描述它的大小,那就是球型颗粒。如果我们说有一个50 u 的球体,仅此就可以确切地知道它的大小了。但对于其它形状的物体甚至立方体来说,就不能这样说了。对立方体来说,50u 可能仅指该立方体的一个边长度。对复杂形状的物体,也有很多特性可用一个数值来表示。如重量、体积、表面积等,这些都是表示一个物体大小的唯一的数值。如果我们有一种方法可测得火柴盒重量的话,我们就可以公式(1)把这一重量转化为一球体的重量。 重量= )1(r 3 4 3-----------------------ρ??π 由公式(1)可以计算出一个唯一的数(2r )作为与火柴盒等重的球体的直径,用这个直径来代表火柴盒的大小,这就是等效球体理论。也就是说,我们测量出粒子的某种特性并根据这种特性转换成相应的球体,就可以用一个唯一的数字(球体的直径)来描述该粒子的大小了。这使我们无须用三个或更多的数值去描述一个三维粒子的大小,尽管这种描述虽然较为准确,但对于达到一些管理的目的而言是不方便的。我们可以看到用等效法描述描述粒子的大小会产生了一些有趣的结果,就是结果依赖于物体的形状,见图2中圆柱的等效球体。如果此圆柱改变形状或大小,则体积/重量将发生变化,我们至少可以根据等效球体模型来判断出此圆柱是变大了还是变小了等等。如图2(略)。 假设有一直径D1=20um (半径r=10um ),高为100 um 的圆柱体。由此存在一个与该圆柱体积相等球体的直径D2。我们可以这样计算这一直径(D2): 圆柱体积V 1=)2()m (10000h r 3 2 ----------------μπ=??π

激光粒度分析结果在形貌分析中的应用讲解

实验技术与方法 激光粒度分析结果在形貌分析中的应用 胡汉祥1,2,丘克强1 (1.中南大学化学化工学院,长沙410083; 2.湖南建材高等专科学校化学化工系,衡阳421008) 摘要:激光粒度分析仪通常只用于颗粒大小与分布的测定。通过比较粉体颗粒的激光粒度分 析与扫描电镜分析的结果,发现,激光粒度分析仪所测定的粒度分布函数同时包含了一些形貌分析信息。利用这些信息可为试样进一步作SEM测定创造了条件。关键词:粒度分布;形貌;分析方法 中图分类号:TB302.1文献标识码:A文章编 号:100124012(2006)THEIMAGINGINFORMAEGRAPH OFPARTICLTION 2,,QIUKe2qiang1 (1.SchoolofEngineering,CentralSouthUniversity,Changsha410083,China; 2.DepartmentofEngineering,HunanBuildingMaterialsCollege,Hengyang421008,China) Abstract:TheLaserParticlesSizersareoftenemployedtodeterminetheaverageparticlediamet erandthe particlesizedistribution.TherelationsbetweentheparticlesdistributiongraphandSEMimage softhepowdersweredescribedinthispaper.Authorproposedthatthedoublemodesofthepartic lesdistributionmayimplythetwo2dimensionalconstructionoftheparticle.ItisusefulforSEM ditermination. Keywords:Particlesizedistribution;Pattern;Analysismethod 1引言 常用于粒度测定的方法有X射线衍射法、BET测定法、激光粒度分布仪测定法及透射电镜与扫描电镜测定法。能直观提供形貌分析信息只有透射电镜与扫描电镜

如何判断和选择激光粒度分析仪

如何判断和选择激光粒度分析仪 阅读次数:535 文章日期:2003-5-12 22:03:13 以往的粒度分析方法通常采用筛分或沉降法。常用的沉降法存在着检测速度慢(尤其对小粒子)、重复性差、对非球型粒子误差大、不适用于混合物料(即粒子比重必须一致才能较准确)、动态范围窄等缺点。随着激光衍射法的发明,粒度测量完全克服了沉降法所带来的弊端,大大减轻了劳动强度及加快了样品检测速度(从半小时缩短到了1分钟)。 激光衍射法测量粒度大小基于以下事实:即小粒子对激光的散射角大,大粒子对激光的散射角小。通过散射角的大小测量即可换算出粒子大小。其依据的光学理论为米氏理论和弗朗霍夫理论。其中弗朗霍夫理论为大颗粒米氏理论的近似,即忽略了米氏理论的虚数子集,并且假定颗粒不透明;并忽略光散射系数和吸收系数,即设定所有分散剂和分散质的光学参数均为1,因此数学处理上要简单得多,对有色物质和小粒子误差也大得多。同样,近似的米氏理论对乳化液也不适用。 另外,根据瑞利散射定律,散射光的光强与颗粒直径的六次方成正比,与散射光的光源波长的四次方成反比。这意味着颗粒直径减少10倍,散射光强减弱100万倍!而光源波长越短,散射光强度越高。 再者,由于小粒子散射角大,而主检测器面积有限,一般只能接受到最多45度角的散射光(即大于0.5微米的粒子)。那么,如何检测小粒子,如何克服小粒子光散射能量低,超出主检测器范围的问题,就成为评价激光粒度分析技术的关键。 所以,判断激光粒度分析仪的优劣,主要看其以下几个方面: 1 粒度测量范围粒度范围宽,适合的应用广。不仅要看其仪器所报出的范围,而是看超出主检测器面积的小粒子散射(〈0.5μm〉如何检测。 最好的途径是全范围直接检测,这样才能保证本底扣除的一致性。不同方法的混合测试,再用计算机拟合成一张图谱,肯定带来误差。

激光粒度仪技术要求

14 激光粒度仪技术要求: 激光粒度仪技术要求 1 设备名称及用途 1.1设备名称:激光粒度仪机 1.2 设备用途:利用光的衍射现象,即大颗粒产生的衍射角小,小颗粒产生的衍射角大,通过计算探测器上收集到的不同衍射图形的光强分布,给出颗粒的粒度大小和粒度分布。 1.3 设备数量:一台。 2 设备主要技术性能: 2.1 应用理论:采用米氏理论或费氏理论。 2.2 激光器:固体半导体激光器,波长750nm或氦-氖气态激光器主光源,波长633nm。2.3 检测范围:0.1-2000μm。 2.4 检测器扫描速率:2000次/秒。 2.5 测试时间:10秒以内。 2.6 检测角度:0.015-135度。 2.7 准确性:≤±1%;重复性:≤0.5%。 3 设备构成 3.1 工作原理 样品经分散系统分散,然后使其通过激光光束,颗粒在激光光束的照射下发生散射现象。散射光经透镜后成像在排列有多个检测器的焦平面上,散射光的能量分布与颗粒直径的分布直接相关。通过接受和测量散射光的能量分布就可以得出颗粒的粒度分布特征。 3.2 设备组成 激光粒度仪系统主要由分散系统、光路系统、检测系统、数据分析系统等部分组成。3.2.1 分散系统:采用干法分散或湿法分散。 3.2.1.1干法分散系统:分散压力在0.1-6Bar,具有振动进样功能,分散压力可调。 3.2.1.2湿法分散系统:具有内置超声分散器,离心泵和搅拌轮;泵速,搅拌速度和超声强度连续可调。 3.2.2 光路系统:设计合理,可自动进行光路对焦。 3.2.3 检测系统:由多个按一定排列的检测器组成。 3.2.4 数据分析系统 3.2. 4.1 能在Windows2000,XP和NT或更高版本下运行。 3.2. 4.2 使用方便简捷,仪器无须校准。 3.2. 4.3 屏幕报告格式设计软件。 3.2. 4.4 具有一般物质光学指数及测试结果数据库,有检索寻找功能。 3.2. 4.5 具有软件控制标准操作程序(SOP)。 3.2. 4.6 报告形式:能提供各种粒度统计数据,粒度体积百分比、数量百分比、表面积百分比、平均值、中值、峰值等,可根据用户需求打印报告。 3.2. 4.7 具有中文操作软件。

英国马尔文激光粒度仪

英国马尔文激光粒度仪 仪器简介: Mastersizer 2000 粒度仪是马尔文仪器公司的最新激光衍射系统,技术先进,操作既简单又直观。采用模块化设计,配备一系列测量干湿样品的自动样品分散装置。采用内置的 SOP 系统进行控制,提供简便的开发和传输方法Mastersizer 系列激光粒度仪经过不断的发展,能够满足工业和学术界用户粒度测量的需要。Mastersizer 创造性地使用激光衍射技术,已成为世界上实验室粒度分析的首选产品。它可以精确、无损伤地测量从亚微米到几毫米的范围广泛的颗粒粒度,湿法和干法分散均可使用。 主要特点: 1,准确性和重复性 精度:根据马尔文质量审核标准, Dv50具有± 1% 的精度。仪器到仪器的重复性:根据马尔文质量审核标准, Dv50的重复性优于 1% RSD。 2,重复性保证 由软件驱动的 SOP 消除了用户间的差异,并且可以全面共享。所有测量参数自动嵌入结果文件,并可以通过电子邮件使收件人审阅。测量可以通过遵循同样的 SOP而重复出来。 3,广泛的测量范围 测量物质从0.02μm 到2000μm。 4,广泛的样品类型 适用于乳化液、悬浮液和干粉的测量。 5,简单易用 全自动,使用简单。消除了不同用户间的的可变性。减少对新用户的培训要求,并充分发挥熟练人员的潜力。 6,灵活性 多种样品分散装置。通过自动配置,快速地切换样品分散装置。"即插即用"盒式系统允许同时连接两个样品分散装置。 7,规范符合性 完整的 QSpec 验证文档,并符合 21 CFR 第 11 部分的规定要求。 8,界面友好的软件 由软件驱动的标准操作规程 (SOP) 消除了用户间的差异。

MS2000激光粒度分析仪基本测量-Version1

MS2000激光粒度分析仪基本测量一,认识仪器

小容量样湿法进样器(自动(左),手动(右)) 仪器验证标准样品(玻璃珠)

二,常见问题 自动对光失败 对光失败是因为检测器检测信号超出仪器允许阈值导致,可能原因有三: 1,镜片脏了,有样品颗粒残留或划痕,或者镜片装得过紧过松,镜片不平很;(清洁镜片,更换新镜片,或者重新装好镜片可以解决问题) 2,水循环(或空气循环-干法)不稳定,水中有气泡,杂质或者水温不稳定(与室温有差异)或者样品池进出水位置颠倒(下入上出)导致激光束不能正常聚焦;(清除杂质,脱气并延长水循环时间,确保正确的出入水位置,待循环稳定后故障会自行消失) 3,激光光路问题,光源输出质量差,激光器受震动光束输出偏转。(极少出现,需要工程师现场解决) 结果变化 常见原因是被测量样品或测试条件发生变化导致的(操作人员对仪器操作熟练程度不同,选用的样品没有正常取样或者没有正常分散,测试方法并不适合某具体样品等等),也有可能是仪器本身问题。 用户处理的最简单步骤就是在指定条件下,测量标准物质,例如QAS3002(适合大容量湿法进样器,自动干法进样器),根据结果判断仪器是否真的存在问题。注意若不是按照标准样品指定测量方法进行测试,即使仪器状态良好,测量结果仍可能不合格。 失去通信 常见原因是仪器受到周围电磁干扰导致,通常重启仪器,软件可以解决问题。若问题还在,请检查电缆连接和计算机控制端口设置(在MS2000软件中,选择Tools---Options---Instrument Port设置合适的端口) 最坏情况是仪器内部电源或接口板故障。 干法真空错误 干法进样器的真空检测器没有检测到负压,软件判断吸尘器工作不正常而采取的保护措施。常见原因是吸尘器吸力不够,可能是吸尘器垃圾袋需要清理,或者吸尘器与样品池连接有泄露。另一个常见原因是样品池真空检测管与进样器真空检测端口间的连接管路漏气,不密封。 测量电子背景失败 常见原因是仪器内部漏光导致检测器信号饱和(电子背景是在没有激光输入情况下测量暗背景的信号输出),确保仪器盖板装配正常,无外界光源干扰。其他情况可能内部激光挡板马达,或者控制电路板故障(需要工程师处理)。 激光器,激光能量监视器或者存储参考值故障 常见原因是激光器老化,工作不稳定,需要更换激光器解决。该问题出现时仪器不会立即无法使用,通常重启仪器还能工作,能继续使用一段时间(一月左右)。参考值故障可以联系马尔文公司电话解决,需要提供仪器校准数据盘(*.cal) 激光衍射法存在哪些标准 国际标准:ISO13320-1:1999Particle Size Analysis –Laser Diffraction Methods 国内标准:GB T 19077.1-2008粒度分析激光衍射法 马尔文技术支持:400-820-6902,support.china@https://www.doczj.com/doc/9b3432625.html,

在线粒度分析仪

DF-PSM超声波在线粒度分析仪在选矿厂的应用 丹东东方测控技术有限公司,辽宁丹东 摘要 国际选矿厂引进在线粒度分析系统,对磨矿产品的浓细度进行在线检测,通过磨矿自动控制,不同程度的提高了磨矿产品质量,都获得了较好的经济效益及社会效益。DF-PSM 在线超声波粒度仪起步较晚,但是选择方向明确,是针对中国选矿工艺行情研发的产品,更好、更快的适应了中国各大选矿厂工艺,并作出了重大的贡献。 关键词:粒度仪;磨矿;粒度;浓度;回收率 0、前言 选矿过程中,磨矿产品质量的好坏直接影响选别作业的经济技术指标,甚至影响最终产品的质量。对于每一种矿石,磨矿产品都要求有一个经济合理的浓细度范围。磨矿产品粒度过粗,单体解离程度不足或难以上浮,造成资源浪费;磨矿产品粒度过细,会产生“过磨”现象,不但影响浮选效果,而且会增加生产成本。所以磨矿过程控制一直是选矿工作者研究的课题之一。 以往选矿厂一直是采用浓度壶法进行浓细度检测,虽然能够得到准确结果,但检测的及时性和检测频率受到一定的局限,对连续生产过程控制的指导性不强。为使磨矿过程控制有效及时,磨矿分级作业达到最佳效果,磨矿自动控制上升到一个新的水平,必须引进矿浆浓细度在线检测设备,对矿浆浓细度进行实时检测。 矿浆粒度在线分析仪在国外矿山应用较早,应用成熟的设备也较多,但国内应用起步较晚。近年来,随着选矿自动控制技术的日益成熟,矿浆粒度在线分析仪的应用在国内选矿厂也引起了重视,该技术在国内许多选矿厂的磨矿自动化控制过程中,得到了广泛的应用,特别是新建大中型选矿厂,几乎全部引进了矿浆粒度在线分析仪。 1、东方测控DF-PSM 在线超声波粒度分析仪特点 DF-PSM超声波粒度仪作为在线检测仪器系统,不仅能够产生一个代表粒度分布的单点粒度信号输出;而且也可以利用DF-PSM 超声波粒度仪对磨矿粒度分布的敏感性来控制输送给下一工序的矿浆粒度累积分布范围,这样的话工厂能够获得高于原始设备成本几倍的利润。目前DF-PSM具有能提供多种粒级输出的能力,能够提供丰富的磨矿粒度分布方面的信息。DF-PSM 粒度仪所具有的对磨矿/回收工厂工艺运行情况洞察和发现问题的潜力会为工厂带来巨大的经济效益。作为一台测量设备,不仅通常要满足若干类型的磨矿回路需要,而且要发挥仪器最大潜能,这就需要对仪器进行正确的应用。正确理解某些统计规律的过程控制原理以及这些原理在磨矿回路控制上的应用对于改进工厂总体效率是特别有帮助的。在线粒度测量的精度和可靠性可以确保磨矿回路运行在最接近于期望的设定点上。磨矿回路运行于最大给矿量的情况下,DF-PSM 可用来控制磨矿回路运行

粒度分析仪简介及使用

实验7、粒度分析仪简介及使用 纯牛奶粒度分布的测定(激光粒度法) 一、实验目的: 1.掌握粒度分析仪的测定原理及操作方法。 2.测定纳米粒子的粒度尺径及分布和Zeta电位性质。 二、实验原理: 2.1 激光粒度仪介绍 激光粒度分析仪仪是利用粒子的布朗运动,根据光的散射原理测量粉颗粒大小的,是一种比较通用的粒度仪。其特点是测量的动态范围宽、测量速度快、操作方便,尤其适合测量粒度分布范围宽的粉体和液体雾滴。对粒度均匀的粉体,比如磨料微粉,要慎重选用。 激光粒度仪集成了激光技术、现代光电技术、电子技术、精密机械和计算机技术,具有测量速度快、动态范围大、操作简便、重复性好等优点,现已成为全世界最流行的粒度测试仪器。 激光粒度仪作为一种新型的粒度测试仪器,已经在其它粉体加工与应用领域得到广泛的应用。它的特点是测试速度快、重复性好、准确性好、操作简便。对提高产品质量、降低能源消耗有着重要的意义。 2.2激光粒度仪的原理 激光粒度仪是根据颗粒能使激光产生散射这一物理现象测试粒度分布的。由于激光具有很好的单色性和极强的方向性,所以在没有阻碍的无限空间中激光将会照射到无穷远的地方,并且在传播过程中很少有发散的现象。如图1所示。 图1,激光束在无阻碍状态下的传播示意图 米氏散射理论表明,当光束遇到颗粒阻挡时,一部分光将发生散射现象,散射光的传播方向将与主光束的传播方向形成一个夹角θ,θ角的大小与颗粒的大小有关,颗粒越大,产生的散射光的θ角就越小;颗粒越小,产生的散射光的θ角就越大。即小角度(θ)的散射光是有大颗粒引起的;大角度(θ1)的散射光是由小颗粒引起的,如图2所示。进一步研究表明,散射光的强度代表该粒径颗粒的数量。这样,测量不同角度上的散射光的强度,就可以得到样品的粒度分布了。

激光粒度仪主要品牌分析(报告精选)

北京先略投资咨询有限公司

激光粒度仪主要品牌分析 (最新版报告请登陆我司官方网站联系) 公司网址: https://www.doczj.com/doc/9b3432625.html, 1

目录 (最新版报告请登陆我司官方网站联系) (1) 公司网址: https://www.doczj.com/doc/9b3432625.html, (1) 激光粒度仪主要品牌分析 (3) 第一节激光粒度仪品牌构成 (3) 第二节主要品牌区域市场占有率分析 (4) 第三节品牌满意度分析 (4) 2

激光粒度仪主要品牌分析 第一节激光粒度仪品牌构成 品牌知名度以及市场占有率是评价品牌竞争实力的重要指标。产业结构低,缺乏品牌是导致企业缺乏讨价还价能力的深层次原因。我国激光粒度仪行业的产品结构还不太合理,高科技含量、高附加值的产品不多,企业在市场竞争中拼资源、拼价格的现象比较严重。面对资源的制约和其他同类产品的激烈竞争,必须加强技术创新和产品创新,提升产品品牌才行。 从消费者正在使用产品的分布情况可以看出不同品牌的市场占有情况。因激光粒度仪产业进入门槛较高,生产企业较为集中,因此目前我国共有各种类型的颗粒测试仪器生产厂家二十余家,在国产粒度仪生产厂家中,丹东市百特仪器有限公司、珠海欧美克仪器有限公司、济南微纳颗粒仪器股份有限公司、成都精新粉体测试设备有限公司等几个厂商已经形成一定的生产规模,是国内颗粒测试仪器的主要生产商及出口商。 与此同时,国产品牌的激光粒度仪性能逐渐提高,新产品不断推出,如济南微纳颗粒仪器股份有限公司的Winner2005、Winner2008系列智能激光粒度仪测试范围下限0.05微米,2009年研制成功的Winner800系列光子相关纳米激光粒度仪测试范围下限更是达到了1纳米(0.001微米)。与进口颗粒测试仪器相比,国产仪器在价格、成本与售后服务上具有明显优势。首先,在产品价格上,进口颗粒测试仪器的平均价格约4万美元/台,价格是国内同类型仪器的数倍。其次,在售后服务上,国产颗粒测试仪器具有天然优势,能做到收费低廉、反应迅速、零配件及时供应;而进口仪器则受人员、授权、地理、语言等方面限制,面临时间长、费用高等问题。与进口激光粒度仪相比,正是由于国产粒度仪的技术水平不断创新发展使国产仪器在价格和成本控制上具有明显优势。 3

马尔文激光粒度仪操作流程

马尔文激光粒度仪 型号:Malvern Nano ZS 操作步骤: 一、开机 1、打开电脑主机 2、打开仪器开关(开关在仪器的后面),状态指示灯由棕黄色变为绿色,预 热30min。 二、 粒度样品装样 1、选择干净的样品池,缓慢注入溶液以避免气泡,使用一次性滴液管,同时 倾斜样品池装样至10‐15mm之间,用盖子将样品池封住。 2、将样品放入进样槽,至其停止.抛光的光学表面必须面向仪器前面 3、关闭样品池区盖子。 三、 Zeta电位样品装样 1、用滴管取至少1ml样品,将滴管与样品池一端连接。 2、将样品缓慢注射入样品池,检查是否除去所有气泡。 3、移去溅在外部电极上的任何液体

!!! 注意:进行测量之前必须塞住塞子 4、持样品池顶部,远离下部测量区,将样品池推入样品槽至其停止。 5、关闭样品池区盖子。 !!! 注意:虚线方向为正面 四、 测试 1、粒度测试 1)双击桌面上的DTS(nano)打开软件 2)选择File>New>Measurement File创建新的测量记录文件,保存在D盘 ‐data of DLS‐组内/组外。

对于已经存在测试文件,请选择Open打开文件 3)打开测试文件后,选择File>New>SOP或者File>Open>SOP来新建或者调出 标准测量程序。对于不常测试的样品,可以选择Measure>Manual来进行手动测 量设置。 3)新建SOP,选择File>New>SOP或者手动创建测量程序是会跳出如下对话框

4)左键点击? Measurement type,然后从下拉菜单中选择测量类型,粒径测量 我们选择Size。 4)按右向箭头,依次输入样品的概述 (编号和样品名称,样品的折光指数和吸收率)

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