无锡银邦铝业有限公司
SPC 作业指导书
文件编号：ZYSPC01-2009
版本号/次数：A/0 第 1 页 共 5页
1.0 目的：
了解过程变差，以帮助达到统计控制状态。
2.0 定义：
2.1 SPC------英文Statistical Process Control 的字首简称，即统计过程控制。SPC 就是应用统计技术对过程中的各个阶段进行监控，从而达到改进与保证质量的目的。SPC 强调全过程的预防。
2.2 控制图------对过程质量加以测定、记录从而进行控制管理的一种用科学方法设计的图。图上有中心线(CL)、控制界限(UCL)和下控制界限(LCL)，并有按时间顺序抽取的样本统计量数值的描点序列。
3.0 适用范围：
适用于均植和极差值(X 一R 控制图)、CPK 的运用。 4.0 职责：
4.1 质量部现场QC 负责收集数据绘制图表;
4.2 质量工程师负责输入SPC 软件，并分析过程控制能力。
5.0 作业内容：
5.1 X 一R 控制图 对于计量值数据而言，这是最常用最基本的控制图。x 控制图主
要用于观察分布的均值的变化，R 控制图用于观察分布的分散情况或变异度的变化，而x 一R 图则将二者联合运用，用于观察分布的变化。它用于控制对象为厚度、宽度、长度、重量、强度、纯度、时间和生产量等计量值的场合，本公司用于控制对象为铝材厚度、宽度及化学成分。
5.2X 一R 控制图的制作：
步骤1： 记录原始数据；
● 厚度—由二车间现场QC 记录25组数据，每组5个数据，以作一张
完整的x 一R 控制图。
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○
1测量要求及方法：同种牌号、道次的铝卷每卷记录5组数据，频率为每分钟记录5个数据。
○
2测量工具：目测1450冷、箔轧主操控台上测厚仪数显数据。 ● 宽度—由三车间现场QC 记录25组数据，每组5个数据，以作一张
完整的x 一R 控制图。
○
1测量要求及方法：成品为同样宽度（同时也是同种牌号、厚度）的每卷铝卷头、尾各测量一点（排好刀后的首检及分切完成后的末检各一次）。
○
2测量工具：用精度是企标厚度公差精度10倍的千分尺、游标卡尺及米尺。如0.08*16mm 规格的铝卷，企标公差精度为0.01mm ，则应用0.001mm 精度的千分尺测量。
● 化学成分—由理化人员记录25组数据，每组5个数据，以作一张完整
的x 一R 控制图。
○1检测要求及方法：同种牌号每炉熔炼检测成分后记录（第一次配料
后）。
○
2测量工具：目测直读光谱仪 步骤2： 计算样本均值x ； X =(X1+ X2+。。。+ Xn)/n
式中：X1，X2。。。为子组内的每个测量值。n 为子组的样本容量。
步骤3： 计算样本极差R ；
R= X 最大值- X 最小值
步骤4： 计算样本总均值X 与平均样本极差R ；
X =
n
1∑=n
i xi 1
R =n 1∑=n
i R
1
第 3 页共5 页步骤5：计算R图与x图的控制界限。
计算x一R图应该从R图开始,因为x图的控制界限中包含R,所以
若过程的变异度失控,则计算出来的这些控制界限就没有多大意
义。
R图的控制界限计算公式如下：
UCL
R
=D4R
LCL
R
=D3R
x图的控制界限计算公式如下：
UCL x=x+
A2R
LCL x=x-
A2R
式中,系数A2、D3、D4见计量值控制图系数表如下：
●* 对于样本容量小于7情况，LCL R可能技术上为一个负值。在这种情况下没有极
差的下控制限，这意味着对于一个样本数为6的子组，6个“同样的”测量结果是可能成立的。
步骤6：标注控制图的刻度；
步骤7：将均值和极差画到控制图上。
●平均极差（R）及过程均值（X）——水平实线。
●控制限(UCL
R ，LCL
R,
UCL x，LCL x）——水平虚线。
在初始研究阶段，这些被认为是试验控制限。
5.3 x一R 控制图的分析：
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5.3.1 超出控制限的点一出现一个或多个点超出任何一个控制限是该点处于失控状
态的主要证据。因为在只存在普通原因引变差的情况下超出控制限的点会很少，
我们便假设超出的是由于特殊原因造成的。因此，超出控制限的点作标记，以
便根据特殊原因实际开始的时间进行调查，采取纠正措施。
超出上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种：
●控制限计算错误或描点时描错
●零件间的变化性或分布的宽度已经增大（即变坏），这种曾大可以发生
在某个时间点上，也可能是整个趋势的一部分；
●测量系统变化（例如，不同人检验员或量具）；
●测量系统没有适当的分辨力。
有一点位于控制限之下（对于样本容量大于等于7的情况），说明存在
下列情况的一种或几种：
●控制限或描点错误；
●分布的宽度变小（即变好）；
●测量系统已改变（包括数据编辑或变换）。
5.3.2 控制限之内的图形式趋势一当出现非随机的图形或趋势时，尽管所有的极差都
在控制限之内，也表明出现这种图形或趋势的时期内过程失近期或过程分布宽
度发生变化。这种情况会给出首次警告。应纠正不利条件。相反，某些图形或
趋势是好的，并且应当研究以便使过程得到可能的永久性改进。
有下列现象之一表明过程已改变或出现这种趋势：
●连续7点位于平均值的一侧；
●连续7点连续上升（后点等于或大于前点）或连续直降；
5.3.3 任何其它明显的非随时机的图形—除了会出现超过控制界的点或长链之外，数
据中还可能出现其他的易分辨的由于特殊原因造成的图形。注意不要过分地解
释数据，因为即使随机的数据（即普通原因）有时也表现出非随机（即出现特
殊原因）的假象。非随机的衅形例子：明显的趋势（尽管它们不属于链的情况），
周期性数据点的分布在整个控制限内，或子组内数据间有规律的关系等（例如。
第一个读数可能总是最大值）。
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当出现以下情形时，质量部需开不合格品单给生产部进行制程改善:
即：1）任何超出控制限的点；
2）连续7点全部在中心线之上或之下；
3）连续7点上升或下降；
4）任何其他明显非随机的图形。
5.4 寻找并纠正特殊原因
由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，并且希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。当该分析导致了采取纠正措施时，措施的效果会在控制图上明显地反应出来。
5.5 重新计算控制限：
在进行初次过程研究或重新评定过程能力时，要排除已发现并解决了的特殊原因的任何失控的点，重新计算新的过程均值X、平均极差（R）和控制限，并画下来，确保当与新的控制限相比时，所有的数据点看起来都处于受控状态，如有必要，重复识别/纠正/重新计算的过程。
5.6 工序能力指数表示工序能力满足产品质量标准(产品厚度、宽度、化学成分控制)的程度,以Cpk表示：
5.6.1 收集数据;
●厚度以每月现场QC收集的数据为准，每道次至少125个数据。
●宽度以每月现场QC收集的数据为准，每种宽度至少125个数据。
5.6.2 将收集到数据输入SPC软件,计算CPK值;
5.6.3 CPK等级评定后之处置原则(Cpk等级之处置):
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