单周期检测图谱
单周期检测图谱
单周期检测图谱
单周期检测图谱
单周期检测图谱
单周期检测图谱
单周期检测图谱
1毛刺放电
1. 1 基本特征
接地体和带电体部分上的突起(毛刺放电)的特征表现为:
?局部场强增加
?由于电晕球的保护作用，工频耐压水平不受影响
?雷电冲击电压水平会大幅度下降
?毛刺如果大于 1-2 mm 就认为是有害的
导体上的毛刺与壳体上的毛刺放电图谱是一样的,但导体上的毛刺位于气室中心,其产生的压力波会呈扇形在整个气室传递,在壳体外能在较广的范围内接收到信号,而壳体上的毛刺信号较集中,在放电处信号最强。也可以根据SF6气体对高频信号的衰减特性，调整带通滤波器的上限频率，如果信号明显降低，表明是壳体上的毛刺放电，如果信号变化不大，表明是导体上的毛刺放电。一般导体上的毛刺放电更具危险性。
1.2 典型图谱
毛刺放电的典型图谱如下:
毛刺放电故障连续模式下有效值和峰值都会增大，信号稳定，而50HZ相关性明显，100HZ 相关性较弱。在相位模式下，一个周期内会有一簇较集中的信号聚集点。
1.3经验判据
根据现有经验，毛刺一般在壳体上，但导体上的毛刺更危险。
如果毛刺放电发生在母线壳体上，信号的峰值Vpeak < 2mV, 认为不是很危险，可继续运行。如果毛刺放电发生在导体上，信号的峰值Vpeak > 3 mV, 建议停电处理或密切监测。
对于不同的电压等级，如110KV/220KV, 可参照上述标准执行。对于330KV/500KV/750KV，由于母线筒直径大，信号有衰减，并且设备重要性提高，应更严格要求，建议标准提高一些。其它气室，如开关气室，由于内部结构更复杂，绝缘间距相对短，应更严格要求，建议标准提高一些。
在耐压过程中发现毛刺放电现象，即使低于标准值，也应进行处理，使缺陷消灭在初始阶段。注意：只要信号高于背景值，都是有害的，应根据工况酌情处理。
2 自由颗粒
2.1 基本特征
自由颗粒,其表现特征为:
?雷电冲击电压影响很小
?工频耐压会有很大的降低
?超声传感器接收到典型的机械撞击信号
?飞入高场强区非常危险
?信号表征不重复，随机性强
2.2 典型图谱
颗粒故障的连续模式图谱中，有效值和峰值会很大，往往达几百上千毫伏，其信号不稳定，表现为周期性的波动，而100HZ和50HZ相关性没有。对信号进行危险性评估需要进入脉冲模式观察颗粒的幅值和飞行时间，通过上面的信息判断颗粒的危险性。
2.3经验判据
自由颗粒的危险性可以根据AIA内的脉冲模式图分析，可参照下图来进行评估阴影区为安全区域,颗粒的幅值Vpeak <500m V且飞行时间 T<50ms；或50ms < T <100ms，
且峰值Vpeak<150mv 可认为是安全的。
对于新投运的GIS和大修后的GIS建议Vpeak >100m V即应处理。
注意，只要GIS内部存在颗粒，就是有害的。因为它的随机运动，信号可能会增大，也有可能会消失，颗粒掉进壳体陷阱中不再运动，可等同于毛刺。在新GIS耐压试验过程中，建议发现有颗粒，即应进行擦拭。
3 悬浮屏蔽(电位悬浮)
3.1 基本特征
松动或接触不良会引起电位悬浮，有时电场屏蔽松动并开始振动，也可能是电接触松动而变为电位悬浮。一块大的悬浮金属体将可能被充电, 并当物体与基点之间的电压超出耐受电压时就会发生大规模放电/电弧。这类放电一般发生在电压上升沿，并且产生一大的连续的100Hz为主的包络线，并且有低的波峰因数。其特征为：
?工频耐压水平降低
?信号稳定，重复性强
? 100hz的相关性强烈
3.2 典型图谱
电位悬浮的典型图谱如下：
电位悬浮故障连续模式中有效值和峰值都会增大，信号稳定，而100HZ相关性明显，50HZ 相关性较弱。在相位模式下，一个周期内会有两簇较集中的信号聚集点。
3.3经验判据
经验表明，电位悬浮一般发生在开关气室的屏蔽松动，PT/CT气室绝缘支撑松动或偏离，母线气室绝缘支撑松动或偏离，气室连接部位接插件偏离或螺母松动等。
对于110KVGIS，如果Vf2/Vf1>>1, Vpeak>30mV ,应停电处理或密切监测。如果2>Vf2/Vf1>1，Vpeak>100mV就应停电处理或密切监测。对于220KV及以上电压等级的GIS，应更严格执行。注意，GIS内部只要形成了电位悬浮，就是危险的，应加强监测，有条件就应及时处理。
对于铁壳的PT，由于磁致伸缩引起的磁噪声，可能也会产生类似电位悬浮的图谱，但一般A、B、C、三相都会有这种类似的图谱，可以加以区分。
4 绝缘子上的颗粒
移动到绝缘子上的颗粒有许多种行为方式，它可能在绝缘子四周移动，并可能放电、
充电等，这特别与水平绝缘子有关系。它也可能固定到绝缘子上，并向绝缘子表面放电，绝缘子表面不是自热绝缘材料，也可能损害表面，从而最终导致击穿。
目前，有关绝缘子表面上的颗粒发出的超声信号知识有限，调查也表明这些放电没有确定的超声信号。一些初步研究表明，来自于绝缘子上大颗粒的信号可以被灵敏的传感器探测出来。
基本特征：
?信号不稳定，但不像自由颗粒那样变化大，有一定的稳定值
?表现出50HZ的相关性较强，但一般100HZ 的成分也有
?在紧邻盆子附近信号强，距离远后则很弱
目前还很难给此类缺陷制定相关危险性判据，但如果发现，就是非常有害的，应及时处理。如果在GIS交接耐压试验中，发现此问题，建议擦拭。
5 机械振动
有些缺陷形成了机械振动，但没形成悬浮电位，应加以区分。
基本特征：
?信号不稳定
?相位图呈现多条竖线并在零点（180度）左右两侧均匀分布。
典型图谱如下
局部放电的波形和识别图谱( 补充件) A1前言 局部放电电气检测的基本原理是在一定的电压下测定试品绝缘结构中局部放电所产生的高频电流脉冲。在实际试验时，应区分并剔除由外界干扰引起的高频脉冲信号，否则，这种假信号将导致检测灵敏度下降和最小可测水平的增加，甚至造成误判断的重后果。 在某一既定的试验环境下，如区别干扰信号，采取若干必要的措施，以保证测试的正确性，就成为一个较重要的问题。目前行之有效的办法是提高试验人员识别干扰波形的能力，正确掌握试品放电的特征、与施加电压及时间的规律。经验表明：判断正确与否在很大程度上取决于测试者的经验。掌握的波形图谱越多，则识别和解决的法也越快越正确。目前，有用计算机进行频谱分析帮助识别，但应用计算机的先决条件同样需要预知各种干扰波和试品放电波形的特征。现根据我国多年来的实际经验和国外曾经发表过的一些图谱，汇编成文，供参考。应该指出，所介绍的放电波形，多属处理成典型化的图形，不可能包含全部可能发生的容。 A2局部放电的干扰、抑制及识别的法
图A1 干扰及其进入试验回路的途径 Tr —试验变压器；C x —被试品；C k —耦合电容器；Z m —测量阻抗； DD —检测仪；M —邻近试验回路的金属物件；U A —电源干扰； U B —接地干扰；U C —经试验回路杂散电容C 耦合产生的干扰； U D —悬浮电位放电产生的干扰；U E —高压各端部电晕放电的干扰； I A —试验变压器的放电干扰；I B —经试验回路杂散电感M 耦合产生的辐 射干扰；I C —耦合电容器放电的干扰 A2.1干扰类型和途径 干扰将会降低局部放电试验的检测灵敏度，试验时，应使干扰水平抑制到最低水平。干扰类型通常有：电源干扰、接地系统干扰、电磁辐射干扰、试验设备各元件的放电干扰及各类接触干扰。这些干扰及其进入试验回路的途径见图A1 。 a. 电源干扰。检测仪及试验变压器所用的电源是与低压配电网相连的，配电网的各种高频信号均能直接产生干扰。因此，通常采用屏蔽式电源隔离变压器及低通滤波器抑制，效果甚好。 b. 接地干扰。试验回路接地式不当，例如两点及以上接地的接地网系统中，各种高频信号会经接地线耦合到试验回路产生干扰。这种干扰一般与试验电压高低无关。试验回路采用一点接地，可降低这种干扰。
局部放电是指绝缘结构中由于电场分布不均匀、局部场强过高而导致的绝缘介质中局部范围内的放电或击穿现象,是造成绝缘劣化的主要原因,也是劣化的重要征兆和表现形式,与绝缘材料的劣化和击穿密切相关。因此,对局部放电的有效检测对电力设备的安全稳定运行具有重要意义。局部放电的检测是以局部放电所产生的各种现象为依据,通过能表述该现象的物理量来表征局部放电的状态及特性。由于局部放电的过程中会产生电脉冲、电磁辐射、超声波、光以及一些化学生成物,并引起局部过热,相应地出现了脉冲电流法、超高频(UHF)法、超声波法、光测法、化学检测法、红外检测法等多种检测方法。传统的局部放电检测方法,其测量信号的响应频率一般不超过 1 MHz,易受外界干扰的影响,很难用于电力设备的现场检测。同传统的检测方法相比,超高频检测技术具有检测频率高、抗干扰性强和灵敏度高等优点,更适合局部放电在线监测,它通过接收电力变压器局部放电产生的超高频电磁波,实现局部放电的检测。 局部放电测量还有助于发现以SF6气体作为绝缘介质的气体绝缘金属封闭开关设备（以下简称GIS，包括HGIS和罐式断路器等）内部的多种绝缘缺陷，是诊断GIS健康状态的重要手段。在GIS制造、安装、运行和检修的各个环节，凡是具备条件的，都应该进行局部放电检测。 检测原理 电气设备在使用过程中，由于某些原因逐步产生缺陷，在局部出现的微小放电的物理状况。检测局部放电是诊断电力设备绝缘状态的重要办法。 电力变压器内的油纸绝缘，由于自身老化或生产工艺，会导致绝缘缺陷。绝缘缺陷的存在会造成电场不均匀而产生局部放电，使绝缘介质逐步受到侵蚀和损伤，最终导致变压器出现绝缘性故障,造成巨大的经济损失以及人身伤害。所以局部放电的检测对电力变压器有着十分重要的意义。变压器内部的典型局部放电形式有四种，他们分别是油中气隙放电、油纸隔板结构放电、悬浮电极放电和针板电极放电这四种。我们利用超高频法检测变压器内部的局部放电。
电缆线路局部放电缺陷检测典型案例 （第一版） 案例1：高频局放检测发现10kV电缆终端局部放电 （1）案例经过 2010年5月6日，利用大尺径钳形高频电流传感器配Techimp公司PDchenk 局放仪，在某分界小室内的10kV电缆终端进行了普测，发现1-1路电缆终端存在局部放电信号，随后对不同检测位置所得结果进行对比分析，初步判断不同位置所得信号属于同一处放电产生的局放信号，判断为电缆终端存在局放信号。 2010年6月1日通过与相关部门协调对其电缆终端进行更换，更换后复测异常局放信号消失。更换下来的电缆终端经解体分析发现其制作工艺不良，是造成局放的主要原因。 （2）检测分析方法 测试系统主机和软件采用局放在线检测系统，采用电磁耦合方法作为大尺径高频传感器的后台。 信号采集单元主要有高频检测通道、同步输入及通信接口。高频检测通道共有3个，同时接收三相接地线或交叉互联线上采集的局部放电信号，采样频率为100 MHz，带宽为16 kHz~30 MHz，满足局部放电测试要求。同步输入端口接收从电缆本体上采集的参考相位信号，通过光纤、光电转换器与电脑的RS232串口通信，将主机中的数据传送至电脑中，从而对信号进行分离、分类及放电模式识别。 利用局部放电测试系统，在实验电缆中心导体处注入图1-1的脉冲信号，此传感器可直接套在电缆屏蔽层外提取泄漏出来的电磁波信号，在电缆中心导体处注入脉冲信号，耦合到的信号如图1-2所示。 图1-1 输入5 ns脉冲信号图1-2输入5 ns脉冲信号响应信号 将传感器放置不同距离时耦合的脉冲信号如图1-3所示。距电缆终端不同距离耦合的脉冲信号随其距离的增长而减小（见图1-4），这样就可以判断放电是来
基于SVM算法的局部放电模式识别 气体绝缘组合电器（Gas Insulated Switchgear）局部放电检测对于保证其安全可靠运行具有重要的意义。为了对变压器故障进行有效诊断，试验设计了4种典型缺陷模型。用超声波法提取局部放电信号，得到局放分布图谱，获得了局放特征参数。根据所提取的特征参数的特点，通过支持向量机（SVM）分类算法对典型缺陷信号进行了模式识别。 标签：超声波法；特征参数；SVM算法；模式识别 引言 变压器作为电力系统中重要的电力设备，是输电网中重要的组成部分，及时的发现其内部故障，对于电网的安全供电，减少经济损失是至关重要的。以前，主要是通过检测绝缘电阻、局部放电等来进行变压器内部的故障诊断情况，这种方法具有局限性，会受到周围环境的影响。超声波法是一种较好的故障检测方法，能够及时准确的对变压器内部的故障进行监测。 用超声波法对变压器缺陷故障引起的局部放电进行检测，得到的信号图谱中含有丰富的局放信息，可以从中提取能充分反映局放信号特征的偏斜度Sk、陡峭度Ku、局部峰点数Pe、互相关系数Cc和放电量Q等特征参数。对统计特征参数进行分析，能够较好的进行典型绝缘缺陷故障的诊断。 基于此，本文通过对变压器内部设置典型绝缘缺陷模型，对其故障进行局放试验，提取出能反映典型缺陷局放信号的特征参数。用SVM算法对典型绝缘缺陷局放信号进行分类，结果表明：SVM分类算法对于GIS内典型缺陷类型具有较高的识别率。 1 SVM算法的原理 1.1 分类器设计 SVM是Vapnik提出的一种建立在统计学习基础上的非线性数据处理方法，其基于“结构风险最小化原理”的独特决策规则能较好的克服传统分类算法“维数灾”和“过拟合”等问题，并且具有很强的泛化能力，在处理二分类和多分类模式识别问题上有着优异表现，因而备受研究人员青睐，目前已开发出LIBSVM、LS-SVMLAB、OSU SVM等诸多软件包。然而，SVM模型参数的选取没有既定的标准，需要很强的经验与技巧。 1.2 SVM算法原理 SVM算法是一种基于数据挖掘技巧的机器学习技术。将SVM应用到分类中去的核心思想陈述如下：
300-MS and 320-MS Quadrupole Mass Spectrometer Hardware Operation Manual
Legal and Regulatory Notices Copyright ? 2010 Bruker All other trademarks are the sole property of their respective owners. All Rights Reserved Reproduction, adaptation, or translation without prior written permission is prohibited, except as allowed under the copyright laws. Warranty The information contained in this document is subject to change without notice. Bruker makes no warranty of any kind with regard to this material, including, but not limited to, the implied warranties of merchantability and fitness for a particular purpose. Bruker is not liable for errors contained herein or for incidental or consequential damages in connection with the furnishing, performance or use of this material. Bruker assumes no responsibility for the use or reliability of its software on equipment that is not furnished by Bruker. Use of Trademarks The names of actual companies and products mentioned herein may be the trademarks of their respective owners.
局部放电波形分析及图谱识别 一、局部放电的波形分析 图3-5中检测阻抗Z m 可由电阻、电感、阻容并联元件、电感电容并联元件等构成。而对于局部放电脉冲而言，可用图3-9的回路来计算检测阻抗Z m 上的波形。 C k C x △u Z m 图3-9 计算Z m 上电压波形的等值回路 1、Z m 为R 时，Z m 上的波形 实际上是方波加于阻容串联回路时电阻上的波形，电容为C x 与C k 的串联。R 上的波形是一个陡直上升、指数下降的曲线（图3-10（a ）曲线1），其方程是 //x k x k R C C t R C C t T R A q u u e e C ?? - ?+-??=?= （3-19） 由此可见，u R 的幅值为q/C x ，CA 一定时，u R 的幅值与视在放电量q 成正比。一般气隙放电，脉冲的前沿仅约0.01微秒左右。当时间常数T R 远大于此值时，可视脉冲为方波而得到（3-19）式。如果T R 和脉冲前沿时间可以比拟时，则u R 的表达式便不能用（3-19）式了。假定脉冲波的前沿是指数上升的，则u R 便是一个双指数波。此外，如果是油中电晕之类的脉冲，其前沿时间可达数微秒甚至更长，即使T R 为若干微秒，二者也是可比拟的，此时u R 也是双指数波，图3-10（a ）曲线2为此波形的示意图。
u m 0t 1 2 u m 0t 12(a)(b) 图3-10 检测阻抗上的波形 (a) Z m 为R 时，Z m 上的波形 (b) Z m 为L m 时的输出波形 2、Z m 为m m R C 时的输出波形 输出波形u cr 仍为指数衰减波，但幅值降低，时间常数加大了。其方程为 [)]()CR t K CR M K A K A A K C q u e C C C C C C C -=+++ [ ]()A K CR m m A K C C T C R C C =++ （3-20） 3、Z m 为L m 时的输出波形 因为L m 中总有一定的电阻，整个回路也有一定的损耗，所以L m 的输出波形是一个衰减振荡波，其包络线是指衰减曲线，近似的方程为 cos t t L x x q q u e t e C C γγω--== （3-21） γ为回路损耗造成的衰减时间常数的倒数。图3-10曲线1为u L 的波形示意图。u L 的幅值与u R 相同，均为q/Cx 。如果脉冲u ?的前沿时间与振荡周期可以比拟时，则u L 的波形如图3-10曲线2，其幅值比曲线1的小，包络线是双指数波。 4、Z m 为L m C m 并联元件时的输出波形 一般选择的C m 值比C k 、C x 都大得多，故振荡频率主要决定于L m C m 值。L m C m 元件上的波形方程为 ()t k LC x k x k m x k C q u e C C C C C C C γ-≈+++ （3-22） γ的含义同式（3-21）。由式可见，u LC 的幅值小于u L ，振荡周期加大了。考虑到x m C C >>，并选x k C C >>则 t LC m q u e C γ-≈ （3-23）
局部放电的波形和识别图谱( 补充件 ) A1 前言 局部放电电气检测的基本原理是在一定的电压下测定试品绝缘结构中局部放电所产生的高频电流脉冲。在实际试验时，应区分并剔除由外界干扰引起的高频脉冲信号，否则，这种假信号将导致检测灵敏度下降和最小可测水平的增加，甚至造成误判断的严重后果。 在某一既定的试验环境下，如何区别干扰信号，采取若干必要的措施，以保证测试的正确性，就成为一个较重要的问题。目前行之有效的办法是提高试验人员识别干扰波形的能力，正确掌握试品放电的特征、与施加电压及时间的规律。经验表明：判断正确与否在很大程度上取决于测试者的经验。掌握的波形图谱越多，则识别和解决的方法也越快越正确。目前，有用计算机进行频谱分析帮助识别，但应用计算机的先决条件同样需要预知各种干扰波和试品放电波形的特征。现根据我国多年来的实际经验和国外曾经发表过的一些图谱，汇编成文，供参考。应该指出，所介绍的放电波形，多属处理成典型化的图形，不可能包含全部可能发生的内容。 A2 局部放电的干扰、抑制及识别的方法 图 A1 干扰及其进入试验回路的途径 Tr —试验变压器；C x —被试品；C k —耦合电容器；Z m —测量阻抗； DD —检测仪； M —邻近试验回路的金属物件；U A —电源干扰； U B —接地干扰；U C —经试验回路杂散电容C 耦合产生的干扰； U D —悬浮电位放电产生的干扰；U E —高压各端部电晕放电的干扰； I A —试验变压器的放电干扰；I B —经试验回路杂散电感 M 耦合产生的辐 射干扰；I C —耦合电容器放电的干扰 A2.1 干扰类型和途径
干扰将会降低局部放电试验的检测灵敏度，试验时，应使干扰水平抑制到最低水平。干扰类型通常有：电源干扰、接地系统干扰、电磁辐射干扰、试验设备各元件的放电干扰及各类接触干扰。这些干扰及其进入试验回路的途径见图A1 。 a. 电源干扰。检测仪及试验变压器所用的电源是与低压配电网相连的，配电网内的各种高频信号均能直接产生干扰。因此，通常采用屏蔽式电源隔离变压器及低通滤波器抑制，效果甚好。 b. 接地干扰。试验回路接地方式不当，例如两点及以上接地的接地网系统中，各种高频信号会经接地线耦合到试验回路产生干扰。这种干扰一般与试验电压高低无关。试验回路采用一点接地，可降低这种干扰。 c. 电磁辐射干扰。邻近高压带电设备或高压输电线路，无线电发射器及其它诸如可控硅、电刷等试验回路以外的高频信号，均会以电磁感应、电磁辐射的形式经杂散电容或杂散电感耦合到试验回路，它的波形往往与试品内部放电不易区分，对现场测量影响较大。其特点是与试验电压无关。消除这种干扰的根本对策是将试品置于屏蔽良好的试验室。采用平衡法、对称法和模拟天线法的测试回路，也能抑制辐射干扰。 d. 悬浮电位放电干扰。邻近试验回路的不接地金属物产生的感应悬浮电位放电，也是常见的一种干扰。其特点是随试验电压升高而增大，但其波形一般较易识别。消除的对策一是搬离，二是接地。 e. 电晕放电和各连接处接触放电的干扰。电晕放电产生于试验回路处于高电位的导电部分，例如试品的法兰、金属盖帽、试验变压器、耦合电容器端部及高压引线等尖端部分。试验回路中由于各连接处接触不良也会产生接触放电干扰。这两种干扰的特性是随试验电压的升高而增大。消除这种干扰是在高压端部采用防晕措施 ( 如防晕环等 ) ，高压引线采用无晕的导电圆管，以及保证各连接部位的良好接触等。 f. 试验变压器和耦合电容器内部放电干扰。这种放电容易和试品内部放电相混淆。因此，使用的试验变压器和耦合电容器的局部放电水平应控制在一定的允许量以下。 A2.2 识别干扰的基本依据局部放电试验的干扰是随机而杂乱无章的，因此难以建立全面的识别方法，但掌握各类放电时的时间、位置、扫描方向以及电压与时间关系曲线等特性，有助于提高识别能力。 a. 掌握局部放电的电压效应和时间效应。局部放电脉冲波形与各种干扰信号随电压高低、加压时间的变化具有某种固有的特性，有些放电源 ( 干扰源 ) 随电压高低 ( 或时间的延长 ) 突变、缓变，而有些放电源却是不变的，观察和分析这类固有特性是识别干扰的主要依据。 b. 掌握试验电压的零位。试品内部局部放电的典型波形，通常是对称的位于正弦波的正向上升段，对称地叠加于椭圆基线上，而有些干扰 ( 如高电位、地电
电缆局部放电的特点研讨论文 2019-12-05 在近似于工频的阻尼振荡电压下检测局部放电，其电压波形与频率满足IEC60270[10]标准对试验电压特性的要求，能够对视在放电量进行标定。系统体积小巧，特别适合现场条件下的电缆局部放电检测。目前我国相关单位主要应用振荡波检测技术开展电缆绝缘缺陷的定位研究[11-17]，但是未对振荡电压下检测到的局部放电信号进行统计特征分析。本文在真实10kV电缆上设置典型缺陷模型，使用自主研制的振荡波检测系统开展试验，对试验数据进行统计特征分析。 振荡波检测技术的原理 振荡电压波测试方法的基本原理是利用电缆等值电容与外接电感、回路直流电阻构成的LCR欠阻尼振荡电路。振荡波检测系统的构成如图1所示，包括高压直流源、无晕电抗器、高速固态开关、局部放电及电压检测系统，数据采集系统、试品电缆等。工作过程分为2个阶段：一是直流充电阶段，在图1中，高速固态实时开关断开，高压直流源通过无晕电抗器对试品电缆充电，在试品电缆的芯线和接地层之间累积静电荷；二是振荡电压生成及局部放电检测阶段。图1中，高速固态开关瞬间闭合，电缆芯线上储存的正电荷与外皮中的负电荷发生中和，电缆等值电容与电抗器电感、直流电阻形成LCR欠阻尼振荡回路，在试品电缆芯线及接地层之间产生近似于工频的阻尼振荡电压，激发出电缆绝缘缺陷处的局部放电信号，基于脉冲电流方法进行检测。 10kV电缆局部放电实验模型 试品电缆采用铜芯交联聚乙烯绝缘钢带铠装聚氯乙烯护套阻燃电力电缆，型号为ZC-YJV22，额定电压15kV/8.7kV，规格为3*240mm2。整条试品电缆由一根129m长及一根262m长的电缆通过冷缩式中间接头连接而成，电缆两端均安装冷缩式户内终端，电缆铠装及铜屏蔽层均与大地可靠连接。试品电缆总长391m，在129m处有一中间接头。结合电缆实际故障，在电缆的中间接头、终端、本体上设置以下4种潜在性放电缺陷：1）中间接头线芯缠绕绝缘胶带。制作中间接头时，线芯接管外按规程应当缠绕半导电胶带，模拟现场误操作的情形，在压接管外缠绕绝缘胶带，如图2(a)所示。2）端部针尖故障。选取一根铜针及交联聚乙烯绝缘块，将铜针的尖端插入绝缘块内部，铜针的另一端与试品电缆线芯相连，如图2(b)所示。3）本体外半导电层破损故障。将试品电缆局部的接地铜带撕开，露出外半导电层，将其刮开一直径约2cm的豁口，如图2(c)所示。4）端部悬浮故障源。将一根铜针的尖端插入试品电缆主绝缘表面约1mm深度，铜针不与线芯及内半导电层接触，如图2(d)所示。 10kV电缆局部放电振荡波测试系统
高效液相色谱中异常峰 分析 HUA system office room 【HUA16H-TTMS2A-HUAS8Q8-HUAH1688】
异常峰分析 异常的色谱峰指的是色谱图中的无峰或出现负峰、宽峰、双峰、肩峰、峰形不对称等情况。异常峰是色谱实验工作中最棘手的问题。这些峰严重影响色谱分析的结果。色谱图中不可能有纯正的高斯对称峰 , 轻微的拖尾是正常的 , 这是由分离系统所决定的。在此仅对几种异常峰进行分析。 1.峰前或峰后有小峰的分析 产生原因大致分为以下几种情形 (1) 样品不纯。可改变不同的流动相和色谱柱 ,对样品进行分离比较 , 选择合适的分离条件。 (2) 分析柱或保护柱柱头塌陷。此情况较常见 ,可更换分析柱或保护柱后对峰形进行比较。柱头塌陷时往往所有的峰都会出现峰分裂。对色谱柱再生和清洗可以改善分离效果。 (3) 色谱柱柱容量下降。当长时间使用后 , 有一些强保留组分吸附在柱子中 , 不大的进样量往往就会出现峰分裂。用强洗脱能力的溶剂清洗色谱柱 , 或更换色谱柱可使问题得到改善。 (4) 样品溶剂与流动相不匹配或进样体积过大。当样品溶剂比流动相极性大时 , 有时即使进样体积很小 , 也容易出现峰变形和裂分现象。建议用流动相溶解样品。
(5) 流动相不恰当。此情况较罕见 , 有些样品在特定的色谱条件下可能存在结构的动态平衡 , 而出双峰 , 这种双峰是无法分离完全的 , 改变色谱条件尤其是p H 值会使峰形正常。 (6) 样品分解。不稳定的样品在色谱分离过程中变成其他物质而出现双峰。这时需改变样品处理方法或色谱分离条件。 2.负峰分析 在色谱分析中有时会出现负峰或倒峰 , 如图 3 中的大峰的左下就有一负峰。出现这种现象可能是由以下几种原因引起的 , 可针对不同情况进行排除 , 进而使问题得到解决。 (1) 流动相吸收本底值过高。此时可适当改变检测波长。 (2) 进样过程中进入空气。进行排气处理 , 直到基线平稳再进样。 (3) 样品组分的吸收低于流动相。可改变流动相或改变检测波长。 (4) 配制样品的溶液与流动相不一样。重新配制样品 , 用与流动相一样的溶剂配制或稀释样品。 3.前沿、拖尾峰分析 拖尾：1 干扰峰，优化条件分离；2 色谱柱塌陷，更换色谱柱； 3 流动相pH不合适，调节pH值；4 管路没有接好，存在较大的死体积，可以重新接一下。 前沿：1 溶剂选择不合适，选择合适的溶剂；2 样品过载，降低进样量； 3 柱温太低，升高柱温；4 色谱柱损坏，更换色谱柱；
局部放电试验的几点说明
薛宏图 2015.11.16
概述
定义
局部放电（局放）的定义：电气设备的绝缘系统在电场作用下的电场分布是不均匀的，局部区域的电场强度达到该区域 的击穿场强时，该区域发生放电，但整个绝缘系统尚未击穿的现象。局放是一种复杂的物理过程，具有电、声、光、热 等效应，并会产生各种生成物。常用的高频电脉冲局放检测法的检测依据是，局部放电现象反映到试品施加电压的两端， 有微弱的脉冲电压出现。（局放的放电电流一般为脉冲电流，这有别于泄露电流）
局放的种类
内部局放：发生在绝缘体内部的局放现象； 表面局放：发生在绝缘体表面的局放现象； 电晕：发生在导体边缘且周围都是气体的局放现象。
局放的发生原因和危害
局放的发生原因
电极系统不对称使电场在绝缘系统中分布不均（如电缆末端等部位）； 绝缘介质不均匀。介质电容与介电常数成正比（如平板电容C=εS/4πkd），在交变电场中，电场强度与电容值成反比， 那么，介电常数小的介质中电场强度要高于介电常数大的介质（本条可解释复合绝缘，也可解释绝缘体中含有气泡等 情况）； 悬浮电位和导体接触不良。
局放的危害
危害：逐渐腐蚀、损坏绝缘材料，使放电区域不断扩大，最终导致整个绝缘体击穿。 带电质点的轰击。放电过冲中的电子及正负离子在电场作用下加速，撞击另一极，使绝缘材料的化学键断裂而产生裂解，降 低绝缘性能； 热效应，长期局放的放电点上，介质发热温度很高，甚至可使绝缘材料在放电点上被烧灼、熔化或腐蚀成粉末； 辐射效应。局放产生可见光、紫外线及X射线等使绝缘材料的基团或分子分解； 活性生成物腐蚀。 机械应力的效应。放电产生高压气体，使绝缘体产生微爆，造成微断裂。
实例解析——高效液相色谱(HPLC) 一、原理 利用不同物质在两相中（液液、液固、离子交换、尺寸排阻）具有不同的分配系数，当二者相对运动时候，物质在两相中反复多次分配，从而使得物质得到完全分离 二、适用范围 高沸点、热不稳定的天然产物、生物大分子、高分子化合物、离子型样品、生化样品三、特点 高压、高效、高灵敏度 四、仪器组成 流动液贮存提供脱气，输液系统、进样系统、分离系统、检测系统，控制记录系统贮液瓶、高压泵、进样器、分离柱、检测器、记录仪 五、仪器选择 由实验条件确定是选用二元高压还是四元低压、一般来说，二元高压的准确度较高。四元低压是先将样品按比例混合再泵入，而二元高压是先泵入不同比例的溶剂再混合。确定采用的脱气系统，一般采用在线脱气。确定进样方式，人工手动六通阀进样，还是进样针自动进样，一个适用于少量样品，一个适用于大量样品。 选择检测器，如果是有较强的紫外吸收的可用紫外可见检测器(二极管阵列检测器)，如果是芳香族化合物，可选用荧光检测器，对于离子可采用电导检测器。 六、实验条件优化 配置待测物质的标准溶液 1、色谱柱的确定 分析样本确定是采用何种类型的色谱柱 (1)分配色谱，两项间分配系数 流动相选用极性的物质（甲醇、乙腈、水）则固定相选择非极性物质。一般用 C18 ODS柱。 (2)吸附色谱， (3)离子交换色谱 各种离子与树脂上交换集团的交换能力不同。固定相：离子交换树脂，流动相 为无机酸、无机碱。常用于分离离子或者可解离的化合物 (4)排阻色谱法 配置含待测物质的标准品溶液，采用不同C18柱分离，检测，对照不同色谱图像，可得到分离效能最高的色谱柱 2、最佳流动相梯度洗脱程序的确定 梯度洗脱：按照一定的程度，不断改变流动相中个溶剂组成的比例以改变流动相的 极性。将色谱柱上不同的组分洗脱出来。 配置不同的梯度洗脱方案，用标准溶液进行试验，并选取能达到最高分离效能的梯 度洗过方案作为最佳流动相梯度洗脱程序 3、流动相的确定 在分离效能相似条件下选择更经济、毒性小的流动相 4、流速确定 流速太大，待分离组分来不及与固定相充分作用，故其中的组分较易被洗脱下来，出峰时间变短，而且柱压比较高，会引起泵负荷的增加，进而导致色谱柱的使用命