轴类UT探伤工艺卡
试件名称：轴材料类型：锻件检测技术：纵波垂直入射法检测时机：圆钢抽检＋精车后100％UT 检测灵敏度：￠2
检测标准：QW/GSZA/ZQ2-2009(锻件部分) 探头规格：P2.5 ￠20
耦合剂：机油最大扫查速度：≦150mm/s 探头覆盖率：≧15％轴分类：B类，销轴，从动车轮轴等承载剪切应力轴类。
D类，传动轴，输出轴，输入轴，联轴器，主动车轮
轴等承载弯扭应力轴类。
分区：B类自外圆起向内1/3R(半径)的区域为Ⅰ区,其余为Ⅱ区。
D类自外圆起向内到1/2R（半径）之区域为Ⅰ区，其余
为Ⅱ区。
扫查方式：以外圈直线扫查加沿机加工走刀弧线扫查，Ⅰ区发现缺陷可选用小直径单晶直探头进行定位定量扫查；以端面扫
查为辅，端面网络扫查加沿机加工走刀弧形扫查。长/径≦
3mm，外圈与端面同为主扫查面。6mm≧长径﹥3mm，外圈
为主扫查面，端面为扫查面。长径﹥6mm，外圈为主探方向，
端面视情况一般可不扫查。
标记与记录：Ⅰ区发现可记录缺陷必须定量定位精确标记，以便后道工序清除或避让。
（1）单个缺陷记录：
（a）记录Ⅰ区当量直径超过￠1mm，单个缺陷的波幅和位置
（b）记录Ⅰ区当量直径超过￠2mm，单个缺陷的波幅和位置
（2）记录密集缺陷中最大当量缺陷的位置和缺陷分布，密集区面积以50mm×50mm的方块作为最小量度单位，其边界由6db法决定。
(a)记录Ⅰ区当量0.8mm﹤￠≦1mm的密集缺陷
(b)记录Ⅱ区当量1mm﹤￠≦2mm的密集缺陷。
（3）底波降低量记录。
验收要求：
B类：Ⅰ区结果符合下列所有条件者为合格
（1）单个缺陷当量≦4mm;
（2）密集缺陷当量≦1mm
（3）密集缺陷面积≦4％
Ⅱ区符合下列所有条件者为合格
（1）密集缺陷面积≦4％
（2）密集缺陷当量≦2mm
（3）BG/BF≦12dB
（4）单个缺陷当量(D≦100mm) ≦4mm
（100mm≦D≦300mm）≦6mm
(D﹥300mm)≦8mm
D类：Ⅰ区结果符合下列所有条件者为合格
（1）单个缺陷当量≦2mm；
（2）密集缺陷当量≦1mm；
（3）密集缺陷面积≦2％
（4）不存在线状缺陷。
Ⅱ区符合下列所有条件者为合格
（1）密集缺陷面积≦2％（间隔≧120mm）
（2）密集缺陷当量≦1mm
(3)BG/BF﹤6dB
(4)单个缺陷当量(D≦100mm) ≦4mm
(100mm﹤D≦300mm) ≦6mm
(D﹥300mm) ≦8mm