黑度计自校准记录
HAQRB-13-16
）））））））） 计量标准技术报告 计量标准名称紫外可见分光光度计检定装置 计量标准负责人 建标单位名称（公章）新月市质量技术监督检验测试中心填写日期
目录 一、建立量准的目的?????????????????????( 01 ) 二、量准的工作原理及其成??????????????( 01) 三、量准器及主要配套????????????????( 02 ) 四、量准的主要技指??????????????????( 03 ) 五、境条件?????????????????????????( 03 ) 六、量准的量溯源和框???????????????( 04 ) 七、量准的重复性???????????????????( 05 ) 八、量准的定性考核????????????????????( 06 ) 九、定或校准果的量不确定度定?????????????( 07 ) 十、定或校准果的???????????????????( 11 )十一、??????????????????????????( 12 )十二、附加明?????????????????????????( 12 )
一、建立计量标准的目的 紫外可见分光光度计属强制检定的计量器具，为了统一这些计量器具的量值，向企业提供全面可靠的计量 服务，确保该计量器具不影响我市的工业安全生产，卫生环境检测，建立了这一社会公用计量标准。 二、计量标准的工作原理及其组成 紫外可见分光光度计检定装置根据 JJG178-2007 《紫外、可见、近红外分光光度计检定规程》提供的方 法 , 紫外、可见分光光度计的主要检定项目是波长准确度和透射比准确度两项。 1、波长准确度检定： 在规定的条件下，用被测紫外可见分光光度计直接测标准滤光片（或溶液），测得的透射比波谷（波峰）所对应波长值，重复测量 3 次，其算术平均值与标准波长之差，即为波长示值误差。 2、透射比准确度检定： 用被测可见分光光度计在规定的波长处，以空气为参比，分别测（透射比标称值为10%、 20%、 30%）标准中性滤光片的透射比（示值），用被测紫外分光光度计在规定的波长处，以空白为参比，测重铬酸钾-高氯酸标准溶液的透射比（示值），重复测量 3 次，其算术平均值与相应下的透射比的标准值之差，即为透 射比的示值误差。 紫外可见分光光 氧化钬滤光片 镨铒滤光片 度计 镨钕滤光片 杂散光滤光片 干涉滤光片 低压汞灯 重铬酸钾 - 高氯酸标准溶液 标准中性滤光片
温度计校准方法 1、目的：确保温度计精度 2、范围：适用数显温度计、玻璃温度计、双金属温度计精度校准。 3、校准方法 3.1校准周期：数显和玻璃温度计6个月、双金属温度计1年 3.2校准条件：20±5℃ 3.3校准用标准器：恒温炉、F200数显温度计 3.4外观检查： 3.4.1开机时显示屏幕应清晰，电池电量应充足。 3.4.2探头应无损伤、凹痕、氧化锈蚀及其它附着物。 3.4.3玻璃温度计的玻璃棒及毛细管粗细应均匀笔直，感温泡和玻璃棒无裂痕，液柱无断节和气泡。 3.5精度检查： 3.5.1可根据现场适用范围选择50℃、100℃、150℃、200℃等测量点（至少3个点）。 3.5.2让恒温炉开机半小时以上，达到设定温度直至温度变化小于0.1℃/min 3.5.3将被检探头及F200数显温度计探头分别插入相匹配的恒温炉孔内，要使探头全部插入孔内，待显示稳定分别读取温度计和F200数显温度计的显示值。 3.5.4玻璃温度计浸没深度不小于75mm，双金属温度计感温泡应全浸。 3.5.5校准时观察玻璃温度计液柱不得中断、倒流，上升时不得有显
见停滞或跳跃现象，下降时不得在壁管上有液滴或挂色，双金属温度计升温时指针平稳，无跳动、卡住等现象。3.5.6待温度稳定后分别读取标准值与被测值，读数视线应与刻度线垂直。 3.5.7若示值超差，应对显示器和探头单独校准。 3.6允许误差： 3.6.1热电偶热电阻允许误差：±（设定值×0.5%+0.5）℃，必要时可根据说明书或实际要求。下表是热电偶及热电阻允许误差，必要时可作依据。（t为设定值） 3.6.2玻璃温度计允许误差：
3.6.3双金属温度计允许误差=精度等级%×F.S，必要时参照其说明书上之要求。 3.7注意事项： 3.7.1感温头要防止冲、撞。 3.7.2保管时应注意通风干燥和无腐蚀环境中。 3.7.3不用时，尽量取出电池，以防电池漏液腐蚀仪表。 3.7.4温度高时应防止烫伤，表头勿近水。 4、表单记录 4.1校正记录表
X射线检测仪校验规程 一、目的确保RT检测方法控制产品质量活动所使用的X射线检测仪性能的符合性和有效性。 二、适用范围本规程适用于额定管电压小于等于300KVX 射线探伤机的曝光曲线的制作校验及穿透力校验工作。 三、人员要求 1、X射线探伤机校验人员都应经过专业培训，并持有国家质量技术监督局的Ⅱ级或Ⅱ级以上的射线检验人员资格证书。 2、X射线探伤机校验人员应熟悉所用设备的基本结构、各部分的作用及操作规程。 3、X射线探伤机校验人员应严格按照本规程操作X射线探伤机，并对设备使用的安全性负责。 四、引用标准 JB/T4730-2005 《承压设备无损检测》 JJG40-2011 《X射线探伤机检定规程》 五、应用器材 1、阶梯试块：阶梯级差为2mm，每级宽度不少于15mm，试块长度和宽度应不小于胶片尺寸，且宽度不小于80mm，长度不小于300mm。 2、CR-301黑度计
3、胶片及暗室处理 4、观片灯 六、曝光曲线制作：每台设备的曝光曲线，应不少于3个选定管电压的参数曲线 1、设计透照参数每台设备制作3条曲线，每条曲线应设计1张参数表，其管电压的选择应为设备的较低、中等以及较高管电压，如250KVX射线机，推荐选择150KV、200KV、240KV；参数设计表管电压KV 曝光量mA分5 10 15 25 对应厚度mm 注：焦距600mm或常用焦距，显影20℃5分钟，胶片：天津Ⅲ型或常用型号胶片，铅增感屏0.03/0.1，取底片黑度为3.0。 2、曝光试验⑴根据选择的曝光参数进行透照,透照时暗盒背面要用1mm的铅板屏蔽。 ⑵底片冲洗干燥后,用观片灯观察,并用黑度计测量,选择黑度3.0(或与之最相接近)的部位,填入参数设计表的对应栏. 3、绘制曝光曲线 ⑴根据参数设计表中的数据,绘制曝光曲线。 ⑵曝光曲线用对数坐标纸绘制。纵坐标为曝光量的常用对数，横坐标为透照厚度。胶片、增感屏、底片黑度、透照焦距、暗室处理条件、射线机型号及编号均在曝光曲线中注明。 七、曝光曲线的校验
标准实用 计量标准技术报告 计量标准名称紫外可见分光光度计检定装置 计量标准负责人 建标单位名称（公章）新月市质量技术监督检验测试中心填写日期
目录 一、建立量准的目的?????????????????????( 01 ) 二、量准的工作原理及其成??????????????(01) 三、量准器及主要配套????????????????(0 2 ) 四、量准的主要技指??????????????????( 03 ) 五、境条件?????????????????????????( 0 3) 六、量准的量溯源和框???????????????(04) 七、量准的重复性???????????????????(0 5) 八、量准的定性考核????????????????????(06) 九、定或校准果的量不确定度定?????????????(07)
十、定或校准果的???????????????????(1 1 )十一、??????????????????????????( 1 2 ) 十二、附加明?????????????????????????(1 2 )
一、建立计量标准的目的 紫外可见分光光度计属强制检定的计量器具，为了统一这些计量器具的量值，向企业提供全面可靠的 计量服务，确保该计量器具不影响我市的工业安全生产，卫生环境检测，建立了这一社会公用计量标准。 二、计量标准的工作原理及其组成 紫外可见分光光度计检定装置根据JJG178-2007《紫外、可见、近红外分光光度计检定规程》提供 的方法 , 紫外、可见分光光度计的主要检定项目是波长准确度和透射比准确度两项。 1 、波长准确度检定： 在规定的条件下，用被测紫外可见分光光度计直接测标准滤光片（或溶液），测得的透射比波谷（波峰）所对应波长值，重复测量 3 次，其算术平均值与标准波长之差，即为波长示值误差。 2 、透射比准确度检定： 用被测可见分光光度计在规定的波长处，以空气为参比，分别测（透射比标称值为 10% 、20% 、30% ）标准中性滤光片的透射比（示值），用被测紫外分光光度计在规定的波长处，以空白为参比，测重铬酸钾-高氯酸标准溶液的透射比（示值），重复测量 3 次，其算术平均值与相应下的透射比的标准值之差，即为 透射比的示值误差。 紫外可见分光光 氧化钬滤光片 度计 镨铒滤光片 镨钕滤光片
国家标准-原子吸收检定规程详文 目录 一 ?概述 二 ?技术条件 三 ?检定条件 四检定项目和检定方法 五检定结果处理和检定周期 附录检定用空心阴极灯稳定性（暂行）检测方法 原子吸收分光光度计检定规程 本规程适用于新制造、使用中和修理后的单、双光束原子吸收分光光度计（以下简称仪器）的检定。 一 ??概述 原子吸收分光光度计是根据被测元素的基态原子对特征辐射的吸收程度进行定量分析的仪器。其测量原理是基于光吸收定律： A=–lg I/I =–lg T =KCL 0? 式中A吸光度（其单位为A ）； ??? ??????I入射光强度 ??? ??????I0透射光强度 T透射比 ???? K吸光系数 ???? C样品中被测元素的浓度 ??? ?L光通过原子化器的光程 仪器的主要结构如下：特征辐射光源---原子化器---单色仪---检测系统 按光束形式可将仪器分为单光束型和双光束型，原子化器可分为火焰原子化器及无火焰（石墨炉）原子化器等。
二 ?技术要求 1 ?外观与初步检查 ?仪器应有下列标志：仪器名称、型号、制造厂名、出厂编号与出厂日期等。 ?仪器及附件的所有紧固件应紧固良好；连接件应连接良好；运动部件应运动灵活、平稳；气路系统应可靠密封，不得泄露。 ?仪器的各旋钮及功能键应能正常工作；由计算机控制或带微机的仪器，当由键盘输入指令时，各相应的功能应正常。 2 波长示值误差与重复性 波长示差误差不大于±，波长重复性优于 3 分辨率 仪器光谱带宽为时，应可分辨和双线 4 基线稳定性 30min内静态基线和点火基线的稳定性应不大于表1所列指标。 表1????????????????? ??????????????????基线稳定性?????? ??????????????????????????（A） 5 边缘能量 在仪器波长处，应能对,铯谱线进行测定，其瞬时躁声应小于。 ）和精密度（RSD） 6 火焰法测定铜的检出限（C L(K =3) 新制造仪器应分别不大于μg/ml和1%；使用中和修理后的仪器应分别不大于μg/ml和%。 ），特征量（C。M。）和精密度（RSD） 7 石墨炉法测定隔的检出限（C L(K =3)
X射线探伤机曝光曲线校验规程 1适用范围 本标准规定了现场X射线探伤机曝光曲线的制作与校准。 2校验周期 每一年进行一次。 3编写依据 《射线探伤Ⅱ、Ⅲ级教材（试用本）》 4人员要求 从事射线探伤仪曝光曲线的制作的人员都应经过专业培训，并持有射线检测工作应由按《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》考核合格，并取得射线检测Ⅰ级或Ⅰ级以上资格证书的检测人员担任。其工作内容应与资格证书规定级别相适应. 4.1或电力部颁发的Ⅱ级或Ⅱ级以上的射线检验人员资格证书； 4.2射线探伤仪校验人员应熟悉所用设备的基本结构、各部分的作用及操作规程； 4.3射线探伤仪校验人员应严格按照本程序操作射线探伤仪，并对设备使用的安全性负责。 5校验需用标准器具 阶梯试块4~40mm一块。 6操作步骤 6.1将厚度适当的阶梯试块在装有胶片的暗盒上，在阶梯试块的不同厚度的阶梯上，放上与阶梯厚度相 同的铅字标记。且将射线中心束指示线垂直对准阶梯试块的中心部位。 6.2选择固定的焦距，使其在固定的管电流和管电压下，选择几个不同的曝光，每次增加30秒一组，得 出几个不同曝光量的胶片。由此找出曝光时间和厚度的关系。 6.3选择固定的焦距，使其在固定的管电流和曝光时间选择几个不同的管电压进行曝光，每次升高10KV， 得出一组不同管电压的胶片由此找出管电压和厚度的关系。 6.4将上述所摄胶片，在严格控制的同一条件下进行暗室处理，水洗后晾干。由此得到一系列光学密度 呈阶梯变化的黑度片（底片） 6.5黑度测定：用精度较高的黑度计测出底片上的各阶梯黑度值，确定符合象质指数值而黑度为1.5的 阶梯厚度，将数值填入附录A和附录B中，如底片上找到正好符合黑度2。0的阶梯厚度，也可根据相邻阶梯的黑度，用插入法确定适用的相应厚度。 6.6在适当的座标纸上，画出纵座标（管电压或曝光量）和横座标（厚度）的刻度，然后按表1和表2 的数据绘出相应的附录C的曝光曲线。在曲线图中应同时注明其他有关条件。 6.7已完成的曝光曲线，在实际透照中，由于某些条件的变化，如焦距、胶片类型改变，射线管更换或 老化后必须进行校准修正。 7记录及标识 校验完毕后在仪器上进行标识，校验人员应按校验报告内容对测试数据认真记录并评价结论。 校验报告由综合试验室设备管理员归档设备档案，检验报告保存期为五年。
1.目的 建立通用卡尺校准作业指导书,规范通用卡尺的校准方法,減少人为误差,提高量測准确度.本校准程序可供本实验室相关人員,对于通用卡尺类之校准方法及步骤,作参考遵循依据.另可供本实验室新进人員教育训练,及提升技术能力. 2.适用范围 本程序适用于符合下列条件的游标卡尺、帶表卡尺、数显卡尺： 本作业指导书规定的基本要求,如客戶有特殊要求,可作适当增刪. 3.环境设备条件和校准項目 3.1环境条件 3.1.1环境溫度:20±2℃. 3.1.2相对湿度:40%-60%R.H. 3.1.3无影响仪器正常工作的电磁场和机械振动. 3.2校准项目 3.2.1外观及各部分相互作用; 3.2.2測量面的平面度; 3.2.3圆弧內量爪的基本尺寸; 3.2.4圆弧內量爪的平行度; 3.2.5刀口內量爪的基本尺寸; 3.2.6刀口內量爪的平行度; 3.2.7零值误差;
3.2.8示值变动性: 3.2.9数字显示器的示值稳定性; 3.2.10深度示值误差; 3.2.11示值误差; 3.3校准用设备 3.4校准方法 直接量測法:用待校准卡尺直接量測标准量块. 4.校准程序 4.1外观及各部分相互作用检查 4.1.1目力观察卡尺表面有无锈蚀、碰伤、毛刺等明显划痕，标尺标记是否清 晰，表蒙是否清洁，以及有无其它影响外观质量的缺陷。 4.1.2尺框沿尺身移动是否手感平稳，有无阻滯和松动现象；数字显示是否清 晰、完整；各按鈕及螺钉功能是否稳定、工作可靠。 4.2校准前准备 4.2.1 用99.5%的酒精(配合无尘紙)清洁待校件工作測量面.
4.2.2 将待校件和使用标准件放于平台上恒溫(在以上标准溫度下)2个小时以上. 4.2.3 校准点分布表: 4.3 測量面的平面度 4.3.1 用刀口直尺在外量爪測量面的长边,短边和对角线的位置上进行光隙法 測量,其平面度根据各方位的间隙情況确定. 4.3.2 用刀口直尺在深度測量面(帶深度測量杆)的长边,短边和对角线的位置 上进行光隙法測量,其平面度根据各方位的间隙确定. 4.4 圆弧內量爪的基本尺寸和平行度 4.4.1 闭合待校卡尺外量爪,用外径千分尺在內量爪距外端2mm处开始測量內 量爪平于尺身的內量爪尺寸(全內量爪范围). 4.4.2 內量爪尺寸偏差以測量值与基本尺寸之差來确定. 4.4.3 內量爪平行度以其全长范围的量測最大值与最小值之差工來确定. 4.5 刀口內量爪的基本尺寸和平行度 4.5.1 将尺寸为10mm的量块平持于两外测量爪测量面之间,紧固螺钉,以量 块能在量爪面间滑动面不脱落为准.用外径千分尺沿刀口内量爪在 平行于尺身方向测量,外径千分尺读值记Xi(mm为单位). 4.5.2 刀口內量爪尺寸偏差 △R = Ximax – 10 4.5.3 刀口內量爪平行度
温度计内部校准规程 编号：HT-PB-ZY-2012-32 1．目的 对温度计进行内部校准，确保其准确性和适用性保持完好。 2．范围 适用于测量产品温度所使用的水银温度计。 3．校准用基准设备 外校合格的水银温度表(精度0.1℃). 4．环境条件 校准必须在室内进行；温度：室温；室温波动不得超过±3℃/h；湿度不大于75%；5．校准步骤 5.1 检查玻璃体是否破裂及刻度是否清晰，否则更换。 5.2 用一透明容器盛装适量自然溶解的冰水混合物。 5.3 把温度计有水银液体的一端放进冰水混合物中，然后观察水银柱的变化情况。 5.4 待水银柱变化稳定，再对照温度计刻度是否在0℃的位置，记录读数。 5.5 第一次测量完成后，取出温度计，待水银柱回到自然的位置后，重新第二次测量，这样连续测量三次，取得结果再取其平均值，记录在《内校记录表》内,允许误差±1.0℃。
5.6以上步骤完成后，把温度计放在50℃以下的温水中（30℃为宜），用基准水银温度 表进行校对（把探头放在水银柱旁边的温水中），对比并记录温度计的和基准温度表的温度读数。 5.7第一次测量完成取出温度计，待水银柱回到自然的位置后，再进行第二、第三次测 量，测量结果取其平均值，记录在《内校记录表》内，允许误差±1.0℃。 5.8 把温度计放在50℃以上的热水中（80℃为宜），重复5.6、5.7相关步骤。 5.9三次测量值与标准值之差，均在允许误差范围内，该温度计判校准合格。? 6.温度计校验周期： 每6个月1次 7．相关记录 7.1内校记录表。 内部校验记录表 编号：HT-JL-048-2012-01 序号：
MV_RR_CNG_0036可见分光光度计检定方法 1．可见分光光度计检定规程说明 编号 JJG 178—1996 名称（中文）可见分光光度计检定规程 （英文）Verification Regulation of Visible Range Spectrophotometer 归口单位浙江技术监督局 起草单位浙江省技术监督检测研究院 主要起草人王洁（浙江省技术监督检测研究院） 批准日期 1996年12月31日 实施日期 1997年6月1日 替代规程号 JJG 178—89 适用范围本规程适用于新制造、使用中和修理后、波长范围为360nm~800nm 或以此为主要谱区的可见分光光度计的检定。 主要技术要求1.稳定性 2.波长准确度 3.波长重复性 4.透射比准确性 5.透射比重复性 6.杂散辐射率 7.光谱带宽 8.τ- A换档偏差 是否分级分为 3 级； 检定周期（年） 1 附录数目 5 出版单位中国计量出版社 检定用标准物质 相关技术文件 备注 附录（本附录仅为技术文件的摘要，如需全文，请与出版发行单位联系）146
2．可见分光光度计检定规程摘要 一技术要求 1 外观与初步检查 1.1 样品室应密封良好，无漏光现象。样品架应推拉自如、正确定位。 1.2 仪器处于工作状态时，光源发光应稳定无闪烁现象。当波长置于580 nm处时，在样品室内应能看到正常的黄色光斑。 1.3 仪器光谱范围的两端(有灵敏度换档开关的仪器，可选在合适的灵敏度档次)，光量调节系统应能使透射比超过100％。 1.4 吸收池的透光面应光洁，无划痕和斑点，任一面不得有裂纹。 2 稳定度 2.1 仪器零点在3 min内漂移引起的透射比示值变化应符合相应的要求。 2.2 光电流在3 min内漂移引起的透射比示值变化应符合有关要求。 2.3 电源电压220 V变动其±10％时，仪器透射比示值变化应符合有关的要求。 3 波长准确度与波长重复性 4 透射比准确度与透射比重复性 5 杂散辐射率(杂散光) 光栅型仪器在波长360 nm处，棱镜型仪器在波长420 nm处，杂散辐射率应不大于规定的技术指标。 6 光谱带宽 光栅型仪器光谱带宽应不大于规定的技术指标。 7 τ-A换档偏差 带有τ-A换档的仪器，选择开关(或按键)换档引起的吸光度示值偏差应符合要求。 8 吸收池的配套性 配套使用的同一光径吸收池间的透射比之差(在440 nm与700nm处)不得超过0.5％。 9 绝缘电阻 仪器的绝缘电阻应不小于5 MΩ。 二检定条件 10 检定环境条件 10.1 温度（10～30）℃；相对湿度小于85％RH。 10.2 电源电压 (220±22) V，频率(50±1) Hz。 10.3 仪器检定处不得有强光直射；放置仪器的工作台应平稳。周围无强磁场、电场干扰，无强气流及腐蚀性气体。 11 检定设备 11.1 调压变压器，规格为500 VA，输出0～250 V可变。 11.2 频率计，45～55 Hz，准确度0.5％。 11.3 交流电压表，准确度2.5 级。 11.4 兆欧表，试验电压500 V，准确度1.0 级。 * *12 标准器与标准物质 147
X射线探伤机校验规程 NDE/YYKJ-***-2013 1.编制依据：《工业X射线探伤机通用技术条件》 《ZBY携带式工业X射线探伤机技术条件》。 2. 适用范围： 2.1 适用于额定电源电压为交流220V，频率为50HZ的X射线探伤机的校验。 2.2 适用于新购X射线探伤机及维修后重新投入使用的X射线探伤机的校验。 3. 技术条件 3.1 允许电源电压波动为额定电压的±10%。 3.2 穿透力：200kV，≥16mm钢；250kV，≥24mm钢；300kV，≥30mm钢。 3.3 灵敏度：≤2%。 3.4 低压回路绝缘电阻≥2MΩ。 4. 校验项目 4.1 外观 4.2 允许电源波动范围 4.3 穿透力 4.4 灵敏度 4.5周向机辐射场的均匀性 4.6 峰值电压稳定性 4.7 毫安最大值（携带式X射线探伤机） 4.8 低压电路绝缘电阻 5. 校验用主要器材
5.1 万用表 5.2 500V兆欧表 5.3 调压器（3kVA） 5.4 像质计、阶梯块、AGFA-C7胶片、铅箔增感屏（0.03mm） 5.5 观片灯 6. 校验方法 6.1 外观检查 配件齐全，外表不得有硬的碰伤和变形，所有紧固件不得松动和脱落。 6.2 允许电源电压波动范围校验 6.2.1 将万用表和调压器接于电源与X射线机之间，如下： 电源→调压器→万用表→操作箱→机头 6.2.2 调整调压器，使电压表指示值在额定电压（220V）的±10%范围内波动，在5分钟曝光时间内，X射线机应正常工作。 6.3 穿透力校验 6.3.1 用300mm×80mm胶片，0.03/0.03的铅箔增感屏，试块周围用2mm厚的铅板屏蔽散射线。 6.3.2 用额定管电压，额定管电流曝光5分钟，焦距600mm，透照阶梯试块，试块阶梯上放置厚度标记。 6.3.3 曝光后胶片进行标准暗室处理。显影液，定影液的配制按所用胶片推荐配方，用黑度计测量底片黑度，取黑度为2.0±0.1部位的厚度为该机的穿透能力。 6.4. 灵敏度校验 6.4.1 用300mm×80mm胶片，0.03/0.03的铅箔增感屏，试块周围用2mm厚的铅板屏蔽散射线。 6.4.2 根据曝光曲线选择适当的透照参数，焦距600mm，透照阶梯试块,放置象质计。试块厚度：200kV,16mm；250kV,24mm；300kV,30mm。 6.4.3 曝光后胶片进行标准暗室处理。显影液，定影液的配制按所用胶片推荐配方。 6.4.4 用黑度计测量底片黑度（测得底片黑度值应在1.5～3.5之间）。
菲恩（科技）江门有限公司 卡尺校准规范 文件编编号： 发布日期： 实施日期： 1、目的 对内部的卡尺校准，确保准确度和实用性保持完好。 2、规范性引用文件 本规范引用下列文件： JJG 30-2012 通用卡尺检定规程。 3、范围 本规范适用于公司内部分度值或分辨力为：0.01mm,0.02mm,0.05mm;测量范围：0～500mm，各种规格游标卡尺、带表卡尺、数显卡尺的首次校准、使用中校准和后续校准，其它类型卡尺也可参照执行。 4、校准标准 外校合格的标准量块 5、环境条件 5.1 校准室内温度（20±5）℃，恒温时间不少于2h. 5.2 校准室内湿度不超过80%RH 5.3校准前，应将被校卡尺及量块等校准用设备同时置于平大理石平台上或木桌上，其平衡温度时间见 表-1的规定。 表-1 平衡温度时间 6、技术要求 6.1零值误差 通用卡尺量爪两测量面相接触（深度通用卡尺的主标尺基准面和测量面在同一平面）时，由表上的“零”标记和“尾”标记与主标尺相应标记应相互重合。其重合度应符合表-2的规定。 带表卡尺部超过不超过分度值的1/2，数显卡尺不超过0.01mm. 6.3示值误差 应符合表-3的规定，带深度测量杆的卡尺，深度测量杆在20mm点的示值误差应不超过1个分度值。
表-3 通用卡尺的示值误差 5、校准方法 5.1零值误差; 5.1.1 移动通用卡尺的尺框，使通用卡尺的量爪两外侧面接触，分别在尺框紧固和松开的情况下， 用目力观察“零”标记和“尾’标记与主标尺相应标记的重合度。必要时用工具显微镜校准。 5.1.2 对于深度通用卡尺，将尺框基准面与尺身测量面同时与大理石平台接触。 5.2示值变动性 5.2.1在相同条件下，移动尺框，是电子数显卡尺或带表卡尺两外测量面接触，重复测量10次读 数。示值变动性以最大与最小读数的差值确定。 5.3示值误差 5.3.1川3级或5等量块校准 5.3.2受校点的分布：对于测量范围在300mm 内的卡尺，不少于均匀分布3点，如测量范围为（0～ 150mm ）的卡尺，其受教点为30mm;60mm;90mm;如测量范围为（0～300mm ）的卡尺，其受校点为 101.30mm ；102.60mm ；291.90mm ；对于测量范围大于300mm 的卡尺，不少于均匀分布6点，如测量范围为（0～500mm ）的卡尺，其受校点为 80mm ；161.30mm ；240mm ；321.60mm ；400mm ；491.90mm.根据实际使用情况可以适当增加受校点位。 5.3.3校准时每一受校点应在量爪的里端和外端两位置校准，量块工作面的长边和卡尺测量面长 边应垂直如;图-1 图-1 5.3.4对于深度通用卡尺，校准时按受校尺寸依次将两组同一尺寸的量块平行放置在一级平板上， 使深度尺的基准面长边和量块工作面的长边方向垂直接触，在移动尺身，使其深度尺测量面和一级平板面接触。校准时量块分别置于深度尺基准面的里端和外端两位置进行校准；如图-2 里端
( 操作规程 ) 单位：_________________________ 姓名：_________________________ 日期：_________________________ 精品文档 / Word文档 / 文字可改 2021新版使用分光光度计安全 操作规程 Safety operating procedures refer to documents describing all aspects of work steps and operating procedures that comply with production safety laws and regulations.
2021新版使用分光光度计安全操作规程 使用前应先检查电路接线是否正确，接地是否良好。 2.打开电源开关，打开样品池盖，预热二十分钟和方可使用。 3.不要长时间开机，让光电池疲劳，使测量结果有误差，一般开机2小时。 4.手指不能接触比色皿的透光面，以免影响测定结果，比色皿透光面要轻轻用擦镜纸擦拭。 5.测定高浓度溶液时，要将溶液稀释。 6.测量易挥发和有腐蚀性的样品溶液时，应在比色皿上加盖，认防样品液挥发或溢出。 7.测定完毕，关闭仪器电源开关，取出比色皿，清洗干净放入比色皿盆内，再切断电源。 8.为了避免仪器积灰和沾污，在停止工作的时间里，用防尘罩
罩住仪器，同时在罩子内放置干燥剂，以免灯室受潮、反射镜镜面发霉或沾污，影响仪器日后的工作，如果干燥剂变色要及时更换。 9.仪器工作数月或搬动后，要检查波长准确度，以确保仪器的使用和测定精度。 10.使用过程中出现异常，要停止使用，并通知维修人员进行修理。 云博创意设计 MzYunBo Creative Design Co., Ltd.
X射线曝光曲线校验规程 1编制依据： 依据JB/T4730-2005标准要求，每台在用X射线机应制作经常检测材料的曝光曲线。依据曝 光曲线选择曝光参数。 2、适用范围 本规程适用公司内在用X射线机曝光曲线的制作的校验。 3、校验用器具和环境条件 3.1阶梯试块：阶梯级差为2mm，每级宽度不少于15mm，试块长度和宽度应不少于胶片尺寸，且宽度不少于100mm，长度不少于300mm。 3.2 JD-210A 黑度仪。 3.3胶片及暗室处理。 3.4观片灯。 3.5校验环境条件：校验场所应在射线防护措施房间内进行，周围应无机械振动、电磁干扰、粉尘，照明条件适度、通风良好。 4、制作步骤 每台X射线机的曝光曲线，应不少于3个选定管电压的参数曲线。 4.1设计透照参数 每台X射线机制作2条曲线，每条曲线应设计1张参数表，其管电压的选择应为设备的较 低、中等以及较高管电压，如250KVX射线机，推荐选择150KV、200KV、240KV。 参数设计表 4.2曝光试验 4.2.1根据选择的曝光参数进行透照，透照时暗盒背面要用1mm铅版屏蔽。 4.2.2底片冲洗干燥后，用观片灯观察，并用黑度计测量，选择黑度 2.5 （或与之最接近）的 部位，填入参数设计表的对应栏。 4.2.3绘制曝光曲线 4.2.3.1根据参数设计表中数据，绘制曝光曲线。 4.2.3.2曝光曲线用EXCEL形式绘制，纵坐标为曝光量的常用对数，横坐标为透照黑度，胶片、增感屏、底片黑度、透照焦距、暗室处理条件、射线机型号及编号均在曝光曲线表中注明。 5、曝光曲线的校验和校验周期 5.1在用X射线机曝光曲线校验周期为每年进行一次。 5.2 X射线机更换重要部件或经大修后，应及时对曝光曲线进行校验，经校验曝光曲线参数与曝光曲线不符合时，应重制作曝光曲线。 6、记录 每次校验应填写曝光曲线试验记录，记录形式见曝光曲线试验记录表
通用卡尺自校标准 1 范围 本标准只适用于本公司内部分度值（游标类和表类）或分辨力（数显类）为0.01和0.02 mm通用卡尺,测量范围上限至500mm通用卡尺的后续检定。 2 参考文献 本标准参考文献：JJG 30—2012《通用卡尺》 3 计量器具控制 3.1 校准条件 3.1.1 检定室内温度(20±5)℃，湿度不超过80％RH。 3.1.2 被校卡尺和量块等校准设备应同时置于木桌上恒温2小时后校准。 4 校准方法 4.1 外观 4.1.1 目力观察。卡尺表面镀层应均匀,标尺标记应清晰,表蒙透明清洁。不应有影响测量的锈锈蚀、碰伤、毛刺、镀层脱落以及明显划痕,无目力可见的断线或粗细不匀。(外观缺陷只要 不影响使用准确度) 4.1.2 卡尺上必须有制造厂名或商标、分度值和出厂编号。 4.2 各部分相互作用 拉动尺框手感应平稳,不应有阻滞或松动现象。数字显示应清晰、完整，无黑斑和闪 跳现象。各按钮功能稳定、可靠。紧固螺钉作用可靠。 4.3 各部分相对位置 目力观察。圆标尺的指针尖端应盖住短标记长度的30％～80％。指针末端与标尺标记 表面之间的间隙应不超过0.7mm（指分度值为0.01和0.02mm的)。 4.4 圆弧内量爪的基本尺寸和平行度表 1 基本尺寸用外径千分尺沿卡尺内量爪在平行于尺身方向校准。圆弧内量爪的尺寸偏差为±0.01mm。 平行度用外径千分尺在内量爪距外端2mm处开始检定，以全长范围内最大与最小尺寸之差确定。不能超出0.01mm。 4.5 刀口内量爪的基本尺寸和平行度 先将1块尺寸为10mm的3级或6等量块的长边夹持于两外量爪测量面之间，紧固螺钉后量块能滑动而不脱落。用测力为（6～7）N的外径千分尺沿刀口内量爪在平行于尺身方向检定。 平行度用外径千分尺沿量爪在平行于尺身方向测量。以刀口内量爪全长范围内最大与最 小尺寸之差确定。 表1 刀口内量爪的尺寸和平行度 mm
中粮生物化学（安徽）股份有限公司 改造项目（燃料乙醇） 无损检测方案 编制： 审核： 批准： 中国三冶集团有限公司 二〇一七年三月六日 目录
一、工程概述 (1) 1.1工程概况 (1) 1.2编制依据及验收规范 (1) 1.3检测工程要求 (1) 二、主要检测项目的保证措施 (1) 2.1概述 (1) 2.2射线检测方案 (1) 2.3超声检测方案 (6) 2.4渗透检测方案 (7) 2.5磁粉检测方案 (10) 2.6保证措施 (13) 三、安全技术措施 (16) 3.1人员要求 (16) 3.2设备要求 (16) 3.3人员防护 (16) 3.4现场防护 (16) 四、应急预案 (17) 五、无损探伤分析及防护方法 (18)
无损检测方案 一、工程概述： 1.1工程概况 中粮生物化学（安徽）股份有限公司（燃料乙醇）项目共有三十台储罐，依据相关规范及标准，对罐体进行无损检测工作。 1.2 编制依据及验收规范 1.2.1 50128-2005《立式圆筒形钢制焊接储罐施工及验收规范》； 1.2.2 47013.1～6-2015《承压设备无损检测》； 1.2.3 50341-2014 《立式圆筒型钢制焊接油罐设计规范》； 1.2.4 3167-2012 《钢制焊接低压储罐》； 1.2.5 47015-2011 《压力容器焊接规程》； 1.2.6 20569-2013 《机械搅拌设备》； 1.2.7计图纸文件要求的其他规范、规程； 1.2.8 18871-2005《射线卫生防护基本标准》。 1.3 检测工作要求 1.3.1 发酵区储罐探伤要求： 底及次圈罐壁纵焊缝100％射线探伤，Ⅲ级合格；底及次圈罐壁环焊缝和其余各圈纵焊缝20％射线探伤，Ⅲ级合格；其余各圈环焊缝2％探伤，Ⅱ级合格；罐壁所有丁字焊缝100％射线探伤，Ⅱ级合格；底圈壁板与罐底内外角焊缝100％磁粉探伤，Ⅰ级合格；罐底边缘板（外缘300）对接焊缝100％射线探伤，Ⅱ级合格；罐底板T型焊缝根部和表面100％磁粉探伤。 1.3.2乙醇成品罐区及乙醇中间罐区储罐探伤要求： 按50341-2014中的第12.2条及50128-2014中的第7.2条相关条款规定进行探伤。 二、主要检测项目的保证措施 2.1概述 1无损检测指令由本工程的无损检测业主工程师下达； 2无损检测依据《承压设备无损检测》( 47013.1~47013.6-2015)为此，我公司制定了以下检测方案：射线检测采用以X射线探伤机检测法为主，对不适合射线检测的部位采用超声检测；对于表面及近表面缺陷的检测：铁磁性的材料采用磁粉检测；非铁磁性的材料采
分光光度计检定规程详细 UV-2450简介V－2450是一款博得了用户高度评价的紫外可见分光光度计，性能卓越且操作简单方便，与功能强大的操作软件UVProbe结合，可以具备强大的功能。小光斑的光学系统使得微量的测定更为方便。 UV-2450紫外可见分光光度计特点1.高水平的超低杂散光 UV－2550采用优异的DDM（双闪耀衍射光栅、双单色器）技术实现了超低杂散光（0.0003％以下）和高光通量。UV－2450虽然采用单单色器，杂散光也在0.015％以下。低的杂散光可以对高浓度的样品不进行稀释而直接测定。 2.通用型的软件UVProbe UV－2450/2550通过新一代的中英文双语操作软件UVProbe控制，包含光谱测定、光度测定、动力学测定和报告处理四大模块，从基本的测定到研究解析都可以通过它实现。UVProbe实现了真正的QA/QC功能，完全支持GLP、GMP。另外还可以加载膜厚测定、色彩分析等软件。 3.丰富的附件选择和广泛的应用领域 生命科学领域：可对从生命体内得到的微量样品进行测试。积分球测试：可以对浑浊样品和粉末状的样品进行测试。反射附件：可以对光学材料进行相对反射和绝对反射的测定。 UV 2450紫外可见分光光度计检定规程本仪器工作波段为190~900nm，，将其分为190~340nm、340nm~900nm两段分别检定。 1、计量性能要求1.1波长最大允许误差：A段：0.5，B段：1.0 1.2波长重复性：A段：0.2，B段：0.5 1.3噪声与漂移：0%透射比：0.1；100%透射比：0.2；漂移：0.2 1.4透射比最大允许误差：A段：0.5，B段：0.5 1.5透射比重复性：A段：0.2，B段：0.2
MV_RR_CNG_0135 火焰光度计检定规程 1.火焰光度计检定规程说明 编号JJG630-1989 名称(中文）火焰光度计检定规程 (英文）Verification Regulation of Flame Photometer 归口单位黑龙江省技术监督局 起草单位黑龙江省计量科学研究所 主要起草人叶军安(黑龙江省计量科学研究所) 批准日期 1989年8月15日 实施日期 1990年6月15日 替代规程号 适用范围本规程适用于以滤光片获得单色光的、作非连续取样、对钾、钠等元素进行定量分析用的新制造、使用中和修理后的火焰光度计的检 定。 主要技术要求1 外观与初步检查 2 稳定度 3 定量检测下限 4 重复性 5 线性误差 6 干涉滤光片透光特性 7 响应时间 8 溶液耗量 9 绝缘电阻 是否分级 否 检定周期（年） 1 附录数目 3 出版单位中国计量出版社 检定用标准物质 相关技术文件 备注 2. 火焰光度计检定规程摘要 一概述 火焰光度计(以下简称仪器) 是根据某种元素的原子或离子受火焰激发后能发出其特征波长谱线的特性和JI OM a KNH (罗马金) 公式的原理，测量物质含量的分析仪器。 JI OM a KNH公式的数学表达式为： I＝aC b 式中：I——谱线强度； a——与激发元素的特性及激发光源等有关的系数，在固定实验条件下a为常数； b——自吸系数；
C——标准溶液中元素的浓度。 当元素浓度较低时，b值接近于1，则有 I＝aC 仪器主要由光源系统、单色系统及检测系统组成。 二技术要求 1 外观与初步检查 1.1 仪器应有下列标志：仪器名称、型号、编号、制造厂名、出厂日期、电源电压和许可证标志。 1.2 仪器应平稳地置于工作台上，各紧固件均应紧固良好。各调节旋钮、按键和开关均能正常工作，无松动现象。电缆线的接插件应接触良好，外观不应有明显的机械损伤。 1.3 指示器应工作正常。刻线应清晰、粗细均匀。指针的宽度不得大于刻线的宽度，并应与刻线平行，显示数字清晰、不缺笔划。 1.4 气路连接正确无误，开启空气压缩机不得有漏气现象。空气源压力应符合出厂说明规定的指标。 1.5 干涉滤光片透光面不得有灰尘、油污或影响透光特性的斑点、划痕存在。 2 稳定度 用标准溶液连续进样15 s，仪器示值变化量的相对误差不大于3％。 3 定量检测下限 用二次蒸馏水作空白溶液，测量0.004 mmol/L氯化钾和0.004 mmol/L氯化钠标准溶液时，仪器示值不小于10倍空白值的标准偏差。 4 重复性 用同一标准溶液重复测量7次，仪器的重复性不大于3％。 5 线性误差 测量钾元素时，在0.01～0.09 mmol/L浓度范围内，其线性误差不大于±5％。测量钠元素时，其误差要求见表1。 表 1 溶液浓度C (mmol/L）误差(%) 0.9＜C＜1.2 ≤±8 1.2≤C≤1.6 ≤±5 1.6＜C＜1.9 ≤±8 量程不同的仪器，使用的溶液与上面要求的溶液浓度相对应即可，误差要求相同。其它条款亦如此。 对指针式直读电表仪器，若配套指示仪表准确度低于0.5级，则此项可不检。 6 干涉滤光片透光特性 干涉滤光片透光特性应符合表2要求。 表 2 滤光片峰值波长（nm）半宽度(nm) 钾 766.5±7 ≦15
温度计校正简易方法： 水银温度计是实验室中最常用的液体温度计，水银具有热导率大，比热容小，膨胀系数均匀，在相当大的温度范围内，体积随着温度的变化呈直线关系，同时不润湿玻璃、不透明而便于读数等优点，因而水银温度计是一种结构简单、使用方便、测量较准确并且测量范围大的温度计。 然而，当温度计受热后，水银球体积会有暂时的改变而需要较长时间才能恢复原来体积。由于玻璃毛细管很细，因而水银球体积的微小改变都会引起读数的较大误差。对于长期使用的温度计，玻璃毛细管也会发生变形而导致刻度不准。另外温度计有全浸式和半浸式两种，全浸式温度计的刻度是在温度计的水银柱全部均匀受热的情况下刻出来的，但在测量时，往往是仅有部分水银柱受热，因而露出的水银柱温度就较全部受热时低。这些在准确测量中都应予以校正。 （1）温度计读数的校正 将一支辅助温度计靠在测量温度计的露出部分，其水银球位于露出水银柱的中间，测量露出部分的平均温度，校正值Δt按式下式计算，即： Δt = 0.00016 h (t体- t环) 式中：0.00016一水银对玻璃的相对膨胀系数； h—露出水银柱的高度(以温度差值表示)； t体一体系的温度(由测量温度计测出)； t环一环境温度，即水银柱露出部分的平均温度(由辅助温度计测出)。 校正后的真实温度为：t真= t体+ Δt 例如测得某液体的t体=183℃，其液面在温度计的29℃上，则h = 183 -29 =154， 而t环= 64℃，则 Δt =0.00016×154×(183℃-64℃)=2.9℃ 故该液体的真实温度为：t(真) = 183℃+ 2.9℃= 185.9℃ 由此可见，体系的温度越高，校正值越大。在300℃时，其校正值可达10℃左右。 半浸式温度计，在水银球上端不远处有一标志线，测量时只要将线下部分放入待测体系中，便无需进行露出部分的校正。 （2）温度计刻度的校正 温度计刻度的校正通常用两种方法： A．以纯的有机化合物的熔点为标准来校正。其步骤为：选用数种已知熔点的纯有机物，用该温度计测定它们的熔点，以实测熔点温度作纵坐标，实测熔点与已知熔点的差值为横坐标，画出校正曲线，这样凡是用这只温度计测得的温度均可在曲线找到校正数值。 B．与标准温度比较来校正。其步骤为：将标准温度计与待校正的温度计平行放在热溶液中，缓慢均匀加热，每隔5℃分别记录两只温度计读数，求出偏差值Δt。 Δt = 待校正的温度计的温度- 标准温度计的温度 以待校正的温度计的温度作纵坐标，Δt为横坐标，画出校正曲线，这样凡是用这只温度计测得的温度均可由曲线找到校正数值。
XXXXXXXXXX仪器设备标准操作规程 1目的：建立L5型紫外可见分光光度计使用标准操作规程。 2 范围：本标准适用于L5型紫外可见分光光度计。 3 责任：实验室操作者。 4 使用说明： 4.1 仪器上电：仪器接通电源，显示屏幕出现欢迎界面，稍后仪器进行系统自检，仪器进入初始化状态。初始化过程中请勿打开样品室门！ 4.2 波长校正：在主菜单中选【光谱测量】功能，在光谱测量菜单中的测量模式项中选择【ABS】方式，扫描范围（350nm-650nm），记录范围 （0.0000A-1.2000A）中速扫描，采样间隔为0.1nm，扫描次数为1，全部设置完毕后，按【基线校正】键进行基线校正，把标准钬溶液放入光路中，按【开始】键后进行扫描，扫描结束后，按【峰谷显示】标签键，读取对应峰的波长值，其与标准钬溶液标准波长值之差应不超过0.5nm，如超过，则在【系统设置】菜单中修正波长值。 4.3 放置参比与待测样品：选择测试用的比色皿，把盛放参比和待测的样品放入样品架内，参比放入样品架R，待测的样品放入S1到S7位置。在自检通过后，如需要单灯工作，可在主菜单的【系统值设置】栏中，分别对氘灯或钨灯进行关闭或开启控制，以延长光源灯的使用寿命。 4.4 键盘操作：本系列的键盘操作是通过触摸显示屏弹出的键盘实现的。分
为数字键盘和字母键盘。 数字键盘：【CE】表示数字清零；【Cancel】取消本次输入；【Enter】确认此次输入数据。 字母键盘：【CE】表示数字清零；【Cancel】取消本次输入；【Enter】确认此次输入数据。【←】清除前面一格字符/退格。 4.4.1 光度测量：在屏幕右下方主功能区内选中【光度测量】后，即可进入此功能块。优先显示的是参数设置功能界面。 选中波长设定值后的□输入框；弹出数字键盘，键入所需测定的波长值，按【Enter】确定。若输入值不符合仪器参数，则屏幕提示：error，此时输入正确波长即可。设定完成后，仪器自动将波长移动到所需测定的波长值。 4.4.2 光谱测量：在屏幕右下方主功能区内选中【光谱测量】后，即可进入此功能块。优先显示的是参数设置功能界面。【光谱测量】的其他标签可以互相切换使用。 测量模式有三种选择：T（透射比）ABS（吸光度）E（能量）。如选择【E （能量）】项，连续按【E（能量）】键，就是调整前置放大器倍率：1 2 3 4 记录范围对应不同的测量模式，可根据用户的需要通过按选记录范围后的□进行输入和修改。字段左面为测量下限，字段右面为测量上限。其中：T%范围（-1.00%T—200.0%T）,ABS范围（-0.301A—4.0000A），E范围（0.000E—300.0E）按选扫描范围后的□输入框，弹出数字键盘，直接输入起始波长和结束波长。波长值的定义顺序：从左至右为起始波长和结束波长。 扫描速度分为三档：快速、中速、慢速。 采样间隔分为五档：0.1nm，0.5nm，1nm，2nm，5nm 根据用户的不同需要选择扫描次数。按选扫描次数后的□输入范围（1—3）次。